DE2027127B2 - Integrierte Halbleiterschaltung - Google Patents
Integrierte HalbleiterschaltungInfo
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Description
,5
spruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die zusatz-K
Zone (C) über einen Schalter (S) mit dem Steuerpotenlial verbunden ist.
3. Integrierte Halbleiterschaltung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die
Emitterzone (E) von der zusätzlichen Zone (^ )
und diese von der Kollektorzone (C) umschlossen
4. Integrierte Halbleiterschaltung nach Anspruch 1 öder 2, dadurch gekennzeichnet daß die
Kollektorzone (C) die zusätzliche Zone (C ) te auf einen geringen Spalt umschließt und aaß m
diesem Spalt die Emitterzone (E) angeordnet ist.
5. Integrierte Halbleiterschaltung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet daß die KoI-lektorzonen
(CIl, CU; CIl, CU) zweier-benachbarter
Transistoren sich mit ihren Spalten gegenüberliegend symmetrisch zueinander angeordnet
sind und daß sich die gemeinsame Emitter-
zone (£1; £2) der beiden Transistoren in beide
Spalten hineinerstreckt.
6. Integrierte Halbleiterschaltung nach den Ansprüchen
1 bis 5, dadurch gekennzeichnet daß die aus der Zonenfolge Emitterzone (E), Basis-Kontaktzierungszone(ß)
und zusatzliche Zone (C)
gebildeten Transistoren nur eine kle.ne inverse Stromverstärkung aufweisen.
7. Integrierte Halbleiterschaltung nach Anspruch 6, "dadurch gekennzeichnet, daß die,Emitterzone
(E) von einer hochdotierten Zone (B) des entgegengesetzten Leitungstyps umgeben ist die
ieweils zur zugehörigen zusätzlichen Zone (C ) hin unterbrochen ist.
Logikschaltungen erzielen, da sich die in Umgf*
J> mnen Schaltungen infolge
auftretenden Pegelwerte nicht ohnemj eres
lartechnologie ausgeführten Schaltun^en
lassen, die als Treiberschaltungen noch S 11<;ätzlich gebraucht werden.
™ich rfin5e>
die für eine hohe Packungsdichte
Lnlieeen von der damit verbundenen VersPrJcne;'
des B P1'atzbedarfes abgesehen, insbesondere
™gnu«g^ angestrebten Kostenersparnis, in einer
gg^der Zuverlässigkeit der Schaltungen und in
Erholiu g ^ ^^ beim Herstellungs_
^ den hinsichtlich der Packungsdichte vor-.^^^^istor-Transistor-Logikschaltungen,
die ^™hlich aus Transistoren aufgebaut sind war
^auptsa en, große Halbleiterflachen-
man ms ^ notwendige Isolation der auf einem
^J5Je™fättehen untergebrachten TeilschaUungen
JJ^ vorzusehen. Die Iso ation wird meist
zusätzliche, die die Halbleiterlemente auf-Uerschicht bis zum
Halbleitersubde Diffusion erreicht.
Dabei reten ^^^^^^ auf, die etwa die Großenlaterale
au vertikalen Diffusionstiefe aufweisen.
°rdnuI\J eigentlichen Diffusionsbreite fur diese
Isolationsdiffusionen liefern die durch den zusatzf^^Maskieningsschritt
bedingten Toleranzproh hen M-J^J auf die erreichbare Packungs-D eme Faktoren.
dicnie s ah mit der monolithischen Aus-
™ bipolaren Schaltungen ist es bereits be-
.e6ung ■ Verbesserung der üblichen topologisch«!
„ Schaltunosauslegung, wonach für jedes Schaltungselement
eine besondere Isolationswanne vorgesehen ist mehrere Schaltungskomponenten innerhalb einer
einzigen Isolationswanne zusammenzufassen. Es werden
dabei vorzugsweise gleichartige und auf demselben Potential liegende Halbleiterzonen gemeinsam
Die Erfindung betrifft eine integrierte Halbleiterschaltung aus mehreren lateral aufgebauten, eine gemeinsame
Basiszone aufweisenden Transistoren, die über an eine gemeinsame Emitterstromquelle angeschlossene
Emitterelektroden und eine gemeinsame Basiselektrode als einzeln schaltbare Stromquellen
betrieben werden.
sÄ^is der DT-PS 10 63 279 bereits eine inteso
Halbleiterschaltung mit mehreren als einzeln g£rie Stromquellen betriebenen Transistoren
^^J^^ die eine gemeinsame Basiszone
so^rnSere nebeneinander auf ein und derselben
gj^ggnieite des Halbleiterkörpers angeordnete
uoern^ ^ Koll(,ktorekktroden aufweisen. Im
Prinzip handelt es sich dabei um eine Vierschichtstruktur, bei der durch besondere Maßnahmen dafür
gesorgt ist, daß durch Zufuhr abgestufter Ströme über die Emitterelektroden nur jeweils eine der Kollektorelektroden
Strom ziehen kann.
Eine derartige Halbleiterschaltung weist mehrere Nachteile auf, deren Vermeidung von größtem Interesse
ist. Die einzelnen Transistoren werden in Sättigung betrieben. Optimale Ergebnisse hinsichtlich
hoher Schaltgeschwindigkeit bei gleichzeitig geringer Verlustleistung und geringem Platzbedarf entsprechend
den derzeit aufgestellten Forderungen sind nicht zu erzielen. Die Halbleiteranordnung weist
einen relativ komplizierten Aufbau auf, der ein aufwendiges Herstellungsverfahren erforderlich macht.
Ein in vieler Hinsicht vorteilhafterer Grundbaustein für schaltbare Stromquellen ist bereits aus »IRE
Transactions On Circuit Theory«, Sept. 1957, S. 236 bis 240, unter dem Titel »Millimicrosecond Transistor
Current Switching Circuits« bekannt. Dieser Grund- *°
baustein weist insbesondere hinsichtlich der erreichbaren Schaltgeschwindigkeit beträchtliche Vorteile
auf. Der Grundbaustein besteht aus einzeln schaltbaren, emittergekoppelten Transistorstufen. Im gemeinsamen
Emitterkreis liegt eine Konstantstrom- *5 quelle. Über an die Basen der Transistoren angelegte
Steuersignale lassen sich die Kollektorströme nach dem Stromübernahmeprinzip schalten. Eine in üblicher
Weise in monoJithischer integrierter Technik verwirklichte Schaltung dieser Art besteht dann aus
einem Halbleitersubstrat mit einer darauf aufgewachsenen Epitaxieschicht entgegengesetzten Leitungstyps.
In diese Epitaxieschicht sind für jeden Transistor lateral jeweils eine Emitter- und eine Kollektorzone
eindiffundiert. Der jeweils zwischen diesen Zonen liegende Bereich der Epitaxieschicht bildet die zugeordneten
Basiszone. Da nicht nur die Emitterzonen, sondern über die Epitaxieschicht auch die Basiszonen
der Transistoren verbunden sind, müssen die einzelnen Transistoren jeweils durch eine zusätzliche,
bis in das Substrat reichende Isolationsdiffusion elektrisch voneinander isoliert werden, wenn sie getrennt
steuerbar sein sollen. Nachteilig ist dabei der zusätzliche Verfahrensschritt und die damit verbundene
Verringerung der erreichbaren Packungsdichte.
Die Aufgabe der Erfindung besteht darin, einen integrierten Schaltungsaufbau für die geschilderten
emittergekoppelten, als Stromquellen dienenden Transistorstufen anzugeben, der eine möglichst große
Packungsdichte bei vereinfachtem Herstellungsprozeß gewährleistet, wobei die Eigenschaft der getrennten
Schaltbarkeit der einzelnen Stufen erhalten bleibt. Insbesondere sollen Isolationsdiffusionen vermieden
werden.
Gemäß der Erfindung wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß zwischen der Emitter- und der Kollektorzone
eines jeden Transistors eine zusätzliche, zur Basiszone entgegengesetzt dotierte Zone lateral angeordnet
ist, die mit einem Steuerpotential derart beaufschlagt wird, daß der jeweils von der Emitterzone
des betreffenden Transistors gelieferte Strom entweder über die zugehörige Kollektorzone oder über
die zugehörige zusätzliche Zone abfließt.
Die zusätzliche Zons hat nur geringen zusätzlichen Platzbedarf und erfordert keinen zusätzlichen Verfahrensschritt,
da sie sich gleichzeitig mit der Emitterbzw. Kollektordiffusion herstellen läßt.
Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung bestehen darin, daß die zusätzliche Zone über einen
Schalter mit dem Steuerpoiential verbunden ist. daß die Emitterzone von der zusätzlichen Zone und diese
von der Kollektorzone umschlossen ist und daß die Kollektorzone die zusätzliche Zone bis auf einen
geringen Spalt umschließt und daß in diesem Spalt die Emitterzone angeordnet ist.
Stromquellen, bestehend aus einzelnen Zweikollektor-Transistoren, entstehen dadurch, daß die Kollektorzonen
zweier benachbarter Transistoren sich mit ihren Spähen gegenüberliegend symmetrisch zueinander
angeordnet sind und daß sich die gemeinsame Emitterzone der beiden Transistoren in beide Spalten
hinein erstreckt.
Um Rückwirkungen über die gemeinsamen Emitter klein zu halten, bestehen vorteilhafte Ausführungsbeispiele darin, daß die aus der Zonenfolge Emitterzone,
Basiszone und zusätzliche Zone gebildeten Transistoren nur eine kleine inverse Stromverstärkung
aufweisen. Insbesondere ist zu diesem Zweck vorgesehen, daß die Emitterzone von einer hochdotierten
Zone des entgegengesetzten Leitungstyps umgeben ist, die jeweils zur zusätzlichen Zone hin
unterbrochen ist.
Die Erfindung wird im folgenden an Hand von
vorteilhaften, in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispielen
näher erläutert. Es zeigt
Fig. I a in schematischer Darstellung einen Schnitt
durch eine erfindungsgemäße Halbleiterschaltung aus beispielsweise drei Stromquellen,
Fig. Ib dieselbe Anordnung in Draufsicht,
F i g. 2 eine schematische Darstellung eines weiteren Ausführungsbeispiels der Halbleiterschaltung
nach der Erfindung mit zwei Stromquellen und
F i g. 3 eine schematische Darstellung eines Ausführungsbeispiels in Draufsicht mit vier paarweise
zusammengefaßten Stromquellen.
Die in F i g. I a im Querschnitt und in F i g. 1 b in Draufsicht dargestellte integrierte Halbleiterschaltung
beinhaltet drei einzeln schaltbare Stromquellen. Jede Stromquelle besteht im wesentlichen aus einer
lateralen Transistorstruktur.
In einem beispielsweise η-leitenden Halbleitersubstrat 1 sind drei p-leitende Emitterzonen El, El und
£3 eindiffundiert. Jede dieser Emitterzonen ist rahmenförmig von einer eindiffundierten, p-leitenden
Kollektorzone Cl, C2 bzw. C3 umgeben. Die Basiszone
ist für alle drei Transistorstrukturen gemeinsam und besteht aus dem Halbleitersubstrat. Die Kontaktierung
der Basiszone erfolgt über eine eindiffundierte η+-leitende Kontaktierungszone B.
Ein wesentliches Merkmal der Anordnung besteht nun darin, daß jeweils in die Basiszone zwischen der
rahmenförmigen Kollektorzone und der Emitterzone eine zusätzliche, ebenfalls rahmenförme Zone Cl',
Cl' bzw. C 3' des gleichen Leitungstyps wie die Kollektor- bzw. Emitterzone eindiffundiert ist. Die
Emitterzonen El, El und E3 sind über eine gemeinsame
Leitung 2 an eine den Strom Ie liefernde Emitterstromquelle angeschlossen. Die Kollektoren
Cl, C2 und C3 sind über Leitungen 3, 4 und 5 mit
den zugeordneten, nicht dargestellten Verbrauchern verbunden, die mit den zugeordneten Kollektorströmen
Ic 1, Ic 1 und Ic 3 beaufschlagt werden.
Die zusätzlichen Zonen Cl', Cl' und C3' sind
über Leitungen 7, 8 und 9 und zugeordnete Schalter Sl, S2 und 53 mit einem geeigneten Potential verbunden,
beispielsweise mit Massepotential. Auch die
gemeinsame Basiszone 1 ist über eine Leitung 6 an geeignetes Potential, im betrachteten Ausführungsbeispiel ebenfalls an Massepotential, gelegt.
Die Potentialverhältnisse sind so gewählt, daß sich bei geöffneten Schaltern Sl, 52 und S3 der zügeführte
Emitterstrom Ie gleichmäßig auf die einzelnen Emitter El, E2 und E3 verteilt und daß in den zugeordneten
Kollektorkreisen die KollektorströmeIcI, Ic 2 und /c3 fließen. Bei identischer Ausführung der
einzelnen Transistorstrukturen sind diese Ströme etwa gleich groß. Durch Schließen der Schalter Sl,
S2 und S3 können die zusätzlichen Zonen CY, C2'
und C 3' an ein Potential gelegt werden, so daß die Kollektorströme /el, Ic2 und Ic3 nicht mehr über
die Leitungen 3, 4 und 5 zu den Verbrauchern geleitet, sondern über die zusätzlichen Zonen C1', C 2'
und C 3', die zugeordneten Leitungen 7, 8 und 9 und die Schalter Sl, S2 und S3 abgeleitet werden. Mit
Hilfe der Schalter können somit einzelne oder sämtliche Verbraucher beliebig mit Kollektorstrom versorgt
werden oder nicht. Bei geöffnetem Schalter fließt im zugeordneten Verbraucher Kollektorstrom,
und bei geschlossenem Schalter wird dieser Kollektorstrom über die zugeordnete zusätzliche Zone vom
Verbraucher abgeschaltet.
Das in F i g. 2 dargestellte weitere Ausführungsbeispiel besteht wiederum aus einem η-leitenden Substrat
20, das die gemeinsame Basiszone bildet.
Die Kollektoren C1 und C 2 der beiden Transistorstrukturen
bestehen aus p-leitenden, rahmenförmigen Gebieten, die an einer Seite unterbrochen sind, also
einen Spalt aufweisen. Die Emitterzonen El und £2
sind im Bereich dieser Spalten eindiffundiert. Die zusätzlichen p-leitenden Zonen Cl' und C 2' liegen
in der Basiszone innerhalb der rahmenförmigen KoI-lektorzonen Cl und C 2. Diese Anordnung bezweckt
eine kleine inverse Stromverstärkung der Transistorstrukturen El, B, CY bzw. E2, B, C2'. Außerdem
ist im Ausführungsbeispiel gemäß der F i g. 2 um die Emitterzonen El und E2 jeweils eine nach der zusätzlichen
Zone CY und C2' hin offene, entgegengesetzt
zur Emitterzone, hochdotierte klammerförmige Zone BX bzw. B2 eindiffundiert. Durch diese
Zone wird das Übertreten injizierter Löcher direkt zur Kollektorzone Cl bzw. C 2 verhindert, da die
Injektion dort stark vermindert und zur Emitterzone £1 bzw. £2 gelenkt wird und da die Lebensdauer
der wenigen noch in der hochdotierten Zone B1 bzw.
B 2 injizierten Löcher sehr klein ist.
Die Emitter El und E2 sind wiederum über eine gemeinsame, den Emitterstrom Ie führende Leitung 21 an eine nicht dargestellte Emitterstromquelle angeschlossen. Die Kollektorzonen Cl und C 2 sind über Leitungen 23 und 25 mit den nicht dargestellten
Die Emitter El und E2 sind wiederum über eine gemeinsame, den Emitterstrom Ie führende Leitung 21 an eine nicht dargestellte Emitterstromquelle angeschlossen. Die Kollektorzonen Cl und C 2 sind über Leitungen 23 und 25 mit den nicht dargestellten
ίο Verbrauchern verbunden. Die zusätzlichen Zonen
Cl' und C 2' liegen über Leitungen 22 und 24 und zugeordnete Schalter Sl und S 2 an Massepotential.
Die gemeinsame Basiszone 20 ist über eine hochdotierte Zone B kontaktiert und über eine Leitung 26
ebenfalls an Massepotential gelegt. Durch Schließen oder öffnen der Schalter Sl und S 2 fließen die Kollektorströme
/el und /c2 entweder zum Verbraucher oder werden über die Schalter abgeführt.
Eine Weiterbildung des in F i g. 2 gezeigten Aus-
ao führungsbeispiels ist der F i g. 3 zu entnehmen. Die
beiden Transistorstrukturen sind hierbei als Mehrfach-Kollektor-Transistoren
ausgeführt. In ein wiederum als gemeinsame Basiszone 30 dienendes Halbleitersubstrat
sind zwei Emitterzonen El und £2 eindiffundiert. Lateral zu jeder dieser Emitterzonen
sind in symmetrischer Anordnung zwei, die Emitterzone klammerähnlich umfassende Kollektorzonen
CIl und C12 bzw. C21 und C22 angeordnet. In
der Basiszone innerhalb der Kollektorzonen sind die zusätzlichen Zonen CIl' und C12' bzw. C 21' und
C 22' eindiffundiert. Zur Vermeidung von Rückwirkungen über die Emitter sind diese wiederum zu den
Kollektoren CIl und C12 bzw. C21 und C22 hin
von hochdotierten Gebieten Bl und B 2 gleichen
Leitfähigkeitstyps wie die Basiszone umgeben. Die Emitterstromzufuhr erfolgt über die gemeinsame
Leitung 31. Die Kollektorströme IcIl, /cl2, /c21
und /c22 fließen über die Leitungen 32, 35, 36 und 39. Das Schalten der Kollektorströme erfolgt wiederum
über Schalter SIl, S12, S21 und S22, die übet Leitungen 33, 34, 37 und 38 mit den zusätzlichen
Zonen CIl', C12', C 21' und C 22' verbunden sind. Die Basiszone 30 ist über ein hochdotiertes Gebiet E
kontaktiert und über Leitung 40 an ein geeignetes
Potential gelegt.
Hierau 1 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
1 Integrierte Halbleiterschaltung aus mehreren in bekannter Weise mittels söge-
Emitterelektroden und eine gemeinsame Basis una dung von unipolaren Feldeffekt Iransi
elektrode als einzeln schaltbare Stromquellen be- der yc bipolaren Transistoren entspricht Die
wird, daß der jeweils von der Emitterzone #5
Schaltungen geht ein
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FR2109579A5 (de) | 1972-05-26 |
NL7106625A (de) | 1971-12-07 |
NL169935C (nl) | 1982-09-01 |
NL169935B (nl) | 1982-04-01 |
JPS5010107B1 (de) | 1975-04-18 |
DE2027127A1 (de) | 1971-12-09 |
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