DE19732619C2 - Optische Detektoreinrichtung - Google Patents
Optische DetektoreinrichtungInfo
- Publication number
- DE19732619C2 DE19732619C2 DE19732619A DE19732619A DE19732619C2 DE 19732619 C2 DE19732619 C2 DE 19732619C2 DE 19732619 A DE19732619 A DE 19732619A DE 19732619 A DE19732619 A DE 19732619A DE 19732619 C2 DE19732619 C2 DE 19732619C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- light
- detector device
- optical
- optical detector
- planar
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/45—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods
Description
Die Erfindung betrifft eine optische Detektoreinrichtung nach dem Oberbegriff des An
spruches 1, die auf der Bestimmung oder Beeinflussung der Phasengeschwindigkeit von
in einem Wellenleiter geführten oder sich frei im Raum ausbreitenden Lichtes basiert.
Zum Nachweis von chemischen Reaktionen oder zur Analyse von Substanzen oder
Stoffgemischen, sowie zur Bestimmung der Brechzahl eines Mediums bzw. der Brech
zahldifferenz zweier Flüssigkeiten oder Gase besteht anwenderseitig ein Bedarf nach
einem hochwertigen, gleichwohl störunanfälligen und aus wenigen Komponenten ver
hältnismäßig einfach aufgebautem Detektorsystem.
Zu diesem Zweck sind im Stand der Technik interferometrische oder differential
refraktorische Meßzellen und Meßeinrichtungen bekannt (US 4229105, US 5168325,
US 5426505).
Ein direkter Nachweis chemischer oder biochemischer Reaktionen, d. h. eine Detektion,
die ohne die Verwendung von Markierungen, (wie z. B. durch Fluoreszenz oder Radioak
tivität) auskommt, kann unter anderem dadurch erfolgen, daß die Ausbreitungsge
schwindigkeit einer Lichtwelle in Abhängigkeit von ihrer Beeinflussung durch die zu er
fassende Substanz (Detektionsmedium) erfaßt wird. Aus der Veränderung der Ausbrei
tungsgeschwindigkeit wird dann auf das beeinflussende Medium (Detektionsmedium)
rückgeschlossen. Die Veränderung der Ausbreitungsgeschwindigkeit der Lichtwellen
kann durch verschiedene optische Anordnungen detektiert werden. Vielfach wird die Ge
schwindigkeitsmessung auf eine Winkelmessung zurückgeführt. Dabei werden sowohl
frei im Raum sich ausbreitende Lichtstrahlen als auch in Wellenleitern geführtes Licht
verwendet. Wie bekannt, ist die Führung des Lichtes in einem Lichtwellenleiter mit einem
evaneszenten Feldanteil verbunden, der außerhalb des Lichtleiters geführt wird. Daher
ist es mit optischen Lichtwellenleitern möglich, eine Detektion von Massenbelegungen
auf der Oberfläche des Lichtwellenleiters (genauer auf der Oberfläche der lichtleitenden
Schicht des Lichtwellenleiters) vorzunehmen.
In diesem Bereich hat sich das Interesse, insbesondere auf zwei Meßprinzipien, die
Oberflächen-Plasmonenräsonanz (B. Liedberg, C. Nylander, I. Lundström: Surface
plasmon resonance for gas detection and biosensing; Sensors and Actuators 4 (1983)
299) und das Prinzip des Gitterkopplers (Ph. Nellen, K. Tiefenthaler, W. Lukosz: Integra
ted optical input grating couplers as biochemical sensors; Sensors and Actuators 15
(1988) 285) konzentriert. In beiden Fällen wird die Ausbreitungskonstante einer geführ
ten Lichtwelle aus einer Winkelmessung bestimmt. Dabei benutzt man die Tatsache, daß
die Anregung des Oberflächenplasmons bzw. des Wellenleitermodus (im Falle des Git
terkopplers) bei Einstrahlung auf das Dünnfilm-Element nur in einem sehr kleinen Win
kelbereich möglich ist. Dieser Winkelbereich verschiebt sich in Abhängigkeit von der
Adsorption von Molekülen auf der Oberfläche des Bauelementes. Die Empfindlichkeit der
beiden Meßmethoden bezüglich der Oberflächenbelegung mit Antikörpern bzw. Antige
nen ist etwa gleich. Sie ist allerdings dadurch begrenzt, daß das Zentrum des Winkelbe
reiches, in dem die Einkopplung möglich ist, mit einer Genauigkeit von ca.
1 × 10-3 dieses Winkelbereiches bestimmt werden kann.
Aus US-PS 5 239 364 ist ein optisches Meßverfahren bekannt, bei welchem unter Verwen
dung eines Interferometers die Phasendifferenz zweier Lichtstrahlen gemessen wird,
die durch Aufteilung eines Lichtstrahles aus kohärentem Licht gebildet sind. Einer der
beiden Lichtstrahlen wird über einen Umlenkspiegel auf ein zu untersuchendes Substrat
gerichtet. Der durch das Substrat hindurchtretende Teil des entsprechenden Lichtstrahls
wird mittels eines teildurchlässigen Spiegels mit dem anderen Lichtstrahl überlagert. Die
derart zusammengeführten Lichtstrahlen werden über eine Linsenanordnung auf einen
entsprechenden Sensor projiziert, wobei die hierbei aufgrund von Interferenzen über den
Sensor erfaßten Hell-Dunkel-Schwankungen als Impulse von einem Rechner erfaßt
werden, welcher auf Grundlage dieser Impulse die Phasendifferenz der beiden Licht
strahlen ermittelt.
Ein weiteres Verfahren, das sogenannte "resonant mirror"-Prinzip führt die Änderung der
Ausbreitungsgeschwindigkeit auf eine Winkelmessung zurück (R. Cush, J. Cronin, W.
Steward; C. Maule, J. Molloy; N. Goddard: The resonant mirror: a novel optical biosensor
for direct sensing of biomolecular interactions, Part I: Principle of operation and associa
ted instrumentation, Biosensors & Bioelectronics 8 (1993) 347).
Ferner werden in jüngerer Zeit zunehmend integriert-optische Bauelemente für inter
ferometrische Zwecke verwendet, wie z. B. das Mach-Zehnder Interferometer oder das
Young-Interferometer (z. B. als Schichtwellenleiter für die Erfassung von magnetischen
Feldstärken, Spannungen oder Temperaturen, für die Refraktrometrie oder chemische
Substanznachweise). Diese integrierten Optiken sind sehr kompakt und mechanisch
stabil. Im Bereich der Technologie solcher planaren Lichtwellenleiter muß den Proble
men der Faser- und Lichteinkopplung in diese integrierten Optiken ebenso wie dem Er
halt eindeutiger Meßergebnisse wegen der periodischen Struktur von interferometrisch
erhaltenen Intensitätsverteilungen besondere Aufmerksamkeit gewidmet werden.
Anwenderseitig wird die Verbesserung dieser bestehenden Systeme im Sinne einer
hochauflösenden optischen Detektoreinrichtung gewünscht, die aus Kostengründen und
zur Verbesserung der Störunanfälligkeit aus wenigen optischen Komponenten und ein
fach aufgebaut sein soll. Die Einrichtung soll außerdem eine Auslegung als Vielkanalsy
stem ermöglichen, so daß in einem Arbeitsgang eine Vielzahl von Analysen
(vorzugsweise mehr als 100 Analysen) parallel durchgeführt werden können. Analysen
anordnungen, die chemische oder biochemische Reaktionen auf der Oberfläche eines
Lichtwellenleiters auswerten, erfordern preisgünstige und leicht austauschbare Wellenlei
ter-Bauelemente, da die Immobilisierung spezifischer Substanzen zur Erkennung des
Analyten (Detektionsmedium) nur begrenzt haltbar ist. Insbesondere ist in der Regel nur
eine begrenzte Anzahl von Nachweisen mit einer Immobilisierung durchführbar.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine optische Detektoreinrichtung zu
schaffen, die den vorgenannten Anforderungen genügt und in unkomplizierter und ko
stengünstiger Weise eine gewünschte, stoffspezifische Detektion ermöglicht.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die Merkmale des Anspruches 1 gelöst.
Die erfindungsgemäß vorgesehene Strahlformung des von einer Lichtquelle aufgenom
menen Lichtes zu zwei Strahlquellen, die divergentes Licht abstrahlen, gestattet bei Be
aufschlagung des einen Strahlenbündels mit einem Referenzmedium (Referenzstrecke)
und Beaufschlagung des anderen Strahlenbündels mit einem Detektionsmedium
(Meßstrecke) eine einfache Überlagerung der divergenten Strahlenbündel in der Detek
tionsebene, in der sich ein ortsauflösender Detektor (vorzugsweise eine CCD-Zeile) be
findet, zur Erfassung der charakteristischen Intensitätsverteilung.
Das entstehende Linienmuster entspricht der Signatur, wie sie aus dem Doppelspaltver
such bekannt sind. Diese Signatur (Intensitätsverteilung) verändert sich, wenn sich in
einer der Einwirkungsstrecken (Meßstrecke bzw. Referenzstrecke) die Phasenge
schwindigkeit des lichtes ändert. Die Analyse des Beugungsmusters, das durch den
ortsauflösenden Detektor erfolgt, erlaubt die quantitative Bestimmung der Phasendiffe
renz am Ende von Meß- bzw. Referenzstrecke (Einwirkungsstrecken) und damit die
Analyse einer bestimmten Substanz, von Stoffgemischen oder chemischen Reaktionen,
sowie auch die Bestimmung von Brechzahlen zweier Flüssigkeiten oder Gase unter
Durchstrahlung der vorzugsweise in einer Doppelküvette befindlichen Medien durch die
Strahlenbündel.
In einer besonders bevorzugten Ausführungsform kann zusätzlich unter Ausnutzung der
Fluoreszenz des Detektionsmediums (oder des Referenzmediums) auch eine Analyse
durch Fluoreszenzmessung erfolgen.
Bevorzugte Ausgestaltungen des Erfindungsgegenstandes sind in den Unteransprüchen
dargelegt.
Die Erfindung wird nachstehend anhand von Ausführungsbeispielen und dazugehörigen
Zeichnungen näher erläutert. In diesen zeigen:
Fig. 1a-1c schematische Darstellungen der strukturellen Auslegung von optischen
Detektoreinrichtungen nach verschiedenen Ausführungsbeispielen der Er
findung,
Fig. 2 eine optische Detektoreinrichtung in schematischer Darstellung nach ei
nem weiteren Ausführungsbeispiel der Erfindung mit einer Strahlfor
mungseinrichtung stromauf von Meß- bzw. Referenzstrecke
(Einwirkungskanäle bzw. Einwirkungsstrecken),
Fig. 3 eine optische Detektoreinrichtung in schematischer Darstellung nach ei
nem weiteren Ausführungsbeispiel der Erfindung mit Meß- bzw. Referenz
strecke stromauf einer Strahlformung,
Fig. 4 eine optische Detektoreinrichtung nach einem weiteren Ausführungsbei
spiel der Erfindung mit Integration der Meß- bzw. Referenzstrecken und
der Strahlformungseinrichtung in einem integriert-optischen Bauelement,
Fig. 5 eine optische Detektoreinrichtung nach einem weiteren Ausführungsbei
spiel der Erfindung in Mehrkanalauslegung, in schematischer Darstellung,
und
Fig. 6 eine optische Detektoreinrichtung (partiell) in Kombination mit einer Fluo
reszenzerfassung in schematischer Darstellung.
Zunächst wird auf die Fig. 1a bis 1c Bezug genommen, die in schematischer Block
darstellung verschiedene Auslegungsmöglichkeiten der optischen Detektoreinrichtung
zeigen.
In allen Fällen besteht die Detektoreinrichtung aus einer (einzigen) Lichtquelle 1, einer
optischen Anordnung (Strahlformungsoptik 2) zur Erzeugung zweier divergent abstrah
lender, räumlich begrenzter, möglichst punktförmiger Intensitätsverteilungen
(Strahlquellen), einem aus einer Meßstrecke 3 und einer Referenzstrecke 4 bestehen
den Einwirkungsbereich, in dem das Licht entlang der oder durch die zu analysierenden
Substanzen geführt wird, sowie einer fotoelektrischen Empfangseinrichtung 5
(ortsauflösender Detektor).
In den Fig. 1a bis 1c ist eine solche optische Detektoreinrichtung schematisch dar
gestellt. Die Einwirkungsstrecke aus Meßstrecke 3 und Referenzstrecke 4 kann sich vor
oder hinter dem optischen Teiler 2 (Strahlformungsoptik) befinden. Diese beiden Ausfüh
rungsformen sind in den Fig. 1a und 1b dargestellt.
Wie in Fig. 1c gezeigt, kann der optische Teiler (Strahlformungsoptik 2) auch integral
einstückig mit der Meßstrecke 3 (Meßkanal) bzw. der Referenzstrecke 4 (Referenzka
nal), d. h. mit dem Einwirkungsbereich in einem integriert optischen Element (IO-Ele
ment), vorzugsweise einem planaren Lichtwellenleiter (Schichtwellenleiter) ausgebildet
sein, wie dies anhand weiterer Ausführungsbeispiele noch genauer erläutert wird.
Die beiden divergenten Strahlenbündel überlagern sich auf der sich an die Strahlfor
mungsoptik 2 anschließenden Strecke. Sie erzeugen in einer Detektionsebene, in der
sich die ortsauflösende, d. h. die eine Positionsinterpretation der Intensitätsverteilung
gestattende optoelektronische Empfangseinrichtung, vorzugsweise eine CCD-Zeile 5,
befindet, eine für die untersuchte Probe charakteristische Intensitätsverteilung. Das ent
stehende Linienmuster entspricht der Signatur, die bei dem bekannten Doppelspaltever
such entsteht. Dieses Muster verändert sich, wenn sich in einer der Einwirkungsstrecken,
d. h. entweder in der Meßstrecke 3 oder in der Referenzstrecke 4 die Phasengeschwin
digkeit des Lichtes ändert. Die Analyse des Beugungsmusters erlaubt die quantitative
Bestimmung der Phasendifferenz am Ende von Meßstrecke 3 und Referenzstrecke 4.
Eine Ausführungsform des Ausführungsbeispiels nach Fig. 1a ist in Fig. 2 dargestellt.
Hierbei ist die Strahlformungsoptik 2 im Lichtpfad zwischen der Lichtquelle 1 und einem
planaren Lichtwellenleiter 6, in dem (hier nicht näher dargestellt) die Meßstrecke 3 und
die Referenzstrecke 4 gebildet sind, angeordnet. Die Strahlformungsoptik 2 besteht aus
einer fokussierenden Linse 7 und einem Kösters-Prisma 8. In der Brennebene der fo
kussierenden Linse 7 entstehen zwei helle Lichtflecke, die divergent in den dahinterlie
genden Raum einstrahlen. Ist hier ein planarer Lichtwellenleiter 6 angeordnet, der ohne
laterale Strukturierung seiner vorzugsweise an der Oberfläche befindlichen lichtleitenden
Schicht in einer Ebene festliegt, verlaufen die Strahlenbündel in der Ebene der licht
leitenden Beschichtung weiterhin divergent, während das Licht in einer Ebene senkrecht
zu der lichtleitenden Schicht auf die lichtleitende Schicht konzentriert wird. Entscheidend
für die Erzeugung des Beugungsmusters an dem fotoelektrischen Detektor 5 ist die di
vergente Ausbreitung des ersten und zweiten Lichtbündels in der Schichtebene des
planaren Lichtwellenleiters 6.
In dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 2 ist eine Einkopplung des Lichtes von dem
Kösters-Prisma 8 in den planaren Lichtwellenleiter 6 bzw. in die lichtleitende Schicht
desselben durch eine Endfläche des planaren Lichtwellenleiters 6 vorgesehen. In dieser
Endfläche entstehen Strahlquellen 9, 9' als Ausgangsquellen der beiden Lichtbündel des
in der lichtleitenden Schicht des planaren Lichtwellenleiters geführten Lichtes und bilden
die Meßstrecke 3 und die Referenzstrecke 4. In den jeweiligen Bereichen auf der
Oberfläche des planaren Lichtwellenleiters 6, (die mit der lichtleitenden Schicht bedeckt
ist), werden z. B. - hier nicht gezeigte - Durchflußzellen aufgesetzt, mit denen im Bereich
der Meßstrecke 3 die Analyten (Detektionsmedium) und über die Referenzstrecke 4
Referenzflüssigkeiten zugeführt und dem evaneszenten Feld des in der lichtleitenden
Schicht des planaren Lichtwellenleiters 6 geführten Lichtes ausgesetzt werden. Beim
Durchlaufen des planaren Lichtwellenleiters 6 wird die Ausbreitungsgeschwindigkeit des
Wellenleiter-Modus aufgrund des evaneszenten Feldanteiles, z. B. durch die auf der
lichtleitenden Schicht ablaufenden chemischen Reaktionen, beeinflußt. Nachdem sie die
lichtleitende Schicht des Lichtwellenleiters 6 durchlaufen haben, treten die Lichtbündel
durch eine Endfläche des planaren Lichtwellenleiters 6 aus. Dabei wird die Ausbrei
tungsrichtung in der Ebene des lichtleitenden Filmes nur durch die Brechung des Lichtes
verändert. Die Lichtbündel A, B sind weiterhin divergent, so daß sie nach einer bestimm
ten Strecke überlagern und man in einer Detektionsebene, in der eine CCD-Zeile 5 an
geordnet ist, das Beugungsmuster erhält. In der Ebene senkrecht zum planaren Lichtwel
lenleiter 6 kann das Licht kollimiert werden oder durch Fokussierung mit einer Zylinder
linse eine linienförmige Intensitätsverteilung in der Detektionsebene erzeugt werden.
In einer alternativen Ausführungsform kann bei Austausch des planaren Lichtwellenlei
ters 6 gegen eine Doppelküvette auch eine Brechzahldifferenz zweier Flüssigkeiten oder
Gase mit der im übrigen wie vorbeschrieben ausgeschalteten Detektoreinrichtung ge
messen werden.
Ein weiteres Ausführungsbeispiel einer optischen Detektoreinrichtung ist schematisch in
Fig. 3 gezeigt. Bei diesem Ausführungsbeispiel ist die Einwirkungsstrecke, d. h. die Meß
strecke 3 und die Referenzstrecke 4, stromauf, d. h. vor der Strahlformungsoptik 2, an
geordnet. Die Meßstrecke 3 bzw. die Referenzstrecke 4 ist auch in diesem Fall in einem
integriert-optischen Element (IO-Element), d. h. in einem Schichtwellenleiter oder plana
ren Lichtwellenleiter 6, ausgebildet, der an seiner Oberfläche die lichtleitende Schicht 10
auf einem Substrat 11 trägt. Zur Ein- und Auskopplung des Lichtes in den bzw. aus dem
Lichtwellenleiter 6 werden hier Beugungsgitter 12 eingesetzt. Nach Durchlaufen des wie
derum lateral unstrukturierten Lichtwellenleiters 6 werden die Strahlenbündel durch eine
Zylinderlinse 13 kollimiert. Mit zwei sphärischen Linsen 7 werden zwei Brennpunkte er
zeugt. In der Brennebene der sphärischen Linsen 7 befindet sich eine doppelte Loch
blende 14. Nach Durchlaufen der doppelten Lochblende 14 überlagern sich die diver
gent verlaufen Strahlenbündel (hier nicht gezeigt), so daß in der CCD-Zeile 5 dieselbe
Signatur entsteht wie in dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 2. Zur Einkopplung der
Strahlenbündel in das Koppelgitter wird hier ein Umlenkspiegel 15 verwendet.
Ein Ausführungsbeispiel für die in einem Bauteil zusammengefaßte, integrale Ausbildung
von Einwirkungsbereich, d. h. von Meßstrecke 3 und Referenzstrecke 4 mit der Strahl
formungsoptik in einem wiederum als Schichtwellenleiter (planarer Lichtwellenleiter 6)
ausgebildeten integriert-optischen Element zeigt schematisch Fig. 4. Paralleles Licht ei
nes Lichtstrahles wird über einen Umlenkspiegel 15 durch ein Koppelgitter 12 in den
planaren Lichtwellenleiter 6 eingekoppelt. Der planare Lichtwellenleiter 6 besteht wieder
um aus einem Basissubstrat 11, das mit der lichtleitenden Schicht 10 überzogen ist. In
der lichtleitenden Schicht 10 des Lichtwellenleiters 6 sind planare Linsen 16 gebildet, die
in der Ebene der lichtleitenden Schicht 10 des Lichtwellenleiters 8 eine Lichtbündelung
bewirken. Diese fokussierenden Linsen 16 werden durch eine Anhebung der effektiven
Brechzahl des Wellenleiter-Modus erzeugt. Dies kann z. B. durch Erhöhung der Dicke
der lichtleitenden Schicht 10 im Bereich der fokussierenden. Linsen 16 hervorgerufen
werden. Diese planaren Linsen 16 fokussieren das geführte Licht unter Durchlaufen von
Meßstrecke 3 bzw. Referenzstrecke 4 auf planarer Spalte zur Bildung eines Strahlquel
lenpaares, von dem aus das Licht in divergenten Lichtbündeln aus der Endfläche des
Lichtwellenleiters 6 zur Überlagerung in der Detektionsebene der CCD-Zeile 5 abge
strahlt wird. Ein solcher Spalt kann z. B. dadurch erzeugt werden, daß in dem Bereich um
die schmale Austrittsöffnung des Lichtes aus der lichtleitenden Schicht 10 des Lichtwel
lenleiters 6 herum diesem eine das Licht stark absorbierende Eingeschaft verliehen wird
oder dadurch, daß das Licht in diesem Bereich in anderer Weise abgestrahlt wird.
Die Erhöhung der Lichtabsorptionsfähigkeit zur Bildung der punktförmigen Strahlquellen,
von der aus sich das Licht als divergentes Lichtbündel ausbreitet, kann z. B. durch metal
lische Beschichtungen 17 des Wellenleiters 6 realisiert werden.
Der andere Fall, d. h. das Bilden einer punktförmigen Strahlquelle kann durch eine defi
nierte Unterbrechung des Lichtwellenleiters erreicht werden. Zum Beispiel kann der
ganzflächig hergestellte Lichtwellenleiter durch strukturiertes Ätzen seiner Oberfläche in
seiner lichtleitenden Schicht dort unterbrochen werden, wo das Licht nicht weitergeführt
werden, divergent abgestrahlt werden soll.
Ein derartiges planares Analagon zu der Ausbildung einer Doppelspaltblende würde
auch ohne die planaren Linsen arbeiten. Die Fokussierung der Linsen auf die planaren
Spalte erhöht insgesamt die transmittierte Lichtintensität deutlich. Bei Verwendung der
Linsen filtert der Spalt bei einem solchen, hier nicht gezeigten, Ausführungsbeispiel un
erwünschtes Streulicht aus der anschließend in der Detektionsebene aufgenommenen
Intensitätsverteilung. Es versteht sich von selbst, daß auch bei diesem Ausführungsbei
spiel die Anordnung des Analyten bzw. der Referenzflüssigkeit, z. B. mit Hilfe von Durch
flußzellen, in Kontakt mit der lichtleitenden Schicht (Oberfläche) des planaren Lichtwel
lenleiters 6 nur schematisch und nicht im einzelnen gezeigt ist.
Als lichtleitendes Schichtelement kann auch ein integriert-optischer Y-Verteiler als Ele
ment, durch das in einem Bauteil die Einwirkungsstrecke (Referenzstrecke, Meßstrecke)
mit der Strahlformungsoptik zur Bildung der Strahlquellen, die die divergenten Strahl
bündel abstrahlen, kombinierbar ist, verwendet werden. Der Y-Verteiler ist im Gegensatz
zu den vorerläuterten Lichtwellenleitern dabei aus Streifenleitern aufgebaut. Das heißt,
der Y-Verteiler weist hinsichtlich seiner lichtleitenden Schicht eine laterale Strukturierung
auf, so daß bestimmte Lichtpfade durch diese Strukturierung der Lichtwellenleiter vorge
geben werden. Für Monomode-Wellenleiter liegen typische Strukturbreiten in der Grö
ßenordnung von wenigen Mikrometern. Der Y-Verteiler teilt das in einen Eingang einge
koppelte Licht auf zwei Ausgänge auf, die die Strahlquellen bilden. Durch die Beugung
des Lichtes beim Austritt aus dem Wellenleiter entstehen divergente Strahlbündel, die
nach einer bestimmten Strecke auch ein Linienmuster erzeugen. Die Einwirkung durch
die zu detektierenden Substanzen bzw. chemischen Reaktionen erfolgt wiederum durch
das evaneszente Feld des Streifenleiters. Ein Zweig dieser als Y-Verteiler ausgebildeten,
planaren optischen Struktur, bildet die Meßstrecke, während der andere Zweig die Refe
renzstrecke bildet. Die Länge der Einwirkungsstrecke kann sehr präzise durch struktu
rierte Deckschichten definiert werden. Auch in einem solchen Fall werden vorzugsweise
zwei verschiedene Durchflußzellen auf die Pfade des Y-Verteilers aufgesetzt, die einer
seits den Analyten (Detektionsmedium) und andererseits Referenzflüssigkeiten führen.
Alternativ ist auch in diesem Fall die Messung von Brechzahlen an Flüssigkeiten oder
Gasen möglich, in dem die Oberfläche des Y-Verteilers unbeeinflußt bleibt aber im An
schluß an den Y-Verteiler eine Doppelküvette angeordnet wird, durch die die aus den
beiden Pfaden von den Strahlquellen Y-Verteilers austretende Lichtstrahlung divergent
hindurchtritt.
Sowohl in diesem wie auch in den vorerläuterten Ausführungsbeispielen kann auch die
Brechzahl von Flüssigkeiten dadurch bestimmt werden, daß aufgrund des evaneszenten
Feldes die Phasengeschwindigkeit der geführten Lichtwelle auch von einer Brechzahl
des über der lichtleitenden Schicht des Wellenleiters befindlichen Mediums abhängt.
In einer Detektionsebene entsteht ein hier nur schematisch angedeutetes Linienmuster.
Die Intensitätsverteilung läßt sich bei Verwendung kohärenten Lichtes, abgesehen von
einem Intensitätsabfall am Rand der Signatur, durch eine cos2-Funktion beschreiben. Bei
einer Veränderung der Phasengeschwindigkeit des Lichtes im Bereich von Meßstrecke
bzw. Referenzstrecke bewegt sich die Signatur lateral. Durch verschiedene numerische
Verfahren kann die Phase dieser periodischen Verteilung sehr genau bestimmt werden.
Vorzugsweise wird die aufgenommene Signatur mit Hilfe einer Fourier-Transformation
ausgewertet.
Bei einer Lateralverschiebung um eine Periode der Signatur oder einem Vielfachen da
von, bereitet zunächst die Eindeutigkeit der Auswertung Schwierigkeiten, da bei Ver
schiebung um genau eine Periode wieder eine identische Identitätsverteilung entsteht.
Diese Schwierigkeit kann durch den Einsatz mehrerer, zumindest zweier diskreter Licht
wellenlängen umgangen werden. Es ist also vorteilhaft, gleichzeitig mit lichtunterschiedli
cher Wellenlänge in Meßstrecke und Referenzstrecke zu arbeiten. Die dann entstehen
de Verteilung ist durch ein cos2-Funktion mit einer periodischen Einhüllenden beschrie
ben. Die Periode der Hüllkurve hängt von der Differenz der verwendeten Lichtwellenlän
gen ab. Die Verschiebung der Hüllkurve entspricht derjenigen der ursprünglichen Signa
tur kleinerer Periode. Der Eindeutigkeitsbereich der Erfassung kann daher deutlich ver
größert werden.
Alternativ hierzu kann anstelle kohärenten Lichtes auch Licht geringer Kohärenz in
Meßstrecke und Referenzstrecke verwendet werden. In diesem Fall wird die cos2-
Funktion von einer nicht-periodischen Einhüllenden überlagert und die Position einer
Signatur durch Faltung mit einer Funktion bestimmt, die aus einem periodischen Anteil
und einer nicht-periodischen Einhüllenden besteht. Die Auswertung ist dann eindeutig
möglich.
Bei Verwendung von Licht geringer Kohärenz erfolgt die Auswertung der Intensitätsver
teilungen in der Detektionsebene vorzugsweise in zwei Schritten. Zunächst wird eine
Grobsuche durchgeführt, mit der das Maximum der Einhüllenden der Intensitätsvertei
lung bestimmt wird. Dieser Algorithmus muß mindestens mit einer Genauigkeit erfolgen,
die der Periode des Beugungsmusters entspricht, so daß die Interferenzordnung ein
deutig gegeben ist. In einem zweiten Schritt wird mit hoher Auflösung die Phasenlage
der periodischen Intensitätsverteilung ermittelt.
Vorzugsweise wird diese Grobsuche aus einer Korrelation des mit der CCD-Zeile aufge
nommenen Signals mit zwei Referenzverteilungen durchgeführt. Es handelt sich bei die
sen Referenzverteilungen um numerisch berechnete Sinus- und Kosinus-Funktionen mit
einer kosinusförmigen Einhüllenden. Diese modifizierte Kreuzkorrelation ergibt ein Ma
ximum an der Position des Maximums der Einhüllenden der Intensitätsverteilung
(Interferometersignal).
Ausgehend von dieser Position wird ein Zentrum der Intensitätsverteilung genau be
stimmt, indem ein Fourier-Transformation der Signalverteilung vorgenommen wird.
Wahlweise kann auch eine FFT-Analyse (Fast Fourier Transformation) des Interferome
tersignales, d. h. der Signatur oder Intensitätsverteilung durchgeführt werden. Zur genau
en Positionsbestimmung werden nur diejenigen Fourier-Koeffizienten ausgewertet, die
der Ortsfrequenz zugeordnet sind, bei der das Leistungsspektrum sein Maximum hat. Da
die Fourier-Koeffizienten bei anderen Ortsfrequenzen keine Information enthalten, ist es
ausreichend, nur diese eine Ortsfrequenz zu betrachten.
Alternativ zu dem FFT-Algorithmus werden unter Verwendung numerisch errechneter
Sinus- und Kosinus-Funktionen die Fourier-Koeffizienten nur bei der Ortsfrequenz des
Signales errechnet. Die Phase wird durch Berechnung des Arcustangens des Verhält
nisses der Fourier-Koeffizienten bestimmt.
Im Rahmen der Realisierung derartiger Detektoreinrichtungen kann somit kohärentes
Licht, vorzugsweise aber auch Licht geringer Kohärenzlänge oder Licht mit mehreren
Wellenlängen, gleichzeitig verwendet werden.
Neben der optischen Detektoreinrichtung, wie sie anhand von Ausführungsbeispielen
erläutert und in den vorliegenden Ansprüchen näher umrissen ist, ist auch das vorerläu
terte Meß- und Auswerteverfahren erfindungswesentlich.
Auf dem Gebiet der Analytik ist die parallele Detektion vieler Substanzen ein wesentli
ches Ziel gegenwärtiger und zukünftiger Entwicklungen. Gegenwärtig werden in Ana
lyseautomaten in der Regel sogenannte Mikrotiterplatten verwendet, die auf ihrer Ober
fläche 8 × 12 Vertiefungen (wells) aufweisen. Die Platten sind üblicherweise 8,6 × 12,8
cm groß. Der Entwicklungstrend geht zu kleineren Analytmengen (kleinere Mengen an
Detektionsmedium) und eine größere Anzahl von Meßstellen.
Nach einem weiteren Ausführungsbeispiel können auch auf Grundlage der vorliegenden
Detektoreinrichtung bzw. des Meßverfahrens Analysen in einem derartigen Mikrotiterplat
tenformat oder ähnlicher Anordnungen vieler miniaturisierter Behälter für Reagenzien
erfolgen.
Eine solche Ausführungsform zeigt Fig. 5, die eine Weiterbildung in Richtung Mehrkanal-
Analyse zum Ausführungsbeispiel nach Fig. 3 ist. Ähnlich dem Young-Interferometer wird
ein Laserstrahl, hier ein aufgeweiterter Laserstrahl 1', über einen Umlenkspiegel 15 und
ein (hier nicht dargestelltes) Koppelgitter in das integriert-optische Bauelement, den
planaren Lichtwellenleiter 6, eingekoppelt, so daß der an seiner Oberfläche mit der licht
leitenden Schicht versehene Lichtwellenleiter 6 in seiner ganzen Breite ausgeleuchtet ist.
Durch fotolitografische Bearbeitung sind auf der Oberfläche des Lichtwellenleiters 6 eine
Vielzahl von Meßfenstern definiert. Im vorliegenden Fall sind vier Meßfenster, d. h. jeweils
ein aus einer Meßstrecke 3 und einer Referenzstrecke 4 bestehendes Paar, vorgese
hen, die praktisch zwei Interferometer darstellen. Nach einer Auskopplung des Lichtes
und Führung über einen weiteren Umlenkspiegel 15 wird eine Fokussierung auf Schlitz
blenden 18 mit einem Linsenarray 19 durchgeführt, das vorzugsweise mit mikroopti
schen Linsensystemen (z. B. Kugellinsen) oder mit GRIN-Linsen realisiert werden kann.
Falls nur eine CCD-Zeile 5 verwendet wird, ist es erforderlich, die einzelnen Interferome
ter, gebildet jeweils durch eine Meßstrecke 3 und eine Referenzstrecke 4 zeitlich ab
wechselnd auszulesen. Herzu ist vorzugsweise ein elektrisch ansteuerbares Flüssig
keitskristallfeld 20 vorgesehen, das den Ausgang eines Interferometers auf die CCD-
Zeile 5 durchläßt, die Ausgänge der anderen (hier des zweiten) Interferometers aber
sperrt. Auf diese Weise erscheint jeweils nur die Signatur eines Interferometers auf die
CCD-Zeile 5. Aufgrund der relativ langsam ablaufenden Immunreaktionen bei der Unter
suchung biochemischer Reaktionen sind die Geschwindigkeitsanforderungen an ein
Multiplexing sehr gering. Auch in diesem Fall ist die Anordnung des auf die Schlitzblen
den fokussierenden Linsenarrays fakultativ, im Interesse der Signalintensität jedoch
vorteilhaft.
Alternativ zu der Ausführungsform nach Fig. 5 kann auch an jeder Meßstelle, d. h. an
jeder Referenzstrecke und jeder Meßstrecke, ein eigenes Paar Koppelgitter für die Ein-
und Auskopplung des Lichtes vorgesehen sein. Das Auslesen kann jeweils gleichzeitig
für jede Reihe von Vertiefungen, in denen sich die Detektionsmedien bzw. Referenzme
dien befinden, erfolgen. Eine nächste Reihe von Proben kann durch mechanisches Ver
schieben der Trägerplatte (in der Art von Mikrotiterplatten) oder der Lichtführung in Be
zug auf die gebildeten Referenz- und Meßstrecken erfolgen.
Auf diese Weise kann auch eine Vervielfachung eines integriert optischen Y-Teilers zu
einem Mehrkanal-Detektor erfolgen, in dem mehrere Y-Verteiler in einer Reihenanord
nung eingesetzt werden, derart, daß die beiden Strahlquellen am Ausgang eines Y-
Verteilers die Eingangs-Lichtquelle für zwei nachgeordnete Y-Verteiler bilden.
Ein weiteres Ausführungsbeispiel ist (für einen Kanal, d. h. für Meß- oder Referenzstrec
ke) in Fig. 6 dargestellt. Die Besonderheit dieses Ausführungsbeispieles besteht darin,
daß hier die optische Detektion eines durch eine Küvette 21 geführten, z. B. in Pfeilrich
tung durch die Küvette 21 zirkulierenden Mediums zugleich eine Fluoreszenzstrahlung
22 dieses Mediums erfaßt und vorzugsweise durch das transparente oder transluzente
Substrat 11 hindurch durch einen Fotoverstärker 23, vorzugsweise mit vorgeschaltetem
Filter 24, erfaßt wird.
In diesem Fall kann also eine zusätzliche Information über dem zu detektierenden Medium
(zusätzlich zur optischen Auswertung durch Überlagerung der konvergenten Lichtbündel
von Meßstrecke und Referenzstrecke) entsprechende Fluoreszenzstrahlungsmessun
gen verglichen bzw. erfaßt werden und hieraus ein weiteres Unterscheidungskriterium
für, z. B. den Analyten, zur Verfügung gestellt werden.
Auch bei diesem Ausführungsbeispiel (das nur die Meßstrecke in dem planaren Lichtlei
ter 6 schematisch im Schnitt zeigt, ist ebenfalls ein aus (transparentem oder transluzen
tem) Substrat 11 und lichtleitender Schicht 10 bestehender planarer Lichtwellenleiter 6
verwendet, dessen Wellenleiter (lichtleitende Schicht 10) durch eine Deckschicht 25 ab
gedeckt ist, unter Freilassen eines Bereiches, in den die Küvette 21 mit dem Analyten 26
in Anlagekontakt an die lichtleitende Schicht 10 gebracht ist.
Das Licht wird über ein Koppelgitter 12 eingekoppelt und in der lichtleitenden Schicht
reflektiert, so daß es nach Durchlaufen der lichtleitenden Schicht 10, z. B. wie in dem
Ausführungsbeispiel nach Fig. 3 oder 4, weiterverarbeitet werden kann.
Zugleich löst das Licht jedoch auch im Analyten 26 eine Fluoreszenzstrahlung 22 aus,
die durch das Substrat 11 hindurch an der Unterseite des Lichtwellenleiters 6 fotoelek
trisch erfaßt wird.
Dem Analyten 26 kann eine solche Fluoreszenzeigenschaft entweder von Hause aus
innewohnen oder sie kann ihm durch entsprechendes Markieren mit fluoreszierendem
Material verliehen werden. Gegebenenfalls können auch andere Strahlungsemissionen
als Zusatzinformation erfaßt werden, wie z. B. radioaktive Strahlung, nachdem der Analyt
mit entsprechenden Substanzen geimpft worden ist. Vorzugsweise werden jedoch
lichtabhängige Strahlungseigenschaften des Analyten, insbesondere die Fluoreszenz,
zur Gewinnung einer Zusatzinformation verwendet. Die Detektion dieser Fluoreszenz
strahlung kann auch in anderer Weise, d. h. auch an anderen Stellen bezüglich des
Lichtwellenleiters 6 erfolgen.
Durch die Erfindung wird eine für viele Analysezwecke verwendbare, robust gestaltete
und in ihrem Aufbau einfache optische Detektoreinrichtung geschaffen, die auch rasch
austauschbar ist, so daß den Erfordernissen der Praxis nach Bereitstellung eines Nach
weiselementes für chemische oder biochemische Reaktionen auf optischer Basis in be
sonders vorteilhafter Weise Rechnung getragen ist.
Claims (32)
1. Optische Detektoreinrichtung, insbesondere zur Analyse von Substanzen, Stoff
gemischen oder chemischen Reaktionen, sowie zur Bestimmung von Brechzahlen, mit
einer Lichtquelle, einer Meß- und Referenzstrecke und einer optoelektronischen Erfas
sungseinrichtung, gekennzeichnet durch einen der Lichtquelle nachgeordneten opti
schen Teiler zur Bildung von zwei Strahlquellen (9, 9') für divergent abgestrahlte Licht
bündel, wobei einem Lichtbündel die Meßstrecke (3) sind einem Lichtbündel die Refe
renzstrecke (4) zugeordnet und zumindest in der Meßstrecke (3) die Phasengeschwin
digkeit des Lichtes beeinflußt ist, und die divergenten Lichtbündel im Bereich der opto
elektronischen Erfassungseinrichtung (5) unter Bildung einer charakteristischen Intensi
tätsverteilung überlagert sind.
2. Optische Detektoreinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
das von der Lichtquelle abgestrahlte Licht zumindest teilweise in einem planaren Wellen
leiter (6) geführt ist.
3. Optische Detektoreinrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeich
net, daß die beiden Strahlquellen (9, 9') kohärentes Licht oder Licht geringer Kohärenzlänge
abstrahlen.
4. Optische Detektoreinrichtung nach zumindest einem der vorhergehenden An
sprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß Licht unterschiedlicher Wellenlängen
gleichzeitig verwendet ist.
5. Optische Detektoreinrichtung nach zumindest einem der vorhergehenden An
sprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß eine minder optoelektronischen Erfas
sungseinrichtung (5) aufgenommene Intensitätsverteilung mit Hilfe eine Fourier-Trans
formation auswertbar ist.
6. Optische Detektoreinrichtung nach 5, dadurch gekennzeichnet, daß eine Positi
on einer Intensität der Intensitätsverteilung mit einer nicht-periodischen Einhüllenden
durch Faltung mit einer Funktion bestimmt ist, die aus einem periodischen Anteil und
einer nicht-periodischen Einhüllenden besteht.
7. Optische Detektoreinrichtung nach zumindest einem der vorhergehenden An
sprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtbündel frei das Detektions- bzw.
Referenzmedium durchlaufen.
8. Optische Detektoreinrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß
sich das Detektions- bzw. Referenzmedium in Durchflußzellen oder Küvetten (21) be
findet.
9. Optische Detektoreinrichtung nach zumindest einem der vorhergehenden An
sprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß zumindest das Detektionsmedium (26)
Fluoreszenzeigenschaften aufweist und die bei Bestrahlung mit dem in der Meßstrecke
geführten Lichtstrahlenbündel von dem Detektionsmedium abgestrahlte Fluoreszenz
strahlung (22) einer Empfangseinrichtung (23) zugeführt sind.
10. Optische Detektoreinrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß
die Empfangseinrichtung einen Photodetektor (23), vorzugsweise mit vorgeschaltetem
Filter (24), enthält.
11. Optische Detektoreinrichtung nach Anspruch 9 oder 10, dadurch gekennzeich
net, daß das der Meßstrecke (3) zugeordnete Lichtbündel in einen, vorzugsweise par
tiell mit einer Deckschicht (25) versehenen, planaren Lichtwellenleiter (6) eingekoppelt ist
und in einem freigelegten Bereich der lichtleitenden Schicht (10) des Lichtwellenleiters
(6) mit dieser eine Küvette (21) mit dem Detektionsmedium (26) in Kontakt ist.
12. Optische Detektoreinrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß
die von dem Detektionsmedium (26) abgestrahlte Fluoreszenzstrahlung (22) durch ein
transparentes Substrat (11) des Lichtwellenleiters (6) hindurch von der im Bereich einer
Rückseite des planaren Wellenleiters angeordneten Empfangseinrichtung (23) erfaßbar
ist.
13. Optische Detektoreinrichtung nach zumindest einem der vorhergehenden An
sprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß der optische Teiler stromauf der Meß-
und Referenzstrecke (3, 4) angeordnet ist.
14. Optische Detektoreinrichtung nach zumindest einem der vorhergehenden An
sprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß der optische Teiler stromab der Meß-
und Referenzstrecke (3, 4) angeordnet ist.
15. Optische Detektoreinrichtung nach zumindest einem der vorhergehenden An
sprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß der optische Teiler und die Meß- und
Referenzstrecke (3, 4) in einem optischen Element, insbesondere einem planaren Licht
wellenleiter (6) integriert sind.
16. Optische Detektoreinrichtung nach zumindest einem der vorhergehenden An
sprüche 1 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß der optische Teiler eine Strahlfor
mungsoptik (2) mit einer fokussierenden Linse und einem Kösters-Prisma (8) ist.
17. Optische Detektoreinrichtung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß
dem Kösters-Prisma (8) ein planarer Lichtwellenleiter (6) nachgeordnet ist, der die bei
den divergierenden Lichtbündel in der Ebene der lichtleitenden Schicht (10) des plana
ren Lichtwellenleiters (6) divergent führt.
18. Optische Detektoreinrichtung nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß
stromab des Lichtwellenleiters (6) die Lichtbündel in einer Ebene senkrecht zum Licht
wellenleiter (6) zur Erzeugung einer linienförmigen Intensitätsverteilung kollimiert oder
mit einer Zylinderlinse fokussiert sind.
19. Optische Detektoreinrichtung nach zumindest einem der vorhergehenden An
sprüche 1 bis 18, dadurch gekennzeichnet, daß die Meß- und Referenzstrecke (3, 4) in
einem planaren, lateral unstrukturierten Lichtwellenleiter (6) gebildet ist, in die parallele
Lichtstrahlen, insbesondere über Koppelgitter (12), ein- und/oder auskoppelbar sind und
stromab des Lichtwellenleiters eine Zylinderlinsenanordnung (13), gefolgt von einem
Paar sphärischer Linsen (7) angeordnet ist, in deren Brennebene eine doppelte Loch
blende (14) angeordnet und die von dieser ausgehenden, divergenten Lichtbündel von
einer photoelektrischen Erfassungseinrichtung, insbesondere einer CCD-Zeile (5) auf
genommen sind.
20. Optische Detektoreinrichtung nach zumindest einem der vorhergehenden An
sprüche 1 bis 19, dadurch gekennzeichnet, daß die Meß- und Referenzstrecke (3, 4) in
einem planaren, lateral unstrukturierten Lichtwellenleiter (6) gebildet ist, in die parallele
Lichtstrahlen, insbesondere über ein Koppelgitter (12), einkoppelbar sind und in der
lichtleitenden Schicht (10) des Lichtwellenleiters (6) stromab der Meß- und Referenz
strecke (3, 4) ein Paar planarer Spalte zur Bildung von divergenten Lichtbündeln ange
ordnet ist, die durch eine nachgeordnete, photoelektrische Erfassungseinrichtung, ins
besondere eine CCD-Zeile (5), erfaßbar sind.
21. Optische Detektoreinrichtung nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, daß
stromauf der planaren Spalte planare Linsen (16) zur Fokussierung des geführten Lich
tes in einer Dimension auf die planaren Spalte zur Intensitätssteigerung der Signalge
winnung angeordnet sind.
22. Optische Detektoreinrichtung nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, daß
die planaren Linsen durch (16) Anhebung einer effektiven Brechzahl der Wellenleiter
struktur, insbesondere durch eine erhöhte Dicke der lichtleitenden Schicht (10) des
Lichtwellenleiters (6), gebildet sind.
23. Optische Detektoreinrichtung nach Anspruch 21 oder 22, dadurch gekenn
zeichnet, daß die planaren Spalte durch metallische Beschichtung (17) des planaren
Lichtwellenleiters (6) realisiert sind.
24. Optische Detektoreinrichtung nach Anspruch 21 oder 22, dadurch gekenn
zeichnet, daß die planaren Spalte durch definierte Unterbrechung der lichtleitenden
Schicht des planaren Lichtwellenleiters, insbesondere durch strukturiertes Ätzen der
Oberfläche des ganzflächig mit der lichtleitenden Schicht beschichteten Lichtwellenlei
ters, realisiert sind.
25. Optische Detektoreinrichtung nach zumindest einem der vorhergehenden An
sprüche 1 bis 18, dadurch gekennzeichnet, daß die Meß- und Referenzstrecke (3, 4) in
einem integriert optischen Y-Verteiler, der einen lateral strukturierten, planaren Lichtwel
lenleiter bildet, ausgebildet sind.
26. Optische Detektoreinrichtung nach zumindest einem der vorhergehenden An
sprüche 1 bis 25, gekennzeichnet durch eine Mehrkanalanordnung.
27. Optische Detektoreinrichtung nach Anspruch 26, dadurch gekennzeichnet, daß
ein planarer Lichtwellenleiter (6) eine Mehrzahl von Meß- und Referenzstrecken (3, 4)
aufweist und am Ende oder stromab des Lichtwellenleiters (6) eine Mehrzahl von den
Meß- und Referenzstrecken zugeordneten, divergenten Lichtbündel abstrahlende
Strahlquellen gebildet sind, denen eine Auswahleinrichtung (20) zugeordnet und die fo
toelektrische Erfassungseinrichtung (5) nachgeordnet ist.
28. Optische Detektoreinrichtung nach Anspruch 27, dadurch gekennzeichnet, daß
die Strahlquellen durch eine, vorzugsweise steuerbare, Schlitzblendenanordnung (19)
gebildet sind.
29. Optische Detektoreinrichtung nach Anspruch 28, dadurch gekennzeichnet, daß
den Meß- und Referenzstrecken (3, 4) des Lichtwellenleiters (6) stromab desselben eine
das aus dem Lichtwellenleiter (6) austretende Licht auf die Schlitzblendenanordnung
(19) fokussierende Linsenanordnung (18) zugeordnet ist.
30. Optische Detektoreinrichtung nach Anspruch 26 oder 27, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Auswahleinrichtung ein elektrooptisch schaltbares Flüssigkeitskristall
feld (20) zur Auswahl eines jeweils aus Meßstrecke (3) und zugehöriger Referenzstrecke
(4) gebildeten Einwirkungskanalpaares ist.
31. Optische Detektoreinrichtung nach zumindest einem der vorhergehenden An
sprüche 27 bis 30, dadurch gekennzeichnet, daß stromauf und stromab des Lichtwel
lenleiters (6) eine Umlenkspiegelanordnung (15) vorgesehen ist.
32. Optische Detektoreinrichtung nach zumindest einem der vorhergehenden An
sprüche 27 bis 31, dadurch gekennzeichnet, daß die Mehrzahl von Meß- und Refe
renzstrecken (3, 4) des Lichtwellenleiters gemeinsam von der Lichtquelle nach Strahl
aufweitung und gegebenenfalls Kollimation beaufschlagt sind.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19732619A DE19732619C2 (de) | 1997-07-29 | 1997-07-29 | Optische Detektoreinrichtung |
EP98938599A EP1000342B1 (de) | 1997-07-29 | 1998-06-02 | Optische detektoreinrichtung |
DE59805839T DE59805839D1 (de) | 1997-07-29 | 1998-06-02 | Optische detektoreinrichtung |
PCT/EP1998/003281 WO1999006819A1 (de) | 1997-07-29 | 1998-06-02 | Optische detektoreinrichtung |
US09/495,160 US6239876B1 (en) | 1997-07-29 | 2000-01-31 | Optical detector device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19732619A DE19732619C2 (de) | 1997-07-29 | 1997-07-29 | Optische Detektoreinrichtung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19732619A1 DE19732619A1 (de) | 1999-02-18 |
DE19732619C2 true DE19732619C2 (de) | 1999-08-19 |
Family
ID=7837245
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19732619A Expired - Fee Related DE19732619C2 (de) | 1997-07-29 | 1997-07-29 | Optische Detektoreinrichtung |
DE59805839T Expired - Lifetime DE59805839D1 (de) | 1997-07-29 | 1998-06-02 | Optische detektoreinrichtung |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE59805839T Expired - Lifetime DE59805839D1 (de) | 1997-07-29 | 1998-06-02 | Optische detektoreinrichtung |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6239876B1 (de) |
EP (1) | EP1000342B1 (de) |
DE (2) | DE19732619C2 (de) |
WO (1) | WO1999006819A1 (de) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19947616A1 (de) * | 1999-10-01 | 2001-05-03 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren und Einrichtung zur Bestimmung von Substanzen, wie z. B. DNA-Sequenzen, in einer Probe |
US6239876B1 (en) | 1997-07-29 | 2001-05-29 | Fräunhofer-Gesellschaft zur Förderung der Angewandten Forschung e.V. | Optical detector device |
DE10118760A1 (de) * | 2001-04-17 | 2002-10-31 | Med Laserzentrum Luebeck Gmbh | Verfahren zur Ermittlung der Laufzeitverteilung und Anordnung |
DE102004033187B3 (de) * | 2004-01-23 | 2005-11-10 | Medizinisches Laserzentrum Lübeck GmbH | Interferometrische Vorrichtung |
DE102007033124A1 (de) * | 2007-07-16 | 2009-01-22 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung zur optischen Detektion von Substanzen in einem flüssigen oder gasförmigen Medium |
Families Citing this family (35)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19814811C1 (de) | 1998-04-02 | 1999-08-05 | Inst Physikalische Hochtech Ev | Anordnung für die Oberflächenplasmonen-Resonanz-Spektroskopie |
US7167615B1 (en) | 1999-11-05 | 2007-01-23 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Resonant waveguide-grating filters and sensors and methods for making and using same |
DE10012793C2 (de) * | 2000-03-13 | 2002-01-24 | Fraunhofer Ges Forschung | Sensorelement zur optischen Detektion von chemischen oder biochemischen Analyten |
GB0018156D0 (en) * | 2000-07-25 | 2000-09-13 | Farfield Sensors Ltd | Sensor device |
DE10140399C2 (de) * | 2001-08-17 | 2003-08-07 | Fraunhofer Ges Forschung | Optisches Analyseverfahren und optische Detektoreinrichtung |
TW593999B (en) * | 2001-12-21 | 2004-06-21 | Univ Nat Taiwan | Surface plasma seed resonance sensing system and method |
US20030219809A1 (en) * | 2002-03-26 | 2003-11-27 | U-Vision Biotech, Inc. | Surface plasmon resonance shifting interferometry imaging system for biomolecular interaction analysis |
DE10227962B4 (de) * | 2002-06-22 | 2005-12-15 | Lavision Biotec Gmbh | Grundkörper für einen Bio-Chip, Anordnung zum Auslesen und Vorrichtung zur Hybridisierung |
KR100489264B1 (ko) * | 2002-07-22 | 2005-05-17 | 주식회사 옵트론-텍 | 형광검출장치 및 그 제조방법 |
DE10236422A1 (de) * | 2002-08-08 | 2004-02-26 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zur Charakterisierung einer Beleuchtungsquelle in einem Belichtungsgerät |
US7619739B1 (en) * | 2002-08-29 | 2009-11-17 | Science Applications International Corporation | Detection and identification of biological agents using Bragg filters |
US7024060B2 (en) * | 2002-12-02 | 2006-04-04 | University Of South Florida | Method and apparatus for continuous measurement of the refractive index of fluid |
DE10257190B4 (de) * | 2002-12-06 | 2005-03-24 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Fourier-Transform-Spektrometer und Verfahren zur Ermittlung von Wellenlängen von Schwingungen |
WO2005052644A2 (en) * | 2003-11-21 | 2005-06-09 | Perkinelmer Las, Inc. | Optical device integrated with well |
US7271885B2 (en) * | 2004-03-25 | 2007-09-18 | Perkinelmer Las, Inc. | Plasmon resonance measuring method and apparatus |
US8288157B2 (en) * | 2007-09-12 | 2012-10-16 | Plc Diagnostics, Inc. | Waveguide-based optical scanning systems |
US9423397B2 (en) | 2006-03-10 | 2016-08-23 | Indx Lifecare, Inc. | Waveguide-based detection system with scanning light source |
US9528939B2 (en) | 2006-03-10 | 2016-12-27 | Indx Lifecare, Inc. | Waveguide-based optical scanning systems |
US9976192B2 (en) | 2006-03-10 | 2018-05-22 | Ldip, Llc | Waveguide-based detection system with scanning light source |
US7428055B2 (en) * | 2006-10-05 | 2008-09-23 | General Electric Company | Interferometer-based real time early fouling detection system and method |
US7532128B2 (en) * | 2006-10-25 | 2009-05-12 | Alverix, Inc. | Position sensitive indicator detection |
US8068228B2 (en) | 2007-08-07 | 2011-11-29 | Nanometrics Incorporated | In-plane optical metrology |
GB2461026B (en) * | 2008-06-16 | 2011-03-09 | Plc Diagnostics Inc | System and method for nucleic acids sequencing by phased synthesis |
CN102439425A (zh) * | 2009-02-04 | 2012-05-02 | 奥斯坦德姆控股有限公司 | 用于流体分析的系统 |
JP2010205851A (ja) * | 2009-03-02 | 2010-09-16 | Shinko Electric Ind Co Ltd | 半導体装置及びその製造方法、並びに電子装置 |
CN102460254B (zh) * | 2009-04-29 | 2015-05-06 | Plc诊断股份有限公司 | 具有扫描光源的基于波导的检测系统 |
GB0921994D0 (en) * | 2009-12-17 | 2010-02-03 | Univ Gent | Methods and systems for optical characterisation |
US8879073B2 (en) * | 2012-02-24 | 2014-11-04 | Kla-Tencor Corporation | Optical metrology using targets with field enhancement elements |
WO2014191022A1 (en) | 2013-05-28 | 2014-12-04 | Ibis Technologies B.V. | Measuring system, such as an interaction measuring system and a measuring method |
US9383312B2 (en) * | 2013-11-06 | 2016-07-05 | Ciencia, Inc. | Electro-optic grating-coupled surface plasmon resonance (EOSPR) |
US9733183B2 (en) * | 2014-02-20 | 2017-08-15 | Halliburton Energy Services, Inc. | Designs for integrated computational elements |
US10018566B2 (en) | 2014-02-28 | 2018-07-10 | Ldip, Llc | Partially encapsulated waveguide based sensing chips, systems and methods of use |
US9453791B2 (en) * | 2014-07-01 | 2016-09-27 | Octrolix Bv | Flow cytometry system and method |
US11181479B2 (en) | 2015-02-27 | 2021-11-23 | Ldip, Llc | Waveguide-based detection system with scanning light source |
DE102017223851B4 (de) * | 2017-12-28 | 2020-08-06 | Biochip Systems GmbH | Sensoranordnung zur Detektion wenigstens einer stofflichen Eigenschaft einer Probe sowie Mikrotiter-Platte mit einer Vielzahl von Sensoranordnungen |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4229105A (en) * | 1978-04-17 | 1980-10-21 | Sten Silverbage | Sensitive measuring cell for a differential refractometer of the interference type |
US5168325A (en) * | 1990-02-28 | 1992-12-01 | Board Of Control Of Michigan Technological University | Interferometric measurement of glucose by refractive index determination |
US5239364A (en) * | 1990-10-26 | 1993-08-24 | Olympus Optical Co., Ltd. | Light phase difference measuring method using an interferometer |
US5426505A (en) * | 1992-11-25 | 1995-06-20 | Ciba-Geigy Corporation | Interferometric apparatus for monitoring changes of the refractive index of fluid samples in capillary tubes |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0283047A3 (de) * | 1987-03-19 | 1991-02-06 | Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Verfahren und Einrichtung zur berührungsfreien Gewinnung von Daten zur ortsaufgelösten Bestimmung der Dichte und Temperatur in einem Messvolumen |
US5120131A (en) * | 1988-02-14 | 1992-06-09 | Walter Lukosz | Method and apparatus for selecting detection of changes in samples by integrated optical interference |
DE3814844A1 (de) * | 1988-05-02 | 1989-11-16 | Iot Entwicklungsgesellschaft F | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der brechzahl n einer substanz |
GB2228082A (en) * | 1989-01-13 | 1990-08-15 | Marconi Gec Ltd | Gas or liquid chemical sensor |
US5173747A (en) * | 1990-09-20 | 1992-12-22 | Battelle Memorial Institute | Integrated optical directional-coupling refractometer apparatus |
DE4033357A1 (de) * | 1990-10-19 | 1992-04-23 | Iot Entwicklungsgesellschaft F | Sensor zum stoffnachweis |
US5325172A (en) * | 1993-01-13 | 1994-06-28 | Hitachi Koki Company Limited | Optical system for analyzing samples separated by a centrifugal separator |
US5623561A (en) * | 1995-09-29 | 1997-04-22 | Georgia Tech Research Corporation | Integrated optic interferometric sensor |
DE19732619C2 (de) | 1997-07-29 | 1999-08-19 | Fraunhofer Ges Forschung | Optische Detektoreinrichtung |
-
1997
- 1997-07-29 DE DE19732619A patent/DE19732619C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-06-02 EP EP98938599A patent/EP1000342B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-06-02 DE DE59805839T patent/DE59805839D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-06-02 WO PCT/EP1998/003281 patent/WO1999006819A1/de active IP Right Grant
-
2000
- 2000-01-31 US US09/495,160 patent/US6239876B1/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4229105A (en) * | 1978-04-17 | 1980-10-21 | Sten Silverbage | Sensitive measuring cell for a differential refractometer of the interference type |
US5168325A (en) * | 1990-02-28 | 1992-12-01 | Board Of Control Of Michigan Technological University | Interferometric measurement of glucose by refractive index determination |
US5239364A (en) * | 1990-10-26 | 1993-08-24 | Olympus Optical Co., Ltd. | Light phase difference measuring method using an interferometer |
US5426505A (en) * | 1992-11-25 | 1995-06-20 | Ciba-Geigy Corporation | Interferometric apparatus for monitoring changes of the refractive index of fluid samples in capillary tubes |
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
CUSH, R. (u.a.) In: Biosensors & Bioelectronics, 1993, Bd. 8, S. 347-353 * |
LIEDBERG, B. (u.a.) In: Sensors & retnators, 1983, Bd. 4, S. 299-304 * |
NELLEN, P.M. (u.a.) In: Sensors & retnators, 1988, Bd. 15, S. 285-295 * |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6239876B1 (en) | 1997-07-29 | 2001-05-29 | Fräunhofer-Gesellschaft zur Förderung der Angewandten Forschung e.V. | Optical detector device |
DE19947616A1 (de) * | 1999-10-01 | 2001-05-03 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren und Einrichtung zur Bestimmung von Substanzen, wie z. B. DNA-Sequenzen, in einer Probe |
DE19947616C2 (de) * | 1999-10-01 | 2003-05-28 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren zur Bestimmung von Substanzen, wie z.B. DNA-Sequenzen, in einer Probe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
DE10118760A1 (de) * | 2001-04-17 | 2002-10-31 | Med Laserzentrum Luebeck Gmbh | Verfahren zur Ermittlung der Laufzeitverteilung und Anordnung |
DE102004033187B3 (de) * | 2004-01-23 | 2005-11-10 | Medizinisches Laserzentrum Lübeck GmbH | Interferometrische Vorrichtung |
DE102007033124A1 (de) * | 2007-07-16 | 2009-01-22 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung zur optischen Detektion von Substanzen in einem flüssigen oder gasförmigen Medium |
DE102007033124B4 (de) * | 2007-07-16 | 2012-12-06 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung zur optischen Detektion von Substanzen in einem flüssigen oder gasförmigen Medium |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1000342A1 (de) | 2000-05-17 |
DE59805839D1 (de) | 2002-11-07 |
US6239876B1 (en) | 2001-05-29 |
EP1000342B1 (de) | 2002-10-02 |
DE19732619A1 (de) | 1999-02-18 |
WO1999006819A1 (de) | 1999-02-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE19732619C2 (de) | Optische Detektoreinrichtung | |
EP3428622B1 (de) | Diffraktiver biosensor | |
DE19615366B4 (de) | Verfahren und Einrichtung zum Nachweis physikalischer, chemischer, biologischer oder biochemischer Reaktionen und Wechselwirkungen | |
EP0617273B1 (de) | Optisches Verfahren und Vorrichtung zur Analyse von Substanzen an Sensoroberflächen | |
DE69636019T2 (de) | Integriert-optischer interferometrischer Sensor | |
EP0455067B1 (de) | Mikrooptischer Sensor | |
EP1257809B1 (de) | Spr-sensor und spr-sensoranordnung | |
EP1131618B1 (de) | Messanordnung und messmethode zum parallelen auslesen von spr-sensoren | |
DE60215018T2 (de) | Spr interferometer | |
EP1307728B1 (de) | Wellenleitergitterstruktur und optische messanordnung | |
EP2137514B1 (de) | Integriert-optischer sensor | |
EP1443320A2 (de) | Sensorchip zur Charakterisierung einer chemischen und/oder biochemischen Substanz | |
WO2000075644A1 (de) | Sensorplatform und verfahren zur multianalytbestimmung | |
DE102019205527A1 (de) | Diffraktiver Biosensor | |
EP0551456A1 (de) | Optisches verfahren zum selektiven nachweis von spezifischen substanzen in chemischen, biochemischen und biologischen messproben | |
WO1998025130A1 (de) | Optische sensoren unter der verwendung durchstimmbarer laserdioden | |
DE10324973B4 (de) | Anordnung und Verfahren zur optischen Detektion von in Proben enthaltenen chemischen, biochemischen Molekülen und/oder Partikeln | |
DE10140399C2 (de) | Optisches Analyseverfahren und optische Detektoreinrichtung | |
DE4228535C2 (de) | Dünnschicht-Interferometer | |
DE4037391A1 (de) | Anordnung zur thermowellenanalyse von schichtsystemen | |
DE102010038718B4 (de) | Messvorrichtung und Verfahren zum Bestimmen eines eine elektrische Eigenschaft einer Dünnschicht auf einem Träger beschreibenden ersten Parameters | |
DE10020313C1 (de) | Anordnung zur elektrochemischen Analyse mittels Oberflächenplasmonenresonanz |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |