DE19715048A1 - Verfahren zum Strukturieren von transparenten, leitfähigen Schichten - Google Patents
Verfahren zum Strukturieren von transparenten, leitfähigen SchichtenInfo
- Publication number
- DE19715048A1 DE19715048A1 DE19715048A DE19715048A DE19715048A1 DE 19715048 A1 DE19715048 A1 DE 19715048A1 DE 19715048 A DE19715048 A DE 19715048A DE 19715048 A DE19715048 A DE 19715048A DE 19715048 A1 DE19715048 A1 DE 19715048A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- layer
- transparent
- needle
- conductive
- trench
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 52
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 24
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 129
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 33
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 14
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 8
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 claims description 7
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 4
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 3
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 claims description 3
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 claims description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 2
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 9
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 3
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 3
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 3
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 2
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000001000 micrograph Methods 0.000 description 2
- -1 poly (p-phenylene vinylene) Polymers 0.000 description 2
- 229920000553 poly(phenylenevinylene) Polymers 0.000 description 2
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- XEPMXWGXLQIFJN-UHFFFAOYSA-K aluminum;2-carboxyquinolin-8-olate Chemical compound [Al+3].C1=C(C([O-])=O)N=C2C(O)=CC=CC2=C1.C1=C(C([O-])=O)N=C2C(O)=CC=CC2=C1.C1=C(C([O-])=O)N=C2C(O)=CC=CC2=C1 XEPMXWGXLQIFJN-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 239000000539 dimer Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 230000009969 flowable effect Effects 0.000 description 1
- 239000007850 fluorescent dye Substances 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 1
- 238000006748 scratching Methods 0.000 description 1
- 230000002393 scratching effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 238000010025 steaming Methods 0.000 description 1
- ODHXBMXNKOYIBV-UHFFFAOYSA-N triphenylamine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 ODHXBMXNKOYIBV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
- H01L31/1884—Manufacture of transparent electrodes, e.g. TCO, ITO
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/31—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
- H01L21/3205—Deposition of non-insulating-, e.g. conductive- or resistive-, layers on insulating layers; After-treatment of these layers
- H01L21/321—After treatment
- H01L21/3213—Physical or chemical etching of the layers, e.g. to produce a patterned layer from a pre-deposited extensive layer
- H01L21/32131—Physical or chemical etching of the layers, e.g. to produce a patterned layer from a pre-deposited extensive layer by physical means only
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/80—Constructional details
- H10K59/805—Electrodes
- H10K59/8051—Anodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/621—Providing a shape to conductive layers, e.g. patterning or selective deposition
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/549—Organic PV cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Strukturieren einer
Schicht aus einem transparenten oder semitransparenten,
elektrisch leitfähigen oxidischen Material (im folgenden
leitende transparente Schicht = LT-Schicht), die auf einem
isolierenden Material aufgebracht ist.
Solche strukturierten LT-Schichten finden sich beispielsweise
als Elektroden in Systemen, wie Displays, Solarzellen und
elektrochromen Fenstern. Zu den Displays gehören u. a.
Anordnungen, die unter Anlegung einer elektrischen Spannung und
unter Stromfluß Licht aussenden. Sie sind unter der Bezeichnung
"Leuchtdioden" (LED = light emitting diode) seit langem in der
Technik bekannt. Bei einem solchen elektrolumineszierenden (EL)
System kommt die Emission von Licht dadurch zustande, daß bei
angelegter elektrischer Spannung positive Ladungsträger
(Löcher) und negative Ladungsträger (Elektronen) unter Aussen
dung von Licht rekombinieren. Die in der Technik gebräuchlichen
LEDs bestehen aus anorganischen Halbleitermaterialien. Seit
einigen Jahren sind auch EL-Anordnungen bekannt, wie organi
sche LEDs (im folgenden o-LEDs), in denen die Ladungstransport
verbindungen organische Materialien sind. Unter Ladungstrans
portverbindungen versteht man in diesem Zusammenhang Verbin
dungen, die in irgendeiner Weise Ladungen (Löcher und/oder
Elektronen) transportieren. Darunter fallen auch Verbindungen,
die Bestandteil der Emitterschicht sind, d. h. photolumineszie
ren, wie beispielsweise Fluoreszenzfarbstoffe. Im Prinzip kann
man als Ladungstransportverbindungen in o-LEDs beispielsweise
alle Substanzen verwenden, die als Photoleiter aus der Elektro
photographie bekannt sind. Einen guten Überblick über die
Substanzklassen geben beispielsweise die EP-A-386615, die
US-A-4539507, die US-A-4720432 und die US-A-4769292. Die o-LEDs
enthalten im allgemeinsten Fall eine auf dem Substrat auflie
gende LT-Schicht als Basiselektrode (Anode) und eine Topelek
trode (Kathode) und zwischen den Elektroden eine oder mehrere
dünne Schichten aus organischen Ladungstransportverbindungen.
Bevorzugt sind dabei niedermolekulare Substanzen, welche
beispielsweise im Vakuum aufgedampft werden können. Eine o-LED
mit nur einer Schicht aus einer Ladungstransportverbindung, die
auf Poly-(p-phenylenvinylen) basiert, ist in der WO 9013148
beschrieben.
Als Substrat der o-LEDs wird vielfach ein Glas eingesetzt, das
mit Indium-Zinnoxid (im folgenden ITO) beschichtet ist. Die
ITO-Beschichtung muß für die Herstellung von Anzeigen bzw.
Displays strukturiert werden.
Zum Strukturieren werden in der Regel photolithographische Ver
fahren eingesetzt. Diese sind sehr gut beherrschbar und liefern
zuverlässige und reproduzierbare Ergebnisse. Jedoch verläuft
ein photolithographischer Prozeß über mehrere Stufen, erfordert
den Einsatz von teuren Geräten und benötigt u. a. umweltschäd
liche Chemikalien, die teuer sind und bei der Entsorgung Prob
leme verursachen können. Die photolithographische Strukturie
rung muß vor der weiteren Beschichtung durchgeführt werden.
Es ist die Aufgabe der Erfindung, ein einfaches Verfahren zur
Herstellung strukturierter, transparenter oder semitrans
parenter, elektrisch leitfähiger oxidischer Schichten auf
isolierenden transparenten Substraten anzugeben, das zuverläs
sige Ergebnisse liefert, mit vergleichsweise geringem appara
tivem Aufwand auskommt und kostengünstig und umweltfreundlich
ist.
Diese Aufgabe wird mit einem Verfahren der eingangs genannten
Art mit den Merkmalen des kennzeichnenden Teils des Patentan
spruchs 1 gelöst.
Mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens läßt sich das Material
der LT-Schicht gezielt und zuverlässig selektiv entfernen, so
daß elektrisch leitende Brücken zwischen Bereichen, die
getrennt werden sollen, mit Sicherheit ausgeschlossen werden
können. Das Verfahren benötigt keine Lösungsmittel. Außerdem
sind bei fest eingestellten Herstellungsparametern die
Dimensionen der erzeugten Gräben innerhalb enger Toleranzen
konstant. Bei dem Verfahren bleibt kein chemisch verändertes
Material zurück, das die Reproduzierbarkeit der Strukturierung
und die Transparenz der LT-Schicht beeinträchtigt und die
folgenden Verfahrensschritte erschwert. Der Weg der Nadel läßt
sich mit den heute zur Verfügung stehenden Steuerungsmöglich
keiten mit geringem Aufwand genau steuern und das mit relativ
großer Verschiebegeschwindigkeit. Die zum Verdampfen verwendete
Vorrichtung ist einfach zu warten.
Günstige Dicken der LT-Schicht liegen bei den meisten Anwen
dungen zwischen etwa 10 und etwa 800 nm, bevorzugt zwischen
etwa 25 und etwa 500 nm und besonders bevorzugt zwischen etwa
80 und etwa 150 nm, und Schichten, deren Dicken innerhalb der
genannten Bereiche liegen, sind auch im Hinblick auf die
Reproduzierbarkeit der Strukturierung sehr günstig.
In vorteilhafter Weise läßt sich die Breite des Grabens über
die angelegte Spannung, die Verschiebegeschwindigkeit der Nadel
und den Krümmungsradius der Nadel in weiten Grenzen steuern,
ohne daß man Verschlechterungen der vorteilhaften Eigenschaften
der LT-Schicht in Kauf nehmen muß. Die erzeugten Breiten des
Grabens liegen bevorzugt im Bereich zwischen etwa 10 und etwa
500 µm und noch bevorzugter im Bereich zwischen etwa 50 und
etwa 200 µm. Dabei wird bevorzugt mit einer Nadel gearbeitet,
deren Spitze einen Krümmungsradius zwischen etwa 20 und etwa
500 µm hat.
Um auszuschließen, daß eine Wulstbildung am Grabenrand zu
Kurzschlüssen beispielsweise mit einer der LT-Schicht gegenüber
liegenden Elektrode führt, ist es vorteilhaft, mindestens die
Ränder der Gräben mit einem nach dem Brennen aufgebrachten
isolierenden Material abzudecken und, noch vorteilhafter,
zusätzlich den Graben mit dem Material zu füllen.
Das erfindungsgemäße Verfahren läßt sich in vorteilhafter Weise
auch dann durchführen, wenn die LT-Schicht vor der
Strukturierung mit mindestens einer Schicht aus einem
halbleitenden organischen Material (im folgenden halbleitende
organische Schicht = HLO-Schicht), wie einer Schicht aus einer
Ladungstransportverbindung, abgedeckt worden ist. Dies hat den
großen Vorteil, daß man auf Vorrat ein mit der LT-Schicht und
mindestens einer HLO-Schicht beschichtetes Substrat, z. B. in
Form eines Bandes, durch Bedampfen oder Aufgießen herstellen
kann und erst bei Bedarf das Substrat in eine gewünschte Form
bringt und die LT-Schicht individuell strukturiert. Diese
Vorgehensweise ist nicht möglich, wenn photolithographisch
strukturiert wird, weil die dabei erforderlichen Lösungsmittel
HLO-Schichten angreifen. Die mindestens eine HLO-Schicht wird
für bevorzugte Anwendungen in einer Gesamtdicke zwischen etwa
20 und etwa 300 nm und besonders bevorzugt zwischen etwa 50 und
etwa 150 nm aufgebracht. Schichten dieser Dicke können leicht
mit der Nadel durchgeritzt werden, so daß der Kontakt zwischen
der Nadel und der LT-Schicht ohne weiteres erzeugt werden kann.
Vertreter von transparenten und leitfähigen oxidischen Materia
lien, die mit dem erfindungsgemäßen Verfahren vorteilhaft
strukturiert werden können, finden sich unter Metall- und Halb
metalloxiden bzw. gemischten Oxiden. Unter diesen sind Materia
lien aus der Gruppe ITO, Galliumindiumoxid, dotiertes Zinnoxid
und dotiertes Zinkoxid wegen ihrer günstigen elektrischen Ei
genschaften besonders bevorzugt, wobei sich als Dotier
material Chlor besonders bewährt hat.
Das erfindungsgemäße Verfahren läßt sich vorteilhaft bei der
Herstellung von Systemen einsetzen, die mindestens eine
selektiv ansteuerbare Elektrode aus einem transparenten oder
semitransparenten, leitfähigen oxidischen Material aufweisen.
Vertreter solcher Systeme, die große technische Bedeutung
haben, sind Displays, Solarzellen, elektrochrome Fenster und
Elektroden in beheizten Fenstern.
Bei Displays und Solarzellen sind auf der als Basiselektrode
dienenden LT-Schicht mindestens eine HLO-Schicht mit Ladungs
transporteigenschaften aufgebracht. Solche HLO-Schichten lassen
sich mit der Nadel leicht durchritzen. Deshalb können sie, wenn
das erfindungsgemäße Verfahren eingesetzt wird, vor dem Struk
turieren aufgebracht werden, d. h. die aus dem Substrat, der
LT-Schicht und der mindestens einen HLO-Schicht bestehende
Ausgangsanordnung kann in vorteilhafter Weise auf Vorrat herge
stellt werden.
Bei der Herstellung, beispielsweise eines Displays, geht man
bevorzugt so vor, daß auf einem transparenten, isolierenden
Substrat die LT-Schicht und darauf mindestens einer HLO-Schicht
mit Ladungstransporteigenschaften aufgebracht werden, daß die
LT-Schicht entsprechend einem festgelegten Muster strukturiert
wird, daß mindestens die Ränder des hergestellten Grabens in
der LT-Schicht mit einem isolierenden Material abgedeckt wer
den, und daß auf der HLO-Schicht eine Topelektrode aufgebracht
wird. In vorteilhafter Weise kann man bei der Bildung der
Topelektrode so vorgehen, daß man sie aus einem transparenten
oder semitransparenten, leitenden oxidischen Material
herstellt und vor oder nach dem Aufbringen - wie bei der
Basiselektrode beschrieben - strukturiert.
Im folgenden wird die Erfindung anhand von durch die Zeichnung
erläuterten Ausführungsbeispielen beschrieben.
Sie zeigt in der Fig. 1 in schematischer Querschnitts
darstellung eine Vorrichtung zum Durchführen des erfin
dungsgemäßen Verfahrens, in den Fig. 2a bis 2c in schematischer
Querschnittsdarstellung eine mittels einer Ausführungsform des
erfindungsgemäßen Verfahrens hergestellte Anordnung in drei
Stadien der Herstellung und in den Fig. 3a bis 3dc in
schematischer Querschnittsdarstellung eine mittels einer
anderen Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens
hergestellte Anordnung in vier Stadien der Herstellung.
Im folgenden wird die Erfindung anhand der Herstellung von zwei
Anordnungen beschrieben. Die eine Anordnung besteht aus einem
Glassubstrat auf dem eine LT-Schicht aufgebracht ist. Die
andere Anordnung weist auch ein Glassubstrat und darauf eine
LT-Schicht auf, aber darauf ist zusätzlich eine HLO-Schicht aus
einem Dimeren von Triphenylamin (im folgenden TPD) und darüber
eine HLO-Schicht aus Aluminium-tris-(8-hydroxychinolat) (im
folgenden Alq3) aufgebracht. Solche Schichtfolgen sind
beispielsweise in o-LEDs vorhanden. Es sei aber klargestellt,
daß sich das erfindungsgemäße Verfahren zwar besonders
vorteilhaft bei der Herstellung der genannten Anordnungen
anwenden läßt, jedoch diese Anordnungen nur beispielhaft
genannt sind, und das Verfahren sich sowohl bezüglich der
angewandten Materialien und der durchgeführten Verfahrens
schritte als auch bezüglich der herzustellenden Anordnungen und
deren Schichtaufbau vielfältig variieren läßt.
Die Herstellung der beiden Anordnungen läßt sich beispielsweise
mit der in der Fig. 1 gezeigten Vorrichtung 1 durchführen. Sie
weist eine Gleichspannungsquelle 5 auf, welche einerseits mit
einer Nadel 4 und andererseits mit einer auf einem Glassubstrat
3 aufgebrachten LT-Schicht 2 leitend verbunden ist. Beim
Strukturieren wird zwischen die Nadel 4 und die LT-Schicht 2
eine Spannung gelegt, die je nach der Form der Nadel, d. h. dem
Krümmungsradius ihrer Spitze, und der geforderten Breite der
Musterelemente, die in die LT-Schicht 2 eingebracht werden
sollen, zwischen wenigen Volt und etwa 50 Volt liegt. Die
benötigten Ströme liegen wiederum je nach der Nadelform
typischerweise zwischen einigen Milliampere und wenigen Ampere.
Die Nadelspitze ist so zur LT-Schicht justiert, daß sie die
Schicht kontaktiert und Strom fließen kann. Damit die Nadel 4
auf einen festen Abstand zum Substrat eingestellt werden kann,
steckt sie in einer Halterung 6, in der die Nadel kontrolliert
vertikal verschoben werden kann. Die Halterung 6 ist ihrerseits
an einem Schlitten 7 befestigt. Dieser ruht verschiebbar auf
der oberen Oberfläche einer Unterlage 7a, wobei die genannte
Oberfläche parallel zur Substratoberfläche ausgerichtet ist.
Mittels des Schlittens läßt sich die Nadel manuell oder
programmgesteuert unter Beibehaltung ihres Abstands zum
Glassubstrat entsprechend dem gewünschten Muster über die
LT-Schicht verschieben, wobei entlang des von der Nadel zurückge
legten Wegs das Schichtmaterial selektiv verdampft wird.
Den Mechanismus des Verfahrens kann man sich folgendermaßen
vorstellen: Aufgrund der hohen lokalen Stromdichte schmilzt
oder reißt die LT-Schicht in der unmittelbaren Umgebung der
Nadelspitze. Dadurch wird der Stromfluß kurzzeitig unterbrochen
und es bildet sich ein Plasma aus. Das nun brennende Plasma
verdampft in der weiteren Umgebung der Nadelspitze ringförmig
das Material der LT-Schicht 2. Das Plasma erlischt in Abhängig
keit von der Stärke des lokalen elektrischen Felds, d. h. von
der angelegten Spannung und der Form der Nadelspitze, und läßt
einen Bereich zurück, in dem die LT-Schicht entfernt ist. Je
niedriger die Spannung ist, desto kleiner ist der Durchmesser
des Kreises um die Nadelspitze, aus der das Schichtmaterial
verdampft wird. Nach dem Verlöschen des Plasmas erreicht die
weiterbewegte Nadelspitze unverändertes Schichtmaterial, kon
taktiert dieses, so daß wieder Strom fließen kann, was wieder
ein Reißen oder Schmelzen des Schichtmaterials verursacht,
wodurch der Stromfluß unterbrochen wird und sich das Plasma
ausbildet, usw. Indem sich die geschilderte Abfolge viele Male
wiederholt, wird das gewünschte Muster erzeugt. Mit der erfin
dungsgemäßen Strukturierungsmethode können Gräben in der
LT-Schicht erzeugt werden, deren Breite zwischen etwa 10 und etwa
500 µm liegen.
In der Fig. 2a ist das Glassubstrat 3 gezeigt, auf dem die
LT-Schicht 2 aufgebracht ist. Die LT-Schicht besteht aus ITO,
chlordotiertem Zinnoxid, chlordotiertem Zinkoxid oder anderen
leitfähigen Metalloxiden. Die Nadel 4 kontaktiert mit ihrer
Spitze 8 die Oberfläche der LT-Schicht 2. Wird die Nadel 4 über
die Oberfläche der LT-Schicht 2 entsprechend einem gewünschten
Muster bewegt, wobei zwischen der LT-Schicht 2 und der Nadel 4
eine Spannung liegt, so wird das Material der LT-Schicht 2, wie
es oben beschrieben ist, entlang des von der Nadel zurückge
legten Wegs verdampft. Es entsteht dabei ein Graben 9, wie er
in der Fig. 2b gezeigt ist, in welchem die Oberfläche des Glas
substrats 3 freiliegt. Damit sind die grundlegenden Schritte
des erfindungsgemäßen Verfahrens durchgeführt.
Es kann nicht völlig ausgeschlossen werden, daß sich entlang
den Grabenrändern ein Wulst 10 bildet. Wird, wie beispielsweise
bei o-LEDs, auf der hergestellten Anordnung mindestens eine
dünne HLO-Schicht mit Ladungstransporteigenschaften und darüber
eine weitere leitende Schicht (Topelektrode) abgeschieden,
empfiehlt es sich, um einen Kurzschluß zwischen den beiden
leitenden Schichten mit Sicherheit auszuschließen, die Gräben
in der Weise mit einem isolierenden Material 11 zu füllen, daß
die Wülste vollständig mit ihm bedeckt sind. Die Anordnung nach
dem Einfüllen des Materials 11 zeigt die Fig. 2c. Vorteilhaft
sind als Material 11 organische Materialien, die beim Einfüllen
fließfähig sind, d. h. entweder mit einem flüchtigen Lösungs
mittel verdünnt sind, oder aus einem nicht gehärteten Polymer
bestehen, und anschließend verfestigt werden. Das Material 11
kann entweder unmittelbar nach dem Verdampfen des Materials der
LT-Schicht eingefüllt werden, indem eine Nadel 4 verwendet
wird, aus der der Vorläufer des Materials 11 aus fließen kann,
oder in einem separaten Arbeitsgang eingefüllt werden, bei dem
die Einfüllvorrichtung denselben Weg entlangbewegt wird, den
zuvor die Nadel 4 zurückgelegt hat.
Soll die hergestellte Anordnung zu einer o-LED weiterverar
beitet werden, dann muß nach dem Herstellen der Gräben 9 und
dem Füllen derselben mit Isoliermaterial noch mindestens eine
HLO-Schicht mit Ladungstransporteigenschaften,beispielsweise
eine Alq3- und eine TPD-Schicht, bevorzugt durch Verdam
pfen - und dann die Topelektrode aufgebracht werden, die entweder
metallisch ist, und beispielsweise aus MgAg besteht, oder aus
einem leitfähigen, transparenten oder semitransparenten Mate
rial gebildet wird, das entweder ohne Struktur ist und bleibt
oder mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens entweder vor oder
nach dem Aufbringen auf die HLO-Schicht strukturiert wird.
Außerdem kann die Topelektrode durch eine Maske hindurch
aufgedampft werden.
Bei der in der Fig. 3a gezeigten Anordnung ist eine HLO-Schicht
12 mit Ladungstransporteigenschaften bereits vor dem Struktu
rieren der LT-Schicht 2 auf diese aufgebracht worden. Die
HLO-Schicht 12, die auch aus zwei oder mehr Schichten mit einer
Gesamtdicke zwischen etwa 20 und etwa 300 nm bestehen kann,
verhindert nicht die Anwendung des erfindungsgemäßen Verfah
rens. Es ist lediglich erforderlich, die HLO-Schicht 12 mit der
Nadel 4 zu ritzen, um, wie es die Fig. 3b zeigt, den elektri
schen Kontakt zwischen der Nadelspitze 6 und der LT-Schicht 2
herzustellen. Dazu genügt es den Abstand zwischen der Nadel
spitze 8 und dem Substrat 3 so einzustellen, daß - wie beim
vorangehenden Ausführungsbeispiel - die Nadelspitze 8 die
LT-Schicht 2 berührt. Dann werden - ähnlich wie beim ersten
Ausführungsbeispiel - Gräben 15 und 9 erzeugt, die - wie es die
Fig. 3b zeigt - durch die HLO-Schicht 12 bzw. die LT-Schicht 2
hindurchgehen, wobei die Grabenbreite in den beiden Schichten
unterschiedlich sein kann. Anschließend werden die Gräben so
hoch mit dem Material 11 bedeckt, daß es etwas über die Ober
fläche der HLO-Schicht 12 hinausragt (s. Fig. 3d), d. h. so hoch,
daß etwaige Wülste aus dem Material der LT-Schicht in jedem
Fall bedeckt sind. Bei der Herstellung - beispielsweise - einer
o-LED wird anschließend eine Topelektrode aufgebracht.
Ein wesentlicher Unterschied existiert also zwischen dem ersten
und dem zweiten Ausführungsbeispiel: Während beim ersten
Beispiel die Strukturierung der LT-Schicht vor dem Aufbringen
weiterer Schichten erfolgt, wird sie im zweiten Ausführungsbei
spiel nach dem Aufbringen der mindestens einen HLO-Schicht
durchgeführt. Das eröffnet die Möglichkeit, eine Anordnung, wie
sie die Fig. 3a zeigt, auf Vorrat herzustellen, zu lagern, zu
vermarkten und sie erst bei Bedarf je nach der beabsichtigten
Anwendung individuell zu strukturieren. Dies bringt einen
beachtlichen Rationalisierungseffekt gegenüber dem beim ersten
Ausführungsbeispiel durchgeführten Verfahrensablauf.
Wie betont ist das erfindungsgemäße Verfahren nicht nur bei den
beiden beschriebenen Ausführungsbeispielen einsetzbar. Die bei
diesen hergestellten Anordnungen eignen sich insbesondere als
Vorstufen für Displays, wie o-LEDs, und Solarzellen. Der
Anwendungsbereich ist aber noch viel größer, weil das Verfahren
sich auch beim Herstellen von Strukturen einsetzen läßt, bei
den auf der LT-Schicht aufgebrachte HLO-Schichten nicht photo
leitend sind. Beispielsweise läßt sich das erfindungsgemäße
Verfahren auch bei der Herstellung von elektrochromen Fenstern
einsetzen. Eine zusätzliche Erweiterung des Anwendungsbereich
ist dadurch möglich, daß die Breiten der erzeugten Gräben und
die Dicken sowohl der transparenten Schicht als auch von auf
dieser aufgebrachten Schichten innerhalb großer Bereiche
variiert werden können. Darüber hinaus kann man mit dem
Verfahren in vorteilhafter Weise auch Elektroden aus leitfähi
gen Oxidmaterialien für beheizte Fenster strukturieren.
Zur weiteren Veranschaulichung wird das erfindungsgemäße
Verfahren noch anhand von zwei speziellen Beispielen erläutert.
Im Beispiel 1 wurde die anhand der Fig. 2a bis 2c
veranschaulichte Ausführungsform des erfindungsgemäßen
Verfahrens angewandt.
Auf einem 1 mm dicken quadratischen Glassubstrat mit 5 cm
Kantenlänge wurde eine 90 nm dicke ITO-Schicht aufgebracht. Die
Struktur wurde in eine Vorrichtung eingebracht, wie sie die
Fig. 1 zeigt, und mit der Nadel kontaktiert (s. Fig. 2a). Die
Nadelspitze hatte einen Krümmungsradius von etwa 50 µm. Zwischen
die Nadel und ITO-Schicht wurde eine Spannung von 25 Volt
gelegt, während die Nadel mit einer Geschwindigkeit von 1 m/min.
programmgesteuert über die Oberfläche der ITO-Schicht bewegt
wurde. Dabei wurde das transparente Material selektiv verdampft
und ein Graben erzeugt (s. Fig. 2b).
Der Graben hatte eine Breite von 150 µm. Wulstbildung wurde an
einigen Stellen beobachtet. Die Wülste waren aber so klein
(< 10 nm), daß im Schliffbild die Höhe nicht genau bestimmt
werden konnte. Auch unter einem Lichtmikroskop (200×) konnten
keine Brücken aus dem ITO zwischen einander gegenüberliegenden
Grabenwänden festgestellt werden. Dieses Ergebnis wurde durch
elektrische Messungen an der aus der Schichtanordnung erzeugten
o-LED bestätigt.
Der Graben wurde mit Polystyrol aus einer Lösung aufgefüllt (s.
Fig. 2c). Anschließend wurden als HLO-Schicht eine 40 nm dicke
Schicht aus TPD und eine 40 nm dicke Schicht aus Alq3 im Vakuum
bei einem Druck von 10-6 mb aufgedampft und schließlich wurde
eine 250 nm dicke Topelektrode aus MgAg aufgedampft, die nicht
strukturiert wurde. In der so hergestellten o-LED war die
ITO-Schicht die Basiselektrode.
Im Beispiel 2 wurde die anhand der Fig. 3a bis 3d veranschau
lichte Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens
angewandt.
Wie im Beispiel 1 wurde auch beim Beispiel 2 eine auf einem
Glassubstrat aufliegende o-LED mittels des erfindungsgemäßen
Verfahrens hergestellt. Außer daß als Material für die
LT-Schicht chlordotiertes Zinnoxid verwendet wurde und nur eine,
130 nm dicke, auf Poly-(p-phenylenvinylen) basierende
HLO-Schicht mit Ladungstransporteigenschaften mittels Spin-Coatings
aufgeschleudert wurde, wurden dieselben Materialien in
denselben Dicken eingesetzt und beim Strukturieren bei
denselben Betriebsbedingungen gearbeitet wie beim Beispiel 1.
Unterschiedlich zum Beispiel 1 war beim Beispiel 2 außerdem,
daß von einer auf Vorrat hergestellten Schichtstruktur ausge
gangen wurde, auf der die HLO-Schicht bereits aufgebracht war
(s. Fig. 3a).
Aus der Schichtstruktur wurde eine quadratische Platte mit
einer Kantenlänge von 5 cm heraus geschnitten und in eine
Vorrichtung eingebracht, wie sie die Fig. 1 zeigt. Die
LT-Schicht wurde mit der Nadel kontaktiert, indem die HLO-Schicht
durchgeritzt wurde(s. Fig. 3b). Anschließend wurde die
HLO-Schicht und die LT-Schicht entsprechend einem gewünschten
Muster unter Bildung eines Grabens strukturiert, der sich in
vertikaler Richtung durch die HLO-Schicht und die LT-Schicht
bis zum Substrat erstreckte (s. Fig. 3c).
Der Graben hatte in der HLO-Schicht eine Breite von etwa 180 nm
und in der LT-Schicht eine Breite von 150 µm. Wulstbildung aus
dem Material der LT-Schicht wurde an einigen Stellen beobach
tet. Aber auch beim Beispiel 2 waren die Wülste so klein
(< 10 nm), daß im Schliffbild die Höhe nicht genau bestimmt
werden konnte. Auch unter einem Lichtmikroskop (200×) konnten
keine Verbindungen aus dem transparenten Material zwischen
einander gegenüberliegenden Grabenwänden festgestellt werden.
Dieses Ergebnis wurde durch elektrische Messungen an der aus
der Schichtanordnung erzeugten o-LED bestätigt.
Der Graben wurde mit Polystyrol aus einer Lösung aufgefüllt,
wobei die obere Oberfläche der Füllung geringfügig über die
Oberfläche der HLO-Schicht hinausragte (s. Fig. 3d). Die dann
vorliegende Struktur wurde mit einer 200 nm dicken Topelektrode
aus ITO kontaktiert, die im Prinzip wie die SnOx-Schicht
strukturiert wurde. In der so hergestellten o-LED diente die
SnOx-Schicht als Basiselektrode.
Claims (17)
1. Verfahren zum Strukturieren einer Schicht aus einem transpa
renten oder semitransparenten, elektrisch leitfähigen
oxidischen Material (im folgenden leitende transparente
Schicht), die auf einem transparenten nichtleitenden Substrat
aufgebracht ist, dadurch gekennzeichnet, daß die leitende
transparente Schicht mit der Spitze einer Nadel kontaktiert
wird, daß eine Spannung zwischen die leitende transparente
Schicht und die Nadel gelegt wird, daß die Nadelspitze entlang
der Schichtoberfläche entsprechend einem festgelegten Muster
geführt wird und dabei ein Graben in die leitende transparente
Schicht eingebracht wird, in dem das Substrat freiliegt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
leitende transparente Schicht zwischen etwa 10 und etwa 800 nm
und bevorzugt zwischen etwa 80 und 150 nm dick gemacht wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Breite des Grabens durch die angelegte Spannung, die
Form der Nadelspitze und die Verschiebegeschwindigkeit der
Nadel gesteuert wird.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß mit einer Nadel gearbeitet wird, deren Spitze
einen Krümmungsradius zwischen etwa 20 und etwa 500 µm hat.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß der Graben zwischen etwa 10 und 500 µm und
besonders bevorzugt zwischen etwa 50 und etwa 200 µm breit
gemacht wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch
gekennzeichnet, daß zum mindesten die Ränder des Grabens mit
einem isolierenden Material abgedeckt werden.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß zu
sätzlich der Graben mit dem isolierenden Material gefüllt wird.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch
gekennzeichnet, daß die leitende transparente Schicht vor dem
Strukturieren mit mindestens einer höchstens halbleitenden
organischen Schicht abgedeckt wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die
mindestens eine höchstens halbleitende organische Schicht in
einer Gesamtdicke zwischen etwa 20 und etwa 300 nm und
bevorzugt zwischen etwa 80 und etwa 150 nm aufgebracht wird.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch
gekennzeichnet, daß das Material der leitenden transparenten
Schicht unter Metalloxiden, Halbmetalloxiden bzw. gemischten
Oxiden ausgewählt wird.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 10, dadurch
gekennzeichnet, daß das Material der leitenden transparenten
Schicht aus der Gruppe Indiumzinnoxid, Galliumindiumoxid,
dotiertes Zinnoxid und dotiertes Zinkoxid ausgewählt ist.
12. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß als
Dotierungsmaterial Chlor verwendet wird.
13. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 12 gekennzeichnet
durch seine Verwendung bei der Herstellung von Systemen, die
mindestens eine selektiv ansteuerbare Elektrode aus einem
transparenten oder semitransparenten, elektrisch leitfähigen
oxidischen Material aufweisen.
14. Verfahren nach Anspruch 13 gekennzeichnet durch seine
Verwendung bei der Herstellung von Displays, Solarzellen,
elektrochromen Fenstern oder Elektroden in beheizten Fenstern.
15. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 14, dadurch
gekennzeichnet, daß als mindestens eine höchstens halbleitende
organische Schicht eine aus einer halbleitenden Ladungstrans
portverbindung bestehende Schicht aufgebracht wird.
16. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 15, dadurch
gekennzeichnet, daß auf einem transparenten, isolierenden
Substrat die leitende transparente Schicht und darauf die
mindestens eine höchstens halbleitende organische Schicht
aufgebracht werden, daß die leitende transparente Schicht und
die mindestens eine höchstens halbleitende organische Schicht
gemäß einem festgelegten Muster strukturiert werden, daß
mindestens die Ränder des in der leitenden transparenten
Schicht hergestellten Grabens mit dem isolierenden Material
abgedeckt werden, und daß auf der obersten höchstens halblei
tenden organischen Schicht eine Topelektrode aufgebracht wird.
17. Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß
die Topelektrode aus einem transparenten oder semitranspa
renten, elektrisch leitfähigen Material hergestellt und vor oder
nach dem Aufbringen - wie bei der leitenden transparenten
Schicht beschrieben - mit der Nadel strukturiert wird.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19715048A DE19715048C2 (de) | 1997-04-11 | 1997-04-11 | Verfahren zum Strukturieren einer transparenten, elektrisch leitfähigen Schicht |
PCT/DE1998/000987 WO1998047183A1 (de) | 1997-04-11 | 1998-04-08 | Verfahren zum strukturieren von transparenten, leitfähigen schichten |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19715048A DE19715048C2 (de) | 1997-04-11 | 1997-04-11 | Verfahren zum Strukturieren einer transparenten, elektrisch leitfähigen Schicht |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19715048A1 true DE19715048A1 (de) | 1998-10-22 |
DE19715048C2 DE19715048C2 (de) | 1999-08-19 |
Family
ID=7826154
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19715048A Expired - Fee Related DE19715048C2 (de) | 1997-04-11 | 1997-04-11 | Verfahren zum Strukturieren einer transparenten, elektrisch leitfähigen Schicht |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19715048C2 (de) |
WO (1) | WO1998047183A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1681726A1 (de) * | 2005-01-18 | 2006-07-19 | Shinko Electric Industries Co., Ltd. | Verfahren und Apparat zum Strukturieren eines dünnen leitenden Films |
US9203029B2 (en) | 2009-09-25 | 2015-12-01 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Method for producing an electronic component |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4539507A (en) * | 1983-03-25 | 1985-09-03 | Eastman Kodak Company | Organic electroluminescent devices having improved power conversion efficiencies |
DE3036462C2 (de) * | 1979-09-26 | 1987-11-26 | Inoue-Japax Research Inc., Yokohama, Kanagawa, Jp | |
US4720432A (en) * | 1987-02-11 | 1988-01-19 | Eastman Kodak Company | Electroluminescent device with organic luminescent medium |
DE3631383A1 (de) * | 1986-09-15 | 1988-03-24 | Bbc Brown Boveri & Cie | Verfahren zur erzeugung feiner strukturen in einem substrat und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
US4769292A (en) * | 1987-03-02 | 1988-09-06 | Eastman Kodak Company | Electroluminescent device with modified thin film luminescent zone |
EP0386615A2 (de) * | 1989-03-01 | 1990-09-12 | Mitsubishi Chemical Corporation | Dithiokarbamatgruppen enthaltende Polysiloxane |
WO1990013148A1 (en) * | 1989-04-20 | 1990-11-01 | Cambridge Research And Innovation Limited | Electroluminescent devices |
JPH06252131A (ja) * | 1993-02-26 | 1994-09-09 | Res Dev Corp Of Japan | 酸化膜の製造方法と製造装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2104270B (en) * | 1981-08-18 | 1986-02-12 | Standard Telephones Cables Ltd | Display device manufacture |
JPS6269405A (ja) * | 1985-09-20 | 1987-03-30 | 日本板硝子株式会社 | 光電素子用透明導電基板 |
JPS6436082A (en) * | 1987-07-31 | 1989-02-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Manufacture of amorphous solar cell |
JP2874986B2 (ja) * | 1990-09-03 | 1999-03-24 | 出光興産株式会社 | 電極のパターン形成方法 |
-
1997
- 1997-04-11 DE DE19715048A patent/DE19715048C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-04-08 WO PCT/DE1998/000987 patent/WO1998047183A1/de active Application Filing
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3036462C2 (de) * | 1979-09-26 | 1987-11-26 | Inoue-Japax Research Inc., Yokohama, Kanagawa, Jp | |
US4539507A (en) * | 1983-03-25 | 1985-09-03 | Eastman Kodak Company | Organic electroluminescent devices having improved power conversion efficiencies |
DE3631383A1 (de) * | 1986-09-15 | 1988-03-24 | Bbc Brown Boveri & Cie | Verfahren zur erzeugung feiner strukturen in einem substrat und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
US4720432A (en) * | 1987-02-11 | 1988-01-19 | Eastman Kodak Company | Electroluminescent device with organic luminescent medium |
US4769292A (en) * | 1987-03-02 | 1988-09-06 | Eastman Kodak Company | Electroluminescent device with modified thin film luminescent zone |
EP0386615A2 (de) * | 1989-03-01 | 1990-09-12 | Mitsubishi Chemical Corporation | Dithiokarbamatgruppen enthaltende Polysiloxane |
WO1990013148A1 (en) * | 1989-04-20 | 1990-11-01 | Cambridge Research And Innovation Limited | Electroluminescent devices |
JPH06252131A (ja) * | 1993-02-26 | 1994-09-09 | Res Dev Corp Of Japan | 酸化膜の製造方法と製造装置 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1681726A1 (de) * | 2005-01-18 | 2006-07-19 | Shinko Electric Industries Co., Ltd. | Verfahren und Apparat zum Strukturieren eines dünnen leitenden Films |
US7648906B2 (en) | 2005-01-18 | 2010-01-19 | Shinko Electric Industries Co., Ltd. | Method and apparatus for processing a conductive thin film |
US9203029B2 (en) | 2009-09-25 | 2015-12-01 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Method for producing an electronic component |
US9583729B2 (en) | 2009-09-25 | 2017-02-28 | Osram Oled Gmbh | Method for producing an electronic component |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO1998047183A1 (de) | 1998-10-22 |
DE19715048C2 (de) | 1999-08-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE10324880B4 (de) | Verfahren zur Herstellung von OLEDs | |
DE102008020816B4 (de) | Organische Leuchtdiode, flächiges, optisch aktives Element mit einer Kontaktanordnung und Verfahren zur Herstellung einer organischen Leuchtdiode | |
DE10157945C2 (de) | Verfahren zur Herstellung eines organischen, elektrolumineszierenden Displays sowie ein organisches, elektrolumineszierendes Display | |
DE2525329C3 (de) | Zweirichtungs-Photothyristor | |
EP2486610B1 (de) | Optoelektronische vorrichtung mit homogener leuchtdichte | |
DE4424748A1 (de) | Verfahren zum Bilden von Elektroden mit niedrigem Widerstand | |
EP2277212B1 (de) | Lichtemittierendes organisches bauelement mit sicherungsstruktur | |
DE10352515A1 (de) | Organisches elektrolumineszierendes Display und Verfahren zur Herstellung desselben | |
DE10392168B4 (de) | Organisches Elektrolumineszenzanzeigeelement, Anzeigevorrichtung und Verfahren zu deren Herstellung | |
DE10115333A1 (de) | Struktur und Fertigungsverfahren einer verbesserten polymeren licht-emittierenden Diode | |
EP1407638A1 (de) | Organisches, farbiges, elektrolumineszierendes display und dessen herstellung | |
DE4024602A1 (de) | Elektrolumineszenzvorrichtung | |
DE69805490T2 (de) | Organisches elektrolumineszentes Gerät und Verfahren zur Herstellung desselben | |
DE2259525C2 (de) | Elektrolumineszenzeinrichtung | |
DE102006028999B4 (de) | Flachtafeldisplay und Verfahren zu dessen Herstellung | |
DE4226593B4 (de) | Elektrolumineszenz- (EL) - Anzeigetafel und Verfahren zu deren Herstellung | |
DE4310604A1 (de) | Feldemissions-Kathodenaufbau, Verfahren zur Herstellung desselben und diesen verwendende Flachschirm-Anzeigeeinrichtung | |
DE102007063617B4 (de) | Verfahren zur Reparatur eines elektrolumineszenten organischen Halbleiterelements | |
DE19715048C2 (de) | Verfahren zum Strukturieren einer transparenten, elektrisch leitfähigen Schicht | |
DE102022126374A1 (de) | Verfahren zum herstellen eines bauelements und bauelement | |
EP2122708B1 (de) | Strahlungsemittierende vorrichtung und verfahren zur herstellung einer strahlungsemittierenden vorrichtung | |
DE112015005210B4 (de) | Optoelektronische Vorrichtung mit Schmelzsicherung | |
DE102008015697A1 (de) | Verfahren zur Herstellung eines strukturierten optoelektronischen Bauelementes und Anordnung zur Durchführung eines solchen | |
DE2633038A1 (de) | Elektrolumineszierende vorrichtung | |
EP1638155A1 (de) | Verbesserung der Leitfähigkeit einer Polymerelektrode durch Aufbringen einer darunterliegenden Metallschicht |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8320 | Willingness to grant licences declared (paragraph 23) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |