DE1814321C - Einrichtung für die Kompensation einer beugungswinkelabhängigen Amplitudenänderung von in einem Detektor für Röntgenquanten erzeugten Spannungsimpulsen - Google Patents

Description

satorkristalls längs einer Führungsgeraden. Zur Ein- io von Geiger-Müller-Impulsen dem Mittelwertmesser haltung der Fokusbedingung ist es erforderlich, daß einen nach dem Gesetz in Abhängigkeit der Strah· der Analysatorkristall dabei um den Winkel & nach lungsintensität vom Beugungswinkel verstellten vereiner bestimmten mathematischen Beziehung und der är.Jerlichen Widerstand parallel zu schalten. Es ist einen Detektor tragende Detektorarm um 2 d gedreht dabei offengelassen, ob der Widerstandsabgriff mir wird. Spektrometer, bei denen die Einhaltung der 15 einem beweglichen Teil des Diffraktometers gekoppelt beiden Bedingungen gewährleistet ist, liefern bereits sein soll oder ob die Verstellung auf eine andere Weise die volle Ausnutzung des Auflösungsvermögens und bewirkt wird. Eine andere bekannte Maßnahme besteht werden Linearspektrometer genannt. darin, eine verstellbare Blendeneinrichtung vorzusehen,

Gleiches gilt für Linearspektrometer, bei denen der die mit dem Detektorarm des Diffraktometers ver-Detektorspalt nicht auf dem Fokussierungskreis sitzt, ao bunden ist und mit dessen Bewegung von einer vom sondern der Detektor auf einem verkürzten Arm unter Detektorraum überfahrenen Kurvenscheibe verstellt dem Winkel 2 0 befestigt ist und nur durch eine Streu- wird.

strahlblende der wirksame zu erfassende Röntgenstrahl Eine Einrichtung für die Kompensation einer beu-

ausgeblendet wird. gungswinkelabhängi<jen Amplitudenänderung von in

Die mathematische Beziehung zwischen dem Ab- 25 einem Detektor für Rönigenquanten eines Röntgenstand d des Analysatorkristalls von ' . Strahlenquelle, strahlenbeugungsapparates erzeugten Spannungs-

dem Krümmungsradius 2-R(P, ist der Radius des Rowlandkreises) des Analysatorkristalls und dem Braggwinkel heißt für ein lineares, fokussierendes Spektrometer:

b =-■ 2«sin/>. (1)

Für den Braggwinkel 1? gilt weiter die Gleichung

η λ = 2i/sin/> oder die Gleichung
η λ

sin 0 =

ld

uc 2ιΙ ν

IdE

(3)

Dabei bedeutet

λ die Wellenlänge der reflektierten Strahlung, ν die Frequenz der reflektierten Strahlung, c die Lichtgeschwindigkeit,

d den Netzebenenabstand des Analysatorkristalls, η die Ordnungszahl der Reflexion, Λ das Plancksche Wirkungsquantum und E die Energie der Röntgenquanten.

Wird die Gleichung (3) in Gleichung (1) eingesetzt und nach der Energie E aufgelöst, so ist die Gleichung (4) zu erhalten.

- ^Rnch " U₁₁. (4,

d-b

bd

i Aus dieser Gleichung (4) ist zu entnehmen, dafi die Energie E und damit die Impulsamplitude der Delektorausgangsspannung Ud umgekehrt proportional <lem Abstand b des Analysatofkristalls von der Quelle Her Röntgenstrahlung ist.

Die Erfindung stellt sich die Aufgabe, den mit der linearen Auslenkung eines Spektrometer mit linearer Kristallführung gekoppelten Verstärker derart einzu-(richten, daß die im Detektor durch verschiedene impulsen mittels einer beugungswinkelabhängigen Steuerung der Detektorempfindlichkeit ist gemäß der Erfindung dadurch gekennzeichnet, daß die bei einer Translationsbewegung eines Analysatorkristalls eines linearen Röntgenspektrometers entlang einer Führungsgeraden auftretende hyperbolische Abhängigkeit der Impulsamplituden vom Abstand des Analysatorkristalls von einer Röntgenstrahlungsquelle mit Hilfe eines die Verstärkung eines Verstärkers für die Detektorausgangsimpulse linear beeiufassenden Potentiometers, dessen Abgriff mit der Translationsbewegung des Analysatorkristalls gekoppelt ist, kompensiert is'. Das Potentiometer kann ein Schiebewiderstand sein, dessen Schleifer direkt oder über mechanische Koppelelemente an einem den Analysatorkristall tragenden und mittels einer Spindel bewegbaren Schlitten befestigbar ist oder das Potentiometer ist ein Rund- oder Mehrwendelpotentiometer, dessen Schleifer direkt oder über ein Getriebe mit der den Schlitten antreibenden Spindel verbindbar ist. Das Schiebe-, Rundoder Mehrwcndelpotentiometer ist als Serienschaltung mit einem die Grundverstärkung des Impulskanals einstellenden ohmschen Widerstand im Ausgangskreis eines die Spaniv:ngsimpulse des Detektors verstärkenden Vorverstärkers angeordnet.

In einer der möglichen Weiterbildung der Erfindung kann zur Vermeidung der Einstreuung von Störungen in die Verbindungsleitungen zwischen Spektrometer und Verstärkeranordnung das Potentiometer von einem Gleichstrom gespeist sein. Dabei ist die am Potentiometerabgriff erzeugte Spannung über ein Störspannungen unterdrückendes Filter dem Eingang eines Verstärken zuführbar, dessen der Eingangsspan· nung proportionaler Ausgangsstrom einer ersten Spule eingeprägt ist, die mit einer zweiten Spule auf einem in seinem Luftspalt einen magnetfeldabhängigen Widerstand enthaltenden Magnetjoch befestigt ist, der im Oegepkopplungskreis eines dem das Detektorsignal

Ouiinlcncncrgicn ausgelösten verschiedenen hohen 65 verstärkenden Vorverstärker nachgeschalteten wei-Ümpulsc so verstärkt werden, dall am Verstärkeraus- teren Verstärkers angeordnet ist.

unabhängiger Amplitude

Impulse mil von />

wilden und d.iinit ein Nachstellen ties In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung kann die erste flpule mit zwei weiteren Spulen auf

einem weiteren Magnetjoch mit einem magnelisierten Mittelschenkel und mit in den beiden Luftspalten der Außenschenkel befindlichen magnetfeldabhängigen Halbleiterwiderständen, die einen im Ausgangskreis des Vorverstärkers liegenden Spannungsteiler bilden, dessen über dem einen Halbleiterwiderstand abgegriffene Spannung die Eingangsspannung für den zweiten Verstärker ist, angeordnet sein.

Die Erfindung wird an Hand einer ein vollfokussierendss Röntgenspektrometer darstellenden F i g. 1 und an Hand von Ausführungsbeispielen mittels der F i g. 2 bis 8 im folgenden näher erläutert.

In F i g. 1 ibt der Strahlengang eines fokussierenden Röntgenspektrometers mit linearer Kiistaliführung schematisch dargestellt. Auf einem Rowlandkreis Ali; sind die Röntgenstrahlenquelle Q, der Analysatorlcristall A K und der Detektor 21 angeordnet, und zwar derart, daß der Einfallswinkel des Röntgenstrahl s A, gebildet zwischen der Richtung des RöntgenstraMes A Und der Normalen Nl auf den AnalysatorKristall AK, ao und der Ausfallswinkel des reflektierten Röntgen- »trahles A zur Normalen .Vl gleich, sind. Die Röntgenttrahlung, welche vom Analysatorkristall AK reflektiert wird, wird in den Detektor Zl fokussiert. Vor dem Detektor Zl ist eine Blende S angebracht. Der as Analysatorkristall AK kann z. 3. auf einem Kristallwechsler mit mehreren gekrümmten Analysatorkristallen befestigt sein, welche wahlweise in den Strahlengang des Spektrometer gebracht werden können. Die Halterung des Analysatorkristalls AK ist entlang der Führungsgeraden F bewegbar. Dabei dreht sich der Analysatorkristall AK, und die Wellenlänge λ der reflektierten Röntgenstrahlung r-immt zu. Bei der Stellung des Analysatorkristalles AK auf dem Rowlandkreis Rl hat die Mittelsenkrechte des Analysatorkristalls zur Röntgenstrahlenquelle Q den Abstand bl. Bei dem Abstand bl des Analysatorkristalls AK von der Röntgenstrahlenquelle Q muß der Detektor ZX derart gedreht sein, daß die Fokusbedingung wiederum stimmt. Dies gelingt nur, wenn die Röntgenstrahlenquelle Q, der Analysatorkristall AK und der Detektor Zl auf einem weiteren Rowlandkreis Rl, mit dem gleichen Radius R wie der Rowlandkreis Al, angeordnet sind. Für die Beziehung zwischen dem Abstand bl und bl des Analysatorkristalls AK von der Strahlenquelle ö gelten die beiden Gleichungen (5) und (6), die au9 der Gleichung (1) hervorgehen.

bl = 2Ä-sini?l undft2 = 2R-sinO2. (5)

Aus der Gleichung (4) ist zu entnehmen, daß die Energie E und damit die Impulsamplitude der Detektorausgangsspannung Ud umgekehrt proportional dem Abstand bl bzw. bl des Analysatorkristalls AK von der Röntgenstrahlenquelle Q ist. Die Impulsamplitude der Detektorausgangsspannung Ud ist auch Abhängig von der Ordnungszahl η der Reflexion sowie vom Netzebenenabstand ddes Analysatorkristalls AK. Genau wie die Abhängigkeit der Detektorausgangs-Ipannung Ud vom Abstand b des Analysatorkristalls von der Röntgenotrahlenquelle Q zu eliminieren ist, müssen auch die bei einem Kristallwechsel und bei gewünschter Änderung der Ordnungszahl η der Reflexion auftretenden Veränderungen der Amplitude der Ausgangsspannunp Vy ebenfalls automatisch kompensiert werden.

Um den hyperbolischen Zusammenhang zwischen der Spannung Vi, und dem Abstand b des Analysatorkristalls/1Λ' zu beseitigen, ist in einer Ausführungsform der Erfindung nach F i g. 2 der Schleifer Λ'/'2 eines linearen Potentiometers Pl mit dem mittels einer Spindel Sp (ist gleich der Führungsgeraden S nach Fig. 1) bewegbaren Schlitten S direkt oder über mechanische Koppelelemente verbunden. Der Schleifer Rp2 ist mittels des Isolators / gegenüber dem Schlitten 5 elektriscii isoliert. Der Schlitten 5 trägt die Halterung des oder der Analysatorkristalle AK. Der Schleifet hpl gleitet über das Potentiometer Pl mit den Anschlüssen RpI und Rp^-S, welches parallel zur Spindel Sp angeordnet ist. Die Spindel Sp, welche in den beiden Lagerungen Hl und Hl gehaltert ist, kann über die Achse B ve \ einem Elektromotor A/ angetrieben werden.

Eine weitere Ausführungsform der jrfindungsgemäßen Einrichtung ist in F i g. 3 dargestellt. Statt des Schiebewiderstandes (Flachbahnregier) Pl nach F i g. 2 wird ein RundpotentK neter f'l direkt oder über ein Getriebe (in F i g. 3 ibt das Rundpotentiometer Pl direkt angeschlossen) mit der Spindel Sp verbunden. Das Rundpoientiometer hat wiederum die Anschlüsse RpI und Rp3 sowie den MittelabgiJT RpI. Auf dem Schlitten S ist ebenfalls der Analysatorkristall AK befestigt, und die Spindel Sp ist wiederum in den Lagern Hl und Hl gelagert und übe*· den Motor M bewegbar. Das Rundpotentiometer Pl kann eine Ausführung mit einem Drehwinkel < 360° sein oder aber ein Mehrwendelpotentiometer. Eine weitere Möglichkeit ist in der Verwendung eines kontaktlosen verschleißfreien Feldplattenpotentiometers zu sehen.

Das Schiebepotentiometer Pl bzw. das Rundoder Mehrwendelpotentiometer Pl sind als Schaltelemente in einer Verstärkeranordnung nach F i g. 4 eingebaut. Die Röntgenquanten treffen in. das Zählrohr Zl und werden dort in Spannungsstöße umgewandelt. Die Zählrohrspannung Uz wird über den Widerstand Al an das Zählrohr Zl gelegt. Die Zählrohrimpulse gelangen über den KoppelkondensatorC2 zu dem Vorverstärker VV. Im Ausßangskreis des Vorverstärkers VVliegt die Serienschaltung des Widerstandes A₀ und des Potentiometers PX mit den Anschlüssen RpX ... Rp3. Mit dem Widerstand R₀ wird die erforderliche Grundverstärkung des Impulskanals eingestellt. Die an dem Mittelabgriff RpI und dem Anschluß RpX abgegriffene Spannung wird über den Hauptverstärker H'' verstärkt und gelangt au den Eingang eines Diskriminators D. Am Ausgang des Diskriminators werden die Impulse in einen Zähler eingezählt. Verständlicherweise kann die Serienschaltung des Schiebe-, Rund- oder Mehrwendelpotentiometers mit dem Abgleichwiderstand R₀ vor dem Vorverstärker VV hinter dem Koppelkondensator Cl, innerhalb des Vorverstärkers VV oder im Hauptverstärker HV eingeschaltet sein.

In der Stellung b = 0 des Schlittens S (der Schlitten 5 liegt am Lager Ll an) Hegt det Abgriff Rp 1 am Anschluß RpX des Potentiometers Pl. Wird der Schlitten S in Richtung b bewegt, so läuft der Abgriff RpI von PpX nach Rp3. Die Verstärkung des Impulskanals steigt damit um den Faktor Kb an. wobei K eine Konstante ist. Der hyperbolische Zusammenhang zwischen der Spannung Up und dem Abstand/» des Analysatorkristalls AK [s. Gleichung (4)] wird mit dieser Verstärkeranordnung beseitigt.

Häufig bestehen zwischen dem Spektrometer und einem Meßschrank, welcher die Verstärkerelektronik enthält, g ößere Entfernungen, so daß die Gefahr

einer Einstreuung von Störungen in die Verbindungsleitungen entsteht. Ebenfalls können von dem räumlich benachbarten Antriebsmotor und den Baugruppen der Motorsteuerung Störungen in dem Potentiometerkreis hervorgerufen werden. Die Gefahr einer Störung des Meßkanals wird durch eine weitere mögliche Ausführungsform der Erfindung nach F i g. 5 vermieden. Diese Verstärkeranordnung sieht vor, daß das Potentiometer Rp (Schiebe-, Rundoder Mehrwendelpotentiometer nach F i g. 2 oder 3) von der Batterie Ur mit einem Gleichstrom gespeist ist. Am Abgriff RpI entsteht eine Spannung Ui, die proportional dem Abstand b des Analysatorkristalls AK (nach Fig. 1) von der Röntgenquelle Q ist. Diese Spannung UX wird über ein durch den Widerstand R_s und die Kapazität C, angedeutetes Filter, welches Störspannungen unterdrückt, dem Eingang des Verstärkers VP zugeführt, der einen der Eingangsspannung proportionalen Ausgangsstrom /.417S der Spule Ll einprägt.

Die Spule Li ist zusammen mit einer weiteren Spule Ll auf dem Kern eines Magnetjoches JX nach F i g. 6 angeordnet. In einem Luftspalt L dieses Magnetjoches Ji befindet sich ein magnetisch steuerbarer Widerstand Rf (Feldplatte). Zur Einstellung des Arbeitspunktes des magnetisch steuerbaren Widerstandes Rf im linearen Teil seiner Widerstand-Feldstärkc-Charakteristik wird die Spule Ll mit einem Vormagnetisierungsstrom Iv gespeist.

Der magnetisch steuerbare Widerstand Rp liegt im Gegenkopplungskreis des Verstärkers HV, welchem das vom Detektor ZI, der über den Widerstand R X seine Vorspannung Uz erhält, dem Vorverstärker VV gelieferte Signal zugeführt wird. Für die Verstärkung Vnv des Verstärkers HV gilt die Gleichung (6), wobei der Widerstand Ry ein Vorwiderstand ist.

Vuv ~

Rp Rr

Rf ~ b .

Das Ausgangssignal des Verstärkers//^ gelangt wiederum über den Diskriminator D an einen nicht näher dargestellten Zähler.

In dieser Verstärkeranordnung steigt der Strom/^r.s des Verstärkers VP proportional mit der Strecke b an. Dabei bewegt sich der Mittelabgriff RpI auf dem Potentiometer Rp, wodurch die Verstä.kungF//ides Hauptverstärkers HV ebenfalls propotional mit dem Abstand h ansteigt:

Die in der Gleichung (4) zu entnehmende Abhängigkeit der Spannung U_D des Detektors Zl von der Ordnungszahl π der Reflexion und vom Netzebenenabstand d des Analysatorkristalls AK wird mittels der Relais KX, Kl und der Relais NX und Nl, welche beim Kristallwechsel bzw. beim Umschalten auf eine andere Ordnungszahl N\ der Reflexion betätigt werden, kompensiert. Diese Relais ΑΊ und Kl betätigen Schalter λ 1 und A^-2, welche Widerstände/fa, und Ria zusätzlich zum Vorwiderstand Rv in den Eingangskreis des Hauptverstärkers HV einkoppeln. Im Rückkopplungskreis mit dem magnetfeldabhängigen Widerstand Rf sind über die Relais Nl und Nl und die SchalternX und nl weitere Widerstände Ry₁ und R\_t einschaltbar.

An Stelle der Einschaltung von Widerständen mittels der Relais Al, Kl, Nl, Nl zur Änderung der Verstärkung Vm- um feste Beträge beim Kristallwcchscl oder Wechsel der Ordnungszahl η kann auch der Vormagnetisierungsstrom/f der Spule Λ2 um feste Beträge geändert werden. Hiermit werden Relaiskontakte im Signalkreis als mögliche Störquellen vermieden.

Eine mögliche Abänderungsform der in F i g. 5 dargestellten Verstärkeranordnung ist in F i g. 7 dargestellt. Das Potentiometer Rp wird wiederum mit einer Konstantstromquelle Ur gespeist. Die Spannung Ul, welche am Mittelabgriff RpI abgegriffen

ίο wird, gelangt über das Filter, bestehend aus dem Widerstand R, und der Kapazität G, an den Verstärker VP. Der Ausgangsstrom Ims dieses Verstärkers VP fließt durch die Spule/.1. Die Spule Ll ist mit zwei weiteren Spulen L3, LA auf einem weiteren Magnetjoch Jl aufgebracht. Dieses Magnetjoch ist in F i g. 8 dargestellt. Es ist ein Dreischenkelmagnetjoch, wobei der Mittelschenkel aus einem Permanentmagneten Ma besteht. Die Magnetisierung, welche durch den Permanentmagneten Ma hervor-

ao gerufen wird, dient zur Einstellung des Arbeitspunktes der magnetisch steuerbaren Widerstände Rf₁ und Rf₃, die im Luftspalt Lv_t und Lr₁ angeordnet sind Die Spule Ll ist in zwei Teilspulen aufgeteilt, wobei der ein,·; Teil mit der Spule LA um ein Teil des Drei-

»5 schenkelmagnetjoches und die Spule L3 mit dem zweiten Teil der Spule Ll um den zweiten Schenkel des Magnetjoches Jl angeordnet ist. Die Spule LA und L3 erhalten konstante Ströme /1 und Il eingeprägt.

Die magnetisch steuerbaren Widerstände R_Ft und Af₃ bilden einen Spannungsteiler, der im Ausgangskreis des Vorverstärkers VV liegt. Dieser Vorverstärker erhält Spannungsimpulse aus dem Detektor Zl. Füeßt ein Strom Iars durch die Spule /.1.

so wirken auf den magnetfeldabhängigen Widerstand Rpt die Summe des Vormagrietisierungsfeldes der Anordnung nach F i g. 8 und des von dem Strom I Ais in der Spule Ll erzeugten Magnetfeldes, während auf den magnetfeldabhängigen Widerstand RFs die Differenz der beiden Felder wirkt. Der magnetfeldabhängige Widerstand /?f_s wird also größer und Af₃ kleiner. Die Eingangsspannung des Verstärkers HV wächst demnach proportional dem Strom IAvs und damit proportional dem Abstand/» des Analysatorkristalls AK von der Röntgert^rahlenque1le(? (F i g. 1) an. Somit wird entsprechend der Verstärkeranordnung nach F i g. 3 der hyperbolische Zusammenhang der Spannung Ud des Detektors Zl mit dem Abstand b kompensiert. Mittels der Spulen L3 und LA kann weiterhin der aus dem magnetfeldabhängigen Widerstand R_Fi und /?_F.i gebildete Spannungsteiler zusätzlich geändert werden, so daß damit die bei Kristallwechsel oder Wechsel der Ordnungszahl η der Reflexion auftretenden Änderung der Verstärkung des Meßkanals eliminiert werden.

Claims (11)

Patentansprüche:

1. Einrichtung für die Kompensation einer beugungswinkelabhängigen Amplitudenänderung von in einem Detektor für Rönigenquanten eines Röntgenstrahlenbeugungsapparates erzeugten Spannungsimpulsen mittels einer beugungswinkelabhängigen Steuerung der Detektorempfindlichkeit, d adurch gekennzeichnet, daß die bei einer Translationsbewegung eines Analysatorkristalls (AK) eines linearen Röntgenspektrometer entlang einer Führungsgeraden (F) auf-

I₀

tretende hyperbolische Abhängigkeit der Impulsamplituden vom Abstand des Analysatorkristalls (AK) von einer Röntgcnstrahlungsquelle (Q) mit Hilfe eines die Verstärkung eines Verstärkers für die Delektorausgangsimpulse linear beeinflussenden Potentiometers (A³I bzw. Pl), dessen Abgriff (RpI) mit der Translationsbewegung des Analysatorkristalls (AK) gekoppelt ist, kompensiert ist.

2. Einrichtung nach Anspruch I, Jadurch gelenn/eichnet. daß das Potentiometer (Fl) ein Schiebewiderstand ist, dessen Schleifer (RpI) direkt oder über mechanische Koppelelemente ■ n einem den Analysatorkristall (AK) tragenden lind mittels einer Spindel (Sp) bewegbaren Schlitten (5) befestigbar ist.

3. Pinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Potentiometer (Pl) ein kund- oder Mehrwcndelpotentiometer ist, dessen Schleifer (RpD direkt oder über ein Getriebe Init der den Schlitten (S) antreibenden Spindel iSp) verbindbar ist.

4. F-'wirichtung nach Anspruch 1 und 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß im Ausgangskreis eines die Spannungsimpulse des Detektors (Zl) verstärkenden Vorverstärkers (IT') eine Serien-Schaltung des Schiebe-, Rund- oder Mehrwendelpotentiometers (Pi bzw. Pl) mit einem die Cirundverstärkung des Impulskanals einstellenden ohmschen Widerstand (R_n) angeordnet ist.

5. F.inrichtung nach Anspruch 1 und 3, dadurch gekennzeichnet, daß eine Serienschaltung des Schiebe-, Rund- oder Mehrwendelpotentiomclers (P\ bzw. Pl) mit einem einstellbaren Abgleichwiderstand vor dem Vorverstärker (VV) hinter dem Trennkondensator (Cl) des Zählrohres (Zl), innerhalb des Vorverstärkers (VV) oder im Hauptverstärker (HV) einschaltbar ist.

6. Finrichtung nach Anspruch 1. 3, 4 und 5. dadurch gekennzeichnet, daß als Schiebe- oder Rundpotentiometer (Pl bzw. Pl) ein kontaktloses Feldplattenpotentiometer verwendbar ist.

7. Finrichtung nach Anspruch 1 und 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß zur Vermeidung der F.instreuung von Störungen in die Verbindungslcitungen zwischen Spektrometer und Ver-Stärkeranordnung das Potentiometer (Rp) von einem Gleichstrom gespeist ist, daß die am PotentionicterabgrifT (RpI) erzeugte Spannung (Ui) über ein Störspannimgen unterdrückendes Filter (R,, Cs) dem Fingang einc< Vorverstärkers (17') /uführhar ist, dessen der Fingangsspannimg proportionaler Ausgangsstrom Ums) einer ersten Spule (A. 1) eingeprägt ist. die mit einer zweiten Spule (A.2) auf einem in seinem Luftspalt magnetfeldabhängigcn Widerstand (A³^₁) enthaltenen Magnetjoch (./I) befestigt ist, der im Gcgenkopplungskreis eines den das Detcktorsignal verstärkenden Vorverstärker (IT') nachgcschallctcit weiteren Verstärkers (HV) angeordnet ist.

8. Hinrichtung nach Anspruch 7. dadurch p>'-kcnnzeichnet. daß in den (n'genkoppluiu'-^reis des zweiten Verstärkers (A/l ) über Relais (Vl. Nl, Kl, Kl) Zusatzwiderstände (R\_t. R\... Rh₁. Ria) zur Kompensation der von der Ordnungszahl (/1) der Reflexion und vom Nctzebenenabstand (el) des Analysatorkristalls (AK) abhängigen Änderung der Spannung des Detektors 1 / \) einschaltbar sind.

9. Einrichtung nach Anspruch 7. dadurch gekennzeichnet, daß zur Kompensation der von der Ordnungszahl (/1) der Reflexion und vom Nctzebeneii:\bstand (</) des Analysa'orkristalls (AK) abhängigen Änderung der Spanning de*· Detektors (/1) die Vormagnetisierung des Magnetkreises des Magnetjoch.es (./1) um feste Beträge veränderbar ist.

10. F.inrichtung nach Anspruch I oder einem der folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß d'c erste Spule (/.1) mit zwei weiteren Spulen (/.3. A.4l auf einem zweiten Magnetjoch (72) mit einem magnetisieren Mittclschenkel (AAo) und mit i'i den beiden l.uftspaltc [Ii ,. Lt₂) der Außcnschcnkel befindlichen magnetfeldabhängigcn I IaIbleiterwiderständcn (Ry₂. Ry_t). die einen im Au^- gangskreis des Verstärkers (IT) liegenden Spannungsteiler bilden, dessen über dem einen Ha'bleiterwiderstand (Ry.,) abgegrifknc Spannung die Eingangsspannung für den zweiten Verstärker (AAK) ist, angeordnet ist.

11. F.inrichtung nach Anspruch 7 und 10. dadurch gekennzeichnet, daß zur Kompensation der von der Ordnungszahl (n) der Reflexion und vom Netzebencnabstand ((/) des Analysatorkristalls (/1Ak) abhängigen Änderung der Spannung des Detektors (Zl) mittels Veränderung des Speisestromes der beiden zusätzlichen Spulen (L3, L4) das Verhältnis des Spannungsteilers veränderbar ist.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen