DE1772764C - Lichtmeßanordnung , insbesondere fur Kameras - Google Patents

Lichtmeßanordnung , insbesondere fur Kameras

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Publication number
DE1772764C
DE1772764C DE1772764C DE 1772764 C DE1772764 C DE 1772764C DE 1772764 C DE1772764 C DE 1772764C
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DE
Germany
Prior art keywords
photoresistor
photoresistors
series
angle
light measuring
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Expired
Application number
Other languages
English (en)
Inventor
Kemchi Tanaka Hirokazu Tokio Tashiro
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Stanley Electric Co Ltd
Original Assignee
Stanley Electric Co Ltd
Publication date

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Description

Die Erfindung betrifft eine Liehtineßanorclnung, widerstünde einfallenden Strahlungsleistung nicht insbesondere für Kameras, zur Ermittlung einer mitt- praktisch ausschließlich durch den die geringe Strahleren einfallenden Strahlungsleistung in einem großen lungsleistung aufnehmenden Photowiderstnncl be-Mcßbereich, mit einem Anzeigeinstrument und in stimmt ist. Erreicht wird dies durch die Kombination dessen Stromkreis liegenden, in Reihe geschalteten 5 folgender Merkmale:
Photowiderständen, die unterschiedliche Meßwinkel- „\ die in Reihe gesci,nnclcn Photowidersüinde sind begrenzungen aulweisen. bis iU)f einen durch jß cinen p,irai|,ji.wuicrstand
I'.s siiul bereits Anordnungen der erwa1 linien Art überbrückt·
nach der deutschen Auslegeschrift I 084 565 bekunnt, ... ·,.'··, ι ■· ι, ηι < <· ι-.-ci...wi ι.·,ι bei denen jedoch keiner der beiden Photowiderstände ,ο b) der mc !. "^rbruckle Phc.tow de land a mil einem Nebenschlußwiderstand versehen ist. Der- f'cn ßroi3cre» L.ehte.nfaHsw.iikel als der oder
artige Anordnungen sollen dazu dienen, in einem clie andcren !'!'"!»widerstände.
Bild mit überwiegend hellen Bereichen, welche in- Durch die erfiiulungsgemäße Lichtmeßanordnung
dessen unwesentliche Einzelheiten darstellen, eine wird erreicht, daß auch bei verhältnismäßig großen ausreichende Belichtung dunklerer Bereiche zu er- 15 Unterschieden der Strahlungsleistungen der Gesamizielen, welche wesentliche Einzelheiten darstellen. widerstandswert bzw. ein durch das Anzcigeinstru-Wenn beispielsweise ein wesentlicher Teil des Bildes ment fließender Meßstroni nicht ausschließlich durch von hellem Tageslicht ausgefüllt wird und eine im den mit der geringeren Strahlungsleistung beauf-Schattcn eines Baumes stehende Person einen kleine- schlagten Pholowiderstand bestimmt ist, weil diesem ren iiud dunkleren Teil des Gesamtbildes ausmacht, ao noch ein Festwiderstand parallel geschaltet ist. Selbst so würde diese Person bei Verwendung einer Licht- wenn also auf den durch die dunkleren Bildteile bemcßanordnung mit lediglich einem Photowiderstand aufschlagtcn Photowiderstand kein Licht fällt, steigt zu gering belichtet werden, weil sich die Anordnung der Meßstrom bei steigender mittlerer Strahlungsinsgesaml auf einen zu hohen Mittelwert der ein- leistung, welche überwiegend durch die helleren Bildfallenden Strahlungsleistung einstellt. Bei Verwen- as teile bestimmt ist.
dung zweier leihengeschalteter Photowiderstünde Einige Ausführungsbcispiele der Erfindung werden
gemäß der deutschen Auslegeschrift 1 084 565 wird nachstehend an Hand der Zeichnung näher erläutert, nun einer der beiden Photowiderstände überwiegend Es zeigen
von den helleren Bildteilen belichtet, was einen ent- Fig. 1 bis 3 verschiedene Ausführungsformen von
sprechend geringen, auf einen Bruchteil des Ursprung- 30 Lichtmeßanordnungen nach der Erfindung, liehen Widerstandswertes reduzierten Widerstands- Fig. 4 den Verlauf von Stiomkurven bei einer Anwert bedingt, während der andere Photowiderstand, Ordnung nach F i g. 1.
welcher auf die dunkleren Biklteile gerichtet ist, Die Schaltungsanordnung nach Fig. 1 enthält in
seinen Widerstand nicht wesentlich ändert. dem Stromkreis einer Batterie B zwei einem Anzeige-
Der Gesamtwiderstand der Anordnung vermindert 35 instrument A in Serie vorgeschaltete Photowidersich indessen, selbst wenn ein Abfallen des Wider- stände Pl und P2, wobei der Photowiderstand Pl standswertes des einen Photowiderstandes auf den durch cinen geeignet gewählten Festwiderstand Wi Wert Null angenommen wird, dadurch lediglich auf überbrückt ist. Der Photowiderstand Pl weist hieretvva den halben ursprünglichen Wert (unter der Vor- bei einen geringeren, der Photowiderstand P2 hinaussetzung, daß der auf die dunklen Bildteile gerich- 40 gegen einen größeren öffnungswinkel auf; tele Photowiderstand seinen Widerstandswert im Die Anordnung nach Fig. t ergibt eine noch
wesentlichen nicht ändert), so daß im Ergebnis auch bessere Annäherung an die gewünschte Meßwcrtbei einem sehr hellen Hintergrund Fehl- bzw. Unter- charakteristik und umfaßt zusätzlich zu der Anordbelichtungen der dunkleren Biklteile im Vergleich zu nung nach F i g. 1 noch einen im Stromkreis liegeninit lediglich einem Photowiderstand arbeitenden 45 den zusätzlichen Photowiderstand P 3, welcher durch Lichtmeßanordnungen wesentlich vermindert wer- einen parallelen Festwiderstand W 3 überbrückt ist. den. Als nachteilig ist jedoch anzusehen, daß bei Außerdem ist dem Instrument A noch ein Festwiderextremen Unterschieden der Lichtstärke zwischen stand W 2 vorgeschaltet.
den helleren und dunkleren Bildteilen der Gesamt- Bei der Anordnung nach Fig. 3 sind die Photowiderstand der Anordnung praktisch ausschließlich 50 widerstände Pl und P2 noch durch einen zusätzduich den die Strahlungsleistung der dunkleren Bild- liehen Photowiderstand P4 mit einem vorzugsweise teile aufnehmenden Photowiderstand bestimmt wird. gegenüber dem öffnungswinkel des Photowiderstan-Dies führt dazu, daß die helleren Bildteile sehr stark des P 2 noch größeren öffnungswinkel überbrückt, überbelichtet weiden, so daß gegebenenfalls die eiste Weiterhin liegt ähnlich wie in Fig. 2 vor dem Ani'.Mlaii^uii'i! eines zu belichtenden Filmes erreicht 55 zeigeinstrument A noch derSerienfestwiderstand Wl. • viid. Olvieieli die dunkleren Bildleile im wesent- Fig. 4 zeigt ein Diagramm des durch das Instru-
ΙκΊκίι ij L- ϊ 11 i ti, belichtet werden, wäre ein derartiges ment A tier Fig. 1 fließenden Stroms bei verschic-Bihl i'lridiwohl schlecht zu beweiten, weil die helle- denen Lichtverhältnissen auf den Photowiderständcn ren iSikltcile wegen zu starker Oberbeliehtung über- P f und P 2, wobei tue mit 5 bis !4 bezifferten Kurliaii]'! keine l;in/elheiten mehr erkennen lassen. Gün- 60 ven den Strom als Parameter daistellen. sii}'ci v.iiiv in einem derartigen Fall ein BiK! zu be- Wie aus Fig. 4 erkennbar ist, wird durch die Zu-
wviien, bei dein unter Inkaufnahme einer gewissen Ordnung des kleineren Lichtcinfallwinkels zu dem Unterbelichtung der dunkleren Biklteile die helleren geshuntetcn Photowiderstand eine Gegenlichtkomiiililteile nicht vollständig überbelichtet sind. pensation erzielt, Empfängt z. B. der Photowiderstand
Aiiiivil;.- der vorliegenden Hrfindung ist dem- 65 /1J, der den kleineren Lichteinfallwinkel hat, Licht j lüiiäü i!u Schaffung einer veibesscrten Lichtmeß- aus einem in der Bildmitte angeordneten Objekt und anordnung, deren Gesanitwiderstandswert auch bei bleibt die Helligkeit dieses Objektes unverändert, '.1Ί11· starken Unterschieden der auf die beiden Photo- während sich die Helligkeit des Hintergrundes ändert,
so wird der Strom im Meßkreis durch eine Änderung des Photowiderstundes P 2 verändert, Dies geschieht aber so,.daß nach höheren Lteleuchtungsstürken hin die Stromstärke weniger als linear mit den Intensitäten an Vl zunimmt.

Claims (2)

Patentansprüche: to
1. Lichtmeßanordnung, insbesondere für Kameras, zur Ermittlung einer mittleren einfallenden Strahlungsleistung in einem großen Meßbereich, mit einem An/cigeinstrumcnt und in dessen Stromkreis liegenden, in Reihe geschalteten Photowiderstünden, dir unterschiedliche Meßwinkelbegrenzungen aufweisen, gekenn-
zeichnet durch die Kombination folgender Merkmale:
a) die in Reihe geschalteten Photowiderstände (/'1, P 2, P 3) sind bis auf einen (/'2) durch je einen Parallel-Widerstand (W I, W3)
überbrückt;
b) der nicht überbrückte Photowiderstand (/' 2) hut einen größeren Lichteinfallswinkel als der oder die anderen Phoiowidersiündc (M, P 3).
2. Lichtmeßanordnung nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß zwei in Reihe guschaltete Photowiderstände (Pl, Pl) gemeinsam diiieli einen Photowiderstand (/'4) überbrückt sind, dessen Lichteinfallwinkel größer ist als die Liditeinfallwinkcl der in Reihe geschalteten Photowiderstände (/»1, P 2; Fig. 3).
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

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