DE1614799A1 - Halbleiteranordnung - Google Patents
HalbleiteranordnungInfo
- Publication number
- DE1614799A1 DE1614799A1 DE19671614799 DE1614799A DE1614799A1 DE 1614799 A1 DE1614799 A1 DE 1614799A1 DE 19671614799 DE19671614799 DE 19671614799 DE 1614799 A DE1614799 A DE 1614799A DE 1614799 A1 DE1614799 A1 DE 1614799A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- base
- zone
- emitter
- semiconductor
- transistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 32
- 101100495769 Caenorhabditis elegans che-1 gene Proteins 0.000 claims 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000008188 pellet Substances 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- 241000272525 Anas platyrhynchos Species 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 230000002045 lasting effect Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/04—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
- H01L27/06—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration
- H01L27/07—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration the components having an active region in common
- H01L27/0744—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration the components having an active region in common without components of the field effect type
- H01L27/075—Bipolar transistors in combination with diodes, or capacitors, or resistors, e.g. lateral bipolar transistor, and vertical bipolar transistor and resistor
- H01L27/0755—Vertical bipolar transistor in combination with diodes, or capacitors, or resistors
- H01L27/0772—Vertical bipolar transistor in combination with resistors only
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/04—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
- H01L27/06—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration
- H01L27/07—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration the components having an active region in common
- H01L27/0744—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration the components having an active region in common without components of the field effect type
- H01L27/075—Bipolar transistors in combination with diodes, or capacitors, or resistors, e.g. lateral bipolar transistor, and vertical bipolar transistor and resistor
- H01L27/0755—Vertical bipolar transistor in combination with diodes, or capacitors, or resistors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Bipolar Transistors (AREA)
Description
- "Halbleiteranordnung"
Die Erfindung betrifft eine Halbleiteranordnung mit einem Transistor aus einer Emitter-, einer Banis- und-einer Kollektorzone, bei der die Basis- und die Emitterelektrode auf einer Oberflächenseite eines Halbleiterkörpers an&*- ordnet sind und bei der-die Zmitterzone auf der der Ba- sIselektrode abgewandten Seite zi:Lt dor Basinzone kurzge- schlossen Ist, Die Erfindung besteht in der Verwendung einer derartigen Halbleiteranordnung als Transistor mit eingobautem Banisab- leItwIderstand bei integrierten Halbleiterschältungene Der Erfindung liegt die Erkenntnis zugrunde" daß die wirt-. schaftlIche Fortigung integrierter Halbleiterschaltungon durch Verkleinerung der benötigten Halbleitertläcbe, durch' Vereinfac'bung der Heretellungsvereahren und durch Senkung der Bauelpmentenzahl pro-integrierter $obaltung bot gleich- 2 j bleibender Leistung der Schaltung erheblich gesteigert vor- den kann. In Figur 1 ist- beispielsweise *in* Schaltung aus Dioden, Transistoren und Wider#täud" dargestellt# die in integrierter Form auf einen einzelnen Halbleiterpellet unterzubringen tote Dabei geht man *o vor, daß zur Kosten- senkung bei der Herstellung der Schaltung eine Vielzahl gleichartiger Schaltungen gleichzeitig auf einer Halbleiter- scheibe gefertigt worden. Durch Zerteilen der Halbleiter- scheiben werden anschließend die Schaltungen vereinzelt. Die einzelneu Scheltelemexte worden durch Sperrschichten voneinander sopariert =d mit Hilfe der bekannten Diffu- siouxteobnik in elektrisch voneinander isolierten Halblei- tormonen untorGebrachte Die Widerstände R 19 R2 und R, be- stehen au» tu den HalbleiterkBrper eindiffundierten kanal- artigen Zonen" die an ihren beiden Baden jeweils mit einen elektrischen Anschluß versehen eind, VIL*1:ti%ch tot man auch gezwungen, die Wideritandezonen, zur Erzielung einen ge- wünschten Vtdorot&udnwerten mgander:törmig auszubilden. In jeden Pall nehmen di* Widerstände auf der Halbleiterober- fläche viel Platz an aktiver Malbleiterfläche in Anspruch. FUr einen Vtder»tomd wird bisher etwa di* gleich* aktive Fläche *tu fUr einen Transistor benötigt* Die einzelnen Bauelemente wurden, gemäß dem Schaltungsaufbau nach Figur 1, im der Leitbabnen elektrisch w:Ltgin&nd&r verknüpftt PO-rner befinden sich -auf der Halb- leitgroborrl&cb«# die **ist zum Schutz* der'Saueltnente mit einer isolierenden tohieht, beisPieltweibe mit einer Sillziumdioxydnebiebt,9 bedeckt Ißt* Netallkontakte zum Anschluß-der Zuleitungseltmente an die Schaltung* Der Ba- einableitwIderständ R.9.der die Oaeiselektrode mit der EmLtteralektrQdo des Irtmeintors T verbindet, dient zur Herabsetzung der Ausechältmeit den Transistors. In durchm geschalteten bzwe leitendlen Zustand Ißt an Ausgang A der Schaltung nur die Tranniistorrootop*»=g vorhanden, die- ner Zustand wird in der Digitalteelmilg vielfach als 11011 Zustand bezeichnet, während be £ 4*oporrten Zustand-an Ausgang A die Sattertespannung U,- abtällt. -In diesem Fall spricht man In der Digitaltechnik vom 11111-Zuntand der lo- gischen Schaltung* Bein Um*cbaltou-den Transistors von 11011 in den '11111-Zuständ imüssen die tadungeträgler in der Daviemone möglichst rasch abgeführt worden# um die Schaltmeit den Transistors klein zu halt-en. Zu diesen Zweck dient der Abl*Itwiderstand R., über den die Ladungsträger ungehindert auch dann abiließen können, wenn die Dtode D sperrt. Es ist nun bereits früher ein Transistor vorgeschlagen vor- den, bei den die Fmitterzone auf der der BaaLselektrode abge- wandten Seite durch einen Netallbolag mit der Baeinmont kurm- geschlossen ist. Durch di es* Anordnung erhielt man einen - Die Erfindung soll im weiteren anhand eines Ausführungsbeispieles näher erläutert werden.
- Figur 2 zeigt in der Draufsicht und Figur 3 im Schnitt den Teil einer integrierten Halbleiterschaltung, in dem nach Figur 1 der Transistor T untergebracht ist. Zur Herstellung des Halbleiterpellets wurde zunächst auf einer beispielsweise p-leitenden Halbleiterscheibe 1 aus Sillzium epitaktisch eine n-leitende Schicht 2 abgeschieden. Diese n-leitende Schicht wurde durch eine sogenannte Seperatlonsdiffunion in einzelne Halbleiterboxen 3 aufgeteilt, in die jeweils eines der Halbleiterelemente der integrierten Schaltung eingebracht wird. Die einzelnen Boxen sind durch die Diffusionszonen 4 voneinander getrennt, die p-leltend sind und in das p-leitende Grundmaterial 1 übergehen. Die n-leitende Halbleiterbox 3 dient bei der Herstellung eines Transistors als Kollektorzone, in die eine p-leitende Baeiszone 5 eindiffundiert wird. In die Basiszone wird wiederum'eine beispielsweise rechteckig rahmenfÖrmige, n-leitende Emitterzone 6 eindiffundiert. Die Halbleiteroberfläche Ist mit Ausnahme der Kontaktstellen fÜr die verschiedenen Ualbleiterzonen mit einer Isolierschicht 7, beispielsweise aus Siliziumdioxyd abgedeckt. Die Kollektorzone ist über den Metallkontakt lo, mit weiteren, nicht dargestellten Bauelementen der integrierten Schaltung elektrisch leitend verbunden, während zur Kontaktierung der Basiszone 5 der innerhalb der Emitterzone liegende Kontakt 8 vorgesehen ist. Die Emitterzone ist ü)er einen U-färmigen Metallkontakt 9 an ihrem der Basiselektrode 8 abgewandten Rand mit der Baalazone kurzgeschlossen. Dieser Kurzschluß erstreckt sich vorteilhafterweine über drei Seiten des Emitterrechteckes, so daß der-Basiskontakt kurzschlußfrei über eine Leitbahn mit weiteren Bauelementen der integrterten Schaltung verbunden werden kann. Bei einer derartigen Halbleiteranordnung weist die Basiszone unter der Emitterdiffusion einen FlächenwIderstand von ca. lo KOhm je Quadrat auf. Die Emitterzone kann auch kreisringförmig ausgebildet sein. Auch dann wird vorteilhafterweise ein Großteil des der Baalselektrode abgewandten Emitterrandes mit der Basiszone kurzgeschlossen werden. Der Basisableitwiderstand lt 2 ergibt sich dann durch die 3asisstrecke zwischen der Basiselektrode und der Kurzschlußstelle zwischen Emitter- und' Basiszone.
Claims (2)
- P a t e n t a n a p r ü c h e 1) Halbleiteranordnung mit einem Transistor aus einer Emitter-, einer Basis- und einer Kollektorzone, bei der die Basin- und die Emitterelektrode auf einer Oberflächenseite eines flal:bl(-eiLterkörpers angeordnet sind und bei der die Emitterzone auf der der Basiselektrode abgewandten Seite mit der Basiszone kurzgeschlossen ist, gekennzeichnet durch ihre Verwendung als Transistor mit eingebautem Rasiaableitwiderstand bel integrierten Halbleiterschaltungen. 2) Halbleiteranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Abstand zwischen der Basiselektrode und der Kurzschlußstelle zwischen Emitter- und Baniszone derart gewählt ist, daß der Widerstand der Basiszone zwischen diesen beiden Stellen dem geforderten Widerstandswert in der integrierten Halbleiterschaltung entspricht. 3) Halbleiteranordnung nach'Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Widerstand der Baaisz6ne zwischen der Basiselektrode und der Kurzschlußstelle zwischen' Basis-und Emitterzone ca.
- 2 KOhm beträgt. Halbleiteranordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß In die Basiazone eines Transistors in einer integrierten-Schaltung eine ringförmige Emitterzone eingelasWen. und die Basiselektrode innerhalb dieses Emitterrings angeordnet ist, und daß der Emitterring an ihrem derBasiselektrode abgewandten Rand mit der Basiszone kurzgeschloseen ist. 5) Halbleiteranordnung nach einem der Ansprüche 1 bis dadurch gekennzeichnet, daß in die Basiszone eines Transistors in einer integrierten Schaltung die Emitterzone rechteckig rahmenfÖrmig eingelassen und die Basiselektrode innerhalb dieser Emitterzone angeordnet ist, und daß die Emitterzone an ihrem der Basiselektrode abgewandten Rand mit der Baaiszone kurzgeschlossen ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DET0033622 | 1967-04-08 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1614799A1 true DE1614799A1 (de) | 1970-12-23 |
Family
ID=7557905
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19671614799 Pending DE1614799A1 (de) | 1967-04-08 | 1967-04-08 | Halbleiteranordnung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1614799A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2319200A1 (fr) * | 1975-07-23 | 1977-02-18 | Itt | Diode zener integree |
-
1967
- 1967-04-08 DE DE19671614799 patent/DE1614799A1/de active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2319200A1 (fr) * | 1975-07-23 | 1977-02-18 | Itt | Diode zener integree |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3333896C2 (de) | Halbleiterstruktur zum Schutz gegen negative und positive Überspannungen | |
DE3855603T2 (de) | Integrierter bipolarer Hochspannungsleistungstransistor und Niederspannungs-MOS-Transistorstruktur in Emitterumschaltkonfiguration und Herstellungsverfahren | |
DE3410427A1 (de) | Hochleistungs-metalloxyd-feldeffekttransistor | |
DE2245063A1 (de) | Schaltungseinheit mit einem feldeffekttransistor und einem bipolaren transistor | |
DE2554612A1 (de) | Integrierte halbleiterschaltung | |
DE2234973A1 (de) | Mis-halbleitervorrichtung | |
DE69013280T3 (de) | Schutzschaltung für eine Verwendung in einer integrierten Halbleiterschaltungsanordnung. | |
DE69930715T2 (de) | Elektronische Halbleiterleistung mit integrierter Diode | |
DE1789119C3 (de) | Halbleiterbauelement. Ausscheidung aus: 1514855 | |
DE3044444A1 (de) | "monolithisch integrierte gleichrichter-brueckenschaltung" | |
DE3119288A1 (de) | Halbleiteranordnung | |
DE2406807B2 (de) | Integrierte Halbleiterschaltung | |
DE2142402A1 (de) | Halbleiteranordnung und Verfahren zu deren Herstellung | |
DE112006002916T5 (de) | Gestapelte Anordnung integrierter Schaltungsbausteine | |
DE2349938A1 (de) | Halbleitervorrichtung | |
DE1539070A1 (de) | Halbleiteranordnungen mit kleinen Oberflaechenstroemen | |
DE1614799A1 (de) | Halbleiteranordnung | |
EP0098497A2 (de) | IGFET mit Ladungsträgerinjektion | |
DE3138763A1 (de) | Lichtzuendbarer thyristor mit steuerbaren emitter-kurzschluessen und zuendverstaerkung | |
DE2017172C3 (de) | Halbleiteranordnung, die eine Passivierungsschicht an der Halbleiteroberfläche aufweist | |
DE2026778C3 (de) | Halbleitervierschichtdiode | |
DE2527191A1 (de) | Thyristor | |
DE2316599A1 (de) | Hochspannungs-halbleiteranordnung | |
DE2321426C3 (de) | Bipolarer Dünnschicht-Transistor | |
DE19507169C1 (de) | Integrierte Schaltungsanordnung mit mindestens einem IGBT |