DE1473681A1 - Verfahren zur optischen Fehlersuche,besonders an grossflaechigen Materialien - Google Patents

Verfahren zur optischen Fehlersuche,besonders an grossflaechigen Materialien

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DE1473681A1
DE1473681A1 DE19651473681 DE1473681A DE1473681A1 DE 1473681 A1 DE1473681 A1 DE 1473681A1 DE 19651473681 DE19651473681 DE 19651473681 DE 1473681 A DE1473681 A DE 1473681A DE 1473681 A1 DE1473681 A1 DE 1473681A1
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Germany
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light
optical
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measured
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DE19651473681
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Vinzelberg Dr Bernhard
Schamphelaere Lucien De
Nassenstein Dr Heinrich
Sigwart Dr Dipl-Ing Karl
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Agfa Gevaert AG
Original Assignee
Agfa Gevaert AG
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901—Optical details; Scanning details
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/0007—Applications not otherwise provided for

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US4768878A (en) * 1985-09-09 1988-09-06 Siemens Aktiengesellschaft Test arrangement for non-contacting identification of defects in non-structured surfaces

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