DE1465112A1 - Im Vakuum niedergeschlagene Halbleiterschichten fuer Elasto-Widerstandselemente - Google Patents
Im Vakuum niedergeschlagene Halbleiterschichten fuer Elasto-WiderstandselementeInfo
- Publication number
- DE1465112A1 DE1465112A1 DE19641465112 DE1465112A DE1465112A1 DE 1465112 A1 DE1465112 A1 DE 1465112A1 DE 19641465112 DE19641465112 DE 19641465112 DE 1465112 A DE1465112 A DE 1465112A DE 1465112 A1 DE1465112 A1 DE 1465112A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- resistance
- layer
- vacuum
- elasto
- deformation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/20—Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress
- G01L1/22—Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress using resistance strain gauges
- G01L1/2287—Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress using resistance strain gauges constructional details of the strain gauges
- G01L1/2293—Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress using resistance strain gauges constructional details of the strain gauges of the semi-conductor type
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01H—MEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
- G01H11/00—Measuring mechanical vibrations or ultrasonic, sonic or infrasonic waves by detecting changes in electric or magnetic properties
- G01H11/06—Measuring mechanical vibrations or ultrasonic, sonic or infrasonic waves by detecting changes in electric or magnetic properties by electric means
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C10/00—Adjustable resistors
- H01C10/10—Adjustable resistors adjustable by mechanical pressure or force
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Pressure Sensors (AREA)
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
Description
Im Vakuum niedergeschlagene Halbleiterschichten für
Elasto~Wi der Standeelemente (Blasto-resistiYe Element*^·
Die Erfindung betrifft formänderungsabhängige Halbleiter»
Widerstandselemente, im folgenden Elasto-Widerstandselemente genannt» insbesondere solche von hoher Empfindlichkeit·
Diese Elemente können s«B« als Wandler für mechanische Form«·
änderungen oder als Dehnungsmesser verwendet werden, in denen das Phänomen ausgenutzt wird, dass der elektrische Widerstand
eine Funktion des Zustandes ist, der durch eine Belastung
hervorgerufen wird·
Wenn ein Schaltkreis, der ein Elasto~Widerstandselement enthält,
dafür vorgesehen ist, einen konstanten Strom I iu führen, dann ist eine Spannungsänderung Δ V über dem Element
die Formänderungsanaeige und kann als
ausgedrückt werden» wobei B der Hennwi der stand des Elementes
ist und ε die mechanische Belastung berücksichtigt· γ ist eine
Größe, die als Hefifaktor beseiohnet und im folgenden Abschnitt '
erläutert wird·
Elftsto - Widerstandselemente werden heut· allgemein iftttf dem /
Gebiet des Masehinen-und Ingenieur*«■·&· und der Akustik auge» ί
-1- 109804/0703
U65112
wendet, ebenso bei den verschiedenen Uasetsungsarten von
mechanischer und akustischer Energie oder solcher Zeichen in ein entsprechendes elektrische· Solchen. Sie Änderung dee
elfekttisehen fideratandes eines Prüf körper a als folge der Einwirkung einer elastischen Belastung ist mathematisch wie folgt
gegeben»
für einen syllndri sehen massiven elektrischen Leiter ist der
elektrische Widerstand E durch R » 5 L/A gegeben» wobei γ
den spe elf Ischen elektrischen Widerstand des Körpers, Ir seine
Läng» und A seinen Querschnitt beseiohnet» Wenn der Körper
durch Druck (oder Zug) elastisch rerformt wird» dann ist die
Widerstandsänderung durch die Differentiation der obigen öleiohung gegeben«
dB/H * ds/? - dA/A + dL/& .
MiBiBt Ban an» dass der betrachtete Werkstoff isotrop ist»
dann gilt für die Seiländerung des Widerstandes
( dB/R) /(d I/L·) - (1 ♦ 2 (T) + (dj>/? ) / ( d L/L) S^,
wobei0* die Poisson*sehe Zahl» definiert durch
( d k/k) - - 2Cf ( d L/L), ist und die dimensional se Zahl γ als
Meß faktor be se lehnet wird» Der Ausdruck ( 1 + 2<3") in obiger
Gleichung stellt eine rein geometrische Wirkung dar» die einer Längemunahae und einer Querschnittsverringerung eines unter
Längs spannung (nicht axial) stehenden Zylinders entspricht«,
Der Ausdruck ( if /y ) / ( d £/L) stelltelne physikalische
Wirkung dar» wenn eine inderung des Werkstoffwiderständeβ
infolge der einwirkenden elastischen Beanspruchung eingetreten
ist« Diese Widerstandsänderung eines Körpers ist als SIa β to-
. ·""'..- bekannt |
' BAD
909804/0763
Jieso-Widerstandseffekt btstiohntt» wenn die Wideretandsänderung
duroh Aufbringen einer Spannung (Druck odtr Zug) herrorgerufen
wird·
fpln Beiepitl für ein BlRito-Wldtrttandeelenent ist dtr bekannte j
Dehnungsmessstreifen aue Metall, s*B* au· Platin, Gold oder einer
modernen Metallegierung* für die »eisten Metalle liegt die Poisson'sohe Zahl in der Größenordnung von 0,3 bis 0,45I
folglich liegt dtr geometrische Ausdruck ( 1 + 2ff) in dtr
Grölenordnung tob. 1,6 bis 1,9 » während dtr eigentliche Meßfaktor,
dlt SrUBt*, dtr „im Handel erhältlichen Dehnungsmei-«
ff - : ■ · ■ ..
streifen mahtsu 2 beträgt* Diese Tatsache drückt aus, dass '
dit geometrische Wirkung gegenüber der physikalischen innerhalb dt· Elasto-Widerstandseffektes in metallischen Werkstoffen
überwiegt· Sin Beispiel elastischer Deformation aus dem Gebiet
dt· Maschinenwesens odtr dtr Akustik genommen, liegt in dtr Grüßenordnung τοη 1 χ ίθ""5ι dit·· Deformation tat epr! ent einer
Widerstandsänderung von 2 z 10 J ptl tlntm Meßfaktor -v. « 2 ·
Bs wird deshalb τοη dem Meßgerät eine Empfindlichkeit gefordert,
dit ausreicht, tint Widerstandsänderung ansucelgtn, dit in derselben Größenordnung liegt wit dit Deformation* Hit anderen
Worten· metallische Meßetreifenfeisen eint gtringt Empfindlich«·
ktit auf, wenn sit für dit Umwandlung mechanischer odtr akustiaoher Kräfte in elektrische Werte benutet werden,Elasto·*
Widerstandselemente, die i.B, sur Messung einer Oberflächen··
Terformung tinte Materialteileβ angewendet werden* müssen der
Verformung des Materials, mit dem sie fest verbunden sind· folgen und sich ohne wesentlichen Verbrauch der auf das material
" BADORiQfMAL
909804/0 78 3
einwirkenden Kraft verformen· Um diese Bedingung zu erfüllen,
wird üblicherweise für Dehnungsmeßstreifen die Form eines dünnen Drahtes oder einer dünnen Folie gewählt«
Werkstoffe, die als Halbleiter bekannt sind (eingeschlossen
die Halbmetalle) zeigen einen außerordentlich großen physi«» kaiischen Effekt und haben daher den Vorteil der Empfindlich·»
keit· HalbleitexvElas^-Wi der Standeelemente können aus einem
Halbleitereinkristall hergestellt werden* Nach einem solchen Verfahren wird eine Scheibe kleinen Querschnitte aus einer
genau bestimmten Richtung aus einem Block herausgeschnitten« mit
einer Reihe von Einschnitten in der eben erwähnten Schnittrichtung versehen und schließlich so auf der Gegenseite der Einschnitte
abgeschliffen» dass das Material in Stäbchen geteilt
wird·
Es ist auch üblich, den Meßstreifen mit einer dünnen Isolierschicht zu verbinden, damit er nicht kurzgeschlossen wird,wenn
er auf leitendem Material angeordnet ist·
Oft ist auf verschiedenen technischen Gebieten die Frage gestellt worden, wie ein Elasto- Widerstandselement mit hoher
Empfindlichkeit zugleich auch auf einfache Weise herstellbar sei· Im allgemeinen stößt man auf ein wichtiges Problem bei
der Aufbringung halbleitenden Materials auf das Elasto-Widerstandsmlement·
Halbleiter sind meist spröde und daher ist die Herstellung äußerst dünner und kleiner Exemplare schwierig»
Daher hat das eben erwähnte Verfahren zur Herstellung dünner
Schichten ein technisches Problem zur Folge» das zu lösen.
909804/0763 1AD
Die Torliegende Erfindung hat Im we «entliehen die Lu sung .
dieses Probleme sum Inhalt, das dadurch gelöst wird, dass Slasto-WiderStandselemente durch Yakuumniederschlag eines
Halbleiters auf einer dünnen Isolierschicht hergestellt werden»
In an sich bekannter Weise werden die Elaste-Wideretandeelemen··
te aus einem Halbleitereinkristall in einer Sichtung herausgeschnitten, die einen maximalen Meßfaktor erwarten lässt» In
Übereinstimmung mit der Richtung der kri stenographischen
Orientierung ist der Elasto-Widerstaadskoeffizient, der durch
das Verhältnis der Seiländerung des Widerstandes su der Zugbeanspruchung definiert ist, durch eine Tensor-Grpfle gegeben* Der
entsprechende Piezo-Widerstandskoeffisient ist definiert durch
das Verhältnis der Teiländerung des Widerstandes sur Druckspannung» Unter vielen Hess-Anordnungen der Halbleiter-Elasto*·
Widerstaüdselemente ist eine, die die Beziehung swisohen dem
einachsigen Spannungszustand T9 dem Strom I und der
Spannung V in derselben Richtung wie die Rientungskesinusee
it m, η in Bezug auf die Kristallaohsen, betrifft» Man
nennt die Messung, bei der der Strom parallel sur eingeleiteten ' mechanischen Spannung verläuft, eine Längsmeseung» Tür kubische
Kristalle, wie z«B» Silizium, Germanium und zwischenmet aiii sehe
S" - T - Verbindungen ist der Piezo-Widerstandseffekt gegeben
durch ( d^/j„) /I -F11 + 2 ΓV, wobei ^11 und T* die
.Ton dem Sensor des Piezo^Widerstandskoeffizienten abgeleiteten
Größen sind»Γ ist die Ortsfunktion, gegeben durch
Γ* I2 m2 + m2 n2 + I2 n2. Wenn ZT* O ist und T11 und T»
dasselbe Vorzeichen besitzen, oder wennjlTy|>3 ITT11I ist»
- BAD ORIGINAL
809804/0763
beiil| «|ml .{ml «fi/3
dann weist der Effekt ein Maximum; d«h· entlang der
< 1 1 1 > Achsen auf· Pie meisten Halbleiter erfüllen die obige Bedingung
und der Maximaleffekt tritt auf, wenn die Belastung in der i1 1 1>
Richtung eingeleitet wird· Strom-und Spannungsmessung
können auch so vorgenonmen werden« daas der Strom und die eingeleitete
mechanische Spannung senkrecht sueinander stehen} man bezeichnet diese Messung als Quermesung» In diesem Fall
ist die durch die Beanspruchung hervorgerufene spezifische
Widerstandsänderung gegeben durch
12 irt ^8-8 S*nsorelement des Pieao-Widerstandskoeffiaienten
und fist die Ortsfunktion gegeben durch
ο
j^ μ I1 I2 + Ä1 m2 + nt n2
wobei die 1« » m. und n, die Richtungskosinusse für die
Stromrichtung in der einen Zahlenreihe und für die Belastungs—
richtung in der anderen sind· für isotrope Stauchung ζ leitet man die Besiehung ( -d f/f« )/x« 1I11 * 2 H12 ab·
Der Einsata von Halbleitern auf Elasto-Widerstandselementen
bei einer dieser Meßmethoden, für sich allein oder in Verbindung mit anderen, kann bei der Umwandlung eines mechanischen
oder akustischen ^eichene in ein entsprechendes elektrisches geschehen·
Im Torliegenden fall des Elasto-Widerstands-Elementes bleibt
man bei der Üblichen Herstellung eines großen Halbleiterein«·
kristalle und der Kristallaohsenbestimmung yo£ dem schon be*
sohriebenen Schneidvorgang,
SAD
909"5(K/07 6 3
U65112
Ein Zweck der Erfindung ist es, ein hoch empfindliche β
Elasto-Wlderstandselement su «chaffen, das einfach herstellbar
ist, und die erwähnten Nachteil· vermeidet* Ein anderer Zweck der Erfindung ist die Schaffung eines verbesserten hochempfindlichen Elasto-Widerstandselementes, bei
dem Halbleiter verwendet werden und sich dementsprechend der Torteil des großen physikalischen Effektes auf dem Mefifaktor
auswirkt·
Ein weiterer Zweck der Erfindung ist die Schaffung eines neuen Elf sto-WiderstaxLAselementes, das durch eine im Vakuum auf eine
Isolierschicht aufgebrachte Halbleiterschicht gebildet wird»
wobei das Geftige der Halbleiterschieht nicht aus einem Einkristall besteht, sondern von genau orientierter vielkristalliner
Beschaffenheit ist, um die weitere Isolierschicht wtgsulaseen,
die öfters in Patentansprüchen beansprucht wird· Ein susätslicher Anwendungssweck der im Takuum aufgebrachten
Schicht ist die Nutzbarmachung einer spezifischen vielkristallinen
Beschaffenheit der Schicht· Im üblichen Vakuum aufgebrachte Schichten wachsen gleichmässig auf einer amorphen Unterlage
mit einer strengen Orientierung und in äußerst kompakter
Schicht parallel but Trägerschicht·
Koch ein weiterer Zweck der Erfindung 1st die Sohaffung eines
sehr kleinen dünnen Elementes» das weder durch Schleif «· oder
Schneidverfahren herstellbar ist»
.,. .·..- , · :, .-.. . -,· ■■·„<. ...·■..·.■.'. figuren .· , ■"
Sie Erfindung ist in der Zeichnung in vier Atta&ittftgtm (?ig·
1 bie 4) uergestelit. *—" '; '"■"■ ■ : ' ' "'' : : ; ; ' " ; '.':· ' "
Fig· 1 zeigt zunächst ein· graphische Darstellung der Ortefunktion
Pin der<i1 1 1>
Ebene· Der Wert Γzeigt isotropen Charakter in der<>1 1 1>
Ebene des kubischen Kristalls» d.h.r« 0,25 für alle Richtungen der C1 1 1
> Ebene* Die kompakteste Schicht dieser kubischen Kristalle» die su der
Baumgruppe Xd gehören» wie Silizium» Germanium und intermetallisch« ITI - 7 Verbindungen» ist die <£1 1 1
> Ebene* Im Vakuum niedergeschlagene Schichten aus diesen Materialien
wachsen hauptsächlich in der <1 1 1> Ebene parallel zu der
Trägerschichtβ Infolgedeββen eeigt die nicht axiale Spannung,
die in paralleler Richtung zu der im Vakuum niedergeschlagenen Schicht eingeleitet wird»einen isotropen Effekt bei dem Piezo-Widerstandseffekt·
Wie schon erwähnt» tritt das/^-Maximum in
der H 1 1 "> Richtung auf» der Wert ist 0,33 * Obgleich die
<M 1 1> Richtung nicht in der <
1 1 1> Ebene inbegriffen ist, istFtlix dxc technische Zwecke genügend groß« Er ist tatsächlich
wesentlich größer als der Wert in Würfelaohsenriohtung» der
< 1,00 >Richtung mit Γ« 0 .
und
Fig· 3 ein Anwendungsbeispiel dar«
Fig. 4 ist ein Ersatzschaltbild» das die Wirkungsweise der
Fig. 4 ist ein Ersatzschaltbild» das die Wirkungsweise der
Die in Fig. 2 dargestellte bevorzugte Ausführungsform zeigt eine im Vakuum niedergeschlagene Schicht 3 und zwei daran
befestigte Elektroden 2 , an denen Leitungsdrähte 1 angebracht sind» durch die ein elektrischer Strom fließen kann«
909804/0763 IAD ORIGINAL
IXLe Form der Halbleiterschieht kann quadratisch, rechteckig
und rund sein» öder ziok-zack-oder wellenförmig mit bestimmter
- Breite· Die Elektroden können so angeordnet werden, dass ent·· weder der Längs-, Quer - oder eine andere Art von Piezo-Widerstandseffekt
aufgenommen werden kanu-· Bin Beispiel wird in
Pig, 3 als Schnitt in I - Y - Richtung τοη Pig, 2 gezeigt.Ee
- handelt sich dabei um die Messung einer mechanischen Bean spruchung,
die auf das Elaeto«Widerstandeelement aufgebracht
wird« Das Element besteht aus den Leitungsdrähten . 1, die an
jeder der Elektroden angebracht sind* und aus den im Vakuum
auf beiden Seiten eines Isolators 4 aufgebrachten Halbleiterschichten·
Ein Ende des Isolators ist bei 5 fest eingespannt und eine Kraft 6 greift an dem anderen freien Ende des Isolators
an* Auf diese Weise leitet die Kraft 6 eine Zugspannung 7 in die in der Figur obere Schicht und eine Druckspannung in
die untere Schicht ein. me Ausführung wie sie in Fig. 3 gezeigt
wird, kann z«S« zum Messen kleiner Kräfte dienen, die am
Ende des Messelementes wirken, sie bildet damit einen Umwandler für die praktische Anwendung*
j Fig, 4 zeigt ein Beispiel für die Schaltung eines Elasto-*Widerstandselementes,
wobei der Widerstand des Elementes durch die Einzelwiderstände 3* dargestellt ist« Es ist bekannt» dass
der Piezo-Widerstandseffekt der einwirkenden Beanspruchung in
ziemlich weitem Bereich proportional ist und dass bei einem Werkstoff, der eine Widerstandserhöhung bei Einwirken einer
»f Zugspannung zeigt, eine Widerstandeerniedrigung bei Druckspannung
zu beobachten ist· Wenn das Heizelement in der üb·* !'
909804/0763
lichen . Brüökensohaltung wie in Pig. 4 eingesetzt wird» kann
es das durch die Verformung hervorgerufene Gesamtzeichen verdoppeln
und ist dabei temperaturunabhängig· Sas llasto-Widerstandselement gemäss der Erfindung lcann z«S«
als Dehnungsmesser benutzt werden· Bei dieser Verwendung ist
das Hesselement, das aus einer dünnen Halbleiterschicht auf einer dünnen Isolierunterlage besteht, auf den Prüfkörper »
der der Belastung ausgesetzt ist, aufgeklebt· Der Widerstand des Messelementes ist abhängig von der mechanischen Belastung,
der der Prüfkörper bei der Untersuchung susgesetzt ist* Daher
kann das Slasto-Widerstandaelement als Dehungsmesser benutzt
werden* Es wird i.a. als Halbleiterdehnmeßstreifen (HXt-DMS)
bezeichnet«
Neben der beschriebenen statischen kann auch eine zeitlich veränderliche
Belastung auftreten· Das Elasto-Widerstandselement gemäss der Erfindung spricht auf Ultraschallschwingungen an·
das
kungBweise . geht hervor, dass/hochempfindliche Elasto-Wider*
Standselement gemäss der Erfindung äußerst einfach herstellbar ist und daraus Wandler für mechanische Formänderungen wirt sohaftlich
gebaut werden können und dass zahlreiche Modifikationen mit denselben Vorzügen möglich sind, die alle in ihrer
Art, Bedeutung und Umfang mit der vorliegenden Erfindung beabsichtigt sind«
909804/0763
Claims (1)
- 5112Patentansprüche ι1» Formänderungeabhängigee Widerstandselement auf Halbleiterbasis (EIa, sto-Wi der standee lement oder auch Halbleiterdehn«· aeSstreifen), dadurch gekennzeichnet, dass eine Igolier-■ohioht als Träger einer im Vakuum niedergeschlagenen Halb«» leiterschicht und zur Isolierung dieser Schicht von dem Werkstoff, auf dem des Element; angeordnet ist» dient» das» das Element aus einer im Vakuum niedergeschlagenen Schicht besteht, deren Widerstand formänderungsabhängig ist wie *·Β« der Widerstand der Halbleiter der kubischen Gruppe und der der Halbmetalle, dass Elektroden an der Halbleiterschicht angeschlossen sind, um dieser einen elektrischen Strom zusuleiten und um ein der Formänderung entsprechendes elasto*· oder piezoelektrisches ^eichen aufzunehmen, das longitudinal ler, transversaler oder hydrostatischer Art oder eine Kombination davon seih kann und der Zug-oder Druckbelastung am Element entspricht·2« Pormanderungsabhängiges Widerstandselement nach Anspruch 1 , bestehend aus einer Halbleiterschicht, die zunächst auf einer Trägerschicht niedergeschlagen und danach davon getrennt «orden ist.ORIGINAL JNSFECTEO909804/0763■■■ 3· Bruck-oder Zugbelaetungewandler, ein formänderungsabhängiges Wlderetandselement, wie in den Ansprüchen 1 und 2 beanaprucht, enthaltend·4· Anordnung der in den Ansprüchen 1 und 2 beanspruchten formänderungsabhängigen Widerstandeelemente in einer sur - Herabsetsung des Temperatureinflueeea und iur Erhöhung de· durch Druck-oder Zugbeanspruchung herrorg«ruf«nen Effekt·· . dienenden Schaltung·
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5340163 | 1963-10-04 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1465112A1 true DE1465112A1 (de) | 1969-01-23 |
Family
ID=12941789
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19641465112 Pending DE1465112A1 (de) | 1963-10-04 | 1964-10-02 | Im Vakuum niedergeschlagene Halbleiterschichten fuer Elasto-Widerstandselemente |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1465112A1 (de) |
GB (1) | GB1073347A (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2828607A1 (de) * | 1977-06-29 | 1979-01-04 | Tokyo Shibaura Electric Co | Halbleitervorrichtung |
DE2828605A1 (de) * | 1977-06-29 | 1979-01-04 | Tokyo Shibaura Electric Co | Halbleitervorrichtung |
DE2828606A1 (de) * | 1977-07-14 | 1979-01-18 | Tokyo Shibaura Electric Co | Halbleitervorrichtung |
FR2550885A1 (fr) * | 1983-08-18 | 1985-02-22 | Transamerica Delaval Inc | Perfectionnements aux procedes pour appliquer un materiau semi-conducteur sur un substrat |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DK1188170T3 (da) * | 1999-06-22 | 2004-09-27 | Peratech Ltd | Strukturer med variabel konduktans |
GB0113905D0 (en) | 2001-06-07 | 2001-08-01 | Peratech Ltd | Analytical device |
CN114141461B (zh) * | 2021-10-25 | 2022-08-05 | 深圳技术大学 | 基于飞秒激光的柔性电子器件制备方法及柔性应变传感器 |
-
1964
- 1964-10-02 DE DE19641465112 patent/DE1465112A1/de active Pending
- 1964-10-05 GB GB4052464A patent/GB1073347A/en not_active Expired
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2828607A1 (de) * | 1977-06-29 | 1979-01-04 | Tokyo Shibaura Electric Co | Halbleitervorrichtung |
DE2828605A1 (de) * | 1977-06-29 | 1979-01-04 | Tokyo Shibaura Electric Co | Halbleitervorrichtung |
DE2828606A1 (de) * | 1977-07-14 | 1979-01-18 | Tokyo Shibaura Electric Co | Halbleitervorrichtung |
FR2550885A1 (fr) * | 1983-08-18 | 1985-02-22 | Transamerica Delaval Inc | Perfectionnements aux procedes pour appliquer un materiau semi-conducteur sur un substrat |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1073347A (en) | 1967-06-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3590038C2 (de) | ||
EP0237598B1 (de) | Piezoresistives Kraftmesselement sowie dessen Verwendung zur Ermittlung von auf ein Bauteil einwirkenden Kräften | |
DE2828605B2 (de) | Halbleitervorrichtung | |
DE2429894B2 (de) | Polykristalliner monolithischer druckfuehler und verfahren zu seiner herstellung | |
DE2809549A1 (de) | Halbleiter-druckwandler | |
DE3432950C2 (de) | ||
DE69819193T2 (de) | Dehnungsmessstreifen und dessen anwendungen | |
DE1573942B1 (de) | Dehnungsmesselement aus halbleitermaterial mit piezoelektrischewiderstand | |
DE3784009T2 (de) | Brueckenschaltungsjustierverfahren fuer halbleiterdruckwandler. | |
DE1465112A1 (de) | Im Vakuum niedergeschlagene Halbleiterschichten fuer Elasto-Widerstandselemente | |
DE3874653T2 (de) | Si-kristall-kraftwandler. | |
DE1473442A1 (de) | Dehnungsmesser | |
DE2745182A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur ermittlung der biegesteifigkeit von biegsamen flaechengebilden | |
DE1698644A1 (de) | Wandler | |
DE1423978A1 (de) | Integriergeraet | |
DE102018206155A1 (de) | Solarzelle und photovoltaikmodul | |
DE3603449A1 (de) | Dehnungsmessstreifen mit einer duennen diskontinuierlichen metallschicht | |
DE10135923B4 (de) | Infrarotsensor | |
DE3742673A1 (de) | Mikro-spannungssensor | |
CH689924A5 (de) | Piezoelektrisches Messelement. | |
DE2820858A1 (de) | Gas-messfuehler | |
DE1904268U (de) | Spannungsmessbruecke aus metallfolie zur messung von belastungen in bauwerken od. dgl. | |
CH426308A (de) | Verfahren zum Messen mechanischer Kräfte oder Verschiebungen und Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens | |
DE4206174C2 (de) | Integrierter Sensor aus Silizium | |
DE3888118T2 (de) | Drucksensoren und Methode zum Messen des Drucks. |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
SH | Request for examination between 03.10.1968 and 22.04.1971 |