DE1423576A1 - Verfahren zur beruehrungslosen Breitenmessung bewegter bandfoermiger Messgueter - Google Patents

Description

• "Verfahren zur berührungslosen Breitenmessung bewegter bandförmiger Meßgüter." Die Erfindung bezieht sich auf ein Meßverfahren zur berührungslosen l3reiteninessung bewegter bandförmiger Meßgllter durch photaelektrische Ermittlung der relativen Lagen der Kanten, deren Helligkeit sich von der ihrer Umgebung merklich unterscheidet, wobei die relative Lage Jeder Kante getrennt durch vorzugsweise gleichartige Kanteruneliverfahren zweckmäßig in der Weise ermittelt wird daß die Kanten des Meßgutes auf photoelektrischen Empfänger@ abgebildet werden9 und daß durch Jeden photoelektrischen Empfänger in einem angeschlossenen elektrischen System durch periodisch erfolgende Unterbrechung oder Abtastung der Abbildung eine Impulsfolge init konstantem Abstand der Impulse hervorgerufen wird, derex zeitlicher Vergleich mit einer zweiten Impulefolge mit gleichem Abstand der Impulsfolge ein Maß für die Lage der Kanten des Meßgutes ist, nach DBP....(Patentanmeldung L 29 476, VIIId/21h/29/30) bei der die die Seiten des gute bestimmenden Meßkanten Uber je eine zugehörige Optik und einen rotierenden oder schwingenden Spiegel auf einem Photomultiplier zur Abbildung gebracht werden.
• Die Breitenmessung kann hierbei auf eine Phasenvergleichsmessung der von den beiden Photomultipliern gelieferten elektrischen Impulsflgen nur unter der Voraussetzung zurückgeführt werden, daß die beiden Spiegel mit völlig gleichbleibender Geschwindigkeit x) Es ist eine Vorrichtung zur berührungslosen Messung der Breiten, von Walzbändern bekannt,... bewegt werden Eine derartige Anordnung hat vor allen Dingen den Nachteil, daß die Genauigkeit der Messung abhängig ist von der Genauigkeit der Übereinstimmung der Drehgeschwindigkeit der Spiegel Ein weiterer Nachteil ist, daß die Bandbreitenmessung abhängig ist von dem unveränderbaren Erfassungsbereich der Optik der Meß einrichtung, so daß bei seitlichen Bewegungen des zu messenden Bandes aus seiner Mittellage9 genannt seitliches "Schwärmen" des Bandes, Uber den Erfassungsbereich der Optik hinaus eine fehler freie Breitenmessung versagt Weiter ist eine Vorrichtung zur berührunslosen Breitenmessung von Walzbändern'bekannt9 die ebenfalls -intensitätswahrnehmende Photozellen benutzt. Dabei wird nur dann ein fehlerfreies Maß fUr die Bandbreiten erhalten, wenn beide Photozollen genau lotrecht über Je einer Kante stehen0 Die vorgesehenen gleichsinnigen Ve. stelleinrichtungen der Photozellen zur Berücksichtigung der Brei tenänderung und die seitliche Verstellvorrichtung zur Beracksihtigung des seitlichen "Schwärmens" des Walzbandes haben dcn Nachteil, da3 die Geschwindigkeit der Nachstellung der Photosellen durch die Verstellvorrichtungen auf die lotrechte tage de Kanten begrenzt ist, so daß bei großen Bandgeschwindigkeiten mit entsprechend großen Geschwindigkeiten der Bandbreitenänderung sowie des "Bandschwärmens" fehlorhafte Meßergebnisse angezeigt werden Weitere Nachteile der erwähnten Breitenmeßvorrichtungen bestehen darin, daß die Meßfehler auf Grund von Temperaturänderungen des Meßbandes sowie auf Grund von Verschmutzungen der Optik gegenüber dem Meßergebnis unberücksichtigt bleiben.
• Die Nachteile und Mängel der bekannten Anordnungen werden nach der vorliegenden Erfindung zur Berührungslosen BReitenmessung bewegter bandförmiger MeßgUter vermieden Dieses Verfahren, das eine Weiterentwicklung des im Hauptpatent DBP....(Patentanmeldung L 29 476 VIIId/21h9 29/30) angegebenen Verfahrens darstellt, ißt dadurch gekennzeichnet9 daß die Impulafolgen, nach einer Regelung der Impulse auf gleiche oder nahezu gleiche Amplituden, bistabile Kippstufe steuern, an deren Ausgängen mit konstant gleichen Amplituden gebildete Rechteckimpulse entstehen, die derart miteinander verglichen werden, daß in Abhängigkeit vorn Erfassungsbereich der Abtastvorrichtung ein vom "Schwärmen" des Meßgutes unabhängiges Maß für die Meßgutbreite erhalten wird, Da bei selbatleuchtenden Meßgütern, beispielsweise glühenden Metallbändern, Temperaturschwankungen auftreten können, so daß das Meßgut unter der Abtastvorrichtung in. Abhängigkeit von den Temperaturschwankungen unterschiedliche Strahlungsintensitäten aufweist, entstehen während.des Meßvorganges an photoelektrisohen Empfängern Tmpulsiolgen unterschiedlicher Amplituden. Es ist daher eine an sich bekannte Regelung der Amplituden vorgesehen9 wodurch die den Eingängen der Kippstufen ugeführten photoelektrischen @mpulse einen außerhalb ihres Schwankungsbereiches liegenden gleichen und konstanten Wert erhalten, so daß die photoelektrischen Impulse beider Kantenabtaster konstant gleiche Flankensteilheit aufweisen. Hierduroh wird erreicht, daß die Einsatzstellen der Rechteckimpulse an den Anoden der Kippstufen sich stets genau entsprechen. Eine derartige Amplitudenregelung hat zugleich den Vorteil, daß eine verminderte Strahlungsintensität durch eine verschmutzte und/oder veränderte Optik keinen Einfluß Ruf da. Meßergebnis hat. Die auf einen außerhalb ihres SchwKnkungsbereiches geregelten photoelektrischen Impulsflgen und die zweite, beispielsweise magnetische Impulsfolge mit gleichen Abstand der Impulse, wie die photoeLektrischen Impulse steuern Je. eine bistabile Kippstufe, die nm Ausgang je einen Rechteckimpule liefert, wobei die LRgE der Impulsfolgen zueinander ein Mnß fUr die Lage der Kante ist. fa von Jeder Kante als Maß fUr die Lage ein Rechteckimpuls erzougt wird, werden beide Rechteckimpulse der Kanten zwecks Ermittlung der Meßgutbreite gegenphasig gegeneinander geschaltet, um beim "Schwärmen" des Moßgutes in Abhängigkeit vom Erfas.ungobereich der Abtastvorrichtung keine Differenz su messen. Bewegt sich das Band aus der MittellAge innerhalb des Erfassungsbereiches der Abtastvorrichtung um einen bestimmten Betrag heraus, so wird auf dem einen Kantenabtaster der Abtast-Vorrichtung um einen bestimmten Winkel früher und auf dem anderen kantenabtaster der Abtasi;vorrichtung um einen gleichen Winkel später die Kante abgebildet, sofern bei symmetrischer Anordnung der Kantenabtaster die Polygonspiegel zueinander gegensinnig laufen und die Bandbreite sich nicht geändert hat. Der besondere Vorteil der erfindungsgemäßen Anwendung der an sich bekannten Phasenvergleichsmessung besteht darin, daß zwei unabhängige Impulsfolgen mit gleichen lmd konstantem Abstand ihrer Impulse gebildet werden, von denen eine beispielsweise magnetische Impulsfolge in ihrer Phase festliegende Bezugsimpulse liefert.
• Da lediglich der seitliche Vergleich der photoelektriach gebildeten Impulse au den Besugsimpulsen eine Größe für die Lage einon Neßortes ergibt, gehen die Geschwindigkeiten, mit denen die Polygonspiegel der Kantenabtaster über den Meßkanten gedreht werden, in den seitlohen Vergleich der Impulsfolgen nicht ein.
• Die Polygonspiegel kannen daher mit gleicher oder voneinander abweichender Umdrehungsgeschwindigkeit laufen, ohne das Meßergobnis au beeinflussen. Eine fehlerfreie Messung der Meßgutbreiten wird nur dann orniiolt, wenn die Empfindlichkeiten der Kippntufen übereinstimmen. Während die Phasenverschiebung für beide Kantenabtaster durch die gleichartigen optischen Systeme festliegt, ergibt sich die Amplitude den Rechtockimpulses aus der Betriebsspannung der Kippstufe, vermindert um die Restspannung. Um den Einfluß der Restspannungen beider Kippstufen auf die Amplituden und damit auf die Empfindlichkeit der Oesamtmeßanordnung zu vermeiden, wird an dio Anoden der bistabilen Kippstufen sur Bildung konstanter und gleicher Amplituden UbAr diesem Zweok entsprechend ausgebildete und geschaltete Dioden eine gemeinsame Spannungequelle gelegt. Auf diese Weise wird trots unterschiedlicher Restapannung durch beispielsweise Alterung, Temperaturänderung und Auswechseln von Bauelementen der Kippotufen eine konstant gleiche Amplitudenbegrenzung der Rechteckimpulse bewirkt.
• Nach des Meßverfahren gemäß der Erfindung iet die Breitenmeasung in Abhängtgkeit vom Erfassungsbereich der Abtastvorrichtung vom seitlichen "Schwärmen" de Meßgutes unabhängig. Anderersdite ist eine genaue Breitenmessung nur innerhalb des Erfassungsbereiches der Abtastvorrichtung möglich. Der Erfassungsbereich der Abtast-Vorrichtung setzt eich aus dem statischen und dem dynamischen Erfassungsbereich zusammen. Der statische Erfassungsbereich der Abtastvorrichtung ist durch die Optik der Kantenabtaster gegeben und wird durch die gestellten Anforderungen an die Meßgenauigkeit der Breitenmessung bestimmt. Der zur Abbildung der Kraton nötige Meßbereich erstreckt sich nur nut einen kloinen Teil dor gesamten Ereite des Megutes, der umso kleiner zu wählen ist, Je größer die geforderte Meßgenauigkeit ist, Der dynamische Erfassungsbereich besteht aus einer Regelsorrlchtung, die die Abtastvorrichtung beidseitig derart verstellt, daß wenigstens eine Meßkante stete innerhalb des atntischen Erfassungsbereiches liegt. Damit wird erreicht, daß der gesamte Erfassungsbereich durch selbsttätieee Verstellen der Abtnstvorrichtung nnch dem eoitllchen "Schwä men" des Meßgutes sowie in Abhängigkeit von der geforderten Meßgenauigkeit durch Verstellen und/odor Ändern ihrer Optiken geändert wird. Dabei kann die M@tastvorrichtung in Abhängigkeit vom "Schwärmen" des Bandes beidseitig derart selbsttätig verstellt worden, daß die Mittellinie der Abtastvorrichtung der Mittel@ n:!.e des Meßgutes folgt, eo daß beide Meßkanten stets innerhalb des statischen Erfassungebereiches der entsprechenden Kantenabtaster liegen Bei einer weiteren möglichen Ausführungsform des Meßverfahrens wird die Abtastvorrichtung in Abhängigkeit vom Schwärmen des Meßbande. beidseitig derart selbsttätig verstellt, daß wenigstens ein Kantensbtaster der Abtastvorrichtung dem Lot Uber einer Kante folgt, so dnfl eine Meßkante oteto innerhalb des statischen Erfassungsbereiches eines Kantenabtasters liegt. Die STellgröße zum selbsttätigen Verstellen der Abtastvorrichtung nach der Mittellinie des Bandes sowie nach dem Lot Uber einer Kante wird dadurch erhalten, daß die Rachteckimpulse nn den Ausgängen beider Kippetufen gleichphasig gegeneinander geschaltet werden Bei einer dritten möglieshen Ausführungsform des Verfahrens wird die Abtastvorrichtung in der Weise selbsttätig verstellt, daß wenigstens ein Kantenabtaster der Abtastvorrichtung sich stets lotrecht Uber einer Kante des Me0gutes befindet, so daß die entsprechenden Kippimpulse des sich lotrecht Uber der Meßkante befindenden Kantenabtasters die Stellgröße zum selbsttätigen Verstellen der Abtaetvorrlehtung liefert, während die entsprechenden Kippimpulse der anderen Abtastvorrichtung aln Maß fUr die Breltenmeasung dienen. Dadurch wird erreicht, daß die eine bistabile Kippstufe ein Ma für die Breite ergibt, während die andere Kippstufe die Stellgröße liefert, so daß ein Gegeneinandorechalten der Kippimpulse entfällt und die Meßanordnung unabhängig von den Empfindlichkeiten der beiden Kippstufen wird. Eine derartige vereinfachte Meßanordnung gegenüber den erfindungsgemäßen Meßanordnungen, die die Abtastvorrichtung in der Weise verstellen, daß wenigsten ein. Meßkante sich stets innerhalb des statischen Erfassungsbereiches der Abtastvorrichtung befindet, wird mit r Vorteil nur dann ausgeführt, wenn die Geschwindigkeiten der Breitenänderung und die Geschwindigkeit des "Schwärmens" des beweg. ten Bandes das versögerungsfreie Regeln wenistens eines Kantenabtasters lotrecht über eine Meßkante erlauben.
• Ein bewegtes bandfnrmiges Meßgut schwärmt nicht nur aus seiner vorgeschriebenen Mittellage seitlich nach beiden Seiten aus, sonder. es hebt sich besonders bei Meßgütern mit geringer Stärke ungleichförmig von seiner Unterlage ab, Bo daß das Meßgut unter der Abtastvorrichtung nicht immer parallel zu ihr läuft. Da bei einer Schräglage des Meßgutes zur Abtastvorrichtung aber nur die Breite der Projektion des Meßgutes auf seiner Unterlage gemessen wird, sind erfindungsgemäß zusätzlich zur Breitenmessung gleichartige Abtastvorrichtungen vorgesehen, die zeitlich gegenüber Jede Meßkante angeordnet sind und in analoger Weise wie die Abtastvorrichtung für die Breitenmessung die analogon Spannungen de@ Abhebene des Meßgutes von seiner Unterlage bilden und als torrekturgrößen dem analogen Breitenmeßwert aufsohalten0 Eine tehlerhatte Messung der Breite selbstleuchtender, beispielsweise glühender Metallbänder, kann weiterhin dadurch erfolgen, daß die Temperatur selbstleuchtender Meßgüter im Bereich der Abtastvorrichtungen Schwankungen unterliegen kann. Infolgedessen ist nicht nur die unterschiedliche Strahlungsintensität durch die eingengs beschriebene erfindungsgemäße Anordnung su berücksichtigen, sondern zusätzlich die temperaturabhängige lineare Ausdehnung oder Schrumpfung des Meßgutes. Es ergibt sich somit ein um die variabl Ausdehnung oder Schrumpfung verändertes Breitenmaß. Zusätzlich zw Breitenmeßvorrichtung ist daher gemäß weiterer Erfindung eine weitere Meßvorrichtung vorgesehen, die beispielsweise im Wesentlichen aus einem der Temperaturänderung proportional verstellbaren Potentiometer besteht. Das Produkt aus dem an dem Potentiometer abgegriffenen Spannungswert und dem analogen Spannungswert der meßgutbreite ergibt eine analoge Spannungsgröße der variablen Ausdehnung oder Schrumpfung im Meßbereich der Abtastvorrichtung, die als Korrekturgröße dem Breitenmeßwert aufgeschaltet wird0 Da bei selbstleuchtenden glühenden Meßgütern häufig nicht die Sollbreite des Meßgutes im warmen Zustand interessiert, wie sie durch die Abtastvorrichtung gemessen wird, sondern das Maß bei Raumtemperatur oder das für die Weiterverarbeitung des Meßgutes in Betracht kommende Maß wird zweckmäßig durch Einstellen der Abtastvorrichtung beispielsweise auf das Maß der Sollbreite des Meßgutes im erkalteten Zustand, die Abtastvorrichtung auf das um die Temperaturdifferenz entsprechend größere Maß der Sollbreite des Meßgutes im warmen Zustand mit der in der Meßvorrichtung vorherrschenden Temperatur vor Einlaufen des zu messenden Gutes eingestellt, Mögliche Ausführungsformen einer derartigen Verstellvorrichtung bestehen darin daß in die Mechanik der Verstelvorrichtung9 d.h. in das Verstellgetriebe oder in die Steigung einer Spindelwindung der konstante Schrumpfwert eingereicht wird. Die vor Einlaufen des Meßgutes- auf ihre Sollbreite eingestellte Abtastvorrichtung wird beim Einlaufen des Meßgutes in die Meßvorrichtung mittels geeigneter Kontaktgeber eingeschaltet.
• Nachfolgend wird das Meßverfahren im einzelnen beschrieben und an Hand der in zwei Figuren schematisch dargestelten Schaltungsbeispiele in seiner Anordnung und Wirkungsweise näher erläutert.
• Fig. 1 zeigt eine Schaltungsanordnung zur Ausübung des Meßverfahrens mit der Abtastvorrichtung für die Breitenmessung.
• Fig, 2 zeigt eine Sohaltskizze zwei bistabiler Kippstufen.
• Nach Fig. 1 werden über den Sollwertgeber 29 die gleichertigen Kantenabtaster 2 und 3 der Abtastvorrichtung 31 durch den Stellmotor 90 auf das Maß der Sollbreite des Meßgutes im warmen Zustand eingestellt. Beim Einlaufen des Meßgutes 1 in die Meßvorrichtung wird mittels in der Fig. 1 nicht eingezeichneter Kontakt@ geber die Meßvorrichtung einges@haltet. Über die zueinander gegen sinnig laufenden Polygonspiegel 4 und 5 der gleichartigen Kantenabtaster 2 und 3 wird über die Optiken 10 und 11 Je ein Bild der Meßkanten auf die entsprechenden photoelektrischen Empfänger 6 un@ 7 geworfen7 Die auf konstant gleiche Amplituden geregelten Licht impulse der photoelektrischen Empfänger 6 und 7 werden über die Kanäle 12 und 13-auf die Eingänge der bistabilen Kippstufen 16 und 17 gegeben, während die Magnetimpulse der Magneten 8 und 9 über die Kanäle 14 und 15 auf die anderen Eingänge der bistabilen Kippatufen 16 und 17 gegeben werden.
• Uber die Diode 21 und den Tiefpaß 18 sowie über die Diode 22 und den Tiefpaß 19 werden die zueinander gegenphasig gebildeten Recht @okimpulse der bistabilen Kippstufen 16 und 17 in einem Differenz verstärker 24 gegeneinander geschaltet. Dem Differenzverstärker 24 werden die analogen Spannungen des Abhebens des Meßgutee 1 von seiner Unterlage aufgeschaltet, die durch gleichartige Abtastvorrichtungen wie sie zur Breitenmessung benutzt werden - in der Fig. 1 durch Blook 27 angegeben - gebuildet werden und seitlich gegentiber Jeder Meßkante des Meßgutes angeordnet sind.
• Außerdem werden des Differenzverstärker 24 die analogen Spannungsgrößen der variablen Ausdehnung oder Schrumpfung als Produtte 4 # T T . bX der an dem Potentiometer 26 abgegriffenen analogen Spannungswerte Cer Temperaturänderungen #T und der analogen Spannungewerte der Bandbreiten bx aufgeschaltet. In der Ansseige 28 wird ein von der Temperatur und dem Abheben des Bandes korrigiertee Meßergebnis erhalten. Über die Diode 23 und den Tiefpaß 20 sowie Uber die Diode 22 und den Tiefpaß 19 werden die zueinander gleiohphasig gebildeten Rechteckimpulse der bistabilen Kippstufen 16 und 17 in einem Differenzverstärker 25 gleichphasig gegeneinander geschaltet. Die im Differenzverstärker 25 gebildeten Spannungen werden als Regelgröße dem Stellmotor 32 zugeführt, der die Abtastvorrichtung 31 bei seitlichem Schwärmen des Megutes 1 nach seiner Mittellinie oder nach dem Lot über einer Meßkante derart verstellt, daß wenigstens eine Meßkante sich stets innerhalb des gestrichelt eingezeichneten Erfassungsbeiches der Optiken 10 unk/oder 11 oder genau senkrecht zu den Optiken 10 und/oder 11 befindet. liga 2 zeigt das Ausführungsbeispiel einer Phasenvergleichsschaltung mittels zweier bistabiler Kippstufen 16 und 17. An der Eingangsklemme 68 werden die photoelektrischen Lichtimpulse der einen Meßkante aufgegeben, welche dem durch der Widerstand 53 vorgeschalteten Gitter der Rohre 72 zugeführt werden. Die Röhre 7@. ist über dem gemeinsa;en Kathodenwiderstand 45 mit einer zweiten Röhre 73 verbunden, deren Gitter über die zweite Eingangsklemme 70 der bistabilen Kippstufe 17 und dem Gittervorwiderstand 54 die entsprechenden magnetischen Impulse zugeführt werde Mit Hilfe einer Rückkopplung über die Widerstände 47 und 48, welche weehselweise von der Anode b der Röhre 73 zum Gitter der Röhre 72 und von der Anode a der Röhre 72 zuin Gitter der Röhre 73 geschaltet sind, entstehen in an sich bekannter Weise an den Anoden a und b Rechteckimpulse. Über die Widerstände 41 und 42 ist die Kippstufe 17 an der Betriebsspannungsquelle 62 angeschlossen, die gleichzeitig die Betriebsspannung für die Röhreh 74 und 75 über die Widerstände 43 und 44 einer gleichartigen bistabilen Kippstufe 16 liefert. In dieser Kippstufe 16 werden an der Eingange klemme 69 die photoelektrischen Lichtimpulse der anderen Meßkante aufgegeben, welche dem durch den Widerstand 51 vorgeschalteten Gitter der Röhre 74 zugeführt werden, Die Röhre 74 ist über den gemeinsamen Kathodenwiderstand 46 mit einer zweiten Röhre 75 verbunden, deren Gitter ueber die zweite Eingangsklemme 71 der bistabilen Kippstufe 16 und dem Gittervorwiderstand 62 entspreohenden magnetischen Impulsen zugeführt werden0 Mit Hilfe der Rüokkopplung Uber die Widerstände 49 und 50, welche wenhselweise von der Anode b' der Röhre 75 zum Gitter der Röhre 74 und von der Anode a' der Röhre 74 zum Gitter der Röhre 75 geschaltet sind, entstehen gleichfalls gn eo eioh bekannter Weise an den Anoden a' und b' Rechteckimpulse. Dabei sind die Rechteckimpulse ale Kennzeichen für die Lage der Kanten an den sich entsprechenden Anoden a unda' bzw. b und b' der bistabilen Kippstufen 16 und 17 zueinander gleichphasig bo an den Anoden b und s' bzw. a und b' zueinander gegenphasig. Durch gegenphaeiges Gegeneinanderschalten der Rechteckimpulse beispielsweise an den Anoden b und a' wird über Tiefpässe 18 und 19 an dem Anzeigegerät 67 ein analoger Wert fUr den Abstand der Kanten voneinander, d.h. von der Breite des Meßgutes, angezeigt, während durch gleichphasiges Gegeneinander schalten der Rechteckimpulse beispielsweise an den Anoden b und b' über die Tiefpässe 18 und 20 an dem Anzeigeg@rät 66 eine Regel. größe zum Verstellen der Abtastvorrichtung nach dem Schwärmen des Bandes angezeigt wird Um an den Anoden der Kippstufen vergleichbare Reohteckimpulse mit konstant gleichen Amplituden zu erhalten, ist in der beispielsweisen Ausführung an die Ausgänge b, a' und b' der Kippstufen 16 und 17 über die Dioden 219 22 und 23 und die Vorwiderstände 58, 59 und 60 eine gemeinsame Spannungsquelle 61 gelegt.
• Patentansprüche:

Claims (1)

1. P a t e n t a n s p r ü c h e : 1.) Verfahren zur berührungslosen Breitenmessung bewegter band förmiger Meßgüter durch photoelektrische Ermittlung der relativen Lagen der Kanten, deren Helligkeit sich von der ihrer Umgebung merklich unterscheidet, wobei die relative Lage jeder Kante getrennt durch vorzugsweise gleichartige Kanten meßverfahren zweckmäßig in der Weise ermittelt wird, daß die Kanten des Meßgutes auf photoelektrischen Empfängern abgebil det werden, und daß durch jeden photoelektrischen Empfänger in einem angeschlossenen elektrischen System durch periodisch erfolgende Unterbrechung oder Abtastung der Abbildung eine Impulsfolge mit konstantem Abstand der Impulse hervorgerufen wird, deren seitlicher Vergleich mit einer zweiten lmpulsfolge mit gleichem Abstand der Impulsfolge ein Maß für die Lage der Kanten des Meßgutes istp nach DBP.

   (Patentanmeldung L 29 476, VIIId/21h, 29/30), dadurch gekennzeichnet, daß die Impulafolgen nach einer Regelung der Impulse auf gleiche oder nahezu gleiche Amplituden bistabile Kippt stufen(16) und (17) steuern, an deren Ausgängen (b, a' und b') mit gleichen und konstanten Amplituden gebildete Rechteckimpulse entstehen, die derart miteinander verglichen werden, daß in Abhängigkeit vom Erfassungshereich der Abtastvorrichtung (31) ein vom "Schwärmen" des Meßgutes (1) unabhängiges Maß fUr die Meßgutbreite erhalten wird, 2.) Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Amplituden der den Eingängen (68 und 69) der Kippstufen (16 und 17) zugeführten photoelektrischen Impulse in der Art geregelt werden, daß die Impulse einen außerhalb ihres Schwankungsbereiches liegenden gleichen und konstanten Wert erhalten.

   3e) Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Anoden (b, a und b') der bistabilen Kippstufen (16 und 17) ntr Bildung konstanter und gleicher Amplituden über diesen Zweck entsprechend ausgebildete und geschaltete Dioden (21, 22 und 23) an eine gemeinsame Spannungsquelle (61) geschaltat werden.

   4.) Verfahren nach Anspruch X, dadurch gekennzeichnet, daß die an den Ausgängen (b und a') der Kippstufen (16 und 17) entstehenden Rechteckimpulse zwecks Ermittlung der Meßgutbreiten gegenphasig gegeneinander geschaltet werden.

   5.) Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Erfassungsbereich der Abtastvorrichtung (31) naoh dem Schwär-Sen des Meßgutes (1) sowie in Abhängigkeit von der geforderten Meßgensuigkeit durch Verstellen und/oder andern ihrer Optiken (10 und 11) geändert wird 6.) Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 5, dadurch gekennstiohnet, daß die Abtastvorrichtung (31) in Abhängigkeit vom Impulsfolgenvergleich beidseitig derart selbsttätig verstellt wird, daß die Mittellinie der Abtastvorrichtung (31) der Mittellinie des Meßgutes (1) folgt.

   7e) Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Abtastvorrichtung (31) in Abhängigkeit vom Impuls folgenvergleich beidseitig derart selbsttätig verstellt wird, daß wenigstens ein Kantenabtaster (2 oder 3) der Abtsetvorrichtung (31) aem Lot über einer Kante folgt.

   80) Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 59 dadurch gekennzeichnet, daß die Abtastvorrichtung (31) in Abhängigkeit von den Impulsfolgen beidseitig derart selbsttätig verstellt wird, daß wenigsten@ ein Kantenabtaster (2 oder 3) der Abtastvorrichtung (31) sich stets lotrecht Uber einer Kante des Meßgutes betinaet, 9.) Verfahren noch den Ansprüchen 1 und 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, daß an den Ausgängen (b und b') der bistabilen Kippstufen (16 und 17) entstehende Rechteckimpulse zwecks Ermittlung der Stellgröße zum selbsttätigen Verstellen der Abtastvorrichtung (31) gleichphasig gegeneinander geschaltet worden lOo) Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 8, dadurch gekennzeichnet, daß die entsprechenden Kippimpulse des sich lotreoht über der Meßkante befindenden Kantenabtesters (2 oder 3) die Regelgröße au. selbsttätigen Verstellen der Abtastvorrichtung (31) liefert, während die entsprechenden Kippimpulse des anderen Kantensbtasters (2 oder 3) als Maß für die Breitenmessung dienen.

   11.) Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zusätzlich zur Breitenmessung gleichartige Abtastvorrichtungen vorgesehen nind, die dem Abheben des Meßgutes von seiner Unterlage enaloge Spannungen bilden und als Korrekturgrößen dem annlogen Ersitenmeßwert aufgeschaltet werden.

   12.) Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zusätzlich sur Breitenmessung eine Meßeinrichtung vorgesehen ist, die der variablen Ausdehnung oder variablen Schrumpfung in Abhängigkeit von der Temperaturänderung (4 T) des Meßgutes (1) im Meßbereich der Abtastvorrichtung (31) analoge Spannungen bildet und daß diese als Korrekturgrößen dem Breitenmeßwert aufgeschaltet werden.

   13 o) Verfahren nach Anepruoh 1, dadurch gekennzeichnet daß durch Einstellen der Abtastvorrichtung (3) auf das Maß der Sollbreite des Meßgutes im erkalteten Zustand die Abtastvorrichtung (31) auf das um die Temperaturdifferenz entsprechende größere Maß der Sollbreite des Meßgutes im warmen Zustand mit der in der Meßvorrichtung herrschenden Temperatur vor Einlaufen des su messenden Gutes (1) eingestellt wird.

   14.) Verfahren nach den Ansprüchen 1 und " 139 dadurch gekennzeichnet, daß beia Einlaufen des Meßgutes in die Abtastvorrichtung mittels geeigneter Kontaktgeber die Abtastvorrichtung (31) eingeschaltet wird.

   15.) Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur Abtastung der Impulse Polygonspiegel (4 und 5) vorgesehen sind, die zueinander gegensinnig laufen 16.) Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 15, dadurch gekennzeichnet, daß die Polygonspiegel e4 und 5) der Abtastvorrichtung (31) mit voneinander abweichenden Umdrehungsgeschwindigkeite@ laufen