DE102007024992A1 - Micro force sensor, especially for CMM and AFM applications - Google Patents

Micro force sensor, especially for CMM and AFM applications Download PDF

Info

Publication number
DE102007024992A1
DE102007024992A1 DE102007024992A DE102007024992A DE102007024992A1 DE 102007024992 A1 DE102007024992 A1 DE 102007024992A1 DE 102007024992 A DE102007024992 A DE 102007024992A DE 102007024992 A DE102007024992 A DE 102007024992A DE 102007024992 A1 DE102007024992 A1 DE 102007024992A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
force sensor
sensor according
rod
micro force
micro
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE102007024992A
Other languages
German (de)
Inventor
Rafael Wierzbicki
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NASCATEC GmbH
Original Assignee
NASCATEC GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NASCATEC GmbH filed Critical NASCATEC GmbH
Priority to DE102007024992A priority Critical patent/DE102007024992A1/en
Priority to PCT/DE2008/000887 priority patent/WO2008145103A1/en
Publication of DE102007024992A1 publication Critical patent/DE102007024992A1/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q20/00Monitoring the movement or position of the probe
    • G01Q20/04Self-detecting probes, i.e. wherein the probe itself generates a signal representative of its position, e.g. piezoelectric gauge
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q60/00Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
    • G01Q60/24AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
    • G01Q60/38Probes, their manufacture, or their related instrumentation, e.g. holders

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Force Measurement Appropriate To Specific Purposes (AREA)

Abstract

Es wird ein Mikrokraftsensor (18) mit drei Freiheitsgraden beschrieben, der ein Halteelement (19) und einen geraden Stab (21) mit einem der Messung dienenden Vorderende (21a) aufweist, der mit zwei Paaren von quer zum Stab (21) erstreckten und federnd ausgebildeten Tragbalken (24 bis 27) derart am Halteelement (19) aufgehängt ist, dass sein Vorderende (21a) in drei Richtungen (x, y, z) verschiebbar ist. Jeder Tragbalken (24 bis 27) ist nach Art einer U-förmigen Feder ausgebildet und weist je ein fest mit dem Halteelement (19) und ein fest mit dem Stab (21) verbundenes Ende auf (Fig. 3c).A three-degree-of-freedom micro-force sensor (18) is described, comprising a support member (19) and a straight rod (21) having a sensing front end (21a) extending with two pairs of transverse to the rod (21) and resilient formed support beam (24 to 27) is suspended on the holding element (19) such that its front end (21a) in three directions (x, y, z) is displaceable. Each support beam (24 to 27) is designed in the manner of a U-shaped spring and each has a fixed to the holding element (19) and a fixed to the rod (21) connected end (Fig. 3c).

Description

Die Erfindung betrifft einen Mikrokraftsensor, der insbesondere für CMM- und AFM-Anwendungen geeignet ist und einen Stab mit einem in drei Richtungen bewegbaren, als Messorgan dienenden Vorderende aufweist.The The invention relates to a micro force sensor, in particular for CMM and AFM applications is suitable and a rod with a in has three directions movable, serving as a measuring element front end.

Zur Lokalisierung und Messung geometrischer Punkte an Bauteilen und allgemein zur Ermittlung der Konturen von Bauteiloberflächen werden in der Maschinenbautechnik und insbesondere im Automobilbau sog. CMM-Messeinrichtungen (CMM = Coordinate Measuring Machines) verwendet. Für viele Anwendungszwecke sind CMM-Messeinrichtungen ausreichend, die Genauigkeiten von 100 nm ermöglichende Messsonden aufweisen, die im Rahmen der vorliegenden Anmeldung auch als Mikrokraftsensoren oder allgemein als Kraftsensoren bezeichnet werden. Für Eichzwecke und andere Anwendungen werden allerdings Genauigkeiten von 10 nm bis 20 nm gefordert.to Localization and measurement of geometric points on components and generally for determining the contours of component surfaces are used in mechanical engineering and especially in automotive engineering so-called CMM measuring devices (CMM = Coordinate Measuring Machines) used. For many applications are CMM measuring devices sufficient to allow the accuracies of 100 nm Measuring probes, which in the context of the present application also as micro force sensors or generally referred to as force sensors become. For calibration purposes and other applications, however Accuracies of 10 nm to 20 nm required.

CMM-Mikrokraftsensoren für Messungen im Mikro- und Nanobereich werden in der Regel in Hybridtechnik aus Silizium und Stahl hergestellt. Sie ermöglichen zwar grundsätzlich Messungen mit drei Freiheitsgraden bzw. in drei Dimensionen (meistens entsprechend den x-, y- und z-Achsen von rechtwinkligen kartesischen Koordinatensystemen), doch werden vergleichsweise hohe Steifigkeiten (geringe mechanische Empfindlichkeiten) im Bereich von einigen 100 Newton pro Meter und geringe Eigenfrequenzen von z. B. etwa 100 Hz erhalten. Nachteilig an derartigen Sonden ist außerdem, dass ausreichend genaue Messungen nur in einer oder zwei Richtungen (1D- bzw. 2D-Messungen) möglich sind, während bei 3D-Messungen zumindest in einer Richtung eine wesentlich geringere Genauigkeit erzielt wird. Das ist eine Folge davon, dass das Verhältnis der Empfindlichkeiten in den drei Richtungen zueinander (nachfolgend kurz als Empfindlichkeitsverhältnis bezeichnet) etwa 1:1:4 bis 1:1:30 beträgt. Das ist unerwünscht, weil Präzisionsmessungen ein Empfindlichkeitsverhältnis von nahezu 1:1:1 voraussetzen.CMM micro-force sensors For measurements in the micro and nano range are usually manufactured in hybrid technology from silicon and steel. they allow Although in principle measurements with three degrees of freedom or in three dimensions (mostly according to the x, y and z axes rectangular Cartesian coordinate systems), but will be comparatively high stiffnesses (low mechanical sensitivities) in the range of a few 100 Newton per meter and low natural frequencies of z. B. about 100 Hz. A disadvantage of such probes Moreover, that sufficiently accurate measurements only in one or two directions (1D or 2D measurements) are possible, while in 3D measurements at least in one direction a much lower accuracy is achieved. That's a consequence that the ratio of the sensitivities in the three directions to each other (hereinafter abbreviated as the sensitivity ratio is about 1: 1: 4 to 1: 1: 30. That's undesirable because precision measurements have a sensitivity ratio of nearly 1: 1: 1 presuppose.

Dagegen weisen AFM-Messeinrichtungen (AFM = Atomic Force Microscopy) jeweils eine Messsonde bzw. einen Mikrokraftsensor in Form eines einseitig eingespannten Biegebalkens (Cantilever) auf (z. B. DE 103 07 561 A1 ), der an seinem der Messung dienendem Vorderende mit einer feinen Spitze versehen ist, die einen Krümmungsradius bis herab zu etwa 10 nm haben kann. Eine derartige AFM-Messeinrichtung kann im Prinzip für dieselben Zwecke wie eine CMM-Messeinrichtung verwendet werden, da die Cantileverspitze beim Abtasten einer Bauteiloberfläche deren Kontur folgt. Die sich dabei ergebenden Biegezustände des Biegebalkens liefern Informationen, aus denen das Oberflächenprofil errechnet werden kann. Mikrokraftsensoren für AFM-Zwecke werden unter Anwendung verschiedener Ätztechniken meistens aus einem Siliziumsubstrat hergestellt. Sie zeichnen sich durch eine geringe Steifigkeit (hohe mechanische Empfindlichkeit), eine hohe, große Abtastgeschwindigkeiten ermöglichende Eigenfrequenz von z. B. 1 kHz und wegen der scharfen Spitze ein hohes Auflösungsvermögen auf. Ihr Nachteil besteht jedoch darin, dass sie nur für 2D-Messungen geeignet sind. Wegen der Steifigkeit des Biegebalkens in wenigstens einer Dimension lassen sich einerseits keine Empfindlichkeitsverhältnisse von etwa 1:1:1 realisieren. Andererseits besteht bei 3D-Messungen die Gefahr, dass der Biegebalken bricht und der Kraftsensor dadurch unbrauchbar wird.In contrast, AFM measuring devices (AFM = Atomic Force Microscopy) each have a measuring probe or a micro force sensor in the form of a cantilever clamped on one side (cantilever) (eg. DE 103 07 561 A1 ) provided at its measuring front end with a fine tip, which may have a radius of curvature down to about 10 nm. Such an AFM measuring device can in principle be used for the same purposes as a CMM measuring device, since the cantilever tip follows its contour when scanning a component surface. The resulting bending states of the bending beam provide information from which the surface profile can be calculated. Micro force sensors for AFM purposes are usually made from a silicon substrate using various etching techniques. They are characterized by a low rigidity (high mechanical sensitivity), a high, large sampling speeds enabling natural frequency of z. B. 1 kHz and because of the sharp tip on a high resolution. Their disadvantage, however, is that they are only suitable for 2D measurements. On account of the rigidity of the bending beam in at least one dimension, on the one hand no sensitivity ratios of approximately 1: 1: 1 can be realized. On the other hand there is a risk in 3D measurements that the bending beam breaks and the force sensor becomes unusable as a result.

Ausgehend davon liegt der Erfindung das technische Problem zugrunde, einen insbesondere für CMM- und AFM-Messungen geeigneten Mikrokraftsensor zu schaffen, der in allen drei Dimensionen eine hohe Empfindlichkeit besitzt, mit einem Empfind lichkeitsverhältnis von nahezu 1:1:1 herstellbar ist und eine hohe Eigenfrequenz besitzt.outgoing thereof, the invention is based on the technical problem, a especially for CMM and AFM measurements suitable micro force sensor to create a high sensitivity in all three dimensions has, with a sensitivity ratio of almost 1: 1: 1 can be produced and has a high natural frequency.

Gelöst wird dieses Problem mit den Merkmalen des Anspruchs 1.Solved This problem is solved with the features of claim 1.

Die Erfindung bringt den Vorteil mit sich, dass sich für alle drei Richtungen (x, y, z) Steifigkeiten bzw. mechanische Empfindlichkeiten von ca. 1 N/m bis 10 N/m, Empfindlichkeitsverhältnisse von 1:1:1 und Eigenfrequenzen für alle drei Richtungen von ca. 5 kHz bis 15 kHz erzielen lassen. Der erfindungsgemäße Kraftsensor ermöglicht daher hohe Abtastgeschwindigkeiten und Genauigkeiten bis herab zu 10 nm.The Invention brings with it the advantage of being for all three directions (x, y, z) stiffness or mechanical sensitivities from about 1 N / m to 10 N / m, sensitivity ratios of 1: 1: 1 and natural frequencies for all three directions of about 5 kHz to 15 kHz can be achieved. The inventive Force sensor therefore allows high scanning speeds and accuracies down to 10 nm.

Weitere vorteilhafte Merkmale der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.Further advantageous features of the invention will become apparent from the dependent claims.

Die Erfindung wird nachfolgend in Verbindung mit den beiliegenden Zeichnungen an einem Ausführungsbeispiel näher erläutert. Es zeigen:The The invention will be described below in conjunction with the accompanying drawings explained in more detail in one embodiment. Show it:

1a schematisch eine übliche Messsonde für eine CMM-Messeinrichtung; 1a schematically a common probe for a CMM measuring device;

1b schematisch die Abtastung der Oberfläche eines Bauteils mit Hilfe der Messsonde nach 1a; 1b schematically the scanning of the surface of a component with the help of the probe after 1a ;

2 eine schematische und perspektivische Ansicht eines Kraftsensors für eine AFM-Messeinrichtung; 2 a schematic and perspective view of a force sensor for an AFM measuring device;

3a eine Seitenansicht eines erfindungsgemäßen, für CMM- und AFM-Messungen geeigneten Mikrokraftsensors; 3a a side view of a micro force sensor according to the invention, suitable for CMM and AFM measurements;

3b eine Draufsicht auf den Mikrokraftsensor nach 3a; 3b a plan view of the micro force sensor according to 3a ;

3c eine perspektivische Ansicht des Kraftssensors nach 3a und 3b, jedoch ohne Halteelement; 3c a perspective view of the force sensor according to 3a and 3b but without holding element;

4 und 5 Draufsichten auf das Verhalten des Mikrokraftsensors nach 3a bis 3c unter dem Einfluss einer in x- bzw. y-Richtung eines gedachten Koordinatensystems wirkenden Kraft; 4 and 5 Top views on the behavior of the micro force sensor after 3a to 3c under the influence of a force acting in the x or y direction of an imaginary coordinate system;

6 eine Seitenansicht des Mikrokraftsensors nach 3a bis 3c unter dem Einfluss einer in z-Richtung des gedachten Koordinatensystems wirkenden Kraft; 6 a side view of the micro force sensor after 3a to 3c under the influence of a force acting in the z direction of the imaginary coordinate system;

7 eine schematische Draufsicht auf den erfindungsgemäßen Mikrokraftsensor nach 3a bis 3c und eine Vielzahl von an diesem angebrachten, piezoresistiven Sensoren; 7 a schematic plan view of the micro-force sensor according to the invention 3a to 3c and a plurality of attached thereto, piezoresistive sensors;

8a bis 8c schematisch drei Schaltkreise, die die piezoresistiven Sensoren nach 7 enthalten und je einer der drei Richtungen (x, y, z) zugeordnet sind; 8a to 8c schematically three circuits, the piezoresistive sensors after 7 contained and each one of the three directions (x, y, z) are assigned;

9 ein Diagramm mit vier verschiedenen, gedachten Punkten für mit einer FEM-Software ermittelte Empfindlichkeitsverhältnisse; und 9 a diagram with four different imaginary points for sensitivity ratios determined with a FEM software; and

10 in Schritten a. bis f. schematisch die Herstellung des empfindungsgemäßen Mikrokraftsensors. 10 in steps a. to f. schematically the production of the sensible micro force sensor.

1a zeigt eine Messsonde 1 einer an sich bekannten CMM-Messeinrichtung. Die Messsonde 1 enthält einen Schaft 2 mit einem als Messelement dienenden Vorderende 3, das in der Regel als Kugel ausgebildet ist. Der Schaft 2 ist in einem Kugelgelenk 4 dreh- bzw. schwenkbar gelagert. Im Falle eines sog. schaltenden Systems werden die Bewegungen des Schafts 2 mit Triggersensoren 5 (z. B. für die x-Richtung) und 6 (z. B. für die z-Richtung) ermittelt. Die Ermittlung der mit dem Vorderende 3 angefahrenen Punkte einer profilierten Oberfläche 7 eines Werkstücks 8 erfolgt in bekannter Weise unter Anwendung eines Rechners. 1a shows a probe 1 a known CMM measuring device. The measuring probe 1 contains a shaft 2 with a serving as a measuring element front end 3 , which is usually designed as a ball. The shaft 2 is in a ball joint 4 rotatably or pivotally mounted. In the case of a so-called switching system, the movements of the shaft 2 with trigger sensors 5 (eg for the x-direction) and 6 (eg for the z direction). The determination of the front end 3 approached points of a profiled surface 7 a workpiece 8th takes place in a known manner using a computer.

1b zeigt schematisch die Abtastung von sechs Oberflächenpunkten durch Relativbewegung der Messsonde 1 und des Werkstücks 8, hier in x- und z-Richtung. 1b schematically shows the sampling of six surface points by relative movement of the probe 1 and the workpiece 8th , here in x and z direction.

In 2 ist demgegenüber ein Mikrokraftsensor 10 einer an sich bekannten AFM-Messeinrichtung dargestellt. Der Kraftsensor 10 enthält einen einseitig eingespannten Biegebalken bzw. Cantilever 11, der mit einem Hinterende an einem Halteelement 12 befestigt ist. An einem Vorderende weist der Biegebalken 11 eine das eigentliche Messelement bildende feine Spitze 14 auf, die auf eine abzutastende Oberfläche 15 eines Bauteils 16 aufgelegt oder mit einem sehr kleinen Abstand von dieser angeordnet wird. Die Biegezustände des Biegebalkens 11, die sich beim Einwirken einer Kraft auf die Spitze 14 ergeben, werden z. B. mit Hilfe von nicht dargestellten, piezoresistiven Sensoren ermittelt, die in den Biegebalken eingelassen sind (z. B. DE 103 07 561 A1 ).In 2 is in contrast a micro force sensor 10 a known AFM measuring device shown. The force sensor 10 contains a cantilever clamp or cantilever clamped on one side 11 , with one rear end attached to a retaining element 12 is attached. At a front end, the bending beam 11 a fine tip forming the actual measuring element 14 on top of a surface to be scanned 15 a component 16 placed on top or at a very small distance from it. The bending states of the bending beam 11 , the impact of a force on the top 14 arise, z. B. with the aid of piezoresistive sensors, not shown, which are embedded in the bending beam (eg. DE 103 07 561 A1 ).

3a bis 3c zeigen einen erfindungsgemäßen Kraftsensor 18. Zum besseren Verständnis der Erfindung wird die Ausbildung und Wirkungsweise des Kraftsensors 18 nachfolgend anhand des aus der Zeichnung ersichtlichen xyz-Koordinatensystems erläutert, wobei jedoch klar ist, dass die Wahl der Achsen an sich beliebig ist. Der Kraftsensor 18 enthält ein Halteelement 19 mit einer Oberfläche 20, die vorzugsweise eben und parallel zur xy-Ebene des gedachten Koordinatensystems angeordnet ist. Der Kraftsensor 18 enthält weiter einen geraden, langgestreckten, vorzugsweise durch Fachwerk-Bauweise versteiften Stab 21 mit einer Längsachse 22, die im Ausführungsbeispiel parallel zur y-Achse und auch parallel zur xy-Ebene angeordnet ist. Ein freies Vorderende 21a des Stabs 21 bildet das eigentliche Messelement und weist zu diesem Zweck analog zum Biegebalken 11 nach 2 vorzugsweise eine feine Spitze 23 auf, die hier z-Richtung vom Stab 21 absteht. 3a to 3c show a force sensor according to the invention 18 , For a better understanding of the invention, the training and operation of the force sensor 18 will be explained with reference to the apparent from the drawing xyz coordinate system, but it is clear that the choice of the axes in itself is arbitrary. The force sensor 18 contains a retaining element 19 with a surface 20 , which is preferably arranged flat and parallel to the xy plane of the imaginary coordinate system. The force sensor 18 further includes a straight, elongated, preferably stiffened by truss construction rod 21 with a longitudinal axis 22 which is arranged in the embodiment parallel to the y-axis and also parallel to the xy-plane. A free front end 21a of the staff 21 forms the actual measuring element and has for this purpose analogous to the bending beam 11 to 2 preferably a fine tip 23 on, here z direction from the bar 21 projects.

Der Stab 21 ist als Ganzes derart beweglich mit dem Halteelement 19 verbunden, dass sein Vorderende 21a wenigstens drei Freiheitsgrade aufweist, wie weiter unten näher erläutert ist. Die Verbindung des Stabs 21 mit dem Halteelement 19 erfolgt mit zwei Paaren von (doppelt gefalteten) biegbaren Tragbalken 24, 25 bzw. 26 und 27. Die beiden Tragbalken 24, 25 sind an einem Hinterende 21b des Stabs 21 und sym metrisch zu einer Mittelebene des Stabs 21, die die Längsachse 22 enthält und parallel zur yz-Ebene verläuft, auf einander gegenüberliegenden Seiten des Stabs 21 angeordnet. Der Tragbalken 24 ist nach Art einer U-förmigen Feder ausgebildet, die gemäß 3b ein erstes, fest mit dem Hinterende 21b des Stabs 21 verbundenes Ende 24a und ein zweites, fest mit dem Halteelement 19 verbundenes Ende 24b aufweist. Besonders vorteilhaft ist es, wenn der Tragbalken 24 zwei parallel zueinander angeordnete, blattfederartige Tragarme 24c, 24d aufweist, die sich mit einem vorgewählten Abstand gegenüberstehen. Die Tragarme 24c, 24d sind einerseits mit den Enden 24a bzw. 24b versehen, andererseits an entgegengesetzten Enden durch ein Verbindungsstück 28 starr miteinander verbunden. Außerdem liegen die Tragarme 24c, 24d zweckmäßig quer zur Längsachse 22 des Stabs 21, indem ihre Mittelebenen in je einer zur xz-Ebene des gedachten Koordinatensystems parallelen Ebene und damit senkrecht zur Oberfläche des Halteelements 19 liegen.The rod 21 as a whole is so movable with the retaining element 19 connected to that, its front end 21a has at least three degrees of freedom, as explained in more detail below. The connection of the staff 21 with the holding element 19 is made with two pairs of (double folded) bendable support beams 24 . 25 respectively. 26 and 27 , The two stringers 24 . 25 are at a tail end 21b of the staff 21 and sym metric to a median plane of the rod 21 that the longitudinal axis 22 and parallel to the yz plane, on opposite sides of the rod 21 arranged. The stringers 24 is designed in the manner of a U-shaped spring according to 3b a first, stuck with the back end 21b of the staff 21 connected end 24a and a second, fixed to the holding element 19 connected end 24b having. It is particularly advantageous if the support beam 24 two mutually parallel, leaf spring-like support arms 24c . 24d which face each other at a preselected distance. The support arms 24c . 24d are on the one hand with the ends 24a respectively. 24b provided, on the other hand at opposite ends by a connecting piece 28 rigidly connected. In addition, the support arms are 24c . 24d appropriate transverse to the longitudinal axis 22 of the staff 21 in that their center planes are parallel in each plane parallel to the xz-plane of the imaginary coordinate system and thus lower right to the surface of the retaining element 19 lie.

Der Tragbalken 25 ist entsprechend aufgebaut und infolgedessen mit einem Ende 25a am Hinterende 21b des Stabs 21 und mit dem anderen Ende 25b am Halteelement 19 befestigt.The stringers 25 is structured accordingly and consequently with an end 25a at the back end 21b of the staff 21 and with the other end 25b on the holding element 19 attached.

Zur Befestigung der Enden 24b, 25b der Tragbalken 24, 25 am Halteelement 19 dienen Verankerungspunkte 29, die durch zwischen ihnen und dem Halteelement 19 angeordnete Abstandhalter 30 (3a) mit einem vorgewählten Abstand in z-Richtung oberhalb von der Oberfläche 20 des Halteelements 19 gehalten sind. Die Tragbalken 24, 25 bilden somit insgesamt ein erstes, dem Hinterende 21b des Stabs 21 zugeordnetes Paar von Verbindungselementen, die den Stab 21 federnd mit dem Halteelement 19 verbinden.For fixing the ends 24b . 25b the stringers 24 . 25 on the holding element 19 serve anchoring points 29 passing through between them and the retaining element 19 arranged spacers 30 ( 3a ) at a preselected distance in the z-direction above the surface 20 of the holding element 19 are held. The stringers 24 . 25 thus form a total of the first, the rear end 21b of the staff 21 associated pair of fasteners connecting the rod 21 resilient with the retaining element 19 connect.

Die Tragbalken 26 und 27 sind wie die Tragbalken 24, 25 ausgebildet und angeordnet. Sie bilden ein zweites Paar von Verbindungselementen, durch die der Stab 21 ebenfalls federnd mit dem Halteelement 19 verbunden ist. Allerdings sind die Tragbalken 26, 27 einem mittleren Bereich des Stabs 21 zugeordnet, wobei sie mit jeweils einem Ende 26a, 27a an einer mittleren Befestigungsstelle 21c des Stabs 21 befestigt sind. Ihre jeweils anderen Enden 26b, 27b sind analog zu den Tragbalken 24, 25 mittels Verankerungspunkten 29 und Abstandhaltern 30 am Halteelement 19 befestigt. Außerdem bestehen die Tragbalken 26, 27 vorzugsweise wie die Tragbalken 24, 25 aus je zwei blattfederartig ausgebildeten Tragarmen 26c, 26d sowie 27c und 27d, wie aus 3b und 3c ersichtlich ist.The stringers 26 and 27 are like the stringers 24 . 25 trained and arranged. They form a second pair of fasteners through which the rod passes 21 also resilient with the retaining element 19 connected is. However, the stringers are 26 . 27 a central area of the staff 21 assigned, each with one end 26a . 27a at a middle attachment point 21c of the staff 21 are attached. Their respective other ends 26b . 27b are analogous to the stringers 24 . 25 by means of anchoring points 29 and spacers 30 on the holding element 19 attached. In addition, there are the stringers 26 . 27 preferably like the stringers 24 . 25 from two leaf spring-like support arms 26c . 26d such as 27c and 27d , like out 3b and 3c is apparent.

Gemäß 3a bis 3c bilden der Stab 21 und die Tragbalken 24 bis 27 eine zusammenhängende Baueinheit, die mit einem vorgewählten Abstand oberhalb der Oberfläche 20 des Halteelements 19 federnd abgestützt ist und sich daher relativ zum Halteelement 19 bewegen kann, wie nachfolgend anhand der 4 bis 6 näher erläutert ist.According to 3a to 3c form the bar 21 and the stringers 24 to 27 a coherent unit, with a preselected distance above the surface 20 of the holding element 19 is resiliently supported and therefore relative to the retaining element 19 can move, as follows from the 4 to 6 is explained in more detail.

In 4 ist angenommen, dass auf das Vorderende 21a bzw. 23 eine Kraft Fx in x-Richtung, d. h. senkrecht zur Längsachse 22 und parallel zur Oberfläche 20 des Halteelements 19 ausgeübt wird. Der Kraftsensor 18 reagiert in der aus 4 ersichtlichen Weise, da die auftretenden Momente eine Verbiegung der einzelnen Tragarme 24c, 24d bis 27c, 27d zur Folge haben. In 4 bis 6 ist zum besseren Verständnis jeweils mit dicken schwarzen Linien die Lage bzw. der Biegezustand der Tragbalken 24 bis 27 unter dem Einfluss der jeweiligen Kraft, mit dünnen Linien dagegen die Lage der Tragbalken 24 bis 27 im unbelasteten Zustand dargestellt.In 4 is believed to be on the front end 21a respectively. 23 a force Fx in the x-direction, ie perpendicular to the longitudinal axis 22 and parallel to the surface 20 of the holding element 19 is exercised. The force sensor 18 reacts in the out 4 apparent manner, since the moments occurring a bending of the individual support arms 24c . 24d to 27c . 27d have as a consequence. In 4 to 6 is for better understanding in each case with thick black lines the position or the bending state of the support beams 24 to 27 under the influence of the respective force, with thin lines, however, the position of the supporting beams 24 to 27 shown unloaded.

Wegen der fachwerkartigen Struktur des Stabs 21 hat das Einwirken der Kraft Fx allenfalls eine sehr kleine, vernachlässigbare Verbiegung des Stabs 21 in x-Richtung zur Folge. Dagegen wird der Stab 21 als Ganzes etwa um seine mittlere Befestigungsstelle 21c geschwenkt, so dass die beiden Paare von Tragbalken 24, 25 bzw. 26, 27 antisymmetrisch verbogen werden. Das Vorderende 21a und die Spitze 23 werden somit längs einer schwach gekrümmten Bahn verschoben, die jedoch mit guter Annäherung als linear betrachtet werden kann.Because of the truss-like structure of the staff 21 At most, the action of force Fx has a very small, negligible deflection of the rod 21 in the x-direction result. On the other hand, the staff 21 as a whole about its middle attachment point 21c pivoted so that the two pairs of stringers 24 . 25 respectively. 26 . 27 be bent anti-symmetrically. The front end 21a and the top 23 are thus shifted along a slightly curved path, which, however, can be regarded as linear with good approximation.

5 zeigt die Verhältnisse, wenn eine Kraft Fy parallel zur Längsachse 22, d. h. in y-Richtung auf das Vorderende 21b bzw. die Spitze 23 einwirkt. Da der Stab 21 wegen des fachwerkartigen Aufbaus in y-Richtung eine sehr hohe Steifigkeit besitzt, ist seine Verformung vernachlässigbar. Der Stab 21 wird jedoch als Ganzes gegen die Kraft der federnden Tragbalken 24 bis 27 parallel zur y-Achse linear verschoben. Die Tragarme 24a, 24b usw. verbiegen sich dabei im Wesentlichen symmetrisch. 5 shows the relationships when a force Fy parallel to the longitudinal axis 22 , ie in y-direction on the front end 21b or the tip 23 acts. Since the rod 21 because of the truss-like structure in the y-direction has a very high rigidity, its deformation is negligible. The rod 21 However, as a whole it is against the force of the resilient stringers 24 to 27 shifted linearly parallel to the y-axis. The support arms 24a . 24b etc. bend substantially symmetrically.

Wirkt schließlich gemäß 6 eine Kraft Fz auf das Vorderende 21a bzw. die Spitze 23 des Stabs 21 ein, dann wird der Stab 21 in z-Richtung verbogen, da insbesondere die mit der Befestigungsstelle 21c verbundenen Tragarme 26c, 27c verdrillt werden. Das Vorderende 21a und die Spitze 23 werden daher längs einer schwach gekrümmten Bahn verschoben, die jedoch mit guter Annäherung als in z-Richtung linear betrachtet werden kann.Finally works according to 6 a force Fz on the front end 21a or the tip 23 of the staff 21 one, then the staff 21 Bent in the z-direction, especially with the attachment point 21c connected support arms 26c . 27c be twisted. The front end 21a and the top 23 are therefore displaced along a slightly curved path which, however, can be considered to be linear with good approximation as in the z direction.

Insgesamt kann daher ein das Vorderende 21a und/oder die Spitze 23 enthaltendes Messelement des Stabs 21 unter Verbiegung der beiden Paare von federnden Tragbalken 24 bis 27 dreidimensional bewegt werden.Overall, therefore, a the front end 21a and / or the top 23 containing measuring element of the rod 21 under bending of the two pairs of resilient stringers 24 to 27 be moved three-dimensionally.

Die aus 4 bis 6 ersichtlichen Verbiegungen der Tragarme 24c, 24d bis 27c, 27d werden zweckmäßig mit Hilfe von piezoresistiven Sensoren R gemessen, wie es z. B. bei Biegebalken von AFM-Sensoren allgemein bekannt ist ( DE 103 07 561 A1 ). Diese Sensoren R werden in Form von piezoresistiven Schichten an geeigneten Stellen in die Tragarme 24c, 24d bis 27c, 27d und den Stab 21 integriert und vorzugsweise dort angeordnet, wo sich unter dem Einfluss der Kräfte Fx, Fy und Fz die größten Verbiegungen und damit die größten lokalen mechanischen Spannungen ergeben, um ein hohes Signal/Rausch-Verhältnis zu erhalten.From 4 to 6 apparent bending of the support arms 24c . 24d to 27c . 27d are suitably measured with the aid of piezoresistive sensors R as z. B. is generally known at bending beam of AFM sensors ( DE 103 07 561 A1 ). These sensors R are in the form of piezoresistive layers at appropriate locations in the support arms 24c . 24d to 27c . 27d and the staff 21 integrated and preferably arranged where, under the influence of the forces Fx, Fy and Fz, the largest bends and thus the largest local mechanical stresses result in order to obtain a high signal-to-noise ratio.

Die im Rahmen der vorliegenden Erfindung ausgewählten Orte für die piezoresistiven Sensoren R sind in 7 durch schraffierte Bereiche schematisch dargestellt. Mit dicken schwarzen Linien sind in 7 außerdem elektrische Leitungen angedeutet, die von als schwarze Quadrate dargestellten Anschlussstellen 31 bis 42 aus zu den verschiedenen Sensoren R führen. Durch zusätzliche Angaben Aa bis Ae, Ba bis Be und Ca bis Ce ist schließlich angedeutet, dass insgesamt drei Gruppen von Sensoren R vorhanden sind, wobei die Gruppe mit dem Buchstaben A zur Messung von Verschiebungen in x-Richtung, die Gruppe mit dem Buchstaben B zur Messung von Verschiebungen in z-Richtung und die Gruppe mit dem Buchstaben C für Messungen von Verschiebungen in y-Richtung dient. Jede Gruppe von Sensoren R ist außerdem entsprechend 8a bis 8c zu je einer Wheatstone'schen Brückenschaltung zusammengefasst und mit einem Erdanschluss versehen, indem z. B. der Tragbalken 24 für eine gemeinsame Erdleitung benutzt wird. Durch die Brückenschaltungen sind Messungen im Differenzialmodus möglich, wodurch externe Rauschquellen wie z. B. Temperatur- und Lichtänderungen eliminiert werden. Jede Anschlussstelle 31 bis 42 ist vorzugsweise elektrisch mit einem Bondpunkt verbunden, um ein externes Interface und einen Prozessor für die erhaltenen Signale anschließen zu können.The locations for the piezoresistive sensors R selected in the context of the present invention are in 7 Shown schematically by hatched areas. With thick black lines are in 7 In addition, electrical lines indicated by the connection points shown as black squares 31 to 42 out to the various sensors R lead. By additional information Aa to Ae, Ba to Be and Ca to Ce is finally ange indicates that a total of three sets of R sensors are present, the group with the letter A for measuring displacements in the x direction, the group with the letter B for measuring displacements in the z direction and the group with the letter C for Measurements of shifts in the y-direction are used. Each group of sensors R is also appropriate 8a to 8c combined into a Wheatstone bridge circuit and provided with a ground terminal by z. B. the stringers 24 is used for a common ground line. The bridge circuits allow measurements in differential mode, eliminating external noise sources such as noise. B. temperature and light changes are eliminated. Every connection point 31 to 42 is preferably electrically connected to a bond point to connect an external interface and a processor for the received signals.

Die mit den beschriebenen Kraftsensor 18 erhältlichen mechanischen Eigenschaften wurden mit Hilfe von FIM-Berechnungen (FEM = Finite Element Modelling) simuliert. Als Koeffizienten der mechanischen Steifigkeit wurden die Größen Kx = Fx/Δx, Ky = Fy/Δy und Kz = Fz/Δz gemäß 4 bis 6 verwendet und FEM-Methoden berechnet. 9 zeigt ein Diagramm mit vier gedachten Punkten A bis D und den zugehörigen Verhältnissen von Kz/Kx sowie Ky/Kx, wobei diese Punkte durch Variation der geometrischen Abmessungen des Kraftsensors 18 erhalten wurden, insbesondere durch Variation der Dicke W und der Länge L der Tragbalken bzw. Tragarme und der Dicke T des Stabs 21. Da die Steifigkeitskoeffizienten im Wesentlichen monoton und unabhängig voneinander von den geometrischen Dimensionen abhängen, kann aus bereits berechneten (simulierten) Punkten leicht auf Punkte geschlossen werden, die mit anderen geometrischen Dimensionen erhalten werden können.The with the described force sensor 18 Available mechanical properties were simulated using FIM calculations (FEM = Finite Element Modeling). As coefficients of mechanical rigidity, the quantities Kx = Fx / Δx, Ky = Fy / Δy and Kz = Fz / Δz were determined according to 4 to 6 used and FEM methods calculated. 9 shows a diagram with four imaginary points A to D and the associated ratios of Kz / Kx and Ky / Kx, these points by varying the geometric dimensions of the force sensor 18 were obtained, in particular by varying the thickness W and the length L of the support beams and the thickness T of the rod 21 , Since the stiffness coefficients are substantially monotone and independent of the geometric dimensions, it is easy to deduce from already calculated (simulated) points points that can be obtained with other geometric dimensions.

Der am meisten erwünschte Punkt im Diagramm der 9 ist der Ursprung des Koordinatensystems mit Kx = Ky = Kz, da dieser Punkt ein Steifigkeits- bzw. Empfindlichkeitsverhältnis von 1 repräsentiert. Dieser Punkt liegt innerhalb eines Polygons, das durch die vier simulierten Punkte A bis D erhalten wurde. Das zeigt, dass die Fabrikation eines Sensors mit dem Empfindlichkeitsverhältnis 1 möglich ist.The most desirable point in the diagram of the 9 is the origin of the coordinate system with Kx = Ky = Kz, since this point represents a stiffness ratio of 1. This point lies within a polygon obtained by the four simulated points A to D. This shows that the fabrication of a sensor with a sensitivity ratio of 1 is possible.

Es ist nur erforderlich, im Einzelfall die exakten Dimensionen für ein optimales Design zu finden, z. B. in den Bereichen L = 500 μm bis 1000 μm, T = 16 μm bis 100 μm, W = 4 μm bis 6 μm.It is only necessary, in the individual case the exact dimensions for to find an optimal design, eg. B. in the ranges L = 500 microns up to 1000 μm, T = 16 μm to 100 μm, W = 4 μm to 6 μm.

Die Herstellung des erfindungsgemäßen Kraftsensors 18 erfolgt zweckmäßig in einem Stück aus einem Silizium-Einkristall, insbesondere gemäß 10 aus einem Silizium-auf-Isolator-Wafer 43 (SOI) mit je einer unteren und oberen Siliziumschicht 44, 45 und einer dazwischen eingebrachten SIO2-Schicht 46. Mit Ausnahme der zur Verbindung mit äußeren Elektroden notwendigen elektrischen Leitungen wird gesamte Kraftsensor 18 als integrierte Baueinheit hergestellt, ohne dass zusätzliche Zusammenbauten im Mikrobereich erforderlich sind.The production of the force sensor according to the invention 18 suitably takes place in one piece from a silicon single crystal, in particular according to 10 from a silicon-on-insulator wafer 43 (SOI), each with a lower and upper silicon layer 44 . 45 and an interposed SIO 2 layer 46 , With the exception of the necessary for connection to external electrodes electrical lines becomes entire force sensor 18 manufactured as an integrated unit, without additional micro-assemblies are required.

Ein für verschiedene Anwendungen wesentlicher Bestandteil des Kraftsensors 18 ist die Spitze 23. Diese kann gemäß 10a und 10b mit verschiedenen bekannten Technologien, insbesondere durch nasses oder trockenes, isotropes oder anisotropes Ätzen an der Oberseite oder am Boden des Wafers 43 hergestellt werden. Der Winkel, unter dem die Achse der Spitze 23 zur Längsachse 22 (3a) angeordnet ist, kann entsprechend den Bedürfnissen unterschiedlich gewählt werden und z. B. 90°, aber auch nur 55° betragen (z. B. DE 103 33 485 A1 ).An integral part of the force sensor for various applications 18 is the top 23 , This can according to 10a and 10b with various known technologies, in particular by wet or dry, isotropic or anisotropic etching at the top or at the bottom of the wafer 43 getting produced. The angle under which the axis of the tip 23 to the longitudinal axis 22 ( 3a ) is arranged, can be chosen differently according to the needs and z. B. 90 °, but also only 55 ° (z. DE 103 33 485 A1 ).

Die Ausbildung des mechanischen Halters 19 des Kraftsensors 18 wird dadurch vorgenommen, dass die Rückseite des Wafers 43 nass und anisotrop geätzt wird (10c). Danach wird die endgültige Struktur des Kraftsensors 18 durch trockenes, reaktives Ionenätzen der oberen SOI-Schicht 45 (10d) festgelegt. Das Muster wird mit streng vertikalen Seitenwänden des Ätzprofils definiert. Die SOI-Schicht 45 wird bis zur eingebrachten Oxidschicht 46 abgeätzt. Der nächste Schritt ist dann das selektive Unterätzen der SIO2-Schicht 46 mit einer HF-Lösung, um die bewegbaren mechanischen Komponenten (Stab 21, Tragbalken 34 bis 27) freizulegen und die stationären Teile (Verankerungspunkte 29, Abstandhalter 30) herzustellen. Dies wird durch entsprechendes Design des Bauelementmusters erreicht. Die Fachwerkstruktur des Stabs 21 und die ebenfalls dünne Struktur der Tragbalken 24 bis 27 wird durch schnelles Unterätzen freigelegt, während unter den massiven quadratischen Verankerungspunkten 29 noch eine Menge SIO2 als Abstandhalter 30 stehen bleibt (10e). Die nächsten Schritte dienen dann dazu, die elektrischen Schaltkreise festzulegen, die in 7 und 8a bis 8c dargestellt sind. Dies erfolgt z. B. durch Ausbildung von hochdotierten, leitenden Linien 47 und mitteldotierten piezoresistiven Regionen unter Bildung der Sensoren R und der Wheatstone'schen Brücken (10f).The training of the mechanical holder 19 of the force sensor 18 This is done by holding the back of the wafer 43 wet and anisotropic etched ( 10c ). After that, the final structure of the force sensor 18 by dry, reactive ion etching of the upper SOI layer 45 ( 10d ). The pattern is defined with strictly vertical sidewalls of the etch profile. The SOI layer 45 is up to the introduced oxide layer 46 etched. The next step is to selectively under-etch the SIO 2 layer 46 with an HF solution to the moving mechanical components (rod 21 , Stringers 34 to 27 ) and the stationary parts (anchoring points 29 , Spacers 30 ). This is achieved by appropriate design of the device pattern. The truss structure of the staff 21 and the likewise thin structure of the stringers 24 to 27 is exposed by rapid undercutting while under the massive square anchoring points 29 still a lot of SIO 2 as a spacer 30 stop ( 10e ). The next steps will then be to set the electrical circuits in 7 and 8a to 8c are shown. This is done z. B. by the formation of highly doped, conductive lines 47 and middle doped piezoresistive regions to form the sensors R and the Wheatstone bridges ( 10f ).

Durch die Erfindung wird insgesamt ein zumindest dreidimensional wirkender Vielzweck-Kraftsensor 18 erhalten. Die Gesamtabmessungen dieses Kraftsensors 18 betragen z. B. etwa 2 mm·2 mm bei einer Bauelement-Schichtdicke (Schicht 45 in 10) von ca. 50 μm. Die Länge der Tragbalken 24 bis 27 kann ca. 1 mm betragen, während die Dicke der Tragarme 24c, 24d usw. und der Fachwerkstrukturen des Stabs 21 z. B. 5 μm beträgt. Der Kraftsensor 18 hat daher in allen drei Richtungen eine Steifigkeit von etwa 10 Nm und bei Bedarf ein Empfindlichkeitsverhältnis von 1. Seine Eigenfrequenz liegt z. B. im Bereich von 5 kHz bis 15 kHz.The invention provides a total of at least three-dimensional multi-purpose force sensor 18 receive. The overall dimensions of this force sensor 18 amount to z. B. about 2 mm x 2 mm at a device layer thickness (layer 45 in 10 ) of about 50 microns. The length of the stringers 24 to 27 can be about 1 mm, while the thickness of the support arms 24c . 24d etc. and the truss structures of the staff 21 z. B. 5 microns. The force sensor 18 Therefore, in all three directions has a stiffness of about 10 Nm and, if necessary, a sensitivity ratio of 1. His natural frequency is z. B. in the range of 5 kHz to 15 kHz.

Die Erfindung ist nicht auf das beschriebene Ausführungsbeispiel beschränkt, das auf vielfache Weise abgewandelt werden kann. Insbesondere die angegebenen Maße stellen nur Beispiele dar, von denen in Abhängigkeit von Einzelfall abgewichen werden kan. Weiterhin ist klar, dass am Vorderende 21a des Stabs anstelle der Spitze 23 analog zu 1 auch eine Kugel oder irgendein anderes, die Messungen förderndes Element vorgesehen sein oder das Vorderende 21a selbst als Meßelement dienen könnte. Außerdem versteht sich, dass die verschiedenen Merkmale auch in anderen als den beschriebenen und dargestellten Kombinationen angewendet werden können.The invention is not limited to the described embodiment, which can be modified in many ways. In particular, the dimensions given are only examples of which can be deviated depending on individual case kan. Furthermore, it is clear that at the front end 21a of the staff instead of the top 23 analogous to 1 also a bullet or any other element providing the measurements or the front end 21a itself could serve as a measuring element. It will also be understood that the various features may be applied in combinations other than those described and illustrated.

ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNGQUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION

Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.This list The documents listed by the applicant have been automated generated and is solely for better information recorded by the reader. The list is not part of the German Patent or utility model application. The DPMA takes over no liability for any errors or omissions.

Zitierte PatentliteraturCited patent literature

  • - DE 10307561 A1 [0004, 0024, 0036] - DE 10307561 A1 [0004, 0024, 0036]
  • - DE 10333485 A1 [0042] DE 10333485 A1 [0042]

Claims (12)

Mikrokraftsensor mit drei Freiheitsgraden, enthaltend: ein Halteelement (19), einen geraden Stab (21) mit einem der Messung dienenden Vorderende (21a) und einem seiner Montage dienenden Hinterende (21b), ein erstes Paar von quer zum Stab (21) erstreckten Tragbalken (24, 25), die am Hinterende (21b) und auf zwei einander gegenüberliegenden Seiten des Stabs (21) angeordnet sind, und zweites Paar von quer zum Stab (21) erstreckten Tragbalken (26, 27), die in einem mittleren Bereich und auf denselben zwei Seiten des Stabs (21) einander gegenüberliegend angeordnet sind, wobei jeder Tragbalken (24 bis 27) nach Art einer U-förmigen Feder ausgebildet ist und je ein fest mit dem Halteelement (19) sowie ein fest mit dem Stab (21) verbundenes Ende (24a, 24b; 25a, 25b; 26a, 26b; 27a, 27b) aufweist.Micro-force sensor with three degrees of freedom, comprising: a holding element ( 19 ), a straight rod ( 21 ) with a front end ( 21a ) and a rear end ( 21b ), a first pair of across the bar ( 21 ) extended support beams ( 24 . 25 ) at the rear end ( 21b ) and on two opposite sides of the bar ( 21 ) are arranged, and second pair of transversely to the rod ( 21 ) extended support beams ( 26 . 27 ) in a central area and on the same two sides of the bar ( 21 ) are arranged opposite one another, wherein each support beam ( 24 to 27 ) is designed in the manner of a U-shaped spring and one fixed to the holding element ( 19 ) and a fixed to the rod ( 21 ) connected end ( 24a . 24b ; 25a . 25b ; 26a . 26b ; 27a . 27b ) having. Mikrokraftsensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Tragbalken (24 bis 27) je zwei parallel zueinander angeordnete, blattfederartige Tragarme (24c, 24d; 25c, 25d; 26c, 26d; 27a, 27d) aufweisen, die an ihren vom Stab (21) entfernten Enden durch ein Verbindungsstück (28) fest miteinander verbunden sind.Micro force sensor according to claim 1, characterized in that the supporting beams ( 24 to 27 ) each two mutually parallel, leaf spring-like support arms ( 24c . 24d ; 25c . 25d ; 26c . 26d ; 27a . 27d ) at their from the rod ( 21 ) distal ends through a connector ( 28 ) are firmly connected. Mikrokraftsensor nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Tragbalken (24 bis 27) und Tragarme (24c, 24d, 25c, 25d; 26a, 26d; 27a, 27d) senkrecht zu einer Längsachse (22) des Stabs (21) stehende Mittelebenen aufweisen.Micro force sensor according to claim 1 or 2, characterized in that the supporting beams ( 24 to 27 ) and support arms ( 24c . 24d . 25c . 25d ; 26a . 26d ; 27a . 27d ) perpendicular to a longitudinal axis ( 22 ) of the staff ( 21 ) have standing center planes. Mikrokraftsensor nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass das Halteelement (19) eine im Wesentlichen ebene Oberfläche (20) mit vier von dieser aufragenden Verankerungspunkten (29) für die mit dem Halteelement (19) verbundenen Enden (24a, 24b; 25a, 25b; 26a, 26b; 27a, 27b) der Tragbalken (24 bis 27) derart aufweist, dass eine aus dem Stab (21) und den Tragbalken (24 bis 27) bestehende Baueinheit mit einem vorgewählten Abstand oberhalb der Oberfläche (20) des Halteelements (19) angeordnet ist.Micro force sensor according to one of claims 1 to 3, characterized in that the holding element ( 19 ) has a substantially planar surface ( 20 ) with four anchoring points ( 29 ) for the with the holding element ( 19 ) connected ends ( 24a . 24b ; 25a . 25b ; 26a . 26b ; 27a . 27b ) of the stringers ( 24 to 27 ) such that one of the rod ( 21 ) and the stringers ( 24 to 27 ) existing unit with a preselected distance above the surface ( 20 ) of the retaining element ( 19 ) is arranged. Mikrokraftsensor nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass der Stab (21) eine parallel zu einer y-Achse eines Koordinatensystems angeordnete Längsachse (22) aufweist, die Tragbalken (24 bis 27) parallel zu einer x-Achse des Koordinatensystems angeordnet sind und die Oberfläche (20) des Halteelements (19) in einer parallel zur xy-Ebene des dieses Koordinatensystems liegenden Ebene angeordnet ist.Micro force sensor according to one of claims 1 to 4, characterized in that the rod ( 21 ) arranged parallel to a y-axis of a coordinate system longitudinal axis ( 22 ), the supporting beams ( 24 to 27 ) are arranged parallel to an x-axis of the coordinate system and the surface ( 20 ) of the retaining element ( 19 ) is arranged in a plane parallel to the xy plane of this coordinate system. Mikrokraftsensor nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die blattfederartigen Tragarme (24c, 24d; 25c, 25d; 26c, 26d, 27c, 27d) der Tragbalken (24 bis 27) Mittelebenen aufweisen, die parallel zur xz-Ebene des Koordinatensystems angeordnet sind.Micro force sensor according to claim 5, characterized in that the leaf spring-like support arms ( 24c . 24d ; 25c . 25d ; 26c . 26d . 27c . 27d ) of the stringers ( 24 to 27 ) Have center planes that are parallel to the xz plane of the coordinate system. Mikrokraftsensor nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass piezoresistive Sensoren (R) in den Stab (21) und in die Tragbalken (24 bis 27) eingearbeitet sind.Micro force sensor according to one of claims 1 to 6, characterized in that piezoresistive sensors (R) in the rod ( 21 ) and in the stringers ( 24 to 27 ) are incorporated. Mikrokraftsensor nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die piezoresistiven Sensoren (R) in drei Schaltkreisen angeordnet sind, die je einer möglichen Bewegungsrichtung des Vorderendes (21a) des Stabs (21) zugeordnet sind.Micro force sensor according to claim 7, characterized in that the piezoresistive sensors (R) are arranged in three circuits, each one of a possible direction of movement of the front end ( 21a ) of the staff ( 21 ) assigned. Mikrokraftsensor nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Schaltkreise jeweils nach Art einer Wheatstone'schen Brücke ausgebildet sind.Micro force sensor according to claim 8, characterized in that that the circuits each in the manner of a Wheatstone bridge are formed. Mikrokraftsensor nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass er einstückig aus einem Siliziumsubstrat (43) hergestellt ist.Micro force sensor according to one of claims 1 to 9, characterized in that it is integrally formed from a silicon substrate ( 43 ) is made. Mikrokraftsensor nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass das Siliziumsubstrat (43) aus Silizium-auf-Isolator-Material (SOI) besteht.Micro force sensor according to claim 10, characterized in that the silicon substrate ( 43 ) consists of silicon-on-insulator material (SOI). Mikrokraftsensor nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass am Vorderende (21a) des Stabs (21) eine Messspitze (23) vorgesehen ist.Micro force sensor according to one of claims 1 to 11, characterized in that at the front end ( 21a ) of the staff ( 21 ) a measuring tip ( 23 ) is provided.
DE102007024992A 2007-05-29 2007-05-29 Micro force sensor, especially for CMM and AFM applications Withdrawn DE102007024992A1 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102007024992A DE102007024992A1 (en) 2007-05-29 2007-05-29 Micro force sensor, especially for CMM and AFM applications
PCT/DE2008/000887 WO2008145103A1 (en) 2007-05-29 2008-05-27 Microforce sensor, particularly for cmm and afm applications

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102007024992A DE102007024992A1 (en) 2007-05-29 2007-05-29 Micro force sensor, especially for CMM and AFM applications

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102007024992A1 true DE102007024992A1 (en) 2008-12-04

Family

ID=39713858

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102007024992A Withdrawn DE102007024992A1 (en) 2007-05-29 2007-05-29 Micro force sensor, especially for CMM and AFM applications

Country Status (2)

Country Link
DE (1) DE102007024992A1 (en)
WO (1) WO2008145103A1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008063797A1 (en) * 2008-12-18 2010-07-01 Bundesrepublik Deutschland, vertr.d.d. Bundesministerium für Wirtschaft und Technologie, d.vertr.d.d. Präsidenten der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt gauge
DE102019123394A1 (en) * 2019-09-02 2021-03-04 Christian-Albrechts-Universität Zu Kiel Force measuring disc and device for determining forces in the pico-Newton to nano-Newton range

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10307561A1 (en) 2003-02-19 2004-09-09 Universität Kassel Measuring arrangement for the combined scanning and examination of microtechnical components having electrical contacts
DE10333485A1 (en) 2003-07-20 2005-02-10 Nascatec Nanoscale Technologies Gmbh Raster scanning microscopy probe manufacturing method using etching of silicon substrate from 2 opposing sides to provide probe with angled point

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5856967A (en) * 1997-08-27 1999-01-05 International Business Machines Corporation Atomic force microscopy data storage system with tracking servo from lateral force-sensing cantilever
JP3892198B2 (en) * 2000-02-17 2007-03-14 エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 Microprobe and sample surface measuring device
RU2352002C1 (en) * 2004-12-06 2009-04-10 Джапан Сайенс Энд Текнолоджи Эйдженси Mechanical oscillator and method of its manufacturing

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10307561A1 (en) 2003-02-19 2004-09-09 Universität Kassel Measuring arrangement for the combined scanning and examination of microtechnical components having electrical contacts
DE10333485A1 (en) 2003-07-20 2005-02-10 Nascatec Nanoscale Technologies Gmbh Raster scanning microscopy probe manufacturing method using etching of silicon substrate from 2 opposing sides to provide probe with angled point

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008063797A1 (en) * 2008-12-18 2010-07-01 Bundesrepublik Deutschland, vertr.d.d. Bundesministerium für Wirtschaft und Technologie, d.vertr.d.d. Präsidenten der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt gauge
DE102008063797B4 (en) * 2008-12-18 2013-12-24 Bundesrepublik Deutschland, vertr.d.d. Bundesministerium für Wirtschaft und Technologie, d.vertr.d.d. Präsidenten der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt gauge
EP2199769A3 (en) * 2008-12-18 2014-10-01 Bundesrepublik Deutschland, vertr. durch das Bundesministerium f. Wirtschaft und Technologie, Force measuring device
DE102019123394A1 (en) * 2019-09-02 2021-03-04 Christian-Albrechts-Universität Zu Kiel Force measuring disc and device for determining forces in the pico-Newton to nano-Newton range
DE102019123394B4 (en) 2019-09-02 2022-04-28 Universität Heidelberg Force measuring disc and device for determining forces in the pico-Newton to nano-Newton range

Also Published As

Publication number Publication date
WO2008145103A1 (en) 2008-12-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102010012441B4 (en) Millinewton micro force meter and method of making a Millinewton micro force meter
DE112010002189B4 (en) Non-contact three-dimensional ultra-precision touch probe based on a spherical capacitive plate
DE102017219901B3 (en) Micromechanical z-inertial sensor
DE102012207939A1 (en) Spring stop for accelerometer
EP2076783A1 (en) Sensor for detecting acceleration
DE102007057042A1 (en) Micromechanical rotation rate sensor with coupling bars and suspension elements for quadrature suppression
DE102006053290B4 (en) accelerometer
DE102008001442A1 (en) Micromechanical component and method for operating a micromechanical component
DE19810534A1 (en) Multiple axis acceleration sensor
DE10106854A1 (en) Micro probe and device for measuring a sample surface
DE102008040525A1 (en) Micromechanical sensor element, method for producing a micromechanical sensor element and method for operating a micromechanical sensor element
DE10307561B4 (en) Measuring arrangement for the combined scanning and investigation of microtechnical, electrical contacts having components
DE102008041327A1 (en) Three-axis accelerometer
DE10313046A1 (en) Thermometry probe for temperature measuring device, has thermo-couple that is overlaid on main surface of cantilever, along with tips of thin-film metal wires through electrical insulating layers
DE102017219929B4 (en) Micromechanical z-inertial sensor
DE102011007350B4 (en) Sensor for the tactile measurement of forces and moments
DE102007024992A1 (en) Micro force sensor, especially for CMM and AFM applications
DE10043731C2 (en) Measuring probe, its use and manufacture and measuring system for detecting electrical signals in an integrated semiconductor circuit
DE102009020533C5 (en) Device for force component measurement
DE102020134454A1 (en) Indenter holder for a measuring device and measuring device for detecting signals
EP1907787A1 (en) Sensor module for a probe of a tactile coordinate measuring device
WO2002079740A1 (en) Capacitive microsystem for recording mechanical deformations, use and operating method
DE102009045393B4 (en) Micromechanical component
DE102010012701A1 (en) Microforce sensor for measuring micro forces at nano range and milli Newton range, has spring region provided between two support regions and stiffener marking unit, respectively, where spring regions comprise two-winged meander shape
DE102008063797B4 (en) gauge

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8139 Disposal/non-payment of the annual fee