DE102004059937A1 - Test device and test method - Google Patents

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Takahiro Yamaguchi
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Abstract

Eine Prüfvorrichtung (100) zum Prüfen einer elektronischen Vorrichtung (10) enthält eine Hinzufügungsvorrichtung (104) für deterministisches Zittern zum Hinzufügen von deterministischem Zittern zu einem gegebenen Eingangssignal, ohne dass eine Amplitudenveränderungskomponente auftritt, und zum Zuführen des mit dem deterministischen Zittern versehenen Eingangssignals zu der elektronischen Vorrichtung, eine Zittergrößen-Steuervorrichtung (106) zum Steuern der Größe des deterministischen Zitterns, das von der Hinzufügungsvorrichtung für deterministisches Zittern hinzuzufügen ist, und eine Beurteilungsvorrichtung (108) zum Beurteilen der Qualität der elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage eines von der elektronischen Vorrichtung als Antwort auf das Eingangssignal auszugebenden Ausgangssignals.A test apparatus (100) for testing an electronic device (10) includes deterministic jitter adding means (104) for adding deterministic jitter to a given input signal without occurrence of an amplitude variation component, and for supplying the deterministic jitter input signal to the input signal electronic device, a jitter size control device (106) for controlling the magnitude of the deterministic jitter to be added by the deterministic jitter adding device, and a judging device (108) for judging the quality of the electronic device based on one of the electronic device as Response to the input signal output signal.

Description

GEBIET DER ERFINDUNGAREA OF INVENTION

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Prüfen einer elektronischen Vorrichtung. Insbesondere bezieht sich die vorliegende Erfindung auf eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Prüfen einer elektronischen Vorrichtung durch Zuführen eines mit Zittern versehenen Eingangssignals zu der elektronischen Vorrichtung.The The present invention relates to a device and a Method of testing an electronic device. In particular, the The present invention relates to an apparatus and a method for the Check an electronic device by supplying a trembling Input signal to the electronic device.

HINTERGRUND DER ERFINDUNGBACKGROUND THE INVENTION

Eine Zitterprüfung ist eine von sehr wichtigen Prüfungen mit Bezug auf eine serielle Kommunikationsvorrichtung oder serielle Ein-/Ausgabevorrichtung. Beispielsweise spezifiziert die Empfehlung der International Telecommunication Union, Bellcore oder dergleichen die Messung der Zittertoleranz, die Zitter erzeugung und die Zitterübertragungsfunktion. Insbesondere ist die Zittertoleranzprüfung wichtig, da diese Prüfung es ermöglicht, die Verhaltensgrenze einer Vorrichtung zu dem zu einem Übertragungsmedium hinzugefügten Zittern zu bewerten. Hier besteht die Messung der Zittertoleranz in der Messung der Größe des einem Eingangssignal hinzugefügten Zitterns, durch das ein Bitfehler in einer Vorrichtung aufzutreten beginnt, wobei die Größe des zugeführten Zitterns geändert wird.A jitter test is one of very important exams with respect to a serial communication device or serial Input / output device. For example, the recommendation specifies the International Telecommunication Union, Bellcore or the like the measurement of the jitter tolerance, the jitter generation and the jitter transfer function. Especially is the dither tolerance test important as this exam allows, the behavioral limit of a device to that to a transmission medium added To evaluate tremors. Here is the measurement of the jitter tolerance in the measurement of the size of one Input signal added Trembling, by which a bit error occurs in a device starts, with the size of the supplied trembling changed becomes.

1 zeigt die herkömmliche Messung der Zittertoleranz. Bei der herkömmlichen Messung der Zittertoleranz wird zufälliges Zittern zu einem in 1A gezeigten Eingangssignal hinzugefügt, indem in 1B gezeigtes weißes Rauschen und das Eingangssignal überlappt werden. 1C zeigt das Eingangssignal, dem das Zufallszittern hinzugefügt wurde. Das Eingangssignal, dem das Zufallszittern hinzugefügt wurde, wird so zu einer elektronischen Vorrichtung geliefert, dass gemessen wird, ob ein Bitfehler in der elektronischen Vorrichtung auftritt oder nicht. 1 shows the conventional measurement of the jitter tolerance. In the conventional measurement of the jitter tolerance, random jitter becomes one in 1A added input signal shown in 1B white noise and the input signal are overlapped. 1C shows the input signal to which the random jitter has been added. The input signal to which the random jitter has been added is supplied to an electronic device so as to measure whether or not a bit error occurs in the electronic device.

2 zeigt die Konfiguration einer herkömmlichen Vorrichtung 200 zum Hinzufügen von Zittern zu einem Eingangssignal. Das durch einen Mustergenerator 202 erzeugte Eingangssignal wird durch eine Quelle 206 für sinusförmiges Zittern mit sinusförmigem Zittern versehen, und weiterhin wird deterministisches Zittern und Zufallszittern durch eine Quelle 208 für deterministisches Zittern und eine Quelle für Zufallszittern hinzugefügt. Zu dieser Zeit wird die zu dem Eingangssignal hinzuzufügende Zittergröße eingestellt entsprechend den Größen des Zufallszitterns und des sinusförmigen Zitterns. Dann wird das Eingangssignal durch einen begrenzenden Verstärker 214 verstärkt und ausgegeben, nachdem die Amplitudenkomponenten hiervon, die größer als oder gleich einem vorbestimmten Wert und kleiner als oder gleich einem anderen vorbestimmten Wert sind, begrenzt wurden. 2 shows the configuration of a conventional device 200 for adding jitter to an input signal. That through a pattern generator 202 generated input signal is through a source 206 for sinusoidal trembling with sinusoidal tremor, and further, deterministic trembling and random trembling by a source 208 for deterministic tremors and a source of random tremors added. At this time, the jitter amount to be added to the input signal is set according to the sizes of the random jitter and the sinusoidal jitter. Then the input signal is through a limiting amplifier 214 amplified and output after the amplitude components thereof, which are greater than or equal to a predetermined value and less than or equal to another predetermined value, have been limited.

3 zeigt das Verhalten des begrenzenden Verstärkers 214 der begrenzende Verstärker 214 erhält das in 3A gezeigte Eingangssignal. Das Eingangssignal hat Amplitudenveränderungskomponenten, da ihm das Zufallszittern zugeführt wurde. 3 shows the behavior of the limiting amplifier 214 the limiting amplifier 214 receives that in 3A shown input signal. The input signal has amplitude variation components because it has been given random jitter.

Obgleich der begrenzende Verstärker 214 die Amplitudenveränderungskomponenten herabsetzt, indem er die Amplitudenkomponenten, die größer als oder gleich einem ersten Schwellenwert sind, und die Amplitudenkomponenten, die kleiner als oder gleich einem zweiten Schwellenwert sind, aus den Amplitudenkomponenten des Eingangssignals eliminiert, wie in 3B gezeigt ist, können die Amplitudenveränderungskomponenten, die innerhalb eines Bereichs, der kleiner als der erste Schwellenwert und größer als der zweite Schwellenwert ist, nicht eliminiert werden. Um die Zittertoleranz einer elektronischen Vorrichtung zu messen, ist es erforderlich, ein Eingangssignal ohne jegliche Amplitudenveränderungskomponente, wie das in 3C gezeigte Eingangssignal zu der elektronischen Vorrichtung zu liefern und einen Bitfehler zu erfassen, der durch nur die Zitterkomponenten in der Amplitudenrichtung bewirkt wird, aber der durch die Amplitudenveränderungskomponenten bewirkte Bitfehler wird zwangsläufig in der herkömmlichen Vorrichtung 200 erfasst, da die Amplitudenveränderungskomponenten in dem Eingangssignal verbleiben, wie in 3B gezeigt ist. Demgemäß wird die Zittertoleranz der elektronischen Vorrichtung als zu klein bewertet. Zusätzlich sind, da die herkömmliche Vorrichtung 200 zum Hinzu fügen von Zittern drei Zitterquellen hat, d.h. die Quelle 206 für sinusförmiges Zittern, die Quelle 208 für deterministisches Zittern und die Quelle 212 für Zufallszittern, die Herstellungskosten groß.Although the limiting amplifier 214 reducing the amplitude variation components by eliminating the amplitude components greater than or equal to a first threshold and the amplitude components less than or equal to a second threshold from the amplitude components of the input signal, as in 3B As shown, the amplitude variation components that are within a range that is smaller than the first threshold and greater than the second threshold, can not be eliminated. In order to measure the jitter tolerance of an electronic device, it is necessary to provide an input signal without any amplitude variation component such as that in FIG 3C and to detect a bit error caused by only the dither components in the amplitude direction, but the bit error caused by the amplitude variation components becomes inevitable in the conventional device 200 since the amplitude variation components remain in the input signal as in FIG 3B is shown. Accordingly, the jitter tolerance of the electronic device is judged to be too small. In addition, since the conventional device 200 to add trembling has three dithering sources, ie the source 206 for sinusoidal tremors, the source 208 for deterministic tremors and the source 212 for random tremors, the manufacturing cost is large.

Es ist daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Prüfvorrichtung und ein Prüfverfahren vorzusehen, die in der Lage sind, die vorgenannten, den Stand der Technik begleitenden Nachteile zu überwinden. Die obige und andere Aufgaben können durch in den unabhängigen Ansprüchen beschriebene Kombinationen gelöst werden. Die abhängigen Ansprüche definieren weitere vorteilhafte und beispielhafte Kombinationen der vorliegenden Erfindung.It Therefore, the object of the present invention is a testing device and a test method be able to provide the abovementioned, the state of Technology concomitant disadvantages overcome. The above and others Tasks can through in the independent ones claims solved combinations described become. Define the dependent claims further advantageous and exemplary combinations of the present Invention.

BESCHREIBUNG DER ERFINDUNGDESCRIPTION THE INVENTION

Gemäß dem ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung enthält eine Prüfvorrichtung zum Prüfen einer elektronischen Vorrichtung: eine Hinzufügungsvorrichtung für deterministisches Zittern zum Hinzufügen von deterministischen Zittern zu einem gegebenen Eingangssignal ohne das Auftreten jeglicher Amplitudenveränderungskomponente, und zum Zuführen des mit dem deterministischen Zittern versehenen Eingangssignals zu der elektronischen Vorrichtung, eine Zittergrößen-Steuervorrichtung zum Steuern der Größe des von der Hinzufügungsvorrichtung für deterministisches Zittern hinzuzufügenden deterministischen Zittern, und eine Beurteilungsvorrichtung zum Beurteilen der Qualität der elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage eines von der elektronischen Vorrichtung als Antwort auf das Eingangssignal ausgegebenen Ausgangssignals.According to the first aspect of the present invention, a test apparatus for testing includes ei An electronic device includes deterministic jitter adding means for adding deterministic jitter to a given input signal without the occurrence of any amplitude variation component, and for supplying the deterministic jittered input signal to the electronic device, a jitter size control device for controlling the size of the input signal Deterministic jitter adding means for deterministic jitter, and judging means for judging the quality of the electronic apparatus based on an output signal output from the electronic apparatus in response to the input signal.

Die Hinzufügungsvorrichtung für deterministisches Zitterns kann ein Filter erster Ordnung enthalten, das das deterministische Zittern hinzufügt, wenn das Eingangssignal durch das Filter erster Ordnung hindurchgeht.The Adding device for deterministic Trembling may include a first-order filter that is the deterministic one Adding tremors, when the input signal passes through the first order filter.

Die Hinzufügungsvorrichtung für deterministisches Zittern kann ein Kabel enthalten, das das deterministische Zittern hinzufügt, wenn das Eingangssignal durch das Kabel hindurchgeht.The Adding device for deterministic Trembling may include a cable that causes the deterministic tremor adds when the input signal passes through the cable.

Die Prüfvorrichtung kann weiterhin eine Hinzufügungsvorrichtung für sinusförmiges Zittern zum Hinzufügen von sinusförmigem Zittern zu dem Eingangssignal enthalten.The Tester can still be an addition device for sinusoidal tremor to add of sinusoidal Trembling to the input signal included.

Die Hinzufügungsvorrichtung für sinusförmiges Zittern kann das sinusförmige Zittern mehrerer Frequenzkomponenten zu dem Eingangssignal hinzufügen.The Adding device for sinusoidal tremor can be sinusoidal Add trembling of several frequency components to the input signal.

Gemäß dem zweiten Aspekt der vorliegenden Erfindung enthält ein Prüfverfahren zum Prüfen einer elektronischen Vorrichtung: einen Hinzufügungsschritt für deterministisches Zittern zum Hinzufügen von deterministischem Zittern zu einem gegebenen Eingangssignal ohne das Auftreten jeglicher Amplitudenveränderungskomponente und zum Zuführen des mit dem deterministischen Zittern versehenen Eingangssignals zu der elektronischen Vorrichtung, einen Zittergrößen-Steuerschritt zum Steuern der Größe des deterministischen Zitterns, das in dem Hinzufügungsschritt für deterministisches Zittern hinzuzufügen ist, und einen Beurteilungsschritt zum Beurteilen der Qualität der elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage eines Ausgangssignals, das von der elektronischen Vorrichtung als Antwort auf das Eingangssignal ausgegeben wurde.According to the second Aspect of the present invention includes a test method for testing a electronic device: an adding step for deterministic Trembling to add from deterministic jitter to a given input signal without the occurrence of any amplitude change component and Respectively of the deterministic jittered input signal to the electronic device, a jitter size control step for Controlling the size of the deterministic Trembling, in the adding step for deterministic To add trembling is, and a judging step for judging the quality of electronic Device based on an output signal generated by the output electronic device in response to the input signal has been.

Das deterministische Zittern kann hinzugefügt werden durch Verwendung eines Filters erster Ordnung, durch das das Eingangssignal in dem Hinzufügungsschritt für deterministisches Zittern hindurchgeht.The deterministic tremors can be added by use a first order filter through which the input signal in the Adding step for deterministic Trembling passes.

Das deterministische Zittern kann hinzugefügt werden durch Verwendung eines Kabels, durch das das Eingangssignal in dem Hinzufügungsschritt für deterministisches Zittern hindurchgeht.The deterministic tremors can be added by use a cable through which the input signal in the adding deterministic step Trembling passes.

Das Prüfverfahren kann weiterhin einen Hinzufügungsschritt für sinusförmiges Zittern zum Hinzufügen von sinusförmigem Zittern zu dem Eingangssignal enthalten.The test methods can continue an addition step for sinusoidal tremor to add of sinusoidal Trembling to the input signal included.

Das sinusförmige Zittern von mehreren Frequenzkomponenten kann in dem Hinzufügungsschritt für sinusförmiges Zittern hinzugefügt werden.The sinusoidal Trembling of multiple frequency components may occur in the adding step for sinusoidal tremor added become.

Die Zusammenfassung der Erfindung beschreibt nicht notwendigerweise alle erforderlichen Merkmale der vorliegenden Erfindung. Die vorliegende Erfindung kann auch eine Unterkombination der vorstehend beschriebenen Merkmale sein. Die obigen und andere Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden augenscheinlicher anhand der folgenden Beschreibung der Ausführungsbeispiele, die in Verbindung mit begleitenden Zeichnungen gegeben wird.The Summary of the invention does not necessarily describe all required features of the present invention. The present The invention may also be a sub-combination of those described above Be features. The above and other features and advantages of the present The invention will become more apparent from the following description of the embodiments, the in conjunction with accompanying drawings.

KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGENSUMMARY THE DRAWINGS

1 zeigt die herkömmliche Messung der Zittertoleranz. 1 shows the conventional measurement of the jitter tolerance.

2 zeigt die Konfiguration einer herkömmlichen Vorrichtung 200 zum Hinzufügen von Zittern zu einem Eingangssignal. 2 shows the configuration of a conventional device 200 for adding jitter to an input signal.

3 zeigt das Verhalten eines begrenzenden Verstärkers 214. 3A zeigt ein Eingangssignal, 3B zeigt ein durch einen begrenzenden Verstärker 214 ausgegebenes Signal und 3C zeigt ein Eingangssignal ohne eine Amplitudenveränderungskomponente. 3 shows the behavior of a limiting amplifier 214 , 3A shows an input signal, 3B shows a through a limiting amplifier 214 output signal and 3C shows an input signal without an amplitude variation component.

4 zeigt ein Beispiel für die Konfiguration einer Prüfvorrichtung 100 gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. 4 shows an example of the configuration of a tester 100 according to an embodiment of the present invention.

5 zeigt ein Beispiel der Sprungcharakteristik eines Filters. 5A zeigt die Sprungcharakteristik eines Filters erster Ordnung und die 5B zeigt die Sprungcharakteristik eines Filters zweiter Ordnung. 5 shows an example of the jump characteristic of a filter. 5A shows the jump characteristic of a first order filter and the 5B shows the jump characteristic of a second-order filter.

6 zeigt ein Beispiel für das Spektrum eines Eingangssignals, das durch ein Kabel übertragen wird. 6 shows an example of the spectrum of an input signal transmitted through a cable.

7 ist ein Flussdiagramm, das ein Beispiel für ein Verfahren zum Prüfen einer elektronischen Vorrichtung 10 zeigt. 7 FIG. 10 is a flowchart illustrating an example of a method of checking an electronic device. FIG 10 shows.

8 zeigt ein anderes Beispiel für die Konfiguration einer Prüfvorrichtung 100. 8th shows another example of the Kon figuration of a test device 100 ,

9 ist ein Flussdiagramm, das ein anderes Beispiel für ein Verfahren zum Prüfen einer elektronischen Vorrichtung 10 zeigt. 9 FIG. 10 is a flowchart illustrating another example of a method for checking an electronic device. FIG 10 shows.

BESTE ART DER AUSFÜHRUNG DER ERFINDUNGBEST WAY OF THE EXECUTION OF INVENTION

Die Erfindung wird nun auf der Grundlage der bevorzugten Ausführungsbeispiele beschrieben, die den Bereich der vorliegenden Erfindung begrenzen, sondern die Erfindung veranschaulichen sollen. Alle Merkmale und die Kombinationen hiervon, die in dem Ausführungsbeispiel beschrieben werden, sind nicht notwendigerweise wesentlich für die Erfindung.The Invention will now be based on the preferred embodiments described, which limit the scope of the present invention, but are intended to illustrate the invention. All features and the combinations thereof described in the embodiment are not necessarily essential to the invention.

4 zeigt ein Beispiel für die Konfiguration einer. Prüfvorrichtung 100 gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Die Prüfvorrichtung 100, die eine Vorrichtung zum Prüfen der Zittertoleranz einer elektronischen Vorrichtung 10 ist, enthält einen Mustergenerator 102, eine Hinzufügungsvorrichtung 104 für deterministisches Zittern, eine Zittergrößen-Steuervorrichtung 106 und eine Beurteilungsvorrichtung 108. Die elektronische Vorrichtung 10 ist beispielsweise eine serielle Kommunikationsvorrichtung oder serielle Ein-/Ausgabevorrichtung. Zusätzlich ist die elektronische Vorrichtung 10 nicht auf diese Vorrichtung beschränkt. Beispielsweise kann eine elektrische Schaltung oder ein eine elektrische Schaltung enthaltendes System sein. 4 shows an example of the configuration of a. Tester 100 according to an embodiment of the present invention. The tester 100 , which is a device for checking the jitter tolerance of an electronic device 10 is contains a pattern generator 102 , an addition device 104 for deterministic jitter, a jitter size control device 106 and a judging device 108 , The electronic device 10 is for example a serial communication device or serial input / output device. In addition, the electronic device 10 not limited to this device. By way of example, it may be an electrical circuit or a system containing an electrical circuit.

Der Mustergenerator 102 erzeugt ein zu der elektronischen Vorrichtung 10 zu lieferndes Eingangssignal. Die Hinzufügungsvorrichtung 104 für deterministisches Zitterns empfängt das von dem Mustergenerator 102 erzeugte Eingangssignal und fügt diesem deterministisches Zittern hinzu, ohne dass irgendeine Amplitudenveränderungskomponente in dem Eingangssignal auftritt. Das deterministische Zittern ist beispielsweise abhängig von einem Signalmuster des Eingangssignals.The pattern generator 102 generates a to the electronic device 10 to be supplied input signal. The addition device 104 for deterministic jitter, this is received by the pattern generator 102 generates input signal and adds deterministic jitter to it without any amplitude change component occurring in the input signal. The deterministic jitter, for example, depends on a signal pattern of the input signal.

Die Hinzufügungsvorrichtung 104 für deterministisches Zittern kann beispielsweise ein Filter erster Ordnung sein, das das deterministische Zittern zu dem Eingangssignal hinzufügt, wenn das Eingangssignal durch es hindurchgeht. Das Filter erster Ordnung ist beispielsweise ein RC-Filter. In diesem Fall ist es bevorzugt, dass die Widerstandskomponente und die Kapazitätskomponente des Filters erster Ordnung veränderbar sein können.The addition device 104 for deterministic jitter, for example, there may be a first-order filter that adds the deterministic jitter to the input signal as the input signal passes through it. The first-order filter is, for example, an RC filter. In this case, it is preferable that the resistance component and the capacitance component of the first-order filter may be changeable.

Zusätzlich kann die Hinzufügungsvorrichtung 104 für deterministisches Zittern ein Kabel enthalten, das das deterministische Zittern hinzufügt, wenn das Eingangssignal durch es hindurchgeht. In diesem Fall enthält die Hinzufügungsvorrichtung 104 für deterministisches Zittern vorzugsweise mehrere parallel angeordnete Kabel, deren Längen untereinander unterschiedlich sind.In addition, the addition device 104 for deterministic jitter, include a cable that adds the deterministic jitter as the input signal passes through it. In this case, the adding device contains 104 for deterministic jitter preferably a plurality of cables arranged in parallel, the lengths of which are different from each other.

Die Zittergrößen-Steuervorrichtung 106 steuert die Größe des von der Hinzufügungsvorrichtung 104 für deterministisches Zittern hinzuzufügenden deterministischen Zitterns. Wenn beispielsweise die Hinzufügungsvorrichtung 104 für deterministisches Zittern das deterministische Zittern durch Verwendung des Filters erster Ordnung hinzufügt, steuert die Zittergrößen-Steuervorrichtung 106 die Größe des hinzuzufügenden deterministischen Zitterns durch Steuern der Größen der Widerstandskomponente und der Kapazitätskomponente des Filters erster Ordnung.The dither-size control device 106 Controls the size of the add-on device 104 deterministic trembling to be added for deterministic trembling. For example, if the addition device 104 for deterministic jitter, adding the deterministic jitter by using the first order filter controls the jitter size controller 106 the size of the deterministic jitter to be added by controlling the magnitudes of the resistance component and the capacitance component of the first-order filter.

Zusätzlich steuert, wenn die Hinzufügungsvorrichtung 104 für deterministisches Zittern mehrere Kabel hat, die Zittergrößen-Steuervorrichtung 106 die Größe des hinzuzufügenden deterministischen Zitterns durch Bestimmung desjenigen der Kabel, durch das das Ein gangssignal hindurchgeht.Additionally controls if the adding device 104 for deterministic jitter has multiple cables, the jitter size control device 106 the magnitude of the deterministic jitter to be added by determining that of the cables through which the input signal passes.

Die Beurteilungsvorrichtung 108 erfasst einen Bitfehler des Ausgangssignals als Antwort auf das Eingangssignal. Zu dieser Zeit erfasst die Beurteilungsvorrichtung 108 den Bitfehler des Ausgangssignals durch Empfang eines erwarteten Wertes, der mit dem Ausgangssignal zu vergleichen ist, von dem Mustergenerator 102 und Vergleichen des Ausgangssignals und des erwarteten Wertes mit Bezug auf Bits von diesem. Indem die Erfassung des Bitfehlers wie vorstehend für jede Größe des hinzugefügten deterministischen Zitterns durchgeführt wird, kann die Zittertoleranz der elektronischen Vorrichtung 10 gemessen werden. Mit anderen Worten, die Zittergrößen-Steuervorrichtung 106 ändert die Größe des deterministischen Zitterns allmählich, und dann erfasst die Beurteilungsvorrichtung 108 den Bitfehler des Ausgangssignals für jede Größe des von der Zittergrößen-Steuervorrichtung 106 geänderten deterministischen Zitterns. Durch Vergleich des Spezifikationswertes der Zittertoleranz der elektronischen Vorrichtung 10 mit der gemessenen Zittertoleranz kann die Qualität der elektronischen Vorrichtung 10 beurteilt werden.The judging device 108 detects a bit error of the output signal in response to the input signal. At this time, the judging device detects 108 the bit error of the output signal by receiving an expected value to be compared with the output signal from the pattern generator 102 and comparing the output signal and the expected value with respect to bits thereof. By performing the detection of the bit error as above for each size of the added deterministic jitter, the jitter tolerance of the electronic device 10 be measured. In other words, the jitter size control device 106 The magnitude of the deterministic jitter gradually changes, and then the judging device detects 108 the bit error of the output signal for each size of the jitter size control device 106 changed deterministic trembling. By comparing the specification value of the jitter tolerance of the electronic device 10 with the measured jitter tolerance can improve the quality of the electronic device 10 be assessed.

Zusätzlich kann die Prüfvorrichtung 100 die Messung nur nahe des Spezifikationswertes der Zittertoleranz der elektronischen Vorrichtung 10 durchführen.In addition, the tester 100 the measurement only close to the specification value of the jitter tolerance of the electronic device 10 carry out.

5 zeigt ein Beispiel für die Sprungcharakteristik eines Filters. 5A zeigt die Sprungcharakteristik eines Filters erster Ordnung, und 5B zeigt die Sprungcharakteristik eines Filters zweiter Ordnung. Wenn die Hinzufügungsvorrichtung 104 für deterministisches Zittern das deterministische Zittern durch Verwendung eines Filters erster Ordnung hinzu fügt, ist die Sprungcharakteristik des Filters erster Ordnung wie in 5A gezeigt. Da die Sprungcharakteristik des Filters erster Ordnung, wie in 5A gezeigt ist, glatt ansteigend ist, tritt die Amplitudenveränderung, wie in Beziehung zu 3 beschrieben ist, nicht auf. Wenn demgemäß das deterministische Zittern durch Verwendung eines Filters erster Ordnung hinzugefügt wird, ist es möglich, den nur durch das Zittern bewirkten Bitfehler zu erfassen, ohne den durch die Amplitudenveränderung bewirkten Bitfehler zu erfassen. 5 shows an example of the jump characteristic of a filter. 5A shows the jump characteristic of a first order filter, and 5B shows the jump characteristic of a second-order filter. If the addition device 104 for deterministic trembling the deterministic trembling by adding a first order filter, the jump characteristic of the first order filter is as in 5A shown. Since the jump characteristic of the first order filter, as in 5A is shown as smoothly ascending, the amplitude change occurs as related to 3 is not described. Accordingly, when the deterministic jitter is added by using a first-order filter, it is possible to detect the bit error caused only by the jitter without detecting the bit error caused by the amplitude change.

Wenn demgegenüber das deterministische Zittern durch Verwendung eines Filters zweiter Ordnung zu dem Eingangssignal hinzugefügt wird, tritt zwangsläufig eine Amplitudenveränderung auf, wie mit Bezug auf 3 beschrieben ist, da die Sprungcharakteristik des Filters zweiter Ordnung wie in 5B gezeigt ist. Daher wird der durch die Amplitudenveränderung bewirkte Bitfehler erfasst, so dass die Zittertoleranz der elektronischen Vorrichtung 10 nicht mit hoher Genauigkeit gemessen werden kann. Die Prüfvorrichtung 100 gemäß der vorliegenden Erfindung fügt das deterministische Zittern durch Verwendung eines Filters erster Ordnung hinzu, so dass sie die Zittertoleranz der elektronischen Vorrichtung 10 mit hoher Genauigkeit erfassen kann.On the other hand, if the deterministic jitter is added to the input signal by using a second-order filter, an amplitude change inevitably occurs as with reference to FIG 3 is described, since the jump characteristic of the second-order filter as in 5B is shown. Therefore, the bit error caused by the amplitude change is detected, so that the jitter tolerance of the electronic device 10 can not be measured with high accuracy. The tester 100 According to the present invention, the deterministic jitter is added by using a first-order filter so that it satisfies the jitter tolerance of the electronic device 10 can capture with high accuracy.

Zusätzlich ist es im Fall der Prüfung der Zittertoleranz aus einer Schleifenbandbreite einer Taktwiedergewinnungsschaltung wie einer PLL-Schaltung, die in der elektronischen Vorrichtung 10 enthalten ist, heraus erforderlich, das Zittern mit den Frequenzkomponenten der höheren Grenzfrequenz als der des Schleifenfilters der Taktwiedergewinnungsschaltung zu dem Eingangssignal hinzuzufügen. Beispielsweise ermög licht es die Verwendung eines Kabels, obgleich die Grenzfrequenz eines in einer Taktwiedergewinnungsschaltung einer Kommunikationsvorrichtung von 2,5 Gbps verwendeten Schleifenfilters mehr als oder gleich 1 MHz ist, Zittern mit den Frequenzkomponenten einer Grenzfrequenz, die genügend höher als diese ist, hinzuzufügen.In addition, in the case of checking the jitter tolerance, it is a loop bandwidth of a clock recovery circuit such as a PLL circuit included in the electronic device 10 It is necessary to add the jitter with the frequency components of the higher cutoff frequency than that of the loop filter to the clock recovery circuit to the input signal. For example, although the cutoff frequency of a loop filter used in a clock recovery circuit of a 2.5 Gbps communication device is more than or equal to 1 MHz, it allows the use of a cable to add jitter to the frequency components of a cutoff frequency sufficiently higher than this.

6 zeigt ein Beispiel für das Seitenbandspektrum eines durch ein Kabel übertragenen Eingangssignals. Bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel beträgt die Trägerfrequenz des Eingangssignals 2,5 Gbps, und das Kabel ist 20 Meter lang. Wie in 6 gezeigt ist, tritt, indem die Übertragung durch das Kabel durchgeführt wird, ein breites Seitenband von angenähert 200 MHz für eine Seite nahe der Trägerfrequenz in dem Spektrum des Eingangssignals auf. Mit anderen Worten, das zu dem Eingangssignal hinzugefügte deterministische Zittern hat die Frequenzkomponenten von angenähert 200 MHz, so dass es die Frequenzkomponenten der Grenzfrequenz hat, die ausreichend höher als die des Schleifenfilters ist. 6 shows an example of the sideband spectrum of an input signal transmitted through a cable. In the present embodiment, the carrier frequency of the input signal is 2.5 Gbps, and the cable is 20 meters long. As in 6 As shown, by performing the transmission through the cable, a broad sideband of approximately 200 MHz for one side occurs near the carrier frequency in the spectrum of the input signal. In other words, the deterministic jitter added to the input signal has the frequency components of approximately 200 MHz, so that it has the frequency components of the cutoff frequency sufficiently higher than that of the loop filter.

7 ist ein Flussdiagramm, das ein Beispiel für ein Verfahren zum Prüfen der elektronischen Vorrichtung 10 zeigt. Das Prüfverfahren kann unter Verwendung der in Beziehung zu 4 gezeigten Prüfvorrichtung 100 durchgeführt werden. 7 FIG. 10 is a flowchart illustrating an example of a method of checking the electronic device. FIG 10 shows. The test method can be used in conjunction with 4 shown tester 100 be performed.

Zuerst wird in einem Hinzufügungsschritt S302 für deterministisches Zittern das deterministische Zittern zu dem Eingangssignal hinzugefügt. Im Schritt S302 wird das deterministische Zittern zu dem Eingangssignal hinzugefügt unter Verwendung der Hinzufügungsvorrichtung 104 für deterministisches Zittern, ohne dass irgendeine Amplitudenveränderungskomponente auftritt.First, in a deterministic jitter adding step S302, the deterministic jitter is added to the input signal. In step S302, the deterministic jitter is added to the input signal using the adding device 104 for deterministic jitter without any amplitude change component occurring.

Zu dieser Zeit wird die Größe des hinzuzufügenden deterministischen Zitterns durch die Zittergrößen-Steuervorrichtung 106 in einem Zittergrößen-Steuerschritt S304 gesteuert. In einem Beurteilungsschritt S306 beurteilt die elektronische Vorrichtung die Qualität der elektronischen Vorrichtung 10 auf der Grundlage des Ausgangssignals als Antwort auf das Eingangssignal.At this time, the magnitude of the deterministic jitter to be added by the jitter size control device becomes 106 in a jitter size control step S304. In a judging step S306, the electronic device judges the quality of the electronic device 10 based on the output signal in response to the input signal.

8 zeigt ein anderes Beispiel der Konfiguration der Prüfvorrichtung 100. Die Prüfvorrichtung 100 gemäß dem vorliegenden Beispiel enthält weiterhin eine Hinzufügungsvorrichtung 110 für sinusförmiges Zittern zusätzlich zu der mit Beziehung auf 4 beschriebenen Prüfvorrichtung 100. Die Elemente in 8, denen dieselben Bezugszeichen wie in 4 gegeben sind, haben dieselbe Konfiguration und Funktion wie diejenigen der mit Bezug auf 4 beschriebenen Elemente. 8th shows another example of the configuration of the test apparatus 100 , The tester 100 according to the present example further includes an adding device 110 for sinusoidal tremor in addition to the related 4 described test device 100 , The elements in 8th , the same reference numerals as in 4 are given the same configuration and function as those of reference to 4 described elements.

Die Hinzufügungsvorrichtung 110 für sinusförmiges Zittern fügt das sinusförmige Zittern zu dem von dem Mustergenerator 102 erzeugten Eingangssignal hinzu. Beispielsweise fügt die Hinzufügungsvorrichtung 110 für sinusförmiges Zittern das sinusförmige Zittern hinzu, indem die Phasenveränderung des für die Erzeugung des Eingangssignals verwendeten Takts durch den Mustergenerator 102 unter Verwendung einer Sinuswelle durchgeführt wird. Zu dieser Zeit kann die Hinzufügungsvorrichtung 110 für sinusförmiges Zittern das sinusförmige Zittern einer einzelnen Frequenzkomponente hinzufügen oder sie kann das sinusförmige Zittern mehrerer Frequenzkomponenten hinzufügen.The addition device 110 for sinusoidal jitter, the sinusoidal jitter adds to that from the pattern generator 102 added input signal. For example, the addition device adds 110 for sinusoidal jitter, adding the sinusoidal jitter by the phase change of the clock used for generating the input signal by the pattern generator 102 is performed using a sine wave. At this time, the addition device 110 for sinusoidal jitter, add the sinusoidal jitter of a single frequency component, or it can add the sinusoidal jitter of multiple frequency components.

Bei der Prüfvorrichtung 100 nach der vorliegenden Erfindung ist es möglich, das Zittern mit vorbestimmter Größe zu dem Eingangssignal hinzuzufügen.At the test device 100 According to the present invention, it is possible to add the predetermined amount of jitter to the input signal.

9 ist ein Flussdiagramm, das ein anderes Beispiel für ein Verfahren zum Prüfen der elektronischen Vorrichtung 10 zeigt. Das Prüfverfahren nach dem vorliegenden Beispiel enthält weiterhin einen Hinzufügungsschritt S308 für sinusförmiges Zittern zu dem mit Bezug auf 7 beschriebenen Prüfverfahren. In dem Hinzufügungsschritt S308 für sinusförmiges Zittern wird das sinusförmige Zittern zu dem Eingangssignal hinzugefügt unter Verwendung der Hinzufügungsvorrichtung 110 für sinusförmiges Zittern, wie mit Bezug auf 8 beschrieben ist. Die Schritte S302 bis S306 werden durchgeführt, um die Qualität der elektronischen Vorrichtung 10 zu beurteilen. 9 FIG. 10 is a flowchart illustrating another example of a method of checking the electronic device. FIG 10 shows. The test method of the present example further includes an addition step S308 of sinusoidal citation with respect to 7 described test method. In the sinusoidal jitter adding step S308, the sinusoidal jitter is added to the input signal by using the adding device 110 for sinusoidal tremors, as related to 8th is described. Steps S302 to S306 are performed to check the quality of the electronic device 10 to judge.

Zusätzlich kann, obgleich die elektronische Vorrichtung 10 mit einem einzelnen Eingang und einem einzelnen Ausgang mit Bezug auf die 4 bis 9 beschrieben wurde, wenn die elektronische Vorrichtung 10 eine Vorrichtung mit mehreren Eingängen und mehreren Ausgängen ist, die Prüfvorrichtung 100 entsprechend den mehreren Eingängen und Ausgängen jeweils mehrere Mustergeneratoren 102, Hinzufügungsvorrichtungen 104 für deterministisches Zittern, Zittergrößen-Steuervorrichtungen 106, Hinzufügungsvorrichtungen 110 für sinusförmiges Zittern und die Beurteilungsvorrichtung 108 enthalten.In addition, although the electronic device 10 with a single input and a single output with respect to the 4 to 9 has been described when the electronic device 10 a device with multiple inputs and multiple outputs is the test device 100 in each case several pattern generators corresponding to the multiple inputs and outputs 102 , Adding devices 104 for deterministic jitter, jitter size control devices 106 , Adding devices 110 for sinusoidal jitter and the judging device 108 contain.

Wie aus der vorstehenden Beschreibung ersichtlich ist, ist es gemäß der vorliegenden Erfindung möglich, die Zittertoleranz der elektronischen Vorrichtung mit hoher Genauigkeit zu prüfen.As From the above description, it is according to the present Invention possible, the jitter tolerance of the electronic device with high accuracy to consider.

Claims (10)

Prüfvorrichtung zum Prüfen einer elektronischen Vorrichtung, welche aufweist: eine Hinzufügungsvorrichtung für deterministisches Zittern zum Hinzufügen von deterministischem Zittern zu einem gegebenen Eingangssignal, ohne dass jegliche Amplitudenveränderungskomponente auftritt und Zuführen des mit dem deterministischen Zittern versehenen Eingangssignals zu der elektronischen Vorrichtung; eine Zittergrößen-Steuervorrichtung zum Steuern der Größe des deterministischen Zitterns, das von der Hinzufügungsvorrichtung für deterministisches Zittern hinzuzufügen ist; und eine Beurteilungsvorrichtung zum Beurteilen der Qualität der elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage eines von der elektronischen Vorrichtung als Antwort auf das Eingangsignal ausgegebenen Ausgangssignals.Tester for testing an electronic device comprising: an addition device for deterministic trembling to add from deterministic jitter to a given input signal, without any amplitude change component occurs and feeding of the deterministic jittered input signal to the electronic device; a jitter size control device to control the size of the deterministic Trembling, that of the adding device for deterministic To add trembling is; and a judging device for judging the quality of the electronic Device based on one of the electronic device as Response to the output signal output signal. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Hinzufügungsvorrichtung für deterministisches Zittern ein Filter erster Ordnung aufweist, das das deterministische Zittern hinzufügt, wenn das Eingangssignal durch das Filter erster Ordnung hindurchgeht.Tester according to claim 1, characterized in that the adding device for deterministic Trembling has a first-order filter that is the deterministic Adds tremors when the input signal passes through the first order filter. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Hinzufügungsvorrichtung für deterministisches Zittern ein Kabel aufweist, das das deterministische Zittern hinzufügt, wenn das Eingangssignal durch das Kabel hindurchgeht.Tester according to claim 1, characterized in that the adding device for deterministic Trembling has a cable that adds the deterministic jitter, if the input signal passes through the cable. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine Hinzufügungsvorrichtung für sinusförmiges Zittern zum Hinzufügen von sinusförmigem Zittern zu dem Eingangssignal.Tester according to claim 1, characterized by an adding device for sinusoidal tremor to add of sinusoidal Tremble to the input signal. Prüfvorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Hinzufügungsvorrichtung für sinusförmiges Zittern das sinusförmige Zittern von mehreren Frequenzkomponenten zu dem Eingangssignal hinzufügt.Tester according to claim 4, characterized in that the adding device for sinusoidal tremor the sinusoidal Adding jitter of multiple frequency components to the input signal. Prüfverfahren zum Prüfen einer elektronischen Vorrichtung, welches aufweist: einen Hinzufügungsschritt für deterministisches Zittern zum Hinzufügen von deterministischem Zittern zu einem gegebenen Eingangssignal, ohne dass irgendeine Amplitudenveränderungskomponente auftritt, und zum Zuführen des mit dem deterministischen Zittern versehenen Eingangssignals zu der elektronischen Vorrichtung; einen Zittergrößen-Steuerschritt zum Steuern der Größe des deterministischen Zitterns, das in dem Hinzufügungsschritt für deterministisches Zittern hinzuzufügen ist; und einen Beurteilungsschritt zum Beurteilen der Qualität der elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage eines von der elektronischen Vorrichtung als Antwort auf das Eingangssignal ausgegebenen Ausgangssignals.test methods for testing an electronic device comprising: an adding step for deterministic Trembling to add from deterministic jitter to a given input signal, without any amplitude change component occurring, and for feeding of the deterministic jittered input signal to the electronic device; a jitter size control step to control the size of the deterministic Trembling, in the adding step for deterministic To add trembling is; and a judging step for judging the quality of the electronic Device based on one of the electronic device in response to the input signal output signal. Prüfverfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass das deterministische Zittern durch Verwendung eines Filters erster Ordnung hinzugefügt wird, durch das das Eingangssignal in dem Hinzufügungsschritt für deterministisches Zittern hindurchgeht.test methods according to claim 6, characterized in that the deterministic Trembling is added by using a first-order filter by which the input signal in the deterministic adding step Trembling passes. Prüfverfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass das deterministische Zittern durch Verwendung eines Kabels hinzugefügt wird, durch das das Eingangssignal in dem Hinzufügungsschritt für deterministisches Zittern hindurchgeht.test methods according to claim 6, characterized in that the deterministic Trembling is added by using a cable through which the input signal in the adding step for deterministic Trembling passes. Prüfverfahren nach Anspruch 6, gekennzeichnet durch einen Hinzufügungsschritt für sinusförmiges Zittern zum Hinzfügen von sinusförmigem Zittern zu dem Eingangssignal.test methods according to claim 6, characterized by an adding step for sinusoidal tremor to add of sinusoidal Tremble to the input signal. Prüfverfahren nach Anspruch 9 dadurch gekennzeichnet, dass das sinusförmige Zittern mehrer Frequenzkomponenten in dem Hinzufügungsschritt für sinusförmiges Zittern hinzugefügt wird.test methods according to claim 9, characterized in that the sinusoidal tremors multiple frequency components in the sinusoidal jitter adding step added becomes.
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