DE10117363A1 - Verfahren zum Herstellen einer porösen Si0¶2¶-Scheibe - Google Patents
Verfahren zum Herstellen einer porösen Si0¶2¶-ScheibeInfo
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Abstract
Bei dem Verfahren zum Herstellen einer porösen SiO¶2¶-Scheibe wird eine poröse Siliziumscheibe aus Silizium mit einer Vielzahl von makroskopischen Poren, die sich zwischen der Scheibenoberseite und der Scheibenunterseite der Siliziumscheibe durch die Siliziumscheibe hindurch erstrecken und die einen makroskopischen Porendurchmesser aufweisen, oxidiert, so dass die poröse SiO¶2¶-Scheibe gebildet wird.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen einer
porösen SiO2-Scheibe (Siliziumdioxid-Scheibe).
Poröse SiO2-Scheiben kommen in einer Vielzahl von Anwendungen
zur Verwendung, zum Beispiel in der Molekularbiologie oder
als Kanalplatten (channel plates) für Restlichtverstärker
(Photomultiplier), wo sie als Elektronenvervielfacher wirken.
Eine poröse SiO2-Scheibe ist eine aus Siliziumdioxid
gefertigte flache Scheibe mit einer Vielzahl von Poren, die
sich zwischen der Scheibenoberseite und der
Scheibenunterseite durch die Scheibe hindurch erstrecken.
Damit die poröse SiO2-Scheibe an jeder Stelle bezogen auf
ihre Querschnittsfläche die gleiche Leistungsfähigkeit hat,
sollten die Poren möglichst regelmäßig angeordnet sein, und
jede Pore sollte möglichst den gleichen Durchmesser haben.
Bei einem herkömmlichen Verfahren zum Herstellen einer
porösen SiO2-Scheibe wird die SiO2-Scheibe aus einer Mehrzahl
von Glasröhren gefertigt, die gebündelt und miteinander
verschmolzen werden (z. B. [1]). Bei diesem Verfahren wird
eine Glasröhre aus einem ersten Glas mit einem Durchmesser
von ungefähr 50 mm mit einem Kern aus einem zweiten Glas
gefüllt. Die gefüllte Glasröhre wird erhitzt und in die Länge
gezogen, bis sie einen Durchmesser von ungefähr einem
Millimeter hat. Einige tausend solcher in die Länge gezogener
Glasröhren werden zu einem Röhrenbündel von ungefähr 50 mm
Durchmesser zusammengebündelt. Das Röhrenbündel wird erhitzt
und, so wie zuvor die einzelne Glasröhre, in die Länge
gezogen, bis das Röhrenbündel einen Durchmesser von ungefähr
einem Millimeter hat. Eine Mehrzahl von langgezogenen
Röhrenbündeln wird gebündelt und miteinander zu einem Rohling
verschmolzen. Die Anzahl der Röhrenbündel ist entsprechend
dem gewünschten Durchmesser des Rohlings gewählt. Der Rohling
wird in einzelne Scheiben (Wafer) geschnitten. Die einzelnen
Scheiben werden in ein geeignetes Ätzbad gelegt, so dass die
Kerne aus den Glasröhren herausgeätzt werden. Dadurch
entsteht eine poröse SiO2-Scheibe mit einer Vielzahl von
Poren, die sich parallel zueinander zwischen der
Scheibenoberseite und der Scheibenunterseite durch die
Scheibe hindurch erstrecken.
Kanalplatten aus nach diesem Verfahren hergestellten SiO2-
Scheiben haben typischerweise einen Durchmesser von 30 bis 40 mm,
jedoch sind auch SiO2-Scheiben mit einem Durchmesser von
120 mm herstellbar.
Der Grad der Regelmäßigkeit, mit der die Poren in einer gemäß
dem beschriebenen Verfahren hergestellten SiO2-Scheibe
angeordnet sind, entspricht dem Grad der Regelmäßigkeit, mit
der zuvor die Glasröhren bzw. Röhrenbündel gebündelt worden
sind. Entsprechend weisen die Poren nur eine Nahordnung,
jedoch keine Fernordnung auf.
Die in den Poren gelegenen inneren Oberflächen der SiO2-
Scheibe, durch welche die Poren begrenzt sind, sind aufgrund
des Ätzprozesses, mittels dessen sie hergestellt worden sind,
relativ rau.
Aus [2] ist ein Verfahren zum Herstellen von Lochöffnungen in
n-dotiertem Silizium durch elektrochemisches Ätzen bekannt.
Bei dem Verfahren wird, z. B. unter Verwendung einer
geeigneten Maske, ein Muster von oberflächlichen, nicht sehr
tiefen Ätzgruben in die Oberfläche des Siliziumsubstrats
geätzt. Anschließend wird ein Elektrolyseschritt
durchgeführt, bei dem das Siliziumsubstrat als eine der
beiden Elektroden dient. Hierzu werden das Siliziumsubstrat
und eine Referenzelektrode in ein Elektrolytbad gesetzt und
zwischen dem Siliziumsubstrat und der Referenzelektrode eine
geeignete Spannung angelegt. Durch die zwischen dem
Siliziumsubstrat und der Referenzelektrode stattfindende
Elektrolyse wird das dotierte Siliziumsubstrat zersetzt.
Dabei werden in dem Siliziumsubstrat Poren (Kanäle)
ausgebildet. Die Poren beginnen an den Ätzgruben zu wachsen
und breiten sich bei einer geeigneten Wahl des gegenseitigen
Abstands und des Durchmessers der Ätzgruben parallel
zueinander weiter aus. Der Grad der Regelmäßigkeit, mit der
die Poren angeordnet sind, ist durch die Regelmäßigkeit der
Anordnung der Ätzgruben bestimmt. Die Ätzgruben lassen sich
mittels Photolithographie hochgenau herstellen.
Aus [3] ist ein Verfahren zum Herstellen einer Kanalplatte
aus Silizium durch elektrochemisches Ätzen eines p-dotierten
Siliziumelements bekannt.
Weitere bekannte Verfahren zum Herstellen von Löchern, z. B.
Poren, in einem Substrat sind zum Beispiel isotropes und
anisotropes chemisches Ätzen sowie Plasmaätzen.
Aus [4] ist ein Verfahren bekannt, mit dem mittels
elektrochemischen Ätzens eines Siliziumsubstrats poröses
Silizium mit ungeordneten Poren vorbestimmbaren Durchmessers
herstellbar ist. Der Durchmesser der Poren und die Porosität
des porösen Substrats sind dabei durch eine geeignete Wahl
der Ätzparameter wie zum Beispiel der Zusammensetzung des
Ätzbades, des Ätzstroms und des zwischen dem Siliziumsubstrat
und der Gegenelektrode fließenden Ätzstroms (Anodisierstroms)
einstellbar. Unter der Porosität eines beliebigen Substrats
wird der Volumenanteil an Poren am Gesamtvolumen des
Substrats verstanden.
Aus [5] und [6] ist jeweils ein Verfahren bekannt, mittels
dessen sich ein poröses Siliziumsubstrat mittels thermischer
Oxidation in ein Oxid umformen lässt.
Der Erfindung liegt das Problem zugrunde, auf einfache und
effiziente Weise eine poröse SiO2-Scheibe (Siliziumdioxid-
Scheibe) mit geraden, wohlgeordneten Poren zu schaffen, deren
gegenseitige Anordnung eine Fernordnung aufweist.
Das Problem wird gelöst durch ein Verfahren mit den Merkmalen
gemäß dem unabhängigen Patentanspruch.
Geschaffen wird ein Verfahren zum Herstellen einer porösen
SiO2-Scheibe,
bei dem eine poröse Siliziumscheibe aus Silizium mit
einer Vielzahl von makroskopischen Poren, die sich zwischen
der Scheibenoberseite und der Scheibenunterseite der
Siliziumscheibe durch die Siliziumscheibe hindurch erstrecken
und die einen makroskopischen Porendurchmesser aufweisen,
oxidiert wird, so dass die poröse SiO2-Scheibe gebildet wird.
Die Siliziumscheibe mit den makroskopischen Poren ist gemäß
einem beliebigen Verfahren hergestellt, beispielsweise gemäß
einem der in der Beschreibung des Standes der Technik
genannten Verfahren.
Die makroskopischen Poren können beispielsweise durch
elektrochemisches Ätzen hergestellt sein. In diesem Fall
haben die makroskopischen Poren Innenwände mit einer sehr
glatten Oberfläche.
Die gemäß dem Verfahren aus der Siliziumscheibe hergestellte
SiO2-Scheibe hat makroskopische Poren, deren Innenwände sehr
glatte Oberflächen aufweisen. Die Oberflächen haben in etwa
die gleiche Glattheit wie die Oberflächen der Innenwände der
makroskopischen Poren der Siliziumscheibe.
Bei einer SiO2-Scheibe, die als Kanalplatte für einen
Elektronenvervielfacher verwendet wird, bewirkt die glatte
Oberfläche zum Beispiel, dass unerwünschte Streuung von
Elektronen an Rauigkeiten oder Unebenheiten auf der
Oberfläche an der Innenwand der makroskopischen Poren
vermieden oder zumindest stark verringert ist. Dadurch ist
die Leistungsfähigkeit der Kanalplatte erhöht.
Bei molekularbiologischen Anwendungen können die
makroskopischen Poren beispielsweise als Kapillaren zum
Durchlassen einer Flüssigkeit dienen. In diesem Fall
erleichtern die glatten Innenwände den Durchfluss der
Flüssigkeit durch die makroskopischen Poren.
Außerdem ist auf diese Weise eine SiO2-Scheibe mit
makroskopischen Poren herstellbar, die regelmäßig angeordnet
sind und die alle mit hoher Genauigkeit den gleichen.
Durchmesser aufweisen.
Alternativ können die makroskopischen Poren in der
Siliziumscheibe mittels anisotropen chemischen Ätzens oder
Plasmaätzens hergestellt sein. Mittels dieser Verfahren ist
ebenfalls eine SiO2-Scheibe mit makroskopischen Poren
herstellbar, die regelmäßig angeordnet sind und alle mit
hoher Genauigkeit den gleichen Durchmesser aufweisen.
Bei dem Verfahren kann nur eine ausreichend dicke
oberflächliche Schicht der Siliziumscheibe oxidiert werden,
wobei ein Kern der SiO2-Scheibe nach Beenden des Verfahrens
noch aus unoxidiertem Silizium bestehen bleibt.
Für eine Kanalplatte für einen Restlichtverstärker
beispielsweise muss die Siliziumscheibe in einem solchen
Ausmaß oxidiert werden, dass die fertige SiO2-Scheibe einen
elektrischen Widerstand zwischen der Scheibenoberseite und
der Scheibenunterseite von mindestens typischerweise 1 MΩ
aufweisen.
Falls nur ein Teil der Siliziumscheibe oxidiert wird, zum
Beispiel nur eine oberflächliche Schicht der Siliziumscheibe,
wobei ein Kern der SiO2-Scheibe noch aus unoxidiertem
Silizium bestehen bleibt, besteht jedoch die Gefahr, dass die
fertig oxidierte SiO2-Scheibe Verspannungen aufweist, die die
Leistungsfähigkeit der SiO2-Scheibe beeinträchtigen können.
Bei dem Verfahren wird daher bevorzugt das gesamte Volumen
der porösen Siliziumscheibe oxidiert, so dass die poröse
SiO2-Scheibe vollständig aus porösem Siliziumdioxid gebildet
ist und keine Bereiche verbleiben, in denen die SiO2-Scheibe
aus unoxidiertem Silizium besteht.
Der makroskopische Porendurchmesser der makroskopischen Poren
in der Siliziumscheibe liegt vorzugsweise im Bereich von 2
bis 100 µm. Für Anwendungen in der Mikrobiologie oder als
Kanalplatten für Restlichtverstärker sind poröse SiO2-
Scheiben mit einem solchen Porendurchmesser am
interessantesten. Jedoch ist das Verfahren zum Herstellen
einer SiO2-Scheibe nicht auf diesen Porendurchmesser-Bereich
beschränkt.
Das Oxidieren wird bevorzugt thermisch durchgeführt, indem
die Siliziumscheibe erhitzt wird. Alternativ kann das
Oxidieren chemisch durchgeführt werden, indem die
Siliziumscheibe einer geeigneten Chemikalie ausgesetzt wird.
Die Chemikalie kann dabei zum Beispiel in Gasform
bereitgestellt werden.
Bevorzugt wird das Oxidieren bei einer Temperatur
durchgeführt, die niedriger ist als die Schmelztemperatur von
Silizium, die bei ungefähr 1600°C liegt. Auf diese Weise
wird verhindert, dass das Silizium fließfähig wird und die
makroskopischen Poren zufließen und somit verschwinden oder
zumindest verformt werden.
Der Prozess der Oxidation beginnt an der Oberfläche der
Siliziumscheibe und setzt sich mit fortschreitender Zeit
zusehends von der Oberfläche weg ins Innere der
Siliziumscheibe fort. Nach einer ausreichenden
Oxidationszeitdauer ist die Siliziumscheibe schließlich
durchoxidiert und damit in eine (makro-)poröse, abseits der
makroskopischen Poren massive SiO2-Scheibe umgewandelt. Die
Oxidationszeitdauer ist einerseits durch die Prozessparameter
beim Durchführen der Oxidation, wie zum Beispiel die
Temperatur in dem Bereich, in dem sich die Siliziumscheibe
befindet, und die Luftfeuchtigkeit in der Umgebung der
Siliziumscheibe, bestimmt, andererseits durch den
gegenseitigen Abstand der makroskopischen Poren, d. h. durch
die Dicke der massiven Siliziumbereiche zwischen den
makroskopischen Poren.
Bevorzugt wird vor dem Oxidieren der Siliziumscheibe in der
porösen Siliziumscheibe eine Vielzahl von mesoskopischen
Poren und/oder eine Vielzahl von mikroskopischen Poren
erzeugt.
Die Siliziumscheibe ist somit im zuvor massiven
Siliziumbereich zwischen den makroskopischen Poren von der
Vielzahl von mesoskopischen Poren und/oder mikroskopischen
Poren durchsetzt.
Die mesoskopischen Poren weisen einen kleineren
Porendurchmesser auf als die makroskopischen Poren, und die
mikroskopischen Poren weisen einen kleineren Porendurchmesser
auf als die mesoskopischen Poren.
Der Porendurchmesser der mesoskopischen Poren liegt
vorzugsweise im Bereich von 2 bis 50 nm.
Der Porendurchmesser der mikroskopischen Poren liegt
vorzugsweise im Bereich von unter 2 nm.
Durch die mesoskopischen Poren und/oder mikroskopischen Poren
sind bei der Siliziumscheibe zusätzliche Oberflächen-Bereiche
geschaffen, an denen bei dem nachfolgenden Oxidationsschritt
der Oxidationsprozess beginnen kann. Für die
Oxidationszeitdauer ist nun der gegenseitige Abstand der
mesoskopischen Poren und/oder mikroskopischen Poren
maßgeblich, nicht mehr der gegenseitige Abstand der
makroskopischen Poren. Folglich ist bei der Siliziumscheibe
mit den mesoskopischen und/oder mikroskopischen Poren die
Oxidationszeitdauer, zum Beispiel die zum Durchoxidieren der
Siliziumscheibe erforderliche Oxidationszeitdauer, gegenüber
einer, abgesehen von den mesoskopischen Poren und/oder
mikroskopischen Poren, identischen Siliziumscheibe erheblich
verkürzt.
Das Verfahren gemäß der Ausführungsform, bei der vor dem
Oxidieren die mesoskopischen Poren und/oder mikroskopischen
Poren erzeugt werden, hat einen weiteren Vorteil.
Ein Körper aus Siliziumdioxid mit einer bestimmten Anzahl an
Siliziumatomen hat ungefähr das doppelte Volumen wie ein
Körper aus Silizium mit der gleichen Anzahl an
Siliziumatomen.
Beim Oxidieren einer abseits der makroskopischen Poren
massiven Siliziumscheibe wird daher der makroskopische
Porendurchmesser der makroskopischen Poren verringert. Falls
der makroskopische Porendurchmesser vor Beginn der Oxidation
klein genug ist, verschwinden die makroskopischen Poren sogar
vollständig.
Wenn vor dem Oxidieren die mesoskopischen Poren und/oder
mikroskopischen Poren erzeugt werden, stehen beim Oxidieren
dem oxidierenden Silizium zur Expansion die mesoskopischen
Poren und/oder mikroskopischen Poren zur Verfügung. In
Abhängigkeit von der anfänglichen Porosität des Siliziums an
mesoskopischen Poren und/oder mikroskopischen Poren, im
folgenden "Meso-/Mikroporosität" genannt, zwischen den
makroskopischen Poren ist daher der makroskopische
Porendurchmesser der makroskopischen Poren nach dem Oxidieren
weniger oder gar nicht verringert. Bei einer geringen Meso-
/Mikroporosität von weniger als ungefähr 56% sind die
makroskopischen Poren nach dem Oxidieren leicht verengt. Bei
einer hohen Meso-/Mikroporosität von mehr als ungefähr 56%
ist der Porendurchmesser der makroskopischen Poren nach dem
Oxidieren gleich groß wie vor dem Oxidieren, und im
entstandenen Siliziumdioxid verbleiben mesoskopische Poren
und/oder mikroskopische Poren. Bei einer Meso-/Mikroporosität
von ungefähr 56% ist der Porendurchmesser der
makroskopischen Poren im Siliziumdioxid der gleiche wie der
anfängliche Porendurchmesser im Silizium und die
mesoskopischen Poren und/oder mikroskopischen Poren sind
geschlossen, d. h. zwischen den makroskopischen Poren ist das
Siliziumdioxid nicht porös (nicht meso-/mikroporös).
Bevorzugt werden die mesoskopischen und/oder die
mikroskopischen Poren so hergestellt, dass die poröse
Siliziumscheibe im mesoporösen und/oder mikroporöser
Siliziumbereich zwischen den Makroporen eine Porosität von
mindestens 56 Prozent aufweist. Dadurch wird durch das
Oxidieren der Porendurchmesser der makroskopischen Poren
nicht verändert. Andererseits werden beim Oxidieren die
mesoskopischen und/oder die mikroskopischen Poren
geschlossen, so dass eine Siliziumdioxidscheibe mit
makroskopischen Poren mit glatten Innenwänden geschaffen
wird.
Die SiO2-Scheibe kann zum Beispiel als Kanalplatte für einen
Elektronenvervielfacher verwendet werden. Dann treten
aufgrund der glatten Innenwände der makroskopischen Poren in
den makroskopischen Poren nur wenige unerwünschte
Streuprozesse auf. Dadurch ist die Leistungsfähigkeit der
Kanalplatte erhöht.
Nach Wunsch kann nach dem Oxidieren die SiO2-Scheibe mit
einem elektrisch isolierenden Material beschichtet werden,
beispielsweise mit einer CVD-Nitridschicht. Eine solche
Beschichtung kann insbesondere dann gewünscht sein, wenn die
Meso-/Mikroporosität der Siliziumscheibe vor dem Oxidieren
größer gewählt war als 56%, so dass nach dem Oxidieren im
Bereich zwischen den makroskopischen Poren eine Rest-Meso-
/Mikroporosität verbleibt. Die CVD-Nitridschicht dient in
diesem Fall dazu, die Austrittsöffnungen der Rest-Meso-
/Mikroporen zu bedecken, so dass eine glatte Oberfläche
geschaffen wird.
Als Beschichtung kann alternativ eine Beschichtung aus einem
beliebigen anderen elektrisch isolierenden Material verwendet
werden, das mittels eines geeigneten Verfahren aufgebracht
wird, so dass eine Schicht ausgebildet wird, von der die
Oberfläche der SiO2-Scheibe möglichst gleichmäßig bedeckt
wird.
Die mesoskopischen Poren und/oder mikroskopischen Poren
können sich teilweise in die Siliziumscheibe erstrecken.
Bevorzugt erstrecken sich die mesoskopischen Poren und/oder
mikroskopischen Poren so durch die Siliziumscheibe hindurch,
dass jede Pore an ihren beiden Enden offen ist. Die Poren
können parallel zueinander verlaufen. Alternativ können die
Poren in Form einer verzweigten, baumartigen Porenstruktur
angeordnet sein.
Die mesoskopischen und/oder die mikroskopischen Poren werden
vorzugsweise mittels elektrochemischen Ätzens hergestellt.
Hierbei wird das Silizium mit zumindest einem Dotierstoff
dotiert. Anschließend wird die poröse Siliziumscheibe unter
Verwendung eines Elektrolyten und unter Anlegen eines
Anodisierstroms mit einer vorgewählten Anodisierstromstärke
anodisiert.
Als Dotierstoff kann ein p-Dotierstoff mit einer
vorbestimmten p-Dotierstoffkonzentration verwendet werden.
Die p-Dotierstoffkonzentration beträgt dabei vorzugsweise
mindestens 1018 cm-3. Weiter bevorzugt ist, dass die p-
Dotierstoffkonzentration im Bereich von 1018 cm-3 bis 1020 cm-3,
und dabei bevorzugt bei ungefähr 1019 cm3 liegt.
Alternativ kann als Dotierstoff ein n-Dotierstoff mit einer
vorbestimmten n-Dotierstoffkonzentration verwendet wird.
Die n-Dotierstoffkonzentration beträgt dabei vorzugsweise
mindestens 1018 cm-3. Weiter bevorzugt ist, dass die n-
Dotierstoffkonzentration im Bereich von 1018 cm-3 bis 1020 cm-3,
und dabei bevorzugt bei ungefähr 1019 cm-3 liegt.
Alternativ können als Dotierstoff sowohl ein p-Dotierstoff
als auch ein n-Dotierstoff verwendet werden.
Die Gesamt-Dotierstoffkonzentration, die gleich der Differenz
aus der n-Dotierstoffkonzentration und der p-
Dotierstoffkonzentration ist, d. h. die gleich der Differenz
aus dem Betrag der n-Dotierstoffkonzentration und den Betrag
der p-Dotierstoffkonzentration ist, beträgt dabei
vorzugsweise mindestens 1018 cm-3. Weiter bevorzugt ist, dass
die Gesamt-Dotierstoffkonzentration im Bereich von 1018 cm-3
bis 1020 cm-3, und dabei bevorzugt bei ungefähr 1019 cm-3 liegt.
Der Dotierstoff kann in die Siliziumscheibe eingebracht
werden, bevor die makroskopischen Poren erzeugt werden. In
diesem Fall können die makroskopischen Poren z. B. mittels
elektrochemischen Ätzens mit geeigneten Ätzparametern
hergestellt werden.
Alternativ werden zuerst die makroskopischen Poren in der
Siliziumscheibe erzeugt, und anschließend wird die makro
poröse Siliziumscheibe dotiert. Die makroskopischen Poren
können in diesem Fall z. B. mittels Plasmaätzens hergestellt
werden.
Als Elektrolyt zur Herstellung der mesoskopischen Poren und
der mikroskopischen Poren kann beispielsweise eine HF-haltige
Lösung verwendet werden, die optional Beimischungen wie z. B.
Ethanol, Propanol oder HNO3 enthalten kann.
Vorzugsweise wird als Elektrolyt eine HF-haltige Lösung
verwendet.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen
Verfahrens wird als HF-haltige Lösung eine Lösung mit Ethanol
und 50-prozentiger Flusssäure in einem Volumenverhältnis von
1 : 1 verwendet.
Bei einer weiteren bevorzugten Ausführungsform des
erfindungsgemäßen Verfahrens wird als HF-haltige Lösung eine
wässrige Flusssäure-Lösung mit einem HF-Gewichtsanteil von 6
Prozent verwendet.
In den Elektrolyten werden die zu oxidierende makroporöse
Siliziumscheibe und eine Gegenelektrode eingetaucht. Zwischen
der Siliziumscheibe und der Gegenelektrode wird ein
Anodisierstrom mit einer geeignet gewählten
Anodisierstromdichte angelegt. Dadurch wird die
elektrochemische Zersetzung der Siliziumscheibe in Gang
gesetzt.
Falls die Anodisierstromdichte höher als eine kritische
Anodisierstromdichte gewählt ist, kann es vorkommen, dass bei
der elektrochemischen Zersetzung in der Siliziumscheibe keine
Poren ausgebildet werden.
Entsprechend ist die Anodisierstromdichte vorzugsweise
geringer gewählt als die kritische Anodisierstromdichte. Auf
diese Weise hat das Verfahren eine höhere Zuverlässigkeit und
Reproduzierbarkeit.
Die kritische Anodisierstromdichte ist davon abhängig,
welcher Elektrolyt verwendet wird.
Für den Elektrolyten mit einer Lösung mit Ethanol und 50-
prozentiger Flusssäure in einem Volumenverhältnis von 1 : 1
beträgt die kritische Anodisierstromdichte ungefähr 600 mA/cm2.
Entsprechend ist bei dieser Ausführungsform die
Anodisierstromdichte vorzugsweise geringer gewählt als 600 mA/cm2.
Um eine Meso- und/oder Mikroporosität von 56% zu erzielen,
wird beispielsweise eine Anodisierstromdichte von
vorzugsweise zwischen 30 und 100 mA/cm2 und dabei bevorzugt
von 57 mA/cm2 gewählt, sowie beispielsweise eine n-
Dotierstoffkonzentration von vorzugsweise 2.1019 cm-3.
Für den Elektrolyten mit wässriger Flusssäure-Lösung mit
einem HF-Gewichtsanteil von 6 Prozent beträgt die kritische
Anodisierstromdichte ungefähr 62 mA/cm2. Entsprechend ist bei
dieser Ausführungsform die Anodisierstromdichte vorzugsweise
geringer gewählt als 62 mA/cm2.
Um eine Meso- und/oder Mikroporosität von 56% zu erzielen,
wird vorzugsweise eine Anodisierstromdichte von 3 mA/cm2
gewählt, sowie beispielsweise eine p-Dotierstoffkonzentration
von vorzugsweise zwischen 1.1019 cm-3 und 2.1019 cm-3, dabei
bevorzugt von 1,6.1019 cm-3.
Dem Elektrolyten kann ein Benetzungsmittel zur Herabsetzung
der Oberflächenspannung des Elektrolyten zugefügt sein.
Dadurch wird bewirkt, dass die Oberfläche der Siliziumscheibe
auf leichtere und zuverlässigere Weise ausreichend benetzt
wird.
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den Figuren
dargestellt und werden im Weiteren näher erläutert.
Es zeigen:
Fig. 1 eine teilweise Schnittansicht einer porösen
Siliziumscheibe, wobei drei makroskopische Poren zu sehen
sind;
Fig. 2 die poröse Siliziumscheibe aus Fig. 1 nach dem
Erzeugen einer Vielzahl von mesoskopischen und
mikroskopischen Poren, gemäß einer Ausführungsform der
Erfindung;
Fig. 3 eine poröse SiO2-Scheibe mit drei makroskopischen
Poren und mit einer Beschichtung aus einem CVD-Nitrid, gemäß
einer Ausführungsform der Erfindung.
Fig. 1 zeigt eine Teilansicht einer (makro-)porösen
Siliziumscheibe 100, die als Ausgangsmaterial für das
erfindungsgemäße Verfahren geeignet ist. In der Teilansicht
aus Fig. 1 sind drei makroskopische Poren 101 zu sehen. Die
poröse Siliziumscheibe 100 ist durch elektrochemisches Ätzen
hergestellt worden. Jede makroskopische Pore 101 hat einen
Porendurchmesser von 10 µm. Der Abstand benachbarter
makroskopischer Poren 101 beträgt 1 µm.
Die Siliziumscheibe 100 wird bei einer Temperatur von 850°C
und unter feuchten Umgebungsbedingungen während einer
Zeitdauer von 100 Stunden oxidiert. Nach dieser Zeitdauer
sind die 1 µm dicken Bereiche zwischen den makroskopischen
Poren 101 durchoxidiert, so dass die SiO2-Scheibe erzeugt
ist.
Bei alternativen Ausführungsformen des erfindungsgemäßen
Verfahrens werden vor dem Oxidieren mesoskopische Poren 201
und/oder mikroskopische Poren 202 im Silizium zwischen den
makroskopischen Poren 101 erzeugt.
Fig. 2 zeigt die poröse Siliziumscheibe 100 aus Fig. 1 nach
dem Erzeugen einer Vielzahl von mesoskopischen Poren 201 und
mikroskopischen Poren 202, gemäß diesen alternativer
Ausführungsformen der Erfindung.
Im folgenden werden anhand von Fig. 2 mehrere
Ausführungsformen des Verfahrensschrittes zur Herstellung von
mikroskopischen und/oder mesoskopischen Poren 201, 202
erläutert.
Bei einer ersten alternativen Ausführungsform der Erfindung
ist das Silizium im Bereich zwischen den makroskopischen
Poren 101 mit einer n-Dotierstoffkonzentration von 2.1019 cm-3
n-dotiert. Die Siliziumscheibe 100 und eine Gegenelektrode
aus Wolfram werden in eine flusssäurehaltige Elektrolytlösung
mit Ethanol und 50-prozentiger Flusssäure in einem
Volumenverhältnis von 1 : 1 getaucht. Zwischen der
Siliziumscheibe 100 und der Gegenelektrode wird ein
Anodisierstrom mit einer Anodisierstromdichte von 30 mA/cm2
angelegt. Unter diesen Bedingungen werden mesoskopische Poren
201 und mikroskopische Poren 202 mit einem Durchmesser von
jeweils unter 10 nm ausgebildet. Die Anodisierrate, d. h. die
Ausbreitungsgeschwindigkeit der mesoskopischen Poren 201 und
mikroskopischen Poren 202 in Richtung des Stromflusses des
Anodisierstroms, beträgt unter diesen Bedingungen ungefähr 27 nm/s.
Das anodisierte Silizium hat eine Porosität (Meso-
/Mikroporosität) von 54%.
Bei einer zweiten alternativen Ausführungsform der Erfindung
ist das Silizium im Bereich zwischen den makroskopischen
Poren 101 mit einer p-Dotierstoffkonzentration von 2.1019 cm-3
p-dotiert. Als Elektrolyt wird eine flusssäurehaltige
Elektrolytlösung mit Ethanol und 50-prozentiger Flusssäure in
einem Volumenverhältnis von 1 : 1 verwendet. Die
Anodisierstromdichte beträgt 30 mA/cm2. Die sonstigen
Prozessbedingen sind die gleichen wie bei der ersten
alternativen Ausführungsform. Unter diesen Bedingungen werden
mesoskopische Poren 201 mit einem Durchmesser von 7 bis 15 nm
ausgebildet. Die Anodisierrate, d. h. die
Ausbreitungsgeschwindigkeit der mesoskopischen Poren 201,
beträgt unter diesen Bedingungen ungefähr 27 nm/s. Das
anodisierte Silizium hat eine Porosität (Mesoporosität) von
51%.
Bei einer dritten alternativen Ausführungsform des Verfahrens
ist das Silizium im Bereich zwischen den makroskopischen
Poren 101 mit einer n-Dotierstoffkonzentration von 3.1017 cm-3
n-dotiert. Als Elektrolyt wird eine flusssäurehaltige
Elektrolytlösung mit Ethanol und 50-prozentiger Flusssäure in
einem Volumenverhältnis von 1 : 1 verwendet. Die
Anodisierstromdichte beträgt 300 mA/cm2. Die sonstigen
Prozessbedingen sind die gleichen wie bei der ersten
alternativen Ausführungsform. Unter diesen Bedingungen werden
mesoskopische Poren 201 mit einem Durchmesser von knapp 70
bis 120 nm ausgebildet. Die Anodisierrate, d. h. die
Ausbreitungsgeschwindigkeit der mesoskopischen Poren 201,
beträgt unter diesen Bedingungen ungefähr 375 nm/s. Das
anodisierte Silizium hat eine Porosität (Mesoporosität) von
35%.
Bei einer vierten alternativen. Ausführungsform des Verfahrens
ist das Silizium im Bereich zwischen den makroskopischen
Poren 101 mit einer n-Dotierstoffkonzentration von 2.1019 cm-3
n-dotiert. Als Elektrolyt wird eine flusssäurehaltige
Elektrolytlösung mit Ethanol und 50-prozentiger Flusssäure in
einem Volumenverhältnis von 1 : 1 verwendet. Die
Anodisierstromdichte beträgt 57 mA/cm2. Die sonstigen
Prozessbedingen sind die gleichen wie bei der ersten
alternativen Ausführungsform. Unter diesen Bedingungen werden
mesoskopische Poren 201 mit einem Durchmesser von ungefähr 10 nm
ausgebildet. Die Anodisierrate, d. h. die
Ausbreitungsgeschwindigkeit der mesoskopischen Poren 201,
beträgt unter diesen Bedingungen ungefähr 41 nm/s. Das
anodisierte Silizium hat eine Porosität (Mikroporosität) von
56%.
Bei einer fünften alternativen Ausführungsform des Verfahrens
ist das Silizium im Bereich zwischen den makroskopischen
Poren 101 mit einer n-Dotierstoffkonzentration von 2.1019 cm-3
n-dotiert. Als Elektrolyt wird bei eine wässrige Flusssäure-
Lösung mit einem HF-Gewichtsanteil von 6 Prozent verwendet.
Die Anodisierstromdichte beträgt 3 mA/cm2. Die sonstigen
Prozessbedingen sind die gleichen wie bei der ersten
alternativen Ausführungsform. Unter diesen Bedingungen werden
mesoskopische Poren 201 und mikroskopische Poren 202 mit
einem Durchmesser von unter 10 nm ausgebildet. Die
Anodisierrate, d. h. die Ausbreitungsgeschwindigkeit der
mesoskopischen Poren 201 und mikroskopischen Poren 202,
beträgt unter diesen Bedingungen ungefähr 2 nm/s. Das
anodisierte Silizium hat eine Porosität (Meso-
/Mikroporosität) von 76%.
Bei einer sechsten alternativen Ausführungsform des
Verfahrens ist das Silizium im Bereich zwischen den
makroskopischen Poren 101 mit einer p-
Dotierstoffkonzentration von 2.1019 cm-3 n-dotiert. Als
Elektrolyt wird bei eine wässrige Flusssäure-Lösung mit einem
HF-Gewichtsanteil von 6 Prozent verwendet. Die
Anodisierstromdichte beträgt 3 mA/cm2. Die sonstigen
Prozessbedingen sind die gleichen wie bei der ersten
alternativen Ausführungsform. Unter diesen Bedingungen werden
mesoskopische Poren 201 und mikroskopische Poren 202 mit
einem Durchmesser von unter 10 bis 20 nm ausgebildet. Die
Anodisierrate, d. h. die Ausbreitungsgeschwindigkeit der
mesoskopischen Poren 201 und mikroskopischen Poren 202,
beträgt unter diesen Bedingungen ungefähr 2,3 nm/s. Das
anodisierte Silizium hat eine Porosität (Mesoporosität) von
57%.
Bei einer siebten alternativen Ausführungsform des Verfahrens
ist das Silizium im Bereich zwischen den makroskopischen
Poren 101 mit einer p-Dotierstoffkonzentration von 1,6.1019 cm-3
n-dotiert. Als Elektrolyt wird bei eine wässrige
Flusssäure-Lösung mit einem HF-Gewichtsanteil von 6 Prozent
verwendet. Die Anodisierstromdichte beträgt 3 mA/cm2. Die
sonstigen Prozessbedingen sind die gleichen wie bei der
ersten alternativen Ausführungsform. Unter diesen Bedingungen
werden mesoskopische Poren 201 und mikroskopische Poren 202
mit einem Durchmesser von unter 10 bis 20 nm ausgebildet. Die
Anodisierrate, d. h. die Ausbreitungsgeschwindigkeit der
mesoskopischen Poren 201 und mikroskopischen Poren 202,
beträgt unter diesen Bedingungen ungefähr 2,35 nm/s. Das
anodisierte Silizium hat eine Porosität (Mesoporosität) von
56%.
Die mit mesoskopischen und/oder mikroskopischen Poren 201,
202 durchsetzte Siliziumscheibe 100 wird bei einer Temperatur
von 850°C und unter feuchten Umgebungsbedingungen oxidiert.
Der Abstand zwischen benachbarten mikroskopischen und/oder
mesoskopischen Poren 201 bzw. 202 beträgt typischerweise 10 nm.
Die Oxidationszeitdauer, die erforderlich ist, bis die
Siliziumscheibe 100 vollständig zu einer SiO2-Scheibe
durchoxidiert ist, beträgt ungefähr 60 Minuten.
Bei einer alternativen Ausführungsform der Erfindung wird die
Oxidation bei einer Temperatur von 1050°C durchgeführt.
Bei der SiO2-Scheibe, die gemäß der vierten alternativen
Ausführungsform mit mesoskopischen Poren 201 versehen wird,
verbleiben nach dem Oxidieren mesoskopische Poren 201.
Wahlweise wird die Oberfläche der SiO2-Scheibe mit einer
Beschichtung 302 aus CVD-Nitrid beschichtet.
Fig. 3 zeigt eine poröse SiO2-Scheibe 300 mit drei
makroskopischen Poren 301 und mit einer Beschichtung 302 aus
einem CVD-Nitrid, gemäß einer Ausführungsform der Erfindung.
Zur Herstellung der in Fig. 3 gezeigten SiO2-Scheibe 300
werden mesoskopische Poren 201 mit einer Porosität von 56%
erzeugt. Die in Fig. 3 gezeigte SiO2-Scheibe 300 weist
dementsprechend keine mesoskopischen Poren 201 und keine
mikroskopischen Poren 202 auf. Von der Beschichtung 302 ist
die gesamte Oberfläche der SiO2-Scheibe 300 bedeckt, d. h.
insbesondere sind die Innenwände der makroskopischen Poren
301 und die zwischen den makroskopischen Poren 301 liegenden
Oberflächenbereiche auf der Scheibenoberseite 303 und der
Scheibenunterseite 304 der SiO2-Scheibe 300 bedeckt.
In diesem Dokument sind folgende Veröffentlichungen zitiert:
[1] Branko Leskovar, "Microchannel plates", Physics Today, Nov. 1977, pp. 42-49.
[2] EP 0 296 348 B1, Beetz, Jr. et al.
[3] US 5,997,713, H. Föll, V. Lehmann
[4] V. Lehmann et al., "On the morphology and the electrochemical formation mechanism of mesoporous silicon", Materials Science and Engineering B69-70, 11- 22 (2000)
[5] Z. Y. Wu et al. JES 143, 2972-2980 (1996)
[6] Y. Arita JJAP 36, 1035-1046 (1997)
[1] Branko Leskovar, "Microchannel plates", Physics Today, Nov. 1977, pp. 42-49.
[2] EP 0 296 348 B1, Beetz, Jr. et al.
[3] US 5,997,713, H. Föll, V. Lehmann
[4] V. Lehmann et al., "On the morphology and the electrochemical formation mechanism of mesoporous silicon", Materials Science and Engineering B69-70, 11- 22 (2000)
[5] Z. Y. Wu et al. JES 143, 2972-2980 (1996)
[6] Y. Arita JJAP 36, 1035-1046 (1997)
Fig.
1
100
Poröse Siliziumscheibe
101
Makroskopische Pore
Fig.
2
201
Mesoskopische Pore
202
Mikroskopische Pore
Fig.
3
300
Poröse SiO2
-Scheibe
301
Makroskopische Pore
302
Beschichtung
303
Scheibenoberseite (der SiO2
-Scheibe)
304
Scheibenunterseite (der SiO2
-Scheibe)
Claims (21)
1. Verfahren zum Herstellen einer porösen SiO2-Scheibe,
bei dem eine poröse Siliziumscheibe aus Silizium mit
einer Vielzahl von makroskopischen Poren, die sich zwischen
der Scheibenoberseite und der Scheibenunterseite der
Siliziumscheibe durch die Siliziumscheibe hindurch erstrecken
und die einen makroskopischen Porendurchmesser aufweisen,
oxidiert wird, so dass die poröse SiO2-Scheibe gebildet wird.
2. Verfahren nach Anspruch nach Anspruch 1,
bei dem der makroskopische Porendurchmesser im Bereich
von 2 bis 100 µm liegt.
3. Verfahren nach Anspruch nach Anspruch 1 oder 2,
bei dem das Oxidieren thermisch durchgeführt wird.
4. Verfahren nach Anspruch nach Anspruch 3,
bei dem das Oxidieren bei einer Temperatur durchgeführt
wird, die niedriger ist als die Schmelztemperatur von
Silizium.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
bei dem vor dem Oxidieren der Siliziumscheibe in der
porösen Siliziumscheibe eine Vielzahl von mesoskopischen
Poren und/oder eine Vielzahl von mikroskopischen Poren
erzeugt wird.
6. Verfahren nach Anspruch 5,
bei dem die mesoskopischen Poren einen kleineren
Porendurchmesser aufweisen als die makroskopischen Poren und
die mikroskopischen Poren einen kleineren Porendurchmesser
aufweisen als die mesoskopischen Poren.
7. Verfahren nach Anspruch 6,
bei dem der mesoskopische Porendurchmesser im Bereich
von 2 bis 50 nm liegt.
8. Verfahren nach Anspruch 6 oder 7,
bei dem der mikroskopische Porendurchmesser im Bereich
von unter 2 nm liegt.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 5 bis 8,
bei dem die mesoskopischen und/oder die mikroskopischen Poren mittels elektrochemischen Ätzens hergestellt werden,
bei dem das Silizium mit zumindest einem Dotierstoff dotiert wird und
bei dem anschließend die poröse Siliziumscheibe unter Verwendung eines Elektrolyten und unter Anlegen eines Anodisierstroms mit einer vorgewählten Anodisierstromstärke anodisiert wird.
bei dem die mesoskopischen und/oder die mikroskopischen Poren mittels elektrochemischen Ätzens hergestellt werden,
bei dem das Silizium mit zumindest einem Dotierstoff dotiert wird und
bei dem anschließend die poröse Siliziumscheibe unter Verwendung eines Elektrolyten und unter Anlegen eines Anodisierstroms mit einer vorgewählten Anodisierstromstärke anodisiert wird.
10. Verfahren nach Anspruch 9,
bei dem als Dotierstoff ein p-Dotierstoff mit einer
vorbestimmten p-Dotierstoffkonzentration verwendet wird.
11. Verfahren nach Anspruch 10,
bei dem die p-Dotierstoffkonzentration mindestens 1018 cm-3
beträgt.
12. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 bis 11,
bei dem als Dotierstoff ein n-Dotierstoff mit einer
vorbestimmten n-Dotierstoffkonzentration verwendet wird.
13. Verfahren nach Anspruch 12,
bei dem die n-Dotierstoffkonzentration mindestens 1018 cm3
beträgt.
14. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 bis 13,
bei dem als Elektrolyt eine HF-haltige Lösung verwendet
wird.
15. Verfahren nach Anspruch 14,
bei dem als HF-haltige Lösung eine Lösung mit Ethanol
und 50-prozentiger Flusssäure in einem Volumenverhältnis von
1 : 1 verwendet wird.
16. Verfahren nach Anspruch 15,
bei dem die Anodisierstromdichte höchstens 600 mA/cm2
beträgt.
17. Verfahren nach Anspruch 14,
bei dem als HF-haltige Lösung eine wässrige Flusssäure-
Lösung mit einem HF-Gewichtsanteil von 6 Prozent verwendet
wird.
18. Verfahren nach Anspruch 17,
bei dem die Anodisierstromdichte höchstens 62 mA/cm2
beträgt.
19. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 bis 16,
bei dem dem Elektrolyten ein Benetzungsmittel zur
Herabsetzung der Oberflächenspannung des Elektrolyten
zugefügt ist.
20. Verfahren nach einem der Ansprüche 5 bis 19,
bei dem die mesoskopischen und/oder die mikroskopischen
Poren so hergestellt werden, dass die poröse Siliziumscheibe
im mesoporösen und/oder mikroporösen Siliziumbereich zwischen
den Makroporen eine Porosität von mindestens 56 Prozent
aufweist.
21. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 20,
bei dem nach dem Oxidieren die SiO2-Scheibe mit einer
CVD-Nitridschicht beschichtet wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10117363A DE10117363A1 (de) | 2001-04-06 | 2001-04-06 | Verfahren zum Herstellen einer porösen Si0¶2¶-Scheibe |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10117363A DE10117363A1 (de) | 2001-04-06 | 2001-04-06 | Verfahren zum Herstellen einer porösen Si0¶2¶-Scheibe |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10117363A1 true DE10117363A1 (de) | 2002-10-17 |
Family
ID=7680745
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10117363A Ceased DE10117363A1 (de) | 2001-04-06 | 2001-04-06 | Verfahren zum Herstellen einer porösen Si0¶2¶-Scheibe |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE10117363A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE10348541A1 (de) * | 2003-10-20 | 2005-05-19 | Infineon Technologies Ag | Poröses Substrat auf Silicium-Basis, ein Verfahren zu dessen Herstellung sowie dessen Verwendung |
DE102020124532A1 (de) | 2020-09-21 | 2022-03-24 | Technische Universität Hamburg-Harburg | Hierarchisch poröse struktur und prozess zur herstellung derselbigen |
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DE3882882T2 (de) * | 1987-09-11 | 1994-03-24 | France Telecom | Verfahren zur Herstellung einer Siliziumstruktur auf einem Isolator. |
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-
2001
- 2001-04-06 DE DE10117363A patent/DE10117363A1/de not_active Ceased
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Leskovar B.: Microchannel p0lates. In: Physics Today, Nov.1977, S.42-49 * |
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---|---|---|---|
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8131 | Rejection |