DE10004315A1 - Gerät zum Testen sowohl eines Testeinbrennbords und einer zu testenden Einrichtung - Google Patents

Abstract

Handhabungsgerät für ein Testeinbrennbord zum Einfügen und Herausziehen von zu testenden ICs in und aus einem Testeinbrennbord, derart, dass das Handhabungsgerät enthält: eine Testschaltung (2); und ein Einbrennbord-Prüfgerät (3). Die Testschaltung (2) führt einen Vortest der zu testenden ICs gemäß einem vereinfachten Funktionstest durch, bevor die zu testenden ICs einem Einbrenntest unterzogen werden. Das Einbrennbord-Prüfgerät (3) testet das Testeinbrennbord. Das Handhabungsgerät (10) enthält ferner einen elektronischen Schalter (4). Der elektronische Schalter (4) ist elektrisch mit dem Testeinbrennbord verbunden, auf dem die zu testenden ICs montiert sind, und der elektronische Schalter (4) schaltet zwischen den ersten Testsignalen der Testschaltung (2) und den zweiten Testsignalen des Einbrennbord-Prüfgeräts (3). Eine Ausrichtungsstufe bewirkt ein Ausrichten der Stellung der zu testenden ICs, die von einem Trog übertragen werden, auf dem die zu testenden ICs montiert sind. Nach dem Ausrichten der Stellungen der zu testenden ICs bei der Ausrichtungsstufe werden die zu testenden ICs zu normalen IC-Sockeln auf dem Testeinbrennbord (1) übertragen und hieran montiert. Die Testschaltung (2) führt den Vortest der zu testenden ICs in einem Zustand durch, dass die zu testenden ICs auf den normalen IC-Sockeln montiert sind, die durch das Einbrennbord-Prüfgerät als nicht defekt beurteilt werden.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Gerät zum Testen sowohl eines Testeinbrennbords (das hier im folgenden einfach als "TBIB" bezeichnet wird), sowie einer zu testenden Einrichtung, und insbesondere betrifft sie eine Handhabeeinheit für ein Testeinbrennbord zum Einfügen und Herausziehen einer zu testenden Einrichtung in und aus einem TBIB bei einem Testeinbrennprozeß für eine zu testende Einrichtung, beispielsweise eine integrierte Schaltung (IC).

Es ist ein Einbrenngerät bekannt, und zwar als Gerät zum Durchführen eines Sortiertests, beispielsweise eines Sortiertests zum Entfernen einer Halbleitereinrichtung mit einem Inhärenten Defekt oder einer Einrichtung, bei der ein Fehler in Abhängigkeit von der Zeit und Beanspruchung aufgrund einer Produktionsvariation auftritt.

Vor dem Einbrennen erfolgt ein Vortest der zu testenden Einrichtung in der Handhabeeinheit für das Test-Einbrennbord, wie nachfolgend beschrieben.

Das Handhabegerät für das Test-Einbrennbord (das hier einfach als "TBIB Handhabegerät" bezeichnet wird, TBIB = test burn-in bord) wird für die Einrichtungen verwendet, beispielsweise für speicherintergrierte Schaltungen von einem TSOP-Typ oder einem SOJ-Typ, d. h. oberflächenmontierten Typen.

Nachfolgend wird die Organisation des TBIB-Handhabungsgeräts gemäß einer früheren Technologie unter Bezug auf die Fig. 2 beschrieben.

In der Fig. 2 bezeichnet das Bezugszeichen 1A einen zu testenden IC (der hier nachfolgend einfach als "IC" bezeichnet wird), und das Bezugszeichen 5 bezeichnet einen Trog, das Bezugszeichen 8 bezeichnet ein Trägergestell, das Bezugszeichen 20 bezeichnet ein TBIB-Handhabegerät, das Bezugszeichen 21 bezeichnet ein TBIB, das Bezugszeichen 22 bezeichnet einen IC-Testschaltkreis, das Bezugszeichen 26 bezeichnet eine Ausrichtungsstufe, und das Bezugszeichen 27 bezeichnet eine Teststufe.

Wie in Fig. 2 gezeigt, sind Vertiefungsabschnitte kreuzweise in dem Trog 5 gebildet, die teilweise in der Figur gezeigt sind, derart, dass die ICs 1A geladen sind. Die Tröge 5, beispielsweise 35 Stück hiervon, sind aufgestapelt. Die jeweiligen ICs 1A werden einer nach dem anderen von dem Trog 5 zu den Ausrichtungsstufen 26 durch eine Hand mit einem nicht gezeigten Vakuumabsorbiersystem übertragen.

Die ICs 1A werden in die Vertiefungsabschnitte geladen, die in den Ausrichtungsstufen 26 gebildet sind und die Formen aufweisen, die geringfügig größer als die externen Formen der ICs 1A sind, und die Stellungen der ICs 1A sind ausgerichtet.

Die ICs 1A mit ausgerichteten Stellungen werden von den Ausrichtungsstufen 26 zu den Teststufen 27 durch die Hand mit dem Vakuumabsorbiersytem übertragen.

Bei den Teststufen 27 sind die IC Sockel als Elektroden angeordnet und elektrisch mit der IC Testschaltung 22 verbunden. Die ICs 1A, die in Kontakt zu den IC Sockeln stehen, werden durch die IC Testschaltung 22 getestet.

Die IC Testschaltung 22 führt den Vortest der ICs 1A durch, und zwar anhand eines vereinfachten Funktionstest vor dem Einbrenntest der ICs 1A. Die durch die IC Testschaltung 22 als nicht defekt beurteilten ICs 1A werden zu dem nachfolgend beschriebenen TBIB 21 übertragen und im IC Sockel auf dem TBIB 21 eingefügt.

Bei dem Tragegestell 8 sind TBIB-Einheiten 21 mit nicht eingefügten ICs 1A aufgestapelt. Ein TBIB-Teil 21 wird aus dem Tragegestell 8 herausgenommen und zu der Einfügeposition für die ICs 1A übertragen.

Bei der Einfügeposition, wie oben beschrieben, werden die ICs 1A ohne Defekte von den Teststufen 27 zu dem TBIB 21 übertragen und in die hierauf vorgesehen IC Sockel eingefügt. Ist eine vorgegebene Zahl von ICs 1A in dem TBIB 21 eingefügt, so wird der TBIB 21 zu dem Trägergestell 8 zurückgeführt.

Nach dem Einfügen der ICs 1A in alle TBIB-Einheiten 21 in dem Trägergestell 8 wird das Trägergestell 8 zu dem Einbrenngerät übertragen, zum Durchführen des Einbrenntests, der die nächste Prozeßstufe darstellt. Anschließend wird eine Folge von Betriebsschritten des TBIB-Handhabungsgeräts 20 abgeschlossen.

Bei dem TBIB-Handhabungsgerät 20 mit der in Fig. 2 gezeigten Struktur werden die durch die IC Testschaltung 22 als nicht defekt bestimmten ICs 1A auf dem TBIB 21 montiert, jedoch wird nach dem Montieren der ICs 1A auf dem TBIB 21 der Vortest der ICs 1A durch die IC Testschaltung 22 nicht durchgeführt.

Demnach, erfolgt bei dem Einbrenntest als nächste Prozeßstufe dann, wenn ein Defekt aufgrund eines Kontaktfehlers zwischen dem IC Sockel und dem TBIB 21 und dem IC 1A festgestellt wird, ein Entfernen des ICs 1A von dem IC Sockel bei der Position durch einen manuellen Arbeitsschritt.

Die vorliegende Erfindung wurde im Hinblick auf das obige Problem entwickelt. Demnach besteht ein technisches Problem der vorliegenden Erfindung in der Bereitstellung eines TBIB- Handhabungsgeräts mit einem Einbrennbord-Prüfgerät (Engl.: burn-in bord) zum Testen eines TBIBs, sowie eine Testschaltung zum Durchführen eines Vortests für ein IC anhand eines vereinfachten Funktionstests. Ein anderes technisches Problem der Erfindung besteht in der Bereitstellung eines Geräts zum Testen eines Einbrennbords, das sowohl das Einbrennbord als auch die zu testende Einrichtung testet.

Zum Erzielen der oben genannten technischen Probleme enthält gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung das TBIB- Handhabungsgerät zum Einfügen und Herausnehmen von ICs zu und von einem TBIB eine Testschaltung zum Durchführen eines Vortests der ICs gemäß einem vereinfachten Funktionstest vor dem Einbrenntest der ICs und ein Einbrennbord-Prüfgerät zum Testen des TBIB.

Das Einbrennbord-Testgerät dient zum Testen des TBIB für eine Prüfung von dessen Defekten, beispielsweise einer Unterbrechung eines Musters, eines Lötfehlers, einem Kurzschluß und einem anderen Defekt. Gemäß dem TBIB- Handhabungsgerät enthält das TBIB-Handhabungsgerät die Testschaltung für die ICs und das Einbrennbord-Prüfgerät derart, dass das TBIB durch das Einbrennbord-Prüfgerät getestet wird und der Vortest der ICs durch den vereinfachten Funktionstest durch die Testschaltung vor dem Einbrenntest durchgeführt wird.

Das TBIB-Handhabungsgerät kann ferner einen elektronischen Schalter enthalten, der elektrisch mit dem TBIB verbunden ist, auf dem die ICs montiert sind. Der elektronische Schalter dient zum Schalten zwischen ersten Testsignalen der Testschaltung und zweiten Testsignalen des Einbrennbord- Prüfgeräts.

Da das TBIB-Handhabungsgerät den elektronischen Schalter enthält, läßt sich dann, wenn der elektronische Schalter zu einer Seite der Testschaltung geschaltet wird, derart, dass erste Testsignale und das TBIB mit hierauf montierten ICs elektrisch mit der Testschaltung für ICs verbunden sind, der Vortest der ICs durchführen, wohingehend dann, wenn der elektronische Schalter zu einer Seite des Einbrennbord- Prüfgeräts mit den zweiten Testsignalen geschalten ist, sich das TBIB testen läßt.

Das TBIB-Handhabungsgerät kann ferner eine Ausrichtungsstufe zum Ausrichten der Stellungen der ICs enthalten, die von einem Trog übertragen werden, in dem die ICs montiert sind, derart, dass nach dem Ausrichten der Stellung der ICs bei der Ausrichtungsstufe sich die ICs zu normalen integrierten Schaltungssockeln auf dem TBIB übertragen und hieran montieren lassen.

Bei dem TBIB-Handhabungsgerät lassen sich die Stellung der ICs bei der Ausrichtungsstufe ausrichten, und hiernach lassen sich die ICs zu den normalen integrierten Schaltungssockeln auf dem TBIB übertragen und hieran montieren, so dass sich ICs bei in der Ausrichtungsstufe ausgerichteten Stellungen direkt zu den normalen integrierten Schaltungssockeln auf dem TBIB übertragen und hieran montieren lassen.

Bei dem TBIB-Handhabungsgerät läßt sich der Vortest der ICs durch die Testschaltung in einem Zustand durchführen, bei dem die ICs auf den normalen integrierten Schaltungssockeln auf dem TBIB montiert sind, und die normalen Sockel werden durch das Einbrennbord-Prüfgerät als nicht defekt beurteilt.

Demnach ist es möglich, den Vortest der ICs in dem Zustand durchzuführen, in dem die ICs auf den normalen integrierten Schaltungssockeln auf dem TBIB montiert sind. Demnach schaltet der elektronische Schalter zwischen dem Test des TBIB und dem Vortest der ICs in einen Zustand, gemäß dem die ICs auf dem TBIB montiert sind, wodurch das TBIB- Handhabungsgerät einen verbesserten Testwirkungsgrad haben kann.

Das TBIB-Handhabungsgerät, die Testschaltung, das Einbrennbord-Prüfgerät und der elektrische Schalter lassen sich als eine Einheit ausbilden, und die Einheit läßt sich mit dem Testeinbrennbord über einen Verbinder verbinden.

Gemäß dem TBIB-Handhabungsgerät können die Testschaltung, das Einbrennbord-Prüfgerät und der elektrische Schalter als eine Einheit ausgebildet sein, und die Einheit läßt sich mit dem TBIB über den Verbinder verbinden, wodurch sich die Testschaltung, das Einbrennbord-Prüfgerät und der elektrische Schalter einfach und elektrisch mit dem TBIB als Einheit durch den Verbinder verbinden lassen, so dass es möglich ist, zahlreiche Kombinationen der Tester zu ermöglichen.

In Übereinstimmung mit einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung enthält ein Gerät zum Testen eines Einbrennbords und zum Einfügen und Herausnehmen einer zu testenden Einrichtung in und aus einem Einbrennbord eine Testschaltung zum Testen der zu testenden Einrichtung vor dem Einbrenntest und ein Einbrennbord-Prüfgerät zum Testen des Einbrennbords.

Die obigen und weitere technische Probleme, Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung ergeben sich anhand der folgenden Beschreibung im Zusammenhang mit mit der beiliegenden Zeichnung, in der gleiche Bezugszeichen gleiche Teile bezeichnen; es zeigen:

Fig. 1 eine schematische Darstellung der Organisation eines TBIB-Handhabungsgeräts gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung; und

Fig. 2 eine schematische Darstellung der Organisation eines TBIB-Handhabungsgeräts einer früheren Technologie.

Das TBIB-Handhabungsgerät gemäß der Ausführungsform der Erfindung wird wie folgt unter Bezug auf die Zeichnung beschrieben.

Die Fig. 1 zeigt eine schematische Darstellung der Organisation eines TBIB-Handhabungsgeräts gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. In der Fig. 1 bezeichnet das Bezugszeichen 1 ein TBIB als Einbrennbord, das Bezugszeichen 2 bezeichnet eine IC Testschaltung, das Bezugszeichen 3 bezeichnet ein Einbrennbord-Prüfgerät, das Bezugszeichen 4 bezeichnet einen elektronischen Schalter, das Bezugszeichen 6 bezeichnet eine Ausrichtungsstufe, und das Bezugszeichen 10 bezeichnet ein TBIB-Handhabungsgerät.

In der Fig. 1 sind die strukturellen Einheiten, Elemente und dergleichen, die den in Fig. 2 gezeigten zugeordnet sind, anhand derselben Bezugszeichen bezeichnet, und die detaillierte Erläuterung derselben wird geeignet weggelassen.

Wie in Fig. 1 gezeigt, ist der elektrische Schalter 4 elektrisch mit dem TBIB 1 verbunden. Der elektrische Schalter 4 schaltet zwischen Testsignalen der IC Testschaltung 2 (den ersten Testsignalen) und den zweiten Testsignalen des Einbrennbord-Prüfgeräts 3 (den zweiten Testsignalen).

Wie in der Figur gezeigt, sind die IC Testschaltung 2, das Einbrennbord-Prüfgerät 3 und der elektrische Schalter 4 als eine Einheit ausgebildet, und die Einheit läßt sich mit dem TBIB 1 über Verbinder verbinden.

Die IC Testschaltung 2 dient als Testschaltung zum Durchführen des Vortests der ICs 1A als zu testende Einrichtungen. Das Einbrennbord-Prüfgerät 3 dient zum Testen der TBIB Einheiten 1 zum Prüfen, ob die TBIB Einheiten 1 eine Unterbrechung des Musters aufweisen oder nicht, und derselbe Test erfolgt im Hinblick auf einen Lötfehler, einen Kurzschluß oder andere Defekte. Die Ausrichtungsstufe 6 dient zum Ausrichten der Stellung der ICs 1A, wie bei der früheren Technologie.

Nun wird der Betrieb des TBIB-Handhabungsgeräts 10 wie folgt erläutert.

Bei dem in Fig. 1 gezeigten Trägergestell 8 sind die TBIB Einheiten 1 gestapelt, in denen die ICs 1A nicht eingefügt sind. Ein Stück einer TBIB Einheit 1 wird aus dem Trägergestell 8 herausgenommen und zu der Einfügeposition für die ICs 1A übertragen.

Bei der Einfügeposition wird das TBIB 1 durch das Einbrennbord-Prüfgerät 3 getestet. Die IC-Sockel, die durch das Einbrennbord-Prüfgerät 3 als nicht defekt beurteilt werden, werden als normale IC-Sockel bezeichnet. Das durch das Einbrennbord-Prüfgerät 3 bewertete TBIB 1 wartet auf den Empfang der ICs 1A bei der Einfügeposition.

Die ICs 1A werden einer nach dem anderen von dem Trog 5 zu den Ausrichtungsstufen 6 durch eine nicht gezeigte Hand in dem Vakuumansaugsystem übertragen. Nach dem Ausrichten der Stellungen der ICs 1A bei den Ausrichtungsstufen 6 werden die ICs 1A, deren Stellungen ausgerichtet sind, von den Ausrichtungsstufen 6 zu dem TBIB 1 übertragen und in die normalen IC-Sockel durch die Hand in dem Vakuumansaugsystem eingefügt. Andererseits werden defekte IC-Sockel auf dem TBIB 1 durch Software markiert, so dass ICs 1A hier nicht eingefügt werden.

In diesem Zeitpunkt wird der elektronische Schalter 4 zu einer Seite der IC-Testschaltung 2 geschaltet. Anschließend wird der Vortest der ICs 1A anhand des vereinfachten Funktionstests in dem Zustand durchgeführt, dass die ICs 1A in die normalen IC-Sockel auf dem TBIB 1 eingefügt sind.

Nach dem Vortest verbleiben die ICs 1A, für die kein Defekt festgestellt wird, in den normalen IC-Sockeln auf dem TBIB 1, wohingehend die ICs 1A, für die ein Defekt festgestellt wird, aus dem TBIB 1 herausgenommen werden und zu nicht gezeigten Behältern für die Anwendung bei den defekten Produkten übertragen werden.

Nach dem Einfügen der ICs 1A, die als nicht defekt beurteilt werden, in alle normale IC-Sockel auf dem TBIB, wird das TBIB 1 zu dem Trägergestell 8 rückgeführt.

Sind die IC-Einheiten 1A auf allen TBIB Einheit 1 in dem Trägergestell 8 montiert, so wird das Trägergestell 8 als Einheit zu dem Einbrenngerät übertragen, und zwar zum Durchführen des Einbrenntests, der die nächste Prozeßstufe darstellt. Anschließend ist eine Serie von Betriebsschritten mit dem TBIB-Handhabungsgerät 10 abgeschlossen.

Wie oben beschrieben, werden gemäß dem TBIB-Handhabungsgerät 10 gemäß der Erfindung die ICs 1A, deren Stellungen in der Ausrichtungsstufe 6 ausgerichtet sind, direkt zu den normalen IC-Sockeln auf dem TBIB 1 übertragen und hierauf montiert, und hiernach wird der Vortest der ICs 1A durchgeführt, so dass es möglich ist, die Fähigkeit des TBIB-Handhabungsgeräts 10 zum Verarbeiten der ICs zu verbessern.

Ferner sind bei dem TBIB-Handhabungsgerät 10 aufgrund der Tatsache, dass sich der Vortest der ICs 1A in dem Zustand durchführen läßt, gemäß dem die ICs 1A auf den normalen IC- Sockeln auf dem TBIB 1 montiert sind, die Betriebsschritte zum Bestätigen des Kontaktfehlers der ICs bei dem Einbrenntest als nächste Prozeßstufe nicht erforderlich.

Ferner werden die TBIB-Einheiten 1 vor dem Vortest getestet, so daß es möglich ist, zu vermeiden, dass normale ICs in defekte IC-Sockel eingefügt werden.

Das TBIB 1, auf dem die ICs 1a montiert sind, läßt sich elektrisch verbinden, und zwar sowohl mit der Testschaltung 2 als auch mit dem Einbrennbord-Prüfgerät 3 durch Schalten des elektronischen Schalters 4.

Die Testschaltung 2, das Einbrennbord-Prüfgerät 3 und der elektrische Schalter 4 lassen sich einfach und elektrisch mit dem TBIB 1 als eine Einheit durch den Verbinder verbinden, und es entsteht der Vorteil, dass zahlreiche Kombinationen der Tester ermöglicht werden.

Bei der beschriebenen Ausführungsform sind die IC- Testschaltung 2, das Einbrennbord-Prüfgerät 3 und der elektrische Schalter 4 als eine Einheit ausgebildet, und diese Einheit ist mit dem Testeinbrennbord 1 über die Verbinder verbunden. Jedoch ist sie nicht hierauf beschränkt, und der elektrische Schalter 4 kann mit dem Testeinbrennbord 1 und der IC-Testschaltung 2 verbunden sein, und das Einbrennbord-Prüfgerät 3 kann mit dem elektrischen Schalter 4 über Verbinder verbunden sein.

Anhand der vorangehenden Beschreibung erkennt ein Fachmann einfach die wichtigen Eigenschaften dieser Erfindung, und für ihn sind ohne Abweichen von dem Sinngehalt und Schutzbereich derselben zahlreiche Änderungen und Modifikationen der Erfindung ersichtlich, um sie an zahlreiche Einsätze und Bedingungen anzupassen.

Die gesamte Offenbarung der japanischen Patentanmeldung Nr. 11-20421, hinterlegt am 28. Januar 1999, einschließlich der Beschreibung, der Patentansprüche, der Zeichnungen und der Zusammenfassung, sind hier durch Bezugnahme in ihrer Gesamtheit mit aufgenommen.

Claims (8)

1. Handhabungsgerät für ein Testeinbrennbord zum Einfügen und Herausziehen zu testender integrierter Schaltungen in und aus einem Testeinbrennbord, enthaltend:
eine Testschaltung zum Durchführen eines Vortests der zu testenden integrierten Schaltungen anhand eines vereinfachten Funktionstests vor dem Einbrenntest der zu testenden integrierten Schaltungen; und
ein Einbrennbord-Prüfgerät zum Testen des Testeinbrennbords.

2. Handhabungsgerät für ein Testeinbrennbord nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass es ferner einen elektronischen Schalter enthält, der elektrisch mit dem Testeinbrennbord verbunden ist, auf dem die zu testenden integrierten Schaltungen montiert sind, und dass der elektronische Schalter zwischen ersten Testsignalen der Testschaltung und zweiten Testsignalen des Einbrennbord- Prüfgeräts schaltet.

3. Handhabungsgerät für Testeinbrennbord nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass es ferner eine Ausrichtungsstufe enthält, zum Ausrichten der Stellungen zum Testen integrierter Schaltungen, die von einem Trog übertragen werden, in dem die zu testenden integrierten Schaltungen montiert sind, derart, dass nach dem Ausrichten der Stellungen der zu testenden integrierten Schaltungen bei der Ausrichtungsstufe die zu testenden integrierten Schaltungen zu normalen Sockeln für integrierte Schaltungen auf dem Testeinbrennbord übertragen und hieran montiert werden.

4. Handhabungsgerät für ein Testeinbrennbord nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Vortest der zu testenden integrierten Schaltungen durch die Testschaltung in einem Zustand durchgeführt wird, gemäß dem die zu testenden integrierten Schaltungen auf normalen Sockeln für integrierte Schaltungen auf dem Testeinbrennbord montiert sind, derart, dass die normalen Sockel durch das Einbrennbord-Prüfgerät als nicht defekt beurteilt werden.

5. Handhabungsgerät für Testeinbrennbords nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Testschaltung, das Einbrennbord-Prüfgerät und der elektrische Schalter als eine Einheit ausgebildet sind und die Einheit mit dem Testeinbrennbord über einen Verbinder verbunden ist.

6. Gerät zum Testen eines Einbrennbords und zum Einfügen und Herausziehen einer zu testenden Einrichtung in und aus einem Einbrennbord für die zu testende Einrichtung, enthaltend:
eine Testschaltung zum Testen der zu testenden Einrichtung vor einem Einbrenntest; und
ein Einbrennbord-Prüfgerät zum Testen des Einbrennbords.

7. Gerät nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass es ferner einen elektrischen Schalter enthält, der elektrisch mit dem Einbrennbord verbunden ist, auf dem die zu testenden Einrichtungen montiert sind, und dass der elektrische Schalter zwischen ersten Testsignalen der Testschaltung und zweiten Testsignalen des Einbrennbord-Prüfgeräts schaltet.

8. Gerät nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Test der zu testenden Einrichtungen durch die Testschaltung in einem Zustand durchgeführt wird, dass die zu testenden Einrichtungen auf normalen Sockeln auf dem Einbrennbord montiert sind, und dass die normalen Sockel durch das Einbrennbord-Prüfgerät als nicht defekt beurteilt sind.