CZ305955B6 - Způsob rentgenové nanoradiografie a nanotomografie a zařízení k provádění tohoto způsobu - Google Patents

Způsob rentgenové nanoradiografie a nanotomografie a zařízení k provádění tohoto způsobu Download PDF

Info

Publication number
CZ305955B6
CZ305955B6 CZ2014-852A CZ2014852A CZ305955B6 CZ 305955 B6 CZ305955 B6 CZ 305955B6 CZ 2014852 A CZ2014852 A CZ 2014852A CZ 305955 B6 CZ305955 B6 CZ 305955B6
Authority
CZ
Czechia
Prior art keywords
sample
rays
fluorescent
braking
pattern
Prior art date
Application number
CZ2014-852A
Other languages
English (en)
Other versions
CZ2014852A3 (cs
Inventor
Jan Sohar
Original Assignee
Advacam S.R.O.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advacam S.R.O. filed Critical Advacam S.R.O.
Priority to CZ2014-852A priority Critical patent/CZ305955B6/cs
Priority to EP15823489.8A priority patent/EP3227670B1/en
Priority to US15/531,467 priority patent/US9880113B2/en
Priority to JP2017528815A priority patent/JP6362782B2/ja
Priority to PCT/CZ2015/000145 priority patent/WO2016086908A1/en
Publication of CZ2014852A3 publication Critical patent/CZ2014852A3/cs
Publication of CZ305955B6 publication Critical patent/CZ305955B6/cs

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/225Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material using electron or ion
    • G01N23/2251Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material using electron or ion using incident electron beams, e.g. scanning electron microscopy [SEM]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/045Investigating materials by wave or particle radiation combination of at least 2 measurements (transmission and scatter)
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40Imaging
    • G01N2223/419Imaging computed tomograph

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Vynález popisuje způsob a zařízení (6) k provádění způsobu rentgenové nanoradiografie a nanotomografie s pomocí skenovacího elektronového mikroskopu (1) zahrnující fokusaci elektronového svazku z elektronového mikroskopu (1) na jeden bod povrchu sledovaného vzorku (2), emisi brzdného a fluorescenčního záření z ohniska dopadu elektronového svazku, prosvícení snímaného vzorku (2) a zaznamenání obrazu struktury snímaného vzorku (2) na základě změny intenzit brzdného a fluorescenčního záření zobrazovacím plošným detektorem (4) uspořádaným za vzorkem (2).

Description

- Způsob rentgenové nanoradiograíie a nanotomografie a zařízení k provádění tohoto způsobu
Oblast techniky
Vynález se zabývá způsobem a zařízením pro provádění nanoradiografie a nanotomografie s využitím skenovacího elektronového mikroskopu. Vynález umožňuje vytvoření modelu povrchu, včetně přesného modelu vnitřní struktury, snímaného vzorku.
Dosavadní stav techniky
Skenovací elektronové mikroskopy se používají k mapování povrchu snímaného vzorku s přesností v řádech nanometrů. Skenovací elektronové mikroskopy zpravidla zahrnují zdroj elektronů, který vytváří elektronový svazek. Elektronový svazek je pomocí elektronové optiky zaostřen do jediného bodu na povrchu snímaného vzorku. Při dopadu elektronového svazku do určeného bodu vzorku dojde k odrazu některých elektronů a/nebo k uvolnění sekundárních elektronů a/nebo k emisi charakteristického rentgenového záření. Tyto částice jsou zaznamenány alespoň jedním detektorem, přičemž ve výsledcích jsou uvedeny hodnoty daného bodu povrchu vzorku odrážet, nebo emitovat sekundární částice. Snímaný povrch vzorku je bod po bodu naskenován celý, načež je z výsledků vytvořen jeho obraz.
Při rentgenové transmisní radiografň je sledován útlum intenzity rentgenového záření procházejícího vzorkem. Jako zdroj rentgenového záření je použita rentgenová trubice. Do trasy rentgenového záření je vložen vzorek, který je prosvícen. Následně rentgenové záření dopadá na detektor, který zaznamená jeho intenzity. Výsledkem je obraz, který zachycuje vnitřní strukturu vzorku z hlediska schopnosti tlumit rentgenové záření.
Je-li zaznamenán větší soubor obrazů vzorku pořízených pod různými ozařovacími úhly, lze pomocí metod výpočetní tomografie vymodelovat trojrozměrný popis vnitřní struktury snímaného vzorku.
Úkolem vynálezu je vytvoření způsobu a zařízení, které umožňuje v rámci jedné pracovní operace provést nanoradiografii, nanotomografii, mikroskopii a eventuálně i topografii povrchu vzorku.
Podstata vynálezu
Vytčený úkol je vyřešen vytvořením způsobu a zařízení pro provádění nanoradiografie a nanotomografie s využitím skenovacího elektronového mikroskopu podle tohoto vynálezu.
Způsob rentgenové nanoradiografie a nanotomografie s pomocí skenovacího elektronového mikroskopu zahrnuje nejprve usměrnění elektronového svazku vystupujícího ze skenovacího elektronového mikroskopu do bodu na snímaném povrchu vzorku. Následuje detekce odražených a sekundárních částic alespoň jedním detektorem, který rovněž zaznamená data týkající se odrazových a emisních parametrů daného bodu. Způsob zahrnuje opakování snímání pro všechny body snímaného povrchu vzorku.
Podstata vynálezu spočívá v tom, že současně s dopadem elektronového svazku do bodu na snímaném povrchu vzorku je emitováno brzdné a fluorescenční rentgenové záření, přičemž bod dopadu je rovněž ohniskem takto emitovaného brzdného a fluorescenčního rentgenového záření. Toto rentgenové záření je emitováno z ohniska do všech směrů a jeho část tedy také proniká do vzorku. Intenzita tohoto záření je ve vzorku částečně absorbována podle rozložení hustoty mate
- 1 CZ 305955 B6 riálu v objemu vzorku. Rentgenové záření, které není utlumeno a vystupuje ze vzorkuje detekováno alespoň jedním zobrazovacím plošným detektorem umístěným za vzorkem. Obraz zachycený tímto detektorem zachycuje vnitřní strukturu vzorku, tak že jsou rozlišeny části struktury vzorku podle jejich schopnosti tlumit procházející rentgenové záření. Tento obraz je zaznamenáván opakovaně pro všechny polohy ohniska na povrchu vzorku a pomocí metod výpočetní tomografie je vymodelována vnitřní struktura vzorku ve 3D.
Funkce skenovacího elektronového mikroskopu zůstane nezměněna, neboť je stále detekována schopnost povrchu objektu emitovat nebo odrážet částice v daném bodě. Nově je využito doprovodného jevu, kdy je uvolněno s dopadem elektronového svazku brzdné rentgenové záření. Toto rentgenové záření je pronikavější, nežli elektronový svazek, takže může procházet celým objemem vzorku. Za vzorkem je umístěn zobrazovací plošný detektor, který zaznamená obraz změn intenzity rentgenového záření za různými částmi vzorku. Tím vzniká zvětšený obraz vnitřní struktury vzorku. Zvětšení jednotlivých částí struktury vzorku závisí na jejich vzdálenosti od ohniska. Struktury nacházející se těsně pod povrchem a tedy v těsné blízkosti ohniska jsou zvětšeny nejvíce a rozlišovací schopnost v jejich radiografickém obrazu se v tomto případě blíží rozlišení elektronové mikroskopie a činí jednotky až desítky nanometrů. Proto hovoříme o nanoradiografii.
Pokud jsou takto zaznamenány všechny radiografické obrazy pořízené při mnoha polohách ohniska na povrchu snímaného vzorku, je možné ze souboru dat vypočítat trojrozměrný model struktury vzorku s rozlišením jednotek až desítek nanometrů. V tomto případě hovoříme o nanotomografii. Radiografická data jsou sbírána současně se skenováním elektronovým mikroskopem.
V jiném výhodném provedení způsobu nanoradiografie a nanotomografie podle tohoto vynálezu je umístěn do prostoru mezi vzorkem a zobrazovacím plošným detektorem vzor o známých rozměrech. Tímto vzorem může být například tenká kovová mřížka. V průběhu radiografického snímkování je obraz známého vzoru superponován na obraz vzorku, přičemž zvětšení známého vzoru závisí na vzdálenosti ohniska od známého vzoru. Ze zaznamenaných obrazových dat lze zjistit úroveň zvětšení známého vzoru a následně vypočítat vzdálenost ohniska od tohoto vzoru. Tento postup se postupně aplikuje na všechny polohy ohniska v průběhu skenování. Zjištěné vzdálenosti se použijí pro sestavení 3D modelu tvaru povrchu vzorku tj. jeho topografii. Zjištěný tvar povrchu vzorku lze následně použít k vylepšení tomografické rekonstrukce vzorku.
Součástí vynálezu je rovněž i zařízení k provádění výše uvedeného způsobu.
Zařízení pro rentgenovou nanoradiografii a nanotomografii zahrnující skenovací elektronový mikroskop sestává ze zdroje elektronového svazku, z elektronové optiky pro fokusaci elektronového svazku do bodu na povrchu snímaného vzorku, dále z alespoň jednoho detektoru pro detekci odražených a sekundárních částic. Zařízení rovněž zahrnuje řídicí jednotku.
Podstata vynálezu spočívá v tom, že je za vzorkem umístěn zobrazovací plošný detektor pro detekci utlumení brzdného a fluorescenčního rentgenového záření ve vzorku, který je propojen s řídicí jednotkou.
To je výhodné, protože bod na povrchu snímaného vzorku, do kterého je fokusován elektronový svazek, je ohniskem emise brzdného a fluorescenčního rentgenového záření a zobrazovací plošný detektor je schopen zaznamenat pokles intenzity brzdného rentgenového záření. Výsledky detekce jsou odesílány do řídicí jednotky, která je zpracuje do modelů. Brzdné záření je doprovodným jevem, takže nevyžaduje vlastní zdroj, ani nezávislou optiku.
V jiném výhodném provedení zařízení pro rentgenovou nanoradiografii a nanotomografii podle tohoto vynálezu zahrnuje řídicí jednotka alespoň jeden modul ze skupiny modul pro uložení dat, výpočetní modul, zobrazovací modul, záznamový modul, distribuční modul. Výpočetní jednotka
-2CZ 305955 B6 je tvořena počítačem. Modul pro uložení dat je realizován datovým úložištěm, výpočetní modul je realizován procesorem, záznamový modul je realizován připojenou tiskárnou. Zobrazovací modul je displej počítače a distribuční modul je síťová karta umožňující komunikaci se vzdálenými systémy. Moduly je možné realizovat jako virtuální zařízení v operačním programu počítače.
V dalším jiném výhodném provedení zařízení pro rentgenovou nanoradiografíi a nanotomografii podle tohoto vynálezu je mezi vzorkem a zobrazovacím plošným detektorem uspořádán alespoň jeden vzor o známých rozměrech a řídicí jednotka je upravena pro vyhodnocení zvětšení obrazu tohoto vzoru. Obraz tlumení intenzity brzdného rentgenového záření vzoru a jeho známé rozměry umožňují výpočet polohy ohniska. Poloha ohniska je důležitá pro další modelování vzorku, např. topografie povrchu vzorku.
Mezi hlavní výhody vynálezu patří vysoká rozlišovací schopnost a časová úspora na pracovní operace. Během jednoho skenování jsou zajištěna data pro nanotomografii, nanoradiografíi, topografii a samotné skenování povrchu elektronovým mikroskopem není nijak ovlivněno.
Objasnění výkresů
Vynález bude blíže osvětlen pomocí následujících vyobrazení, na kterých znázorňují:
obr. 1 schematické vyobrazení změny obrazu intenzity brzdného rentgenového záření k vadě uvnitř vzorku podle ohniska brzdného záření, obr. 2 schematické vyobrazení zařízení pro topografii povrchu vzorku, obr. 3 schematické vyobrazení zařízení pro nanoradiografíi a nanotomografii.
Příklady uskutečnění vynálezu
Rozumí se, že jednotlivá uskutečnění vynálezu jsou představována pro ilustraci, nikoli jako omezení vynálezu na výčet zde uvedených příkladů provedení. Odborníci znalí stavu techniky najdou nebo budou schopni zjistit za použití rutinního experimentování mnoho ekvivalentů ke specifickým uskutečněním vynálezu, která jsou zde speciálně popsána. I tyto ekvivalenty budou zahrnuty v rozsahu následujících patentových nároků.
Vynález je prezentován na obr. 1, kde je schematicky vyobrazen způsob fungování vynálezu. Způsob používá skenovací elektronový mikroskop 1, uvnitř kterého se generuje svazek elektronů. Elektronový svazek je usměrněn do bodu na povrchu snímaného vzorku 2. Z bodu dopadu je generováno sekundární záření a odražené částice, které se šíří všemi směry. Toto sekundární záření je detekováno alespoň jedním přidruženým detektorem 3 odražených a sekundárních částic, z jehož dat se zjistí charakteristika vzorku 2 v místě dopadu.
Místo dopadu rovněž tvoří takzvané ohnisko brzdného a fluorescenčního záření, ze kterého se brzdné a fluorescenční záření šíří do prostoru. Toto záření má vysokou pronikavost, takže pronikne snímaným vzorkem 2. Za vzorek 2 se do směru postupu brzdného záření uspořádá alespoň jeden zobrazovací plošný detektor 4, který je schopen zaznamenat intenzitu brzdného záření. Jakmile má vzorek 2 nehomogenní strukturu ve smyslu absorpce rentgenového záření, ovlivňuje tato vnitřní struktura výstupní intenzitu záření a na plošném detektoru 4 je zaznamenán obraz vnitřní struktury snímaného vzorku 2.
Pokud se ohnisko posune, viz obr. 1, změní se i výstupní obraz. Ze souboru obrazů získaných při všech polohách ohniska je dopočten metodou výpočetní tomografie model 3D struktury vzorku 2.
-3 CZ 305955 B6
Aby bylo možné modelovat i trojrozměrný model povrchu snímaného vzorku 2, je za snímaný vzorek 2 ve směru postupu brzdného záření od ohniska uspořádán vzor 5 o známých rozměrech. Na zobrazovací plošný detektor 4 je tedy prostupujícím rentgenovým zářením promítnut obraz struktury vzorku 2 i vzoru 5. V takto zachyceném kombinovaném obraze je identifikován obraz vzoru 5 a určeno jeho zvětšení například pomocí metody obrazové korelace. Ze známých rozměrů vzoru 5 a obrazu jeho útlumu intenzit brzdného záření procházejícího vzorem 5 je dopočítána vzdálenost ohniska od vzoru 5 a tedy i výška povrchu vzorku 2 ve snímaném bodě. Uspořádáním všech snímaných bodu vedle sebe je vymodelován 3D model povrchu vzorku 2.
Zařízení 6 zahrnuje standardní skenovací elektronový mikroskop 1 mající zdroj 7 elektronového svazku, elektronovou optiku 8 pro směrování a fokusaci elektronového svazku a alespoň jeden přidružený detektor 3 odražených a sekundárních částic od snímaného vzorku 2. Dále je za snímaným vzorkem 2 ve směru postupu brzdného záření uspořádána kovová mřížka tvořící vzor 5 o známých rozměrech a vyobrazovací plošný detektor 4. Vyobrazovací plošný detektor 4 může být např. tvořen polem pixelových detektorů Timepix.
Skenovací elektronový mikroskop 1 a zobrazovací plošný detektor 4 jsou propojeny s řídicí jednotkou 9 realizovanou počítačem. Řídicí jednotka 9 zahrnuje modul 10 pro uložení dat. Modul 10 je tvořen datovým úložištěm zapojeným do počítače řídicí jednotky 9. Součástí řídicí jednotky 9 je také výpočetní modul jj_, který je tvořen výpočetním softwarovým prostředkem spuštěným v operačním systému řídicí jednotky 9. Výpočetní modul 11 využívá procesorů počítače. Zobrazovací modul 12 je tvořen displejem počítače a záznamový modul 13 je tvořen tiskárnou propojenou s počítačem. Distribuční modul 14 je tvořen síťovým adaptérem pro připojení k datovým sítím pro sdílení dat.
Průmyslová využitelnost
Vynález nalezne uplatnění v biologických a medicínských aplikacích, v aplikacích testujících kvalitu výrobků, v odvětvích zabývajících se novými druhy materiálů, v polovodičovém průmyslu k testování kvality čipů, v archeologii a dalších odvětvích kde je potřeba znát 3D vnitřní strukturu vzorku, aniž by došlo kjeho poškození.

Claims (5)

  1. PATENTOVÉ NÁROKY
    1. Způsob rentgenové nanoradiografie a nanotomografie s pomocí skenovacího elektronového mikroskopu (1), zahrnující nejprve usměrnění elektronového svazku vystupujícího ze skenovacího elektronového mikroskopu (1) do bodu na povrchu vzorku (2), dále detekci odražených a sekundárních částic alespoň jedním detektorem (3) včetně záznamu dat týkajících se odrazových a emisních parametrů daného bodu, a dále zahrnující opakování snímání pro všechny body snímaného povrchu vzorku (2), vyznačující se tím, že současně s dopadem elektronového svazku do bodu na snímaném povrchu vzorku (2) je emitováno brzdné a fluorescenční rentgenové záření, přičemž bod dopadu je rovněž ohniskem emitovaného brzdného a fluorescenčního rentgenového záření, a dále je brzdné a fluorescenční rentgenové záření vystupující ze vzorku (2) detekováno alespoň jedním zobrazovacím plošným detektorem (4) uspořádaným za vzorkem (2), načež je obraz utlumení brzdného a/anebo fluorescenčního rentgenového záření zaznamenán, a po zaznamenání obrazů všech ohnisek je pomocí počítačové tomografie vymodelována vnitřní struktura vzorku (2) ve třech rozměrech.
  2. 2. Způsob podle nároku 1, vyznačující se tím, že za vzorek (2) s nerovným povrchem je do prostoru nacházejícím se mezi vzorkem (2) a zobrazovacím plošným detektorem (4)
    -4CZ 305955 B6 uspořádán alespoň jeden vzor (5) o známých rozměrech, načež je pro každé ohnisko zaznamenán obraz utlumení brzdného a/anebo fluorescenčního rentgenového záření zachycující strukturu vzorku (2) i známého vzoru (5), z velikosti obrazu utlumení rentgenového záření ve vzoru (5) je pomocí ozařovací geometrie vypočítána vzdálenost ohniska od vzoru a následně je po zaznamenání obrazů všech ohnisek vymodelován třírozměrný model povrchu vzorku (2) a/nebo třírozměrný model objemu vzorku (2).
  3. 3. Zařízení (6) pro rentgenovou nanoradiografii a nanotomografii s pomocí skenovacího elektronového mikroskopu (1) podle nároku 1 nebo 2, zahrnující skenovací elektronový mikroskop (1) sestávající ze zdroje (7) elektronového svazku, z elektronové optiky (8) pro fokusaci elektronového svazku do bodu na snímaném povrchu vzorku (2), z alespoň jednoho detektoru (3) pro detekci odražených a sekundárních částic, a dále zahrnující řídicí jednotku (9), vyznačující se t í m , že za vzorkem (2) ve směru šíření usměrněného elektronového svazkuje uspořádán alespoň jeden zobrazovací plošný detektor (4) pro detekci utlumení brzdného a fluorescenčního rentgenového záření ve vzorku (2), který je propojen s řídicí jednotkou (9).
  4. 4. Zařízení podle nároku 3, vyznačující se tím, že řídicí jednotka (9) zahrnuje alespoň jeden modul ze skupiny modul (10) pro uložení dat, výpočetní modul (11), zobrazovací modul (12), záznamový modul (13), distribuční modul (14).
  5. 5. Zařízení podle nároku 3 nebo 4, vyznačující se tím, že mezi vzorkem (2) a zobrazovacím plošným detektorem (4) je uspořádán alespoň jeden vzor (5) o známých rozměrech a řídicí jednotka (9) je upravena pro vyhodnocení zvětšení obrazu tohoto vzoru pořízeného prostřednictvím utlumení intenzity brzdného a fluorescenčního rentgenového záření.
CZ2014-852A 2014-12-03 2014-12-03 Způsob rentgenové nanoradiografie a nanotomografie a zařízení k provádění tohoto způsobu CZ305955B6 (cs)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CZ2014-852A CZ305955B6 (cs) 2014-12-03 2014-12-03 Způsob rentgenové nanoradiografie a nanotomografie a zařízení k provádění tohoto způsobu
EP15823489.8A EP3227670B1 (en) 2014-12-03 2015-12-03 A method of x-ray nano-radiography and nanotomography and a device for executing this method
US15/531,467 US9880113B2 (en) 2014-12-03 2015-12-03 Method of X-ray nano-radiography and nanotomography and a device for executing this method
JP2017528815A JP6362782B2 (ja) 2014-12-03 2015-12-03 X線ナノラジオグラフィ及びナノトモグラフィの方法及び装置
PCT/CZ2015/000145 WO2016086908A1 (en) 2014-12-03 2015-12-03 A method of x-ray nano-radiography and nanotomography and a device for executing this method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CZ2014-852A CZ305955B6 (cs) 2014-12-03 2014-12-03 Způsob rentgenové nanoradiografie a nanotomografie a zařízení k provádění tohoto způsobu

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CZ2014852A3 CZ2014852A3 (cs) 2016-05-18
CZ305955B6 true CZ305955B6 (cs) 2016-05-18

Family

ID=55129364

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CZ2014-852A CZ305955B6 (cs) 2014-12-03 2014-12-03 Způsob rentgenové nanoradiografie a nanotomografie a zařízení k provádění tohoto způsobu

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9880113B2 (cs)
EP (1) EP3227670B1 (cs)
JP (1) JP6362782B2 (cs)
CZ (1) CZ305955B6 (cs)
WO (1) WO2016086908A1 (cs)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3176569B1 (en) * 2016-10-11 2018-12-26 FEI Company Arrangement for x-ray tomography

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070071164A1 (en) * 2005-09-29 2007-03-29 The University Of Chicago Optomechanical structure for a multifunctional hard x-ray nanoprobe instrument
US20090065708A1 (en) * 2007-09-11 2009-03-12 Korea Basic Science Institute Moon grid for transmission electron microscopy tomography and method of fabricating the same
US20130195242A1 (en) * 2011-10-21 2013-08-01 Panasonic Corporation Method for disassembling liquid crystal display device
WO2014006443A2 (en) * 2012-07-01 2014-01-09 Gintare Statkute Samples holders – grids – supports for the samples characterization or processing with electron, ion, molecular, atomic, photon or other beams
EP2708874A1 (en) * 2012-09-12 2014-03-19 Fei Company Method of performing tomographic imaging of a sample in a charged-particle microscope

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU4973596A (en) * 1995-02-10 1996-08-27 Cardiac Mariners Incorporated Scanning-beam x-ray imaging system
JPH0982261A (ja) * 1995-09-13 1997-03-28 Hitachi Ltd 電子顕微鏡
JP4006165B2 (ja) * 2000-04-21 2007-11-14 株式会社日立製作所 元素分析装置及び走査透過型電子顕微鏡並びに元素分析方法
JP2002310954A (ja) * 2001-04-18 2002-10-23 Shimadzu Corp 試料解析装置
JP4199629B2 (ja) * 2003-09-18 2008-12-17 株式会社日立ハイテクノロジーズ 内部構造観察方法とその装置
JP5067269B2 (ja) * 2008-06-12 2012-11-07 株式会社島津製作所 マッピング分析装置
JP5423612B2 (ja) 2010-08-16 2014-02-19 富士通株式会社 共焦点走査透過型電子顕微鏡装置及び3次元断層像観察方法
US9214311B2 (en) * 2010-11-26 2015-12-15 Triple Ring Technologies, Inc. Method and apparatus for transmission of fluorescence X-ray radiation using a multilayer X-ray target
EP2605005A1 (en) * 2011-12-14 2013-06-19 FEI Company Clustering of multi-modal data
US9194829B2 (en) * 2012-12-28 2015-11-24 Fei Company Process for performing automated mineralogy
EP3040714A1 (en) * 2014-12-30 2016-07-06 Fei Company Charged Particle Microscope with improved spectroscopic functionality

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070071164A1 (en) * 2005-09-29 2007-03-29 The University Of Chicago Optomechanical structure for a multifunctional hard x-ray nanoprobe instrument
US20090065708A1 (en) * 2007-09-11 2009-03-12 Korea Basic Science Institute Moon grid for transmission electron microscopy tomography and method of fabricating the same
US20130195242A1 (en) * 2011-10-21 2013-08-01 Panasonic Corporation Method for disassembling liquid crystal display device
WO2014006443A2 (en) * 2012-07-01 2014-01-09 Gintare Statkute Samples holders – grids – supports for the samples characterization or processing with electron, ion, molecular, atomic, photon or other beams
EP2708874A1 (en) * 2012-09-12 2014-03-19 Fei Company Method of performing tomographic imaging of a sample in a charged-particle microscope

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Vanhecke, D., et al: J. Struct. Biol 159 (2007), 443 - 450 *

Also Published As

Publication number Publication date
WO2016086908A1 (en) 2016-06-09
JP2017536551A (ja) 2017-12-07
CZ2014852A3 (cs) 2016-05-18
US20170269009A1 (en) 2017-09-21
EP3227670A1 (en) 2017-10-11
US9880113B2 (en) 2018-01-30
EP3227670B1 (en) 2019-03-13
JP6362782B2 (ja) 2018-07-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI743626B (zh) 包含多束粒子顯微鏡的系統、對3d樣本逐層成像之方法及電腦程式產品
RU2372610C1 (ru) Способ и установка радиационного контроля жидких объектов
JP2007256285A (ja) 放射線透過検査システムを位置合せする方法
JP2010523950A (ja) 透過する放射線を用いて計測対象の三次元画像を生成するための方法および計測装置
US7643611B2 (en) Method and apparatus for shadow aperture backscatter radiography (SABR) system and protocol
US9857318B2 (en) Method for generating image data relating to an object and particle beam device for carrying out this method
JP3850711B2 (ja) 放射線利用検査装置
Udod et al. State-of-the art and development prospects of digital radiography systems for nondestructive testing, evaluation, and inspection of objects: a review
JP5028570B2 (ja) 侵襲性放射を用いて測定対象を検査するための方法及び装置
KR102437705B1 (ko) 물체 내부에 위치한 방사선원의 방사능 추정 시스템 및 방법
KR101480968B1 (ko) X-선 ct 및 레이저 표면 검사를 이용하는 검사 장치 및 검사 방법
US20190025231A1 (en) A method of detection of defects in materials with internal directional structure and a device for performance of the method
US11385364B2 (en) Portable neutron imaging based non-destructive evaluation
CZ305955B6 (cs) Způsob rentgenové nanoradiografie a nanotomografie a zařízení k provádění tohoto způsobu
JP2009156788A5 (ja) X線検査装置
JP4039565B2 (ja) X線検査装置、x線検査方法およびx線検査装置の制御プログラム
CZ27749U1 (cs) Zařízení k provádění rentgenové nanoradiografie a nanotomografie
JP2003294658A (ja) 放射線検査装置
JP2002162371A (ja) 逆コンプトン散乱光を利用した非破壊検査方法及び装置
JP7437337B2 (ja) 内部状態画像化装置および内部状態画像化方法
JP2004045247A (ja) X線画像検査装置
JP2007240253A (ja) 亀裂検出装置および亀裂検出方法
JP2021028575A (ja) X線装置および構造物の製造方法
JP3642108B2 (ja) シンチレーションファイバ束の遮光性能試験装置及び放射線の深部線量測定装置
JP2022190097A (ja) 非破壊検査方法