CN2505833Y - 荧光粉绝对亮度测量仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型的荧光粉绝对亮度测量仪包括激发源,激发信号取样器,监测激发信号的激发强度探测器,荧光粉试样托盘,亮度探测器及测量仪表,激发光源发出的激发信号入射激发信号取样器,激发信号取样器将入射的激发信号分二路,其一路反射到激发强度探测器,经激发强度探测器将光信号转换成电信号输入测量仪表,另一路照射到荧光粉试样托盘,荧光粉发出的荧光由亮度探测器接收,经亮度探测器光电转换后的亮度信号输入到测量仪表。该测量仪结构简单、价格低、使用方便。可以实时监测入射到荧光粉试样表面的激发信号或辐射照度,可以测定荧光粉样品在单位激发强度或辐射照度下的荧光粉绝对发光亮度。
Description
技术领域
本实用新型涉及荧光粉发光亮度测量的装置。
背景技术
荧光粉的发光亮度是荧光粉最重要的参数之一。传统的方法往往只测量荧光粉的相对发光亮度。通过光电测量仪器测量标准荧光粉和被测荧光粉的发光强度信号，比较两者读数值，得到相对发光亮度。如YG-II型、PR-300型、PR-302型等荧光粉相对亮度仪均采用上述方法。
上述方法测得的相对发光亮度，只能比较两种荧光粉的发光性能的优劣，无法真正反映制成器件后的发光特性。例如，对于灯用荧光粉，更重要的是该荧光粉在单位紫外辐射照度激发下的真实发光亮度。
发明内容
本实用新型的目的旨在提供一种结构简单、价格低，能实时监测荧光粉绝对亮度的测量仪。
本实用新型的荧光粉绝对亮度测量仪包括激发源，激发信号取样器，监测激发信号的激发强度探测器，荧光粉试样托盘，亮度探测器及测量仪表，激发光源发出的激发信号入射激发信号取样器，激发信号取样器将入射的激发信号分二路，其一路反射到激发强度探测器，经激发强度探测器将光信号转换成电信号输入测量仪表，另一路照射到荧光粉试样托盘，荧光粉发出的荧光由亮度探测器接收，经亮度探测器光电转换后的亮度信号输入到测量仪表。
上述的激发源可以是紫外灯、真空紫外灯、电子束激发源、X射线激发源或γ射线激发源。
激发信号取样器可以是部分透/反射镜、可动反射镜或带孔的反射镜。也可以是切换荧光粉试样和激发强度探测器的转换机构。
本实用新型与已有技术相比，其优点在于：通过激发信号取样器和激发强度探测器，可以实时监测入射到荧光粉试样表面的激发信号或辐射照度。利用发光亮度探测器可以测量真实的发光亮度值。从而可以测定荧光粉样品在单位激发强度或辐射照度下的荧光粉绝对发光亮度。该测量仪结构简单、价格低、使用方便。
附图说明
附图是本实用新型构成示意图。
具体实施方式
参照附图，本实用新型的荧光粉绝对亮度测量装置包括激发源1，激发信号取样器2，监测激发信号的激发强度探测器4，荧光粉试样托盘3，亮度探测器5及测量仪表6，图例中，激发源1采用低气压紫外汞灯，该灯前装有253.7nm紫外线窄带滤光片7，截去低气压紫外汞灯的其余谱线，激发信号取样器采用部分透/反射镜，部分透/反射镜可以是平面石英片、氟化镁片或氟化钙片。253.7nm紫外线的一部分光由部分透/反射镜2反射到激发强度探测器4，另一部分透射光向下垂直照射荧光粉试样。激发强度探测器4将光信号转换成电信号输入测量仪表6，在仪表6显示紫外强度值，激发强度探测器可以市售，也可以是紫外探头、X射线探头或由涂在石英玻璃片或氟化镁片上的荧光材料和硅光二极管或光电倍增管组成，荧光材料可以采用性能较稳定的稀土荧光材料。这里，荧光粉发射的荧光在法线的45°方向由亮度探测器5接收，经过光电转换后的亮度信号送到测量仪表6显示发光强度值。亮度探测器可以是市售。通常，为了提高测量精度，也可由探测器光谱响应修正器和光电探测器组成。
仪器紫外强度定标时，可以取下荧光粉试样，用标准紫外辐照计测量样品表面位置的253.7nm辐射照度值，同时将激发强度探测器的输出信号读数值调节到与上述辐射照度值一致。这样通过前述的部分透/反射镜和激发强度探测器组成的激发强度测量回路，可以实时监测荧光粉试样表面的激发强度。
荧光粉试样托盘3可以水平放置，也可以不超过水平方向60°角度倾斜放置。
激发源1从荧光粉表面法线方向入射，亮度探测器5从与该法线成45°角方向接收荧光，或者激发源从与荧光粉表面法线成45°角方向入射，亮度探测器从法线方向接收荧光。
Claims (10)
1、荧光粉绝对亮度测量仪，其特征在于它包括激发源[1]，激发信号取样器[2]，监测激发信号的激发强度探测器[4]，荧光粉试样托盘[3]，亮度探测器[5]及测量仪表[6]，激发光源发出的激发信号入射激发信号取样器[2]，激发信号取样器将入射的激发信号分二路，其一路反射到激发强度探测器[4]，经激发强度探测器[4]将光信号转换成电信号输入测量仪表[6]，另一路照射到荧光粉试样托盘[3]，荧光粉发出的荧光由亮度探测器[5]接收，经亮度探测器[5]光电转换后的亮度信号输入到测量仪表[6]。
2.按权利要求1所述的荧光粉绝对亮度测量仪，其特征是激发源[1]是紫外灯、真空紫外灯、电子束激发源、X射线激发源或γ射线激发源。
3.按权利要求1所述的荧光粉绝对亮度测量仪，其特征是激发信号取样器[2]是部分透/反射镜、可动反射镜或带孔的反射镜。
4.按权利要求3所述的荧光粉绝对亮度测量仪，其特征是所说的部分透/反射镜是平面石英片、氟化镁片或氟化钙片。
5.按权利要求1所述的荧光粉绝对亮度测量仪，其特征是在激发源[1]与激发信号取样器[2]之间设有滤光片。
6.按权利要求1所述的荧光粉绝对亮度测量仪，其特征是激发强度探测器[4]是由涂在石英玻璃片或氟化镁片上的荧光材料和硅光二极管或光电倍增管组成。
7.按权利要求6所述的荧光粉绝对亮度测量仪，其特征是所说的荧光材料是稀土荧光材料。
8.按权利要求1所述的荧光粉绝对亮度测量仪，其特征是亮度探测器[5]是由探测器光谱响应修正器和光电探测器组成。
9.按权利要求1所述的荧光粉绝对亮度测量仪，其特征是荧光粉试样托盘[3]水平放置，或不超过水平方向60°角度倾斜放置。
10.按权利要求1所述的荧光粉绝对亮度测量仪，其特征是激发源[1]从荧光粉表面法线方向入射，亮度探测器[5]从与该法线成45°角方向接收荧光，或者激发源从与荧光粉表面法线成45°角方向入射，亮度探测器从法线方向接收荧光。
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI486562B (zh) * | 2010-11-19 | 2015-06-01 | Ushio Electric Inc | The illuminance meter for ultraviolet light |
| WO2016082416A1 (zh) * | 2014-11-24 | 2016-06-02 | 杭州远方光电信息股份有限公司 | 一种回复反射测量装置 |
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2001
- 2001-11-05 CN CN 01254525 patent/CN2505833Y/zh not_active Expired - Fee Related
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