CN2453384Y - 浅孔孔径测量装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型涉及一种机械测量装置,尤其涉及机械加工中对孔径深度小于8毫米的孔径测量装置。浅孔孔径测量装置包括测量体4、滑块7、触头座1、锁紧螺钉10,在测量体上垂直安装一固定触头座和可沿测量体平行移动的滑块,滑块上安装一围绕位于滑块上轴心6左右摆动的摆杆5,摆杆上端和触头座上端各装有一个斜置测量触头2,滑块下部安装有一弹簧12和顶柱9,滑块上部安装有一限位螺钉8,千分表14固定安装在滑块的最下部。

Description

浅孔孔径测量装置
本实用新型涉及一种机械测量装置。
目前,机械加工中对孔径深度小于8毫米的孔径测量,由于在受到测量位置限制的情况下,无法使用测量精度高的内径分厘卡(又称气缸表),而只能采用普通游标卡尺测量,以目测读数量值,所以测量精度低。
本实用新型的目的在于提供一种结构简单的浅孔孔径测量装置,可以精确地测量内孔直径,测量范围大,使用方便,测量精度高。
本实用新型是这样实现的,一种浅孔孔径测量装置,包括测量体、滑块、触头座、锁紧螺钉,其特征在于测量体上垂直安装一固定触头座和可沿测量体平行移动的滑块,滑块上安装有一可以围绕位于滑块上的轴心左右摆动的摆杆,摆杆上端和触头座上端各装有一个位于同一平面、同一高度的斜置测量触头,滑块下部安装有一弹簧和顶柱,滑块上部安装有一限位螺钉,千分表固定安装在滑块的最下部。
其工作原理是两测量触头在测量浅孔孔径前,先用标准环规量具,移动滑块至所需测量的孔径尺寸,校正此时的千分表读数为零,固定滑块在测量体上的位置。然后,两测量触头深入浅孔内侧进行测量,根据滑块上摆杆上端测量触头的摆动位移,应用杠杆原理,摆杆将绕轴心向左摆动,使摆杆下端平面与千分表触头的接触点向右发生相应位移,此时从千分表上即可测得精确数据。
图1是浅孔孔径测量装置示意图;图2是摆杆摆动轴心的球锥结构剖视示意图。
图中,1为触头座,2为测量触头,3为浅孔,4为测量体,5为摆杆,6为轴心,7为滑块,8为限位螺钉,9为顶柱,10为锁紧螺钉,11为压板,12为弹簧,13为千分表触头,14为千分表,15为小球。
本实用新型的具体结构由下列附图和实施例给出。
如图1或图2所示,测量体4上垂直安装有固定的触头座1和可以沿测量体4平行移动的滑块7,滑块7上安装有一摆杆5,摆杆5可以绕位于滑块7上的轴心6左右摆动,安装于滑块7上部的限位螺钉8的作用是限止摆杆使其保持在基本垂直位置,安装于滑块7下部的顶杆9和通过弹簧12的作用,使摆杆5下端平面始终与千分表触头13保持点接触,摆杆5的摆动轴心6,采用安装于滑块7的一侧面、摆杆5的两侧面和压板11的一侧面上中心位置的圆锥形凹坑、和置于120°圆锥形坑内的两个小球15的球锥结构,以保证摆杆5能在滑块7和压板11之间实现无隙左右摆动。或对于安装于滑块7上的摆杆轴心6,采用贯穿于滑块7、摆杆5和压板11中心的圆柱销结构。摆杆5上端和触头座1上端各固定安装有一个轴线斜置、头部为半球形的测量触头2,工作时与浅孔3的内壁保持点接触,两测量触头2距离摆杆5摆动轴心高度相同H1,并在同一平面上。千分表14固定安装于滑块7下方,摆杆5下端平面与千分表触头13保持点接触,其触点到摆杆5的轴心距离与H1相同。滑块7在测量体4上的位置用锁紧螺钉10固定。两测量触头2分别凸出触头座1和摆杆5外侧平面,并不小于2毫米。
试验证明,本实用新型所述的浅孔孔径测量装置,使用方便,测量范围大,测量精度高。

Claims (3)

1.一种浅孔孔径测量装置,包括测量体、滑块、触头座、锁紧螺钉,其特征在于测量体上垂直安装一固定触头座和可沿测量体平行移动的滑块,滑块上安装有一可以围绕位于滑块上轴心左右摆动的摆杆,摆杆上端和触头座上端各装有一个位于同一平面、同一高度的斜置测量触头,滑块下部安装有一弹簧和顶柱,滑块上部安装有一限位螺钉,千分表固定安装在滑块的最下部。
2.根据权利要求1所述的浅孔孔径测量装置,其特征在于安装于滑块上的摆杆轴心,由滑块一侧面、摆杆两侧面和压板一侧面上中心位置的圆锥形凹坑以及安装于该凹坑上的两小球组成。
3.根据权利要求1所述的浅孔孔径测量装置,其特征在于安装于滑块上的摆杆轴心,为贯穿于滑块、摆杆和压板中心的圆柱销。
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