CN224204039U - 测试开关 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种测试开关，包括壳体以及壳体内的继电保护回路和信号回路，所述继电保护回路和信号回路电性连接，所述壳体内设有微动开关；所述壳体上开设有测试孔，所述测试孔设置有与继电保护回路电性连接的测试接头；所述壳体内设置有连接于壳体顶盖的安装座，所述安装座朝向壳体底部的一侧可升降地设置有升降座，所述升降座上设置有用于触碰微动开关的开关弹片的操作支点，所述安装座上设置有用于驱动升降座升降以令所述操作支点与微动开关的开关弹片接触，从而触发测试开关切换为测试模式/工作模式的模式切换机构。本申请实现了测试开关在测试模式和工作模式之间灵活切换，提升了测试开关的实用性和功能性。

Description

测试开关

技术领域

本申请涉及继电保护控制回路测试的技术领域，尤其是涉及一种测试开关。

背景技术

测试开关用于继电保护控制回路，和测试插头配合使用。可快速的将继电保护回路及其电压、电流、辅助电源等的输入侧和跳闸信号等的信号回路进行隔离，并保证外部CT的可靠短接，方便保护装置的校验。

常用的测试开关大多采用测试插头插入的方式实现正常工作的信号回路与继电保护回路断开，并将测试信号接入保护等装置。即，信号回路与继电保护回路之间保持常闭状态，而需要切换至测试模式时，则采用专用的插头接入外部测试信号，并断开信号回路与继电保护回路之间的连接。这种方式不仅工作繁琐，还需要增加设备维护成本，实用性低。

实用新型内容

本申请的目的是提供一种测试开关，旨在实现测试开关在测试模式和工作模式之间灵活切换，提升测试开关的实用性和功能性。

本实用新型是通过以下技术方案得以实现的：

一种测试开关，包括壳体以及设置于壳体内的继电保护回路和信号回路，所述继电保护回路和信号回路电性连接，所述壳体内设置有用于控制继电保护回路和信号回路之间的通断的微动开关；所述壳体上开设有测试孔，所述测试孔设置有与继电保护回路电性连接的测试接头；所述壳体内设置有连接于壳体顶盖的安装座，所述安装座朝向壳体底部的一侧可升降地设置有升降座，所述升降座上设置有用于触碰微动开关的开关弹片的操作支点，所述安装座上设置有用于驱动升降座升降以令所述操作支点与微动开关的开关弹片接触，从而触发测试开关切换为测试模式/工作模式的模式切换机构。

优选的，所述安装座上设置有限位台，所述限位台设置有与所述升降座上下滑动连接的限位导轨。

优选的，所述升降座与所述微动开关之间设置有用于支撑升降座的支撑弹簧。

优选的，所述模式切换机构包括开设于所述安装座上表面的滑槽、滑动设置于所述滑槽的滑块以及用于驱动所述滑块在滑槽内水平滑动的驱动组件，所述滑槽的槽底开设有贯穿安装座底部的穿孔，所述升降座上设置有圆柱，所述圆柱的顶部呈球形设置并穿过穿孔伸入滑槽内，所述滑块开设有与穿孔配合的通孔，所述圆柱顶端的球形顶点位于通孔内。

优选的，所述驱动组件包括转动设置于所述安装座的转盘以及用于驱动转盘转动的旋转件，所述安装座的上表面还开设有用于容置转盘的旋转槽，所述旋转槽与滑槽连通，所述转盘的边沿开设有档位槽，所述档位槽分为测试档位槽和工作档位槽，所述测试档位槽和工作档位槽分别对应于测试模式和工作模式，所述测试档位槽和工作档位槽相邻设置，且所述测试档位槽和工作档位槽相邻处呈圆角过渡，所述滑块靠近旋转槽的一端设置有档块，所述档块插入档位槽且档块的端部与测试档位槽及工作档位槽的槽壁均抵接并滑移配合。

优选的，所述滑槽内还设置有复位弹簧，所述复位弹簧的一端抵接于所述滑块背离档块的一端，另一端抵接于所述滑槽朝向旋转槽一侧的槽壁。

优选的，所述旋转件包括转动设置于壳体顶盖的旋钮，所述旋钮设置有转轴，所述转轴竖直向下穿过转盘的轴心并与转盘固定连接。

优选的，所述壳体的顶部设置有用于罩合旋钮的保护罩。

优选的，所述壳体呈底部开口设置，所述壳体的底部设置有底座，所述底座上设置有弹性卡扣，所述壳体的侧壁开设有与弹性卡扣卡接配合的卡孔。

综上所述，本申请具有以下有益效果：

1.由模式切换机构驱动升降座带动操作支点与微动开关的开关弹片接触或断开，高效实现测试开关在测试模式与工作模式间的灵活切换；

2.测试孔配置的测试接头能采用通用插头和插孔，增强了测试线束通用性，减少设备维护成本和工作量。

附图说明

图1是本申请实施例中微动开关控制继电保护回路和信号回路通断的逻辑电路图。

图2是本申请实施例中测试开关的整体结构示意图。

图3是本申请实施例中底座与壳体之间的装配关系示意图。

图4是本申请实施例的局部剖视图。

图5是本申请实施例中展示模式切换机构、升降座及微动开关之间的关系示意图。

图6是本申请实施例中模式切换机构的示意图。

图7是本申请实施例中安装座的局部剖视图。

图8是本申请实施例中保护罩的结构示意图。

图中：

1、壳体；101、卡孔；102、测试孔；2、保护罩；21、限位槽；3、底座；31、弹性卡扣；4、微动开关；41、开关弹片；5、安装座；51、限位台；52、限位导轨；53、滑槽；531、滑动部；532、让位部；54、滑块；541、通孔；542、档块；543、导向柱；55、穿孔；56、旋转槽；57、转盘；571、档位槽；5711、工作档位槽；5712、测试档位槽；58、复位弹簧；59、合盖；6、升降座；61、柱体；62、操作支点；63、圆柱；7、支撑弹簧；8、旋钮。

具体实施方式

下面将结合附图1-8，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，所描述的实施例仅为本发明的可能的技术实现，并非全部实现可能。本领域技术人员完全可以结合本发明的实施例，在没有进行创造性劳动的情况下得到其他实施例，而这些实施例也在本发明的保护范围之内。一种测试开关，参照图1和图2，包括底部开口的壳体1以及设置于壳体1内的继电保护回路和信号回路，继电保护回路和信号回路电性连接。壳体1中空且呈方体状设置，壳体1的顶部设置有保护罩2。

参照图3，壳体1的底部可拆卸安装有用于封闭底部开口的底座3，底座3上设置有两组弹性卡扣31，两组弹性卡扣31对称分布于底座3的两个相对侧。壳体1的侧壁对应开设有与弹性卡扣31卡接配合的卡孔101。壳体1的顶部开设有测试孔102，测试孔102内设置有与壳体1内的继电保护回路电性连接的测试接头，测试接头用于接入外部的测试接头，从而向继电保护回路输出外部测试信号。本实施例中，测试孔102竖直向下穿入壳体1内。壳体1内设有用于控制继电保护回路和信号回路的通断的微动开关4，微动开关4为单稳态微动开关4。微动开关4共四组，并列设置在底座3上，微动开关4通过螺钉固定在底座3上，且微动开关4的触点朝上。微动开关4的数量不做限制。

具体的，参照图1和图3，每组微动开关4上均有两组触点，触点为回弹式触点，两组触点对称分布在微动开关4的两侧。两组触点分别为常闭触点和常开触点。微动开关4上设置有分别与常闭触点和常开触点接触的开关弹片41，开关弹片41分为常开部和常闭部，常开部与常开触点配套形成常开触点开关km-1，常闭部与常闭触点配套形成常闭触点开关km-2。常开部与常开部和常闭部之间形成有连接部，连接部与微动开关4的表面转动连接，以使得下压常开部令常开触点开关km-1闭合时，常闭触点开关km-2能随开关弹片41的转动而断开。

参照图1，在测试开关处于工作模式下，当常开部触碰并按压常开触点时，即，当常开触点开关km-1闭合及常闭触点开关km-2断开时，此时继电保护回路和信号回路断开，测试开关由工作模式切换成测试模式；当常开部与常开触点断开时，即常开触点开关km-1恢复常开，常闭触点开关km-2恢复常闭时，此时继电保护回路和信号回路仍保持断开，测试开关仍保持测试模式；当再次驱动常开部触碰并按压常开触点时，即，当常开触点开关km-1再次闭合及常闭触点开关km-2再次断开时，则再次触发微动开关4切换状态，从而令继电保护回路和信号回路导通，测试开关由测试模式切换成工作模式；当常开部常开触点再次断开时，即常开触点开关km-1再次恢复常开，常闭触点开关km-2再次恢复常闭时，此时继电保护回路和信号回路仍保持闭合，测试开关仍保持工作模式。

此外，参照图1，壳体1内还设置有短接回路，短接回路用于在信号回路与继电保护回路断开时，短接回路分别与信号回路、继电保护回路错峰导通。例如，短接回路分别与信号回路、继电保护回路错峰导通的设定方式为，常开触点下压至0.3mm以下触发短接回路与信号回路的导通；同步地，常开触点下压，则常闭触点回弹，常闭触点回弹至0.5mm以上时则触发继电保护回路与信号回路的导通。信号回路与继电保护回路的短接动作时间不同步，先动作的触点应用于电流信号回路/继电保护回路与短接回路导通，以避免开路高压对设备绝缘造成的破坏及对其他设备的破坏。

参照图4，壳体1内还设置有连接于壳体1顶盖的安装座5，安装座5朝向底盖的一侧设置有长板状的升降座6，升降座6横向设置，升降座6可相对安装座5升降。安装座5上还设置有限位台51，限位台51沿升降座6的长度方向设置。限位台51的两端均设置有用于对升降座6在水平方向上进行限位的限位导轨52，升降座6的两端与限位导轨52在竖直方向上滑移连接。

参照图5、图6和图7，升降座6上设置有用于下压开关弹片41的常开部的操作支点62。本实施例中，升降座6朝向微动开关4的一侧设置有四根柱体61，每根柱体61对应一组微动开关4，操作支点62设置于柱体61的底端，以令升降座6下降时，操作支点62能够稳定地与开关弹片41的常开部接触。

继续参照图5、图6和图7，升降座6与微动开关4之间还设置有用于支撑升降座6的支撑弹簧7，支撑弹簧7套设于柱体61，支撑弹簧7的一端抵接于升降座6，另一端抵接于微动开关4的顶面。本实施例中，支撑弹簧7为四根，每组微动开关4对应一根支撑弹簧7，且当支撑弹簧7处于自然状态时操作支点62与开关弹片41分开。即，设当前测试开关的状态为工作模式，当升降座6下降至操作支点62下压开关弹片41的常开部并向下挤压常开触点时，常开触点开关km-1闭合，常闭触点开关km-2断开，微动开关4断开继电保护回路和信号回路，并在断开时信号回路和断开继电保护回路先后与短接回路接通再断开，并在卸去升降座6的力令常开触点回弹，此时即为测试模式，工作人员通过将外部测试接头插入测试孔102中即可令外部测试电路与继电保护回路形成完整的测试回路。而当再次驱动操作支点62下压开关弹片41时，即常开触点开关km-1断开，常闭触点开关km-2闭合，微动开关4导通继电保护回路和信号回路，此时即为工作模式。

继续参照图5、图6和图7，安装座5上设置有用于驱动升降座6升降以令操作支点62与微动开关4的开关弹片41接触/断开的模式切换机构。具体的，模式切换机构包括开设于安装座5上表面的滑槽53、滑动设置于滑槽53的滑块54以及用于驱动滑块54在滑槽53内水平滑动的驱动组件。其中，滑槽53沿限位台51的宽度方向开设，滑槽53具有滑动部531和让位部532，滑块54位于滑动部531，且滑块54可在滑动部531来回滑动。

滑动部531的槽底开设有贯穿安装座5底部的穿孔55，滑块54开设有与穿孔55配合的通孔541。升降座6的顶部设置有圆柱63，圆柱63的顶部呈球形设置并穿过穿孔55伸入滑槽53内，且当支撑弹簧7处于自然状态时，圆柱63顶端的球形顶点位于通孔541内。让位部532设置有复位弹簧58，滑块54靠近让位部532的一端设置有导向柱543，套设于导向柱543外，复位弹簧58的一端抵接于滑块54，另一端抵接于让位部532朝向滑动部531一侧的槽壁。结合图1，测试开关处于工作模式下，当推动滑块54向让位部532的方向滑动并压缩复位弹簧58时，通孔541的底部孔壁抵接并挤压圆柱63顶端的球形顶点，圆柱63受力向下挤压升降座6，升降座6下降并向下挤压支撑弹簧7，令柱体61上的操作支点62按压微动开关4的开关弹片41，从而使继电保护回路和信号回路断开，此时即为测试开关的测试模式。而当卸去滑块54的推力时，复位弹簧58向滑块54提供复位力，令滑块54向远离让位部532的方向滑动，当滑块54滑动至通孔541与穿孔55相对时，支撑弹簧7向升降座6提供向上的复位力，从而令升降座6上升，由此断开操作支点62与微动开关4的开关弹片41，此时测试开关继续保持测试模式。当再次驱动滑块54向让位部532的方向滑动并压缩复位弹簧58，通孔541的底部孔壁抵接并挤压圆柱63顶端的球形顶点，令操作支点62再次按压微动开关4的开关弹片41，从而使继电保护回路和信号回路导通，此时测试开关切换成工作模式。而当卸去滑块54的推力时，开关弹片41复位，继电保护回路和信号回路保持导通，此时测试开关继续保持工作模式。

此外，为使通孔541的孔壁与圆柱63的球形顶点抵接时滑动更顺滑，因此可在通孔541的孔壁处增设倒角或做圆滑处理。

参照图5、图6和图7，安装座5的上表面还开设有圆形的旋转槽56，旋转槽56与滑槽53的滑动部531连通。驱动组件包括转动设置于旋转槽56的转盘57以及用于驱动转盘57转动的旋转件。转盘57的边沿开设有档位槽571，档位槽571位于旋转槽56与滑槽53的连通处，档位槽571呈W形设置，档位槽571朝向滑槽53的槽壁成波浪形设置并做圆滑处理。滑块54靠近旋转槽56的一端设置有档块542，档块542插入档位槽571，档块542插入档位槽571的一端呈圆弧设置，且与的波浪形的槽壁抵接并滑移配合。档位槽571的两端槽壁与档块542的两侧配合形成限位结构，从而限制转盘57的转动角度。档位槽571分为工作档位槽5711和测试档位槽5712。工作档位槽5711和测试档位槽5712分别对应于测试模式和工作模式。

结合图1，初始时，设档块542的端部位于工作档位槽5711，柱体61上的操作支点62与微动开关4的开关弹片41断开，即，继电保护回路和信号回路导通，此时测试开关处于工作模式。当向转盘57施加转动力令测试档位槽5712向工作档位槽5711的位置转动时，档位槽571的波浪形槽壁因具有弧度，档块542受到波浪形槽壁的抵接力而迫使档块542以档位槽571的槽壁起伏路径而沿滑槽53的长度方向滑动，复位弹簧58受到压缩而对滑块54产生反向的作用力，令档块542的端部始终保持与档位槽571的槽壁抵接。档块542滑动的过程中，由于档位槽571的波浪形槽壁前半程相对档块542为上坡，后半程相对档块542为下坡，因此前半程滑动时，档块542向让位部532的方向滑动，通孔541的底部孔壁抵接并挤压圆柱63顶端的球形顶点，圆柱63受力向下挤压升降座6，令柱体61上的操作支点62按压微动开关4的开关弹片41，从而使继电保护回路和信号回路断开，从而使测试开关切换为测试模式；而在后半程滑动时，即当转盘57转动至档块542落位测试档位槽5712时，滑块54失去档块542的推力并复位，升降座6复位，由此断开操作支点62与微动开关4的开关弹片41，此时测试开关继续保持测试模式。反之，反向转动转盘57令档块542落位工作档位槽5711即可实现由测试模式转换至工作模式。

安装座5上还设置有用于盖合滑槽53和旋转槽56的合盖59，从而对滑槽53和旋转槽56内的结构进行限位和保护。

结合图4和图8，旋转件包括转动设置于壳体1顶盖的旋钮8，旋钮8设置有转轴，转轴竖直向下穿过转盘57的轴心并与转盘57固定连接。保护罩2上设置有与旋钮8的形状相适配的限位槽21，切当测试开关处于工作模式时，盖合保护罩2后旋钮8刚好容置于限位槽21，由此对旋钮8进行限位，从而防止工作模式下旋钮8发生旋转。

本实施例的实施原理为：初始时，假设测试开关处于工作模式。需要将测试开关切换成测试模式时，可旋转旋钮8向转盘57施加转动力，令测试档位槽5712向工作档位槽5711的位置转动，档块542滑动的过程中，推动滑块54随之滑动，从而驱动升降座6随之下降至操作支点62与微动开关4的开关弹片41接触并向下按压常开触点。当测试档位槽5712转动到位后，复位弹簧58驱动滑块54滑动，令档块542落位，测试档位槽5712的侧边槽壁与档块542形成的限位结构限制转盘57的转动，档块542与测试档位槽5712保持插接，从而实现由工作模式转换至测试模式。反之，当需要切换至工作模式时，则反向转动旋钮8令档块542落位至工作档位槽5711，即可实现由测试模式转换至工作模式。

以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种测试开关，包括壳体(1)以及设置于壳体(1)内的继电保护回路和信号回路，其特征在于，所述继电保护回路和信号回路电性连接，所述壳体内设置有用于控制继电保护回路和信号回路之间的通断的微动开关；所述壳体(1)上开设有测试孔(102)，所述测试孔(102)设置有与继电保护回路电性连接的测试接头；所述壳体(1)内设置有连接于壳体(1)顶盖的安装座(5)，所述安装座(5)朝向壳体(1)底部的一侧可升降地设置有升降座(6)，所述升降座(6)上设置有用于触碰微动开关(4)的开关弹片(41)的操作支点(62)，所述安装座(5)上设置有用于驱动升降座(6)升降以令所述操作支点(62)与微动开关(4)的开关弹片(41)接触，从而触发测试开关切换为测试模式/工作模式的模式切换机构。

2.根据权利要求1所述的测试开关，其特征在于，所述安装座(5)上设置有限位台(51)，所述限位台(51)设置有与所述升降座(6)上下滑动连接的限位导轨(52)。

3.根据权利要求1所述的测试开关，其特征在于，所述升降座(6)与所述微动开关(4)之间设置有用于支撑升降座(6)的支撑弹簧(7)。

4.根据权利要求3所述的测试开关，其特征在于，所述模式切换机构包括开设于所述安装座(5)上表面的滑槽(53)、滑动设置于所述滑槽(53)的滑块(54)以及用于驱动所述滑块(54)在滑槽(53)内水平滑动的驱动组件，所述滑槽(53)的槽底开设有贯穿安装座(5)底部的穿孔(55)，所述升降座(6)上设置有圆柱(63)，所述圆柱(63)的顶部呈球形设置并穿过穿孔(55)伸入滑槽(53)内，所述滑块(54)开设有与穿孔(55)配合的通孔(541)，所述圆柱(63)顶端的球形顶点位于通孔(541)内。

5.根据权利要求4所述的测试开关，其特征在于，所述驱动组件包括转动设置于所述安装座(5)的转盘(57)以及用于驱动转盘(57)转动的旋转件，所述安装座(5)的上表面还开设有用于容置转盘(57)的旋转槽(56)，所述旋转槽(56)与滑槽(53)连通，所述转盘(57)的边沿开设有档位槽(571)，所述档位槽(571)分为测试档位槽(5712)和工作档位槽(5711)，所述测试档位槽(5712)和工作档位槽(5711)分别对应于测试模式和工作模式，所述测试档位槽(5712)和工作档位槽(5711)相邻设置，且所述测试档位槽(5712)和工作档位槽(5711)相邻处呈圆角过渡，所述滑块(54)靠近旋转槽(56)的一端设置有档块(542)，所述档块(542)插入档位槽(571)且档块(542)的端部与测试档位槽(5712)及工作档位槽(5711)的槽壁均抵接并滑移配合。

6.根据权利要求5所述的测试开关，其特征在于，所述滑槽(53)内还设置有复位弹簧(58)，所述复位弹簧(58)的一端抵接于所述滑块(54)背离档块(542)的一端，另一端抵接于所述滑槽(53)朝向旋转槽(56)一侧的槽壁。

7.根据权利要求6所述的测试开关，其特征在于，所述旋转件包括转动设置于壳体(1)顶盖的旋钮(8)，所述旋钮(8)设置有转轴，所述转轴竖直向下穿过转盘(57)的轴心并与转盘(57)固定连接。

8.根据权利要求7所述的测试开关，其特征在于，所述壳体(1)的顶部设置有用于罩合旋钮(8)的保护罩(2)。

9.根据权利要求1所述的测试开关，其特征在于，所述壳体(1)呈底部开口设置，所述壳体(1)的底部设置有底座(3)，所述底座(3)上设置有弹性卡扣(31)，所述壳体(1)的侧壁开设有与弹性卡扣(31)卡接配合的卡孔(101)。