CN223727024U - 一种两轴测量平台 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及零件测量技术领域，公开了一种两轴测量平台，包括底座与校验基准块，对所述校验基准块进行平面度与垂直度校准后固定安装在所述底座上，待测工件布置在所述底座上且与所述校验基准块的一侧接触，所述底座上分别通过X轴导轨与Y轴导轨滑动连接有X轴滑台与Y轴滑台，所述X轴滑台与Y轴滑台上均固定设置有万分表，所述万分表的表头随着X轴滑台与Y轴滑台的移动，对待测工件与校验基准块彼此对齐的端面进行Y轴垂直度与X轴平行度误差检测。本实用新型，只需对校验基准块进行精确调试，随后将被测工件与校验基准块对准，即可高效测量被测工件在X、Y轴上的垂直度和平行度误差，可灵活更换滑台上测量工具，用以检测工件的高度。

Description

一种两轴测量平台

技术领域

本实用新型涉及零件测量技术领域，具体为一种两轴测量平台。

背景技术

在零件加工过程中，由于多种因素的影响，平面度和垂直度可能达不到预期要求，导致误差。这些细小的误差不仅影响产品质量，还会降低维修过程中零件的互换性，增加后续维修的时间和人力成本。传统的人工检测方法对操作技术要求高，且存在测量误差大、效率低的问题。此外，现有的测量平台无法进行多方向测量，进一步降低了检测效率。手动调整零件对准测量表时，可能会导致零件与平台底座摩擦，造成磨损从而导致精度变化。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种两轴测量平台，解决了现有技术中对于零件平面度与垂直度进行测量时，存在着检测技巧要求高、测量误差大、效率低以及不必要磨损与精度变化的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：

一种两轴测量平台，包括底座与校验基准块，对所述校验基准块进行平面度与垂直度校准后固定安装在所述底座上，待测工件布置在所述底座上且与所述校验基准块的一侧接触，待测工件的边沿与所述校验基准块边沿对齐，所述底座上分别通过X轴导轨与Y轴导轨滑动连接有X轴滑台与Y轴滑台，所述X轴滑台与Y轴滑台上均固定设置有万分表，所述万分表的表头随着X轴滑台与Y轴滑台的移动，对待测工件与校验基准块彼此对齐的端面进行Y轴垂直度与X轴平行度误差检测。

优选的，所述底座上固定连接有立柱，所述立柱上通过导轨支架固定安装有所述X轴导轨，所述底座上通过导轨支架固定安装有所述Y轴导轨，所述X轴导轨与Y轴导轨空间垂直布置。

优选的，所述X轴导轨与X轴滑台、Y轴导轨与Y轴滑台之间采用气浮滑动的连接方式。

优选的，所述X轴滑台与Y轴滑台上均固定连接有托板，所述托板上设置有若干个螺纹孔，所述托板上通过螺纹孔配合螺钉固定连接有磁吸板，所述磁吸板上磁吸固定有所述万分表。

优选的，所述底座上设置有若干个螺纹孔，所述校验基准块通过螺钉配合螺纹孔固定设置在所述底座上。

(三)有益效果

本实用新型具备以下有益效果：

该两轴测量平台，通过设置的校验基准块，只需对校验基准块进行精确调试，随后将被测工件与校验基准块对准，即可高效测量被测工件在X、Y轴上的垂直度和平行度误差，从而准确判断物体加工是否满足精度要求。通过设置的X轴滑台与Y轴滑台，设计灵活，可将万分表更换为高度规，以便于检测物体的高度及平面度，整个更换过程简便快捷。

附图说明

图1为本实用新型主视整体结构示意图；

图2为本实用新型后视整体结构示意图；

图3为本实用新型待测工件与校验基准块布局结构示意图；

图4为本实用新型万分表移动轨迹示意图。

图中：1、底座；2、校验基准块；3、立柱；4、导轨支架；5、X轴导轨；6、X轴滑台；7、Y轴导轨；8、Y轴滑台；9、托板；10、磁吸板；11、万分表；12、待测工件。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1，本实用新型提供一种技术方案：一种两轴测量平台，包括底座1与校验基准块2，对校验基准块2进行平面度与垂直度校准后固定安装在底座1上，待测工件12布置在底座1上且与校验基准块2的一侧接触，待测工件12的边沿与校验基准块2边沿对齐，底座1上分别通过X轴导轨5与Y轴导轨7滑动连接有X轴滑台6与Y轴滑台8，X轴滑台6与Y轴滑台8上均固定设置有万分表11，万分表11的表头随着X轴滑台6与Y轴滑台8的移动，对待测工件12与校验基准块2彼此对齐的端面进行Y轴垂直度与X轴平行度误差检测。

本实用新型，通过设置的校验基准块2，只需对校验基准块2进行精确调试，随后将被测工件与校验基准块2对准，即可高效测量被测工件在X、Y轴上的垂直度和平行度误差，从而准确判断物体加工是否满足精度要求。通过设置的X轴滑台6与Y轴滑台8，设计灵活，可将万分表11更换为高度规，以便于检测物体的高度，整个更换过程简便快捷。

本实施例中，底座1上固定连接有立柱3，立柱3上通过导轨支架4固定安装有X轴导轨5，底座1上通过导轨支架4固定安装有Y轴导轨7，X轴导轨5与Y轴导轨7空间垂直布置。

本实施例中，X轴导轨5与X轴滑台6、Y轴导轨7与Y轴滑台8之间采用气浮滑动的连接方式。通过设置气浮导轨方式滑动连接滑台与导轨，能够有效避免长期接触滑动造成磨损，导致滑台在导轨上的移动精度降低。

参照图2与3所示，本实施例中，X轴滑台6与Y轴滑台8上均固定连接有托板9，托板9上设置有若干个螺纹孔，托板9上通过螺纹孔配合螺钉固定连接有磁吸板10，磁吸板10上磁吸固定有万分表11。通过设置的磁吸板10，能够便于安装调整万分表11的安装位置，方便后续对于待测工件12的测量操作。

参照图1-3所示，本实施例中，底座1上设置有若干个螺纹孔，校验基准块2通过螺钉配合螺纹孔固定设置在底座1上。测量工作原理如下：首先将校验基准块2固定在底座1上，只简单拧紧螺丝但不锁死。通过在X轴滑台6上磁吸板10吸附万分表11，表针对准校验基准块2，沿着如图4所示中1所指红色线方向来回拉动(表针都是打在物体侧面)，滑台带动万分表11在校验基准块2上位置调整平行误差值，当来回没有误差或误差在2μm之内时，将校验基准块2锁固定在平台底座1上的螺丝锁紧再用万分表11打一遍看是否还存在误差，直至调好。后将被检测物体紧贴校验基准块2，滑动Y轴滑台8，将Y轴滑台8上万分表11表针打在被检测物体侧边如图4中2所指红色线条方向，被测工件边要与校验基准块2边要对齐，滑动滑台沿着Y轴方向来回拉动，即可测量被测工件垂直度误差。后可以再将X轴表针打在被测工件，即可测量物体X轴平行度误差。(测量物体X、Y轴精度误差全部基于校验基准块2误差较小基础之上)。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下。由语句“包括一个......限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素”。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (5)

1.一种两轴测量平台，其特征在于，包括底座与校验基准块，对所述校验基准块进行平面度与垂直度校准后固定安装在所述底座上，待测工件布置在所述底座上且与所述校验基准块的一侧接触，待测工件的边沿与所述校验基准块边沿对齐，所述底座上分别通过X轴导轨与Y轴导轨滑动连接有X轴滑台与Y轴滑台，所述X轴滑台与Y轴滑台上均固定设置有万分表，所述万分表的表头随着X轴滑台与Y轴滑台的移动，对待测工件与校验基准块彼此对齐的端面进行Y轴垂直度与X轴平行度误差检测。

2.根据权利要求1所述的一种两轴测量平台，其特征在于：所述底座上固定连接有立柱，所述立柱上通过导轨支架固定安装有所述X轴导轨，所述底座上通过导轨支架固定安装有所述Y轴导轨，所述X轴导轨与Y轴导轨空间垂直布置。

3.根据权利要求1所述的一种两轴测量平台，其特征在于：所述X轴导轨与X轴滑台、Y轴导轨与Y轴滑台之间采用气浮滑动的连接方式。

4.根据权利要求1所述的一种两轴测量平台，其特征在于：所述X轴滑台与Y轴滑台上均固定连接有托板，所述托板上设置有若干个螺纹孔，所述托板上通过螺纹孔配合螺钉固定连接有磁吸板，所述磁吸板上磁吸固定有所述万分表。

5.根据权利要求1所述的一种两轴测量平台，其特征在于：所述底座上设置有若干个螺纹孔，所述校验基准块通过螺钉配合螺纹孔固定设置在所述底座上。