CN223461614U - 一种低电阻测量工装 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种低电阻测量工装，包括：用于固定待测试样品的固定基座、顶部触接组件和至少两个侧部触接组件，顶部触接组件包括顶部驱动机构和连接于顶部驱动机构动力输出端的顶部检测接触件，侧部触接组件包括侧部驱动机构和连接于侧部驱动机构动力输出端的侧部检测接触件。对待测试样品进行低电阻测量时，可通过顶部驱动机构驱动顶部检测接触件与待测试样品的部分导体触接，并通过侧部驱动机构驱动侧部检测接触件与待测试样品的另一部分导体触接，从而使得低电阻测量仪可同时对待测试样品中多个导体部分进行低电阻测量，与传统低电阻测量工装相比，显著提升了测量效率，可满足现代化生产加工需求。

Description

一种低电阻测量工装

技术领域

本实用新型属于电阻测量技术领域，涉及一种低电阻测试装置，具体地说涉及一种可同时测量多个导体部电阻值的低电阻测量工装。

背景技术

电阻测量是一种基本的电学测量方式，按照阻值可分为低电阻、中电阻和高电阻测量，其中低电阻测量通常用于测试导电线路、印刷电路板等产品质量，低电阻测量值是衡量上述产品导通品质的关键因素。

为便于实现对导电产品进行低电阻测试，目前行业内已研发出多种关于夹持、固定样品的工装。如专利CN201716329U公开了一种用于金属试样电阻率测量的试样架，其通过将待测试样的两端夹持于试样夹刀上，并通过压紧螺栓推动绝缘垫片将待测试样固定，在测量待测试样的电阻率时，可以通过两根引线将两个试样夹持刀与测量装置连接。但上述测试工装存在如下技术问题：上述测试工装仅能通过试样两端测试电阻率，使得低电阻测试装置一次仅能测量一组导体，测试效率低，难以满足现代化生产加工。

有鉴于此，有必要对现有技术中的低电阻测量工装予以进一步改进。

实用新型内容

为此，本实用新型所要解决的技术问题在于传统低电阻测试工装处理效率低，一次仅能测量一组导体，从而提出一种测量效率高的低电阻测量工装。

为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案为：

本实用新型提供一种低电阻测量工装，其包括：

固定基座，所述固定基座具有用于容置待测试样品的容置位；

顶部触接组件，包括顶部驱动机构、连接于所述顶部驱动机构的动力输出端的顶部检测接触件；

至少两个侧部触接组件，所述侧部触接组件包括侧部驱动机构、连接于所述侧部驱动机构的动力输出端的侧部检测接触件。

作为优选，还包括至少两条检测导线，每条所述检测导线一端连接于所述待测试样品，另一端可与所述顶部检测接触件触接。

作为优选，还包括导线固定机构，所述导线固定机构设置于所述固定基座一侧，所述顶部检测接触件设置于所述导线固定机构上方；所述导线固定机构具有用于容置所述检测导线的导线容置部。

作为优选，所述侧部触接组件包括间隔排布的第一侧部触接组件、第二侧部触接组件和第三侧部触接组件。

作为优选，所述第一侧部触接组件包括第一侧部驱动机构、通过第一转接件连接于所述第一侧部驱动机构的动力输出端的第一侧部检测接触件；所述第二侧部触接组件包括第二侧部驱动机构、通过第二转接件连接于所述第二侧部驱动机构的动力输出端的第二侧部检测接触件；所述第三侧部触接组件包括第三侧部驱动机构、通过第三转接件连接于所述第三侧部驱动机构的动力输出端的第三侧部检测接触件；所述第一侧部检测接触件、第二侧部检测接触件、第三侧部检测接触件均用于与待测样品的引脚触接。

作为优选，所述第一侧部驱动机构连接于第一支撑件，所述第二侧部驱动机构连接于第二支撑件，所述第三侧部驱动机构连接于第三支撑件。

作为优选，所述检测导线为3根，且3根检测导线顺次间隔设置；所述导线容置部内设置有固定柱，所述检测导线开设有与所述固定柱适配的连接孔。

作为优选，还包括安装底板，所述固定基座、所述导线固定机构、所述第一支撑件、所述第二支撑件、所述第三支撑件固定连接于所述安装底板。

作为优选，所述安装底板边缘连接有至少两个安装侧板，所述安装侧板远离所述安装底板的一端连接有安装顶板；所述安装顶板连接有第四支撑件，所述顶部驱动机构通过所述第四支撑件连接于所述安装顶板。

作为优选，还包括控制开关，所述控制开关连接于所述安装底板，且所述控制开关与所述顶部驱动机构、侧部驱动机构电路连接。

本实用新型的上述技术方案相比现有技术具有以下优点：

本实用新型提供的低电阻测量工装，包括：用于固定待测试样品的固定基座、顶部触接组件和至少两个侧部触接组件，顶部触接组件包括顶部驱动机构和连接于顶部驱动机构动力输出端的顶部检测接触件，侧部触接组件包括侧部驱动机构和连接于侧部驱动机构动力输出端的侧部检测接触件。对待测试样品进行低电阻测量时，可通过顶部驱动机构驱动顶部检测接触件与待测试样品的部分导体触接，并通过侧部驱动机构驱动侧部检测接触件与待测试样品的另一部分导体触接，从而使得低电阻测量仪可同时对待测试样品中多个导体部分进行低电阻测量，与传统低电阻测量工装相比，显著提升了测量效率，可满足现代化生产加工需求。

附图说明

为了使本实用新型的内容更容易被清楚的理解，下面根据本实用新型的具体实施例并结合附图，对本实用新型作进一步详细的说明，其中

图1是本实用新型实施例提供的低电阻测量工装的结构示意图；

图2是本实用新型实施例提供的低电阻测量工装的内部结构示意图；

图3是本实用新型实施例提供的低电阻测量工装的内部结构另一角度示意图；

图4是本实用新型实施例提供的低电阻测量工装中导线固定机构的结构示意图；

图5是本实用新型实施例提供的低电阻测量工装中固定基座的结构示意图；

图6是待测试样品与检测导线的结构示意图。

图中附图标记表示为：1-固定基座；101-容置位；2-待测试样品；201-引脚；3-顶部触接组件；301-顶部驱动机构；302-顶部检测接触件；303-第四转接件；4-侧部触接组件；401-第一侧部驱动机构；402-第一转接件；403-第一侧部检测接触件；404-第二侧部驱动机构；405-第二转接件；406-第二侧部检测接触件；407-第三侧部驱动机构；408-第三转接件；409-第三侧部检测接触件；5-检测导线；501-连接孔；6-导线固定机构；601-导线容置部；602-固定柱；7-第一支撑件；8-第二支撑件；9-第三支撑件；10-安装底板；11-安装侧板；12-安装顶板；13-第四支撑件；14-控制开关。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是本实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

本实用新型的“第一”、“第二”等，仅仅用于在描述上加以区分，并没有特殊的含义。

实施例

本实施例提供一种低电阻测量工装，请参阅图1-图6，该低电阻测量工装包括：固定基座1，固定基座1用于固定待测试样品2，其具有用于适配容置且固定待测试样品2的容置位101，本实施例中，待测试样品2为漆包线，当然，本实施例提供的低电阻测量工装还可用于辅助测量其它导电性产品的电阻值，如铜排等产品。固定基座1的一侧设置有一顶部触接组件3，顶部触接组件3具体包括顶部驱动机构301、连接于顶部驱动机构301的动力输出端的顶部检测接触件302，顶部驱动机构301可驱动顶部检测驱动件302沿竖直方向往复运动以触接待测试样品2的导电部或者远离待测试样品2。至少两个侧部触接组件4，每个侧部触接组件4均包括一侧部驱动机构和连接于侧部驱动机构的动力输出端的侧部检测接触件，侧部驱动机构可驱动侧部检测接触件沿水平方向往复运动以触接待测试样品2的导电部或者远离待测试样品2。

本实施例提供的低电阻测量工装，通过对待测试样品2进行低电阻测量时，可通过顶部驱动机构301驱动顶部检测接触件302与待测试样品2的部分导体触接，并通过侧部驱动机构驱动侧部检测接触件与待测试样品的另一部分导体触接，从而使得低电阻测量仪可同时对待测试样品中多个导体部分进行低电阻测量，与传统一次仅能测量一组导体的低电阻测量工装相比，显著提升了测量效率，可满足现代化生产加工需求。

本实施例中，顶部驱动机构301、侧部驱动机构均采用气缸，顶部检测接触件302、侧部检测驱动件均采用接触探针。

且本实施例中，顶部触接组件3用于连接待测试样品2靠近端部的位置，实现对待测试样品2两端间的电阻的测量，为便于使顶部检测接触件302与待测试样品2的两端连接，该低电阻测量工装还包括至少两条检测导线5，每条检测导线5的一端连接于待测试样品2、另一端延伸至顶部触接组件3处，顶部检测接触件302可在顶部驱动机构301的驱动下与检测导线5触接，进而通过检测导线5实现与待测试样品2的导通。

为实现对检测导线5的固定，防止测量时检测导线5偏位、顶部检测接触件302无法与检测导线5触接，本实施例提供的测试工装还包括导线固定机构6，导线固定机构6设置于固定基座1一侧，其具有用于容置且固定检测导线5的导线容置部601，检测导线5可适配容置于导线容置部601内，从图1-2中可见，导线容置部601高于固定基座1，为防止检测导线5滑落，导线容置部601内还设置有固定柱602，固定柱602采用金属材质，检测导线5开设有与固定柱602适配的连接孔501，检测导线5通过连接孔501适配套接于固定柱602外部，从而实现了对检测导线5的固定。本实施例中，检测导线5为3根，3根检测导线5顺次间隔排布，其中两根检测导线5连接于待测试样品2靠近端部的位置，一根连接于待测试样品2的中部。3根检测导线5均一端连接于待测试样品2，另一端延伸至导线容置部601内并套接于固定柱602，顶部触接组件3设置于导线固定机构6上方，顶部驱动机构301驱动顶部检测接触件302靠近或远离检测导线5，当需要检测时，使顶部检测接触件302与检测导线5触接。其中，对应于3根检测导线5，顶部检测接触件302包括3组接触探针，每组接触探针为2根。

为实现对待测试样品2不同位置处导体的电阻检测，本实施例中，侧部触接组件4包括间隔排布的第一侧检测组件、第二侧部触接组件和第三侧部触接组件，其中，第一侧部触接组件、第二侧部触接组件分别设置于顶部触接组件3的左右两侧，第三侧部触接组件设置于顶部触接组件3的对侧，固定基座1位于第三侧部触接组件与顶部触接组件之间。

具体而言，如图2-3所示，第一侧部触接组件包括第一侧部驱动机构401、通过第一转接件402连接于第一侧部驱动机构401动力输出端的第一侧部检测接触件403，第一侧部检测接触件403为间隔连接于第一转接件402的两根接触探针。第二侧部触接组件包括第二侧部驱动机构404、通过第二转接件405连接于第二侧部驱动机构404动力输出端的第二侧部检测接触件406，第二侧部检测驱动件406为间隔连接于第二转接件405的两根接触探针。第三侧部触接组件包括第三侧部驱动机构407、通过第三转接件408连接于第三侧部驱动机构407动力输出端的第三侧部检测接触件409，第三侧部检测驱动件409为间隔连接于第三转接件408的两根接触探针。本实施例中，第一侧部触接组件、第二侧部触接组件、第三侧部触接组件用于检测待测试样品2的引脚201的电阻阻值，引脚201凸设于容置位101外部以便于与各侧部检测接触件触接。

为实现测试工装的结构稳定性、提高其使用寿命，第一侧部驱动机构401连接于第一支撑件7，第一支撑件7顶部具有一容置槽，第一侧部驱动机构401适配架设于该容置槽内。与此相同的，第二侧部驱动机构404连接于第二支撑件8，第三侧部驱动机构407连接于第三支撑件9，上述支撑件可对侧部驱动机构提供稳固的支撑作用，使之平稳驱动侧部检测接触件往复运动。

为了低电阻测量工装的规整性，以及对各驱动机构及检测接触件等实现防护作用，本实施例提供的低电阻测量工装还包括安装底板10，上述固定基座1、导线固定机构6、第一支撑件7、第二支撑件8、第三支撑件9均固定安装于安装底板10，安装底板10的边缘还垂直连接有至少两个安装侧板11，本实施例中，安装底板10为矩形板，安装侧板11为3块，3块安装侧板顺次连接于安装底板10的三个板边，形成一端开口的结构，以便于取放待测试样品、控制各检测组件等操作。安装侧板11远离安装底板10的一端即安装侧板11顶部还连接有安装顶板12，安装顶板12连接有第四支撑件13，顶部驱动机构301通过第四支撑件13连接于安装顶板，从而实现对顶部驱动机构301的固定，顶部检测接触件302通过第四转接件303连接于顶部驱动机构301。

安装底板10还连接有控制开关14，控制开关壳于顶部驱动机构301、第一侧部驱动机构401、第二侧部驱动机构404第三侧部驱动机构407电路连接，从而实现对各驱动机构的控制，此外，顶部检测接触件302、第一侧部检测接触件403、第二侧部检测接触件406、第三侧部检测接触件408还电路连接于外部的低电阻测试仪，各检测接触件触接待测试样品2的不同位置，通过低电阻测试仪实现了对样品2不同位置处导体的电阻值的高效测量。

显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型创造的保护范围之中。

Claims (10)

1.一种低电阻测量工装，其特征在于，包括：

固定基座，所述固定基座具有用于容置待测试样品的容置位；

顶部触接组件，包括顶部驱动机构、连接于所述顶部驱动机构的动力输出端的顶部检测接触件；

至少两个侧部触接组件，所述侧部触接组件包括侧部驱动机构、连接于所述侧部驱动机构的动力输出端的侧部检测接触件。

2.根据权利要求1所述的低电阻测量工装，其特征在于，还包括至少两条检测导线，每条所述检测导线一端连接于所述待测试样品，另一端可与所述顶部检测接触件触接。

3.根据权利要求2所述的低电阻测量工装，其特征在于，还包括导线固定机构，所述导线固定机构设置于所述固定基座一侧，所述顶部检测接触件设置于所述导线固定机构上方；所述导线固定机构具有用于容置所述检测导线的导线容置部。

4.根据权利要求3所述的低电阻测量工装，其特征在于，所述侧部触接组件包括间隔排布的第一侧部触接组件、第二侧部触接组件和第三侧部触接组件。

5.根据权利要求4所述的低电阻测量工装，其特征在于，所述第一侧部触接组件包括第一侧部驱动机构、通过第一转接件连接于所述第一侧部驱动机构的动力输出端的第一侧部检测接触件；所述第二侧部触接组件包括第二侧部驱动机构、通过第二转接件连接于所述第二侧部驱动机构的动力输出端的第二侧部检测接触件；所述第三侧部触接组件包括第三侧部驱动机构、通过第三转接件连接于所述第三侧部驱动机构的动力输出端的第三侧部检测接触件；所述第一侧部检测接触件、第二侧部检测接触件、第三侧部检测接触件均用于与待测样品的引脚触接。

6.根据权利要求5所述的低电阻测量工装，其特征在于，所述第一侧部驱动机构连接于第一支撑件，所述第二侧部驱动机构连接于第二支撑件，所述第三侧部驱动机构连接于第三支撑件。

7.根据权利要求3所述的低电阻测量工装，其特征在于，所述检测导线为3根，且3根检测导线顺次间隔设置；所述导线容置部内设置有固定柱，所述检测导线开设有与所述固定柱适配的连接孔。

8.根据权利要求6所述的低电阻测量工装，其特征在于，还包括安装底板，所述固定基座、所述导线固定机构、所述第一支撑件、所述第二支撑件、所述第三支撑件固定连接于所述安装底板。

9.根据权利要求8所述的低电阻测量工装，其特征在于，所述安装底板边缘连接有至少两个安装侧板，所述安装侧板远离所述安装底板的一端连接有安装顶板；所述安装顶板连接有第四支撑件，所述顶部驱动机构通过所述第四支撑件连接于所述安装顶板。

10.根据权利要求9所述的低电阻测量工装，其特征在于，还包括控制开关，所述控制开关连接于所述安装底板，且所述控制开关与所述顶部驱动机构、侧部驱动机构电路连接。