CN223332314U - 一种检测平面度装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及平面度检测领域，具体涉及一种检测平面度装置，包括第一固定件、第二固定件和千分表，第二固定件穿过圆环并插设于第一固定件，第二固定件上至少设有2个测量孔，千分表插设于测量孔测量圆环的平面度。通过第一固定件穿过圆环并插设于第一固定件从而固定住圆环，再将千分表插入不同的测量孔，测得圆环不同位置的数值，对比数值获得最大差值，若最大差值在要求公差内，则圆环合格。测量过程简单快捷，仅需插拔第二固定件、放置圆环、插拔千分表进行测量、做简单的数值比对。解决了采用三坐标打点方式测量平面度时无法满足大批量快速测量的需求的问题。

Description

一种检测平面度装置

技术领域

本实用新型涉及平面度检测技术领域，尤其是一种检测平面度装置。

背景技术

测量平面度一般使用三坐标打点测量，“三坐标打点测量”可以看作是三坐标测量的一种具体应用或操作模式。它指的是使用三坐标测量机进行点位测量的过程。在这个过程中，操作员或自动化系统会控制测量探头在被测物体表面上选取多个点进行测量，以评估特定特征的尺寸或形状。使用三坐标打点测量需要对被测件进行大量的取样和数据处理，因此测量速度相对较慢，无法满足大批量快速测量的需求。

实用新型内容

为解决采用三坐标打点方式测量平面度时无法满足大批量快速测量的需求的问题。

本实用新型提供一种检测平面度装置，包括第一固定件、第二固定件和千分表，第二固定件穿过圆环并插设于第一固定件，第二固定件上至少设有2个测量孔，千分表插设于测量孔测量圆环的平面度。

优选的，第一固定件的顶部中心处设有定位孔，第二固定件的底部设有定位销，定位销插接于定位孔。

优选的，定位孔为倒阶梯形状，定位销从上往下直径逐渐减小分为第一阶梯段和第二阶梯段，第一阶梯段和圆环卡接，第二阶梯段和定位孔卡接。

优选的，第二固定件的顶部为圆柱状结构。

优选的，测量孔至少设有4个，测量孔环形阵列等间距设置于第二固定件。

优选的，测量孔的直径为6~12mm。

优选的，测量孔的直径为8mm或者3/8英寸。

优选的，千分表设有轴套，轴套下端滑动连接有测杆，圆环顶面到第二固定件顶面的距离小于轴套的长度。

本实用新型的有益效果体现在，通过第一固定件穿过圆环并插设于第一固定件从而固定住圆环，再将千分表插入不同的测量孔，测得圆环不同位置的数值，对比数值获得最大差值，若最大差值在要求公差内，则圆环合格。测量过程简单快捷，仅需插拔第二固定件、放置圆环、插拔千分表进行测量、做简单的数值比对。解决了采用三坐标打点方式测量平面度时无法满足大批量快速测量的需求的问题。

附图说明

图1为本实用新型所提供的立体图。

图2为本实用新型所提供的爆炸图。

图3为本实用新型所提供的剖视图。

图中：1-第一固定件；11-定位孔；2-第二固定件；21-测量孔；22-定位销；221-第一阶梯段；222-第二阶梯段；3-千分表；31-轴套；32-测杆；4-圆环。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

参照图1-图3，一种检测平面度装置，包括第一固定件1、第二固定件2和千分表3，第二固定件2穿过圆环4并插设于第一固定件1，第二固定件2上至少设有2个测量孔21，千分表3插设于测量孔21测量圆环4的平面度。

通过第一固定件1穿过圆环4并插设于第一固定件1从而固定住圆环4，再将千分表3插入不同的测量孔21，测得圆环4不同位置的数值，对比数值获得最大差值，若最大差值在要求公差内，则圆环4合格。测量过程简单快捷，仅需插拔第二固定件2、放置圆环4、插拔千分表3进行测量、做简单的数值比对。解决了采用三坐标打点方式测量平面度时无法满足大批量快速测量的需求的问题。

在一些实施方式中，如图2和图3所示，第一固定件1的顶部中心处设有定位孔11，第二固定件2的底部设有定位销22，定位销22插接于定位孔11。

通过定位销22插设于定位孔11连接第一固定件1和第二固定件2，插销的连接方式简单快捷，便于将圆环4固定在第一固定件1和第二固定件2之间。

在一些实施方式中，如图2和图3所示，定位孔11为倒阶梯形状，定位销22从上往下直径逐渐减小分为第一阶梯段221和第二阶梯段222，第一阶梯段221和圆环4卡接，第二阶梯段222和定位孔11卡接。

第一阶梯段221的外侧面和圆环4的内侧面贴合，限制圆环4的移动，防止千分表3测量时，圆环4的顶部受力导致翘边或左右移动，影响测量结果。第二阶梯段222的外侧面和第二孔洞贴合，限制第二固定件2的移动。

在一些实施方式中，第二固定件2的顶部为圆柱状结构。圆柱状结构便于拿取抓握，从而提高测量速度。

在一些实施方式中，如图2所示，测量孔21至少设有4个，测量孔21环形阵列等间距设置于第二固定件2。这样设置既能保证精准度，又能保证测量速度。在平面分布均匀的四个点构成一个矩形，以矩形的对角线作为基准，通过测量与对角线平行或垂直的另一条对角线上的点，评估整个平面的平整度。通过测量这四个点的厚度尺寸，计算出平面度误差。

在一些实施方式中，测量孔21的直径为6~12mm。具体的，根据使用的千分表3的规格设置测量孔21的孔径，使得测量孔21的孔径和千分表3的轴套31直径相等，从而避免千分表3在测量孔21中倾斜导致测量不准。

进一步的，测量孔21的直径为8mm或者3/8英寸。以匹配市面上大部分轴套31直径为8mm或3/8英寸的千分表3。

进一步的，如图2和图3所示，千分表3设有轴套31，轴套31下端滑动连接有测杆32，圆环4顶面到第二固定件2顶面的距离小于轴套31的长度。保证使用千分表3测量时，测杆32有足够的伸缩空间，避免了轴套31的底部直接接触圆环4导致读数不准。

在本实用新型的实施例的描述中，术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”仅用以描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”、“第四”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本实用新型的实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“组装”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (8)

1.一种检测平面度装置，其特征在于：包括：第一固定件、第二固定件和千分表，所述第二固定件穿过圆环并插设于所述第一固定件，所述第二固定件上至少设有2个测量孔，所述千分表插设于所述测量孔测量所述圆环的平面度。

2.根据权利要求1所述的检测平面度装置，其特征在于：所述第一固定件的顶部中心处设有定位孔，所述第二固定件的底部设有定位销，所述定位销插接于所述定位孔。

3.根据权利要求2所述的检测平面度装置，其特征在于：所述定位孔为倒阶梯形状，所述定位销从上往下直径逐渐减小分为第一阶梯段和第二阶梯段，所述第一阶梯段和所述圆环卡接，所述第二阶梯段和所述定位孔卡接。

4.根据权利要求1所述的检测平面度装置，其特征在于：所述第二固定件的顶部为圆柱状结构。

5.根据权利要求4所述的检测平面度装置，其特征在于：所述测量孔至少设有4个，所述测量孔环形阵列等间距设置于所述第二固定件。

6.根据权利要求4所述的检测平面度装置，其特征在于：所述测量孔的直径为6~12mm。

7.根据权利要求6所述的检测平面度装置，其特征在于：所述测量孔的直径为8mm或者3/8英寸。

8.根据权利要求1所述的检测平面度装置，其特征在于：所述千分表设有轴套，所述轴套下端滑动连接有测杆，所述圆环顶面到所述第二固定件顶面的距离小于所述轴套的长度。