CN223296090U - 可控硅检测试验台 - Google Patents
可控硅检测试验台Info
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Abstract
本实用新型涉及测试电路技术领域,尤其涉及一种可控硅检测试验台,包括有机箱等;所述机箱为本试验台的安装载体且外接交流电源,所述机箱顶面左部安装有白炽灯座,所述白炽灯座通过机箱外接交流电源且作为电路中可控硅的负载,所述机箱顶面左部还安装有触发器,所述白炽灯座和触发器电性连接,所述触发器通过机箱外接交流电源且用于产生可控硅的触发信号,所述机箱顶面右部安装有电位器。本实用新型在机箱上集成白炽灯座、触发器、电位器以及示波器,通过电位器调整触发时刻,从而改变可控硅的导通角,通过示波器实时显示可控硅的工作状态,便于观察波形是否正常,有助于快速识别潜在问题,提高对可控硅的检测效率和精度。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试电路技术领域,尤其涉及可控硅检测试验台。
背景技术
可控硅简称SCR,是一种大功率电器元件,也称晶闸管,它具有体积小、效率高、寿命长等优点,在自动控制系统中,可作为大功率驱动器件,实现用小功率控件控制大功率设备,它在交直流电机调速系统、调功系统及随动系统中得到了广泛的应用,可控硅分单向可控硅和双向可控硅两种,双向可控硅也叫三端双向可控硅,双向可控硅在结构上相当于两个单向可控硅反向连接,这种可控硅具有双向导通功能,其通断状态由控制极G决定,在控制极G上加正脉冲可使其正向导通,这种装置的优点是控制电路简单,没有反向耐压问题,因此特别适合做交流无触点开关使用。
为了确保可控硅的质量和性能,在生产过程中以及安装使用前都需要进行严格的检测,以确保每一个可控硅都能满足设计规范和技术标准的要求,传统的方法通常依赖经验丰富的技术人工使用万用表、示波器等基础工具手动进行测试,通过手动测试不仅耗时较长,容易出现误操作或读数错误等问题,影响测试结果的准确性,而且整体的检测效率低下,这就需要用到专门设计的可控硅检测试验台来进行各项必要的测试,因此我们设计了一种可控硅检测试验台,以达到检测可控硅工作质量的效果。
实用新型内容
为了克服现有通过人工测试可控硅品质时,容易出现检测误差且检测效率低下的缺点,提供一种可控硅检测试验台。
本实用新型的技术实施方案是:可控硅检测试验台,包括有机箱、白炽灯座、触发器、电位器、示波器和夹具,所述机箱为本试验台的安装载体且外接交流电源,所述机箱顶面左部安装有白炽灯座,所述白炽灯座通过机箱外接交流电源且作为电路中可控硅的负载,所述机箱顶面左部还安装有触发器,所述白炽灯座和触发器电性连接,所述触发器通过机箱外接交流电源且用于产生可控硅的触发信号,所述机箱顶面右部安装有电位器,所述电位器通过调整触发时间改变可控硅的导通角,所述触发器和所述电位器电性连接,所述机箱前侧内置有示波器,所述示波器的正负接线电性连接在白炽灯座的两端,所述示波器用于监控可控硅导通波形是否正常,所述机箱的顶面右部还设置有夹具,所述夹具用于夹持并连通可控硅,所述夹具通过引线和所述白炽灯座电性连接,所述夹具还通过引线和所述触发器电性连接。
在本实用新型一个较佳实施例中,所述夹具包括固定板、定位件、第一金属压板、活动板、第二金属压板、导杆和驱动件,所述机箱顶部设置有固定板,所述固定板上设有中心限位可控硅的定位件,所述固定板中部安装有第一金属压板,所述第一金属压板上设有中心定位销,所述第一金属压板通过引线和所述触发器电性连接,所述固定板的四角处均固接有导杆,所述固定板通过导杆滑动安装有活动板,所述活动板中部安装有第二金属压板,所述第一金属压板和所述第二金属压板对齐并适配,所述第二金属压板通过引线和所述白炽灯座电性连接,所述机箱内设有驱动件,所述驱动件用于驱动活动板带动第二金属压板进行升降。
在本实用新型一个较佳实施例中,所述导杆上均固定套接有限位环,所述限位环用于限位活动板的抬升高度,避免驱动件过度驱动活动板而滑出导杆。
在本实用新型一个较佳实施例中,所述驱动件包括有电动推杆、缓冲件和连接板,所述机箱内部安装有电动推杆,所述电动推杆的推杆贯穿所述机箱顶面后安装有连接板,所述电动推杆的推杆和连接板之间设有缓冲件,所述缓冲件用于缓冲电动推杆驱动连接板的压力,所述连接板和所述活动板固定连接。
在本实用新型一个较佳实施例中,所述缓冲件包括有第一弹簧和滑动板,所述电动推杆的推杆端部安装有滑动板,所述滑动板通过其上的连接杆和所述连接板滑动连接,所述滑动板和所述连接板之间设有第一弹簧。
在本实用新型一个较佳实施例中,所述定位件包括有安装板、限位杆和第二弹簧,所述固定板上固接有多个安装板,所述安装板周向分布于所述第一金属压板外部,所述安装板均滑动安装有限位杆,所述限位杆的夹持端为斜形杆,所述安装板和所述限位杆之间设有第二弹簧,多根所述限位杆的夹持延伸中心对齐第二金属压板的中心定位销。
与现有技术相比,本实用新型具有以下优点:1、本实用新型在机箱上集成白炽灯座、触发器、电位器以及示波器,通过电位器调整触发时刻,从而改变可控硅的导通角,通过示波器实时显示可控硅的工作状态,便于观察波形是否正常,有助于快速识别潜在问题,提高对可控硅的检测效率和精度。
2、本实用新型能通过第一金属压板和第二金属压板的配合,能够稳定夹持可控硅,确保其正确接入检测电路,同时设计有驱动件,通过电动推杆结合缓冲件实现对可控硅的柔和夹持,避免因压力过大导致损坏。
3、本实用新型还能利用斜形杆限位杆和第二弹簧组成的定位机构,确保可控硅准确放置于第一金属压板上,并且加入限位环来限制活动板的最大抬升高度,防止操作失误导致的部件损坏。
附图说明
图1为本实用新型的立体结构示意图。
图2为本实用新型白炽灯座和触发器等零部件的立体结构示意图。
图3为本实用新型电动推杆和连接板等零部件的立体结构示意图。
图4为本实用新型可控硅和限位杆等零部件的立体结构示意图。
附图中各零部件的标记如下:1、机箱,2、白炽灯座,3、触发器,4、电位器,5、固定板,6、第一金属压板,7、可控硅,8、活动板,9、第二金属压板,10、导杆,11、限位环,12、示波器,13、电动推杆,14、连接板,15、第一弹簧,16、滑动板,17、安装板,18、限位杆,19、第二弹簧。
具体实施方式
首先要指出,在不同描述的实施方式中,相同部件设有相同的附图标记或者说相同的构件名称,其中,在整个说明书中包含的公开内容能够按意义转用到具有相同的附图标记或者说相同的构件名称的相同部件上。在说明书中所选择的位置说明、例如上、下、侧向等等也参考直接描述的以及示出的附图并且在位置改变时按意义转用到新的位置上。
实施例:可控硅检测试验台,如图1和图2所示,包括有机箱1、白炽灯座2、触发器3、电位器4、示波器12和夹具,所述机箱1为本试验台的安装载体且外接交流电源,所述机箱1顶面左部安装有白炽灯座2,所述白炽灯座2通过机箱1外接交流电源且作为电路中可控硅7的负载,所述机箱1顶面左部还安装有触发器3,所述白炽灯座2和触发器3电性连接,所述触发器3通过机箱1外接交流电源且用于产生可控硅7的触发信号,所述机箱1顶面右部安装有电位器4,所述电位器4通过调整触发时间改变可控硅7的导通角,所述触发器3和所述电位器4电性连接,所述机箱1前侧内置有示波器12,所述示波器12的正负接线电性连接在白炽灯座2的两端,所述示波器12用于监控可控硅7导通波形是否正常,所述机箱1的顶面右部还设置有夹具,所述夹具用于夹持并连通可控硅7,所述夹具通过引线和所述白炽灯座2电性连接,所述夹具还通过引线和所述触发器3电性连接。
如图1-图3所示,所述夹具包括固定板5、定位件、第一金属压板6、活动板8、第二金属压板9、导杆10和驱动件,所述机箱1顶部设置有固定板5,所述固定板5上设有中心限位可控硅7的定位件,所述固定板5中部安装有第一金属压板6,所述第一金属压板6上设有中心定位销,所述第一金属压板6通过引线和所述触发器3电性连接,所述固定板5的四角处均固接有导杆10,所述固定板5通过导杆10滑动安装有活动板8,所述活动板8中部安装有第二金属压板9,所述第一金属压板6和所述第二金属压板9对齐并适配,所述第二金属压板9通过引线和所述白炽灯座2电性连接,所述机箱1内设有驱动件,所述驱动件用于驱动活动板8带动第二金属压板9进行升降,使所述第二金属压板9能对第一金属压板6上放置的可控硅7进行夹持,使可控硅7接通到检测电路上;所述导杆10上均固定套接有限位环11,所述限位环11用于限位活动板8的抬升高度,避免驱动件过度驱动活动板8而滑出导杆10。
如图1和图3所示,所述驱动件包括有电动推杆13、缓冲件和连接板14,所述机箱1内部安装有电动推杆13,所述电动推杆13的推杆贯穿所述机箱1顶面后安装有连接板14,所述电动推杆13的推杆和连接板14之间设有缓冲件,所述缓冲件用于缓冲电动推杆13驱动连接板14的压力,所述连接板14和所述活动板8固定连接,通过所述电动推杆13驱动连接板14,使连接板14带动活动板8和第二金属压板9进行升降,使所述第一金属压板6和所述第二金属压板9对可控硅7夹持固定;所述缓冲件包括有第一弹簧15和滑动板16,所述电动推杆13的推杆端部安装有滑动板16,所述滑动板16通过其上的连接杆和所述连接板14滑动连接,所述滑动板16和所述连接板14之间设有第一弹簧15。
如图2和图4所示,所述定位件包括有安装板17、限位杆18和第二弹簧19,所述固定板5上固接有多个安装板17,所述安装板17周向分布于所述第一金属压板6外部,所述安装板17均滑动安装有限位杆18,所述限位杆18的夹持端为斜形杆,所述安装板17和所述限位杆18之间设有第二弹簧19,多根所述限位杆18的夹持延伸中心对齐第二金属压板9的中心定位销。
使用本测试台对可控硅7进行检测时,先将可控硅7向下放入到第一金属压板6上,此时下压的可控硅7将挤压限位杆18,受到挤压的多根限位杆18将克服第二弹簧19的弹力,并在安装板17的导向下朝相互远离的方向张开,张开的限位杆18将在第二弹簧19的作用下,将放置到第一金属压板6上的可控硅7进行稳定夹持,由于限位杆18的夹持延伸中心位于第一金属压板6的中心点,使可控硅7的中心孔能稳定限位在第一金属压板6的中心,并使可控硅7的中心孔向上对齐第二金属压板9的中心点,同时通过启用电动推杆13,电动推杆13的推杆向下带动滑动板16,使滑动板16通过第一弹簧15作用在连接板14上,使连接板14带动活动板8和第二金属压板9同步下移,并在导杆10的导向作用下第二金属压板9能精准下压并对接到可控硅7上,并实现可控硅7的中心孔分别对准第一金属压板6和第二金属压板9中心定位销,当第一金属压板6和第二金属压板9将可控硅7压住时,电动推杆13的推杆将继续通过第一弹簧15作用在连接板14上,使连接板14通过活动板8和第二金属压板9将可控硅7进一步夹紧,再将可控硅7的接触引线接入对应的连接端子上,并在检查电路接线无误后,向机箱1内通电,检测人员通过调整电位器4,通过电位器4来改变可控硅7的导通角度,并同时观察白炽灯座2的灯光亮度变化,当调小电位器4阻值时白炽灯应变暗,调大电位器4阻值时白炽灯应变亮,说明可控硅7正常工作,而当调大或调小电位器4阻值时白炽灯亮度都没有变化,说明可控硅7异常工作,同时通过示波器12监控调节的过程,从而检查可控硅7导通波形是否正常,提高对可控硅7的检测精度和效率。
上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施,并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.可控硅检测试验台,包括有机箱(1),所述机箱(1)为本试验台的安装载体且外接交流电源,其特征是,还包括有白炽灯座(2)、触发器(3)、电位器(4)、示波器(12)和夹具,所述机箱(1)顶面左部安装有白炽灯座(2),所述白炽灯座(2)通过机箱(1)外接交流电源,所述机箱(1)顶面左部还安装有触发器(3),所述白炽灯座(2)和触发器(3)电性连接,所述触发器(3)通过机箱(1)外接交流电源,所述机箱(1)顶面右部安装有电位器(4),所述触发器(3)和所述电位器(4)电性连接,所述机箱(1)前侧内置有示波器(12),所述示波器(12)的正负接线电性连接在白炽灯座(2)的两端,所述机箱(1)的顶面右部还设置有夹具,所述夹具用于夹持可控硅(7)。
2.按照权利要求1所述的可控硅检测试验台,其特征是,所述夹具包括固定板(5)、定位件、第一金属压板(6)、活动板(8)、第二金属压板(9)、导杆(10)和驱动件,所述机箱(1)顶部设置有固定板(5),所述固定板(5)上设有中心限位可控硅(7)的定位件,所述固定板(5)中部安装有第一金属压板(6),所述第一金属压板(6)上设有中心定位销,所述第一金属压板(6)和所述触发器(3)电性连接,所述固定板(5)的四角处均固接有导杆(10),所述固定板(5)通过导杆(10)滑动安装有活动板(8),所述活动板(8)中部安装有第二金属压板(9),所述第一金属压板(6)和所述第二金属压板(9)适配,所述第二金属压板(9)和所述白炽灯座(2)电性连接,所述机箱(1)内设有驱动件,所述驱动件用于驱动活动板(8)带动第二金属压板(9)进行升降。
3.按照权利要求2所述的可控硅检测试验台,其特征是,所述导杆(10)上均固定套接有限位环(11),所述限位环(11)用于限位活动板(8)的抬升高度。
4.按照权利要求3所述的可控硅检测试验台,其特征是,所述驱动件包括有电动推杆(13)、缓冲件和连接板(14),所述机箱(1)内部安装有电动推杆(13),所述电动推杆(13)的推杆贯穿所述机箱(1)顶面后安装有连接板(14),所述电动推杆(13)的推杆和连接板(14)之间设有缓冲件,所述缓冲件用于缓冲电动推杆(13)驱动连接板(14)的压力,所述连接板(14)和所述活动板(8)固定连接。
5.按照权利要求4所述的可控硅检测试验台,其特征是,所述缓冲件包括有第一弹簧(15)和滑动板(16),所述电动推杆(13)的推杆端部安装有滑动板(16),所述滑动板(16)通过其上的连接杆和所述连接板(14)滑动连接,所述滑动板(16)和所述连接板(14)之间设有第一弹簧(15)。
6.按照权利要求5所述的可控硅检测试验台,其特征是,所述定位件包括有安装板(17)、限位杆(18)和第二弹簧(19),所述固定板(5)上固接有多个安装板(17),所述安装板(17)周向分布于所述第一金属压板(6)外部,所述安装板(17)均滑动安装有限位杆(18),所述限位杆(18)的夹持端为斜形杆,所述安装板(17)和所述限位杆(18)之间设有第二弹簧(19)。
Priority Applications (1)
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Applications Claiming Priority (1)
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2024
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