CN223139771U - 一种集成电路测试定位装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种集成电路测试定位装置。涉及芯片测试技术领域，包括底板，底板的上端面固定连接有驱动组件，驱动组件包括旋钮，旋钮的一侧固定连接有转动杆，转动杆远离旋钮的一端固定连接有主动齿轮，主动齿轮的外侧壁啮合有齿带，齿带远离主动齿轮的一端啮合有从动齿轮，主动齿轮和从动齿轮的一侧均固定连接有螺纹杆，两个螺纹杆的外侧壁均螺纹套设有传动块，两个传动块的上端面设置有定位组件，定位组件包括连接杆，两个连接杆的上端面开设有滑动槽。本实用新型提供的集成电路测试定位装置具有可进行通过器具对电路芯片进行更精确的定位的功能，并且其还具有对芯片进行夹紧，防止芯片损坏的功能。

Description

一种集成电路测试定位装置

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种集成电路测试定位装置。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片以及介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，其中所有元件在结构上已组成一个整体，现阶段集成电路测试过程中，需要采用定位装置进行夹持定位。

现有的大多数的集成电路测试定位装置，其具有电机、螺纹杆、夹块和定位块等结构，其通过启动控制电机带动螺纹杆转动，从而实现带动夹块相互靠近，夹块对芯片进行夹紧，然后工作人员进行手动对芯片进行定位，其往往会出现由于电机压力过大，从而导致芯片出现夹损的情况出现，并且由人工进行定位，会出现较大的误差情况。

因此，有必要提供一种新的集成电路测试定位装置解决上述技术问题。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种集成电路测试定位装置。

本实用新型提供的集成电路测试定位装置，包括底板，所述底板的上端面固定连接有驱动组件，所述驱动组件包括旋钮，所述旋钮的一侧固定连接有转动杆，所述转动杆远离旋钮的一端固定连接有主动齿轮，所述主动齿轮的外侧壁啮合有齿带，所述齿带远离主动齿轮的一端啮合有从动齿轮，所述主动齿轮和从动齿轮的一侧均固定连接有螺纹杆，两个所述螺纹杆的外侧壁均螺纹套设有传动块，两个所述传动块的上端面设置有定位组件；

所述定位组件包括连接杆，两个所述连接杆的上端面开设有滑动槽，两个所述滑动槽内滑动连接有滑动块，两个所述滑动块的上端面固定连接有承载杆，两个所述承载杆的上端面固定连接有支撑板，两个所述支撑板的上端面均固定连接有两个电动伸缩杆，多个所述电动伸缩杆的输出端固定连接有固定块。

优选的，两个所述固定块的上端面设置有夹板，两个所述固定块位于同一平面。

优选的，多所述底板的上端面开设有两个限位槽，两个所述限位槽的内侧壁转动连接有螺纹杆。

优选的，所述底板的下端面固定连接有多个支脚。

优选的，一所述承载杆的一侧固定连接有两个伸缩杆，两个所述伸缩杆远离承载杆的一端套设有套杆。

优选的，两个所述套杆远离伸缩杆的一端固定连接有另一承载杆。

与相关技术相比较，本实用新型提供的集成电路测试定位装置具有如下有益效果：

本实用新型提供一种集成电路测试定位装置，在具体实施时，首先转动旋钮，从而使得主动齿轮得以进行转动，从而使得齿带得以带动从动齿轮，使得主动齿轮和从动齿轮得以同时转动，从而转动螺纹杆得以进行转动，从而使得装置得以进行移动定位；通过滑动槽内的滑动块滑动，从而使得承载杆得以带动支撑板进行滑动，从而根据芯片的大小进行调整尺寸，通过电动伸缩杆和固定块，使得芯片得以进行固定测试，不会损坏，通过滑动承载杆，使得芯片得以滑动定位，相比于人工手动进行定位，精确度更高，使用更方便。

附图说明

图1为本实用新型提供的集成电路测试定位装置的一种较佳实施例的整体结构示意图；

图2为图1所示的传动机构的结构示意图；

图3为图1所示的限位机构的结构示意图；

图4为图1所示的压紧机构的结构示意图；

图5为图1所示的A处的放大图。

图中标号：1、底板；2、支脚；3、旋钮；4、转动杆；5、主动齿轮；6、齿带；7、从动齿轮；8、螺纹杆；9、传动块；10、连接杆；11、承载杆；12、伸缩杆；13、套杆；14、滑动块；15、滑动槽；16、支撑板；17、电动伸缩杆；18、固定块；19、夹板；20、限位槽。

具体实施方式

下面结合附图和实施方式对本实用新型作进一步说明。

请结合参阅图1－图5，图1为本实用新型提供的集成电路测试定位装置的一种较佳实施例的整体结构示意图，图2为图1所示的传动机构的结构示意图，图3为图1所示的限位机构的结构示意图，图4为图1所示的压紧机构的结构示意图，图5为图1所示的A处的放大图。

在具体实施过程中，如图1－图5所示，一种集成电路测试定位装置，包括底板1，底板1的上端面固定连接有驱动组件，驱动组件包括旋钮3，旋钮3的一侧固定连接有转动杆4，转动杆4远离旋钮3的一端固定连接有主动齿轮5，主动齿轮5的外侧壁啮合有齿带6，齿带6远离主动齿轮5的一端啮合有从动齿轮7，主动齿轮5和从动齿轮7的一侧均固定连接有螺纹杆8，两个螺纹杆8的外侧壁均螺纹套设有传动块9，两个传动块9的上端面设置有定位组件；

定位组件包括连接杆10，两个连接杆10的上端面开设有滑动槽15，两个滑动槽15内滑动连接有滑动块14，两个滑动块14的上端面固定连接有承载杆11，两个承载杆11的上端面固定连接有支撑板16，两个支撑板16的上端面均固定连接有两个电动伸缩杆17，多个电动伸缩杆17的输出端固定连接有固定块18，两个固定块18的上端面设置有夹板19，两个固定块18位于同一平面，多底板1的上端面开设有两个限位槽20，两个限位槽20的内侧壁转动连接有螺纹杆8，底板1的下端面固定连接有多个支脚2，一承载杆11的一侧固定连接有两个伸缩杆12，两个伸缩杆12远离承载杆11的一端套设有套杆13，两个套杆13远离伸缩杆12的一端固定连接有另一承载杆11。

本实用新型提供的工作原理如下：首先转动旋钮3，从而使得主动齿轮5得以进行转动，从而使得齿带6得以带动从动齿轮7，使得主动齿轮5和从动齿轮7得以同时转动，从而转动螺纹杆8得以进行转动，从而使得装置得以进行移动定位；通过滑动槽15内的滑动块14滑动，从而使得承载杆11得以带动支撑板16进行滑动，从而根据芯片的大小进行调整尺寸，通过电动伸缩杆17和固定块18，使得芯片得以进行固定测试，不会损坏，通过滑动承载杆11，使得芯片得以滑动定位，相比于人工手动进行定位，精确度更高，使用更方便。

本实用新型中涉及的电路以及控制均为现有技术，在此不进行过多赘述。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (6)

1.一种集成电路测试定位装置，其特征在于，包括底板(1)，所述底板(1)的上端面固定连接有驱动组件，所述驱动组件包括旋钮(3)，所述旋钮(3)的一侧固定连接有转动杆(4)，所述转动杆(4)远离旋钮(3)的一端固定连接有主动齿轮(5)，所述主动齿轮(5)的外侧壁啮合有齿带(6)，所述齿带(6)远离主动齿轮(5)的一端啮合有从动齿轮(7)，所述主动齿轮(5)和从动齿轮(7)的一侧均固定连接有螺纹杆(8)，两个所述螺纹杆(8)的外侧壁均螺纹套设有传动块(9)，两个所述传动块(9)的上端面设置有定位组件；

所述定位组件包括连接杆(10)，两个所述连接杆(10)的上端面开设有滑动槽(15)，两个所述滑动槽(15)内滑动连接有滑动块(14)，两个所述滑动块(14)的上端面固定连接有承载杆(11)，两个所述承载杆(11)的上端面固定连接有支撑板(16)，两个所述支撑板(16)的上端面均固定连接有两个电动伸缩杆(17)，多个所述电动伸缩杆(17)的输出端固定连接有固定块(18)。

2.根据权利要求1所述的集成电路测试定位装置，其特征在于，两个所述固定块(18)的上端面设置有夹板(19)，两个所述固定块(18)位于同一平面。

3.根据权利要求1所述的集成电路测试定位装置，其特征在于，所述底板(1)的上端面开设有两个限位槽(20)，两个所述限位槽(20)的内侧壁转动连接有螺纹杆(8)。

4.根据权利要求1所述的集成电路测试定位装置，其特征在于，所述底板(1)的下端面固定连接有多个支脚(2)。

5.根据权利要求1所述的集成电路测试定位装置，其特征在于，一所述承载杆(11)的一侧固定连接有两个伸缩杆(12)，两个所述伸缩杆(12)远离承载杆(11)的一端套设有套杆(13)。

6.根据权利要求1所述的集成电路测试定位装置，其特征在于，两个所述套杆(13)远离伸缩杆(12)的一端固定连接有另一承载杆(11)。