CN223122750U - 蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置 - Google Patents

Abstract

本公开涉及蓝宝石晶片抗划伤测试技术领域，尤其涉及一种蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置。蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置，包括：底座、支撑板、导轨、连接块、拉杆、测量杆、测量组件和配重块。支撑板固定在底座上；导轨固定在支撑板上；连接块可滑动设置在导轨上；拉杆固定连接在连接块的一侧；测量杆贯穿连接块，测量杆与连接块无固定连接；测量组件与测量杆螺纹连接；配重块套在测量杆上。通过在测量杆上套设一个或多个配重块，移动拉杆带动连接块、测量杆和测量组件移动可以有效测量出蓝宝石晶片的抗划伤能力，且测试不受蓝宝石晶片形状的限制。此外，本公开结构简单，操作便捷，测试成本较低，且方便移动,不受使用场地的限制。

Description

蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置

技术领域

本公开涉及蓝宝石晶片抗划伤测试技术领域，尤其涉及一种蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置。

背景技术

蓝宝石作为一种高端晶体材料，其在电子消费产品中的应用多为视窗类晶片，例如：智能手表表镜、心率晶片、智能手机的盖板。这类视窗类晶片为保证良好的视觉效果，对晶片的抗划伤、磨损性能有较高的要求，因此，蓝宝石晶片在加工完成后多需进行抗划伤测试。然而，现阶段蓝宝石晶片抗划伤测试装置结构复杂，制作成本较高，且移动不便。

发明内容

为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题，本公开提供蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置，结构简单，加工成本底且可随意移动。

为了实现上述目的，本实用新型，蓝宝石晶片内凹平台面研磨用的治具，包括：底座；支撑板，所述支撑板固定在底座上；导轨，所述导轨固定在所述支撑板上；连接块，所述连接块可滑动设置在所述导轨上；拉杆，所述固定连接在所述连接块的一侧；所述拉杆贯穿所述支撑板；测量杆，所述测量杆贯穿所述连接块，所述测量杆与所述连接块无固定连接；测量组件，所述包括探针；所述测量组件与所述测量杆螺纹连接；配重块，所述配重块套在所述测量杆上。

可选的，所述支撑板包括两个，分别固定在所述底座的两侧；所述导轨包括两条，分别固定在所述支撑板上。

可选的，还包括第一固定板、第一固定螺钉、第二固定板、第二固定螺钉，所述第一固定螺钉将所述第一固定板固定连接在所述连接块上；所述拉杆与所述第二固定板固定连接，所述第二固定螺钉将所述第二固定板和所述拉杆固定连接在所述连接块的一侧；。

可选的，所述测量杆为变截面圆柱体，所述测量杆包括配重块放置台、挡板、弹簧；所述配重块通过所述配重块放置台套在所述测量杆上；所述测量杆贯穿所述第一固定板和所述连接块；所述挡板限制所述测量杆只能在所述连接块高度范围内移动。

可选的，测量组件还包括旋转件、安装孔、三爪抓盘；所述三爪抓盘夹持所述探针。

可选的，所述底座顶面设置有刻度尺。

可选的，所述导轨上表面设置有刻度，所述导轨上的刻度与所述刻度尺上的刻度相对应。

可选的，还包括限位件，所述限位件包括限位套环和限位螺钉，所述限位套环套设在所述导轨上，所述限位螺钉对所述限位套环在所述导轨上的位置进行固定。

本公开提供的技术方案与现有技术相比具有如下优点：

本公开提供了一种蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置通过在测量杆上套设不同重量的配重块，移动拉杆带动连接块、测量杆和测量组件移动可以有效测量出蓝宝石晶片的抗划伤能力，且不受蓝宝石晶片形状的限制。此外，本公开提供了一种蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置结构简单，操作便捷，测试成本较低，且方便移动,不受使用场地的限制。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。

为了更清楚地说明本公开实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置的主视图；

图2为蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置的俯视图；

图3为蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置的测量杆的结构示意图；

图4为蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置的测量组件的结构示意图；

其中：1、底座，2、支撑板，3、导轨，4、连接块，5、拉杆，6、测量杆，61、配重块放置台，62、挡板，63、弹簧，7、测量组件，71、旋转件，72、安装孔，73、三爪抓盘，74、探针，8、配重块，9、刻度尺，10、第一固定板，11第一固定螺钉，12第二固定板，13、第二固定螺钉，14限位件，141、限位套环，142、限位螺钉。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本公开的上述目的、特征和优点，下面将对本公开的方案进行进一步描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本公开的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本公开，但本公开还可以采用其他不同于在此描述的方式来实施；显然，说明书中的实施例只是本公开的一部分实施例，而不是全部的实施例。

如图1-图2所示，本公开提供了一种蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置，其包括：底座1、支撑板2、导轨3、连接块4、拉杆5、测量杆6、测量组件7和配重块8。支撑板2固定在底座1上；导轨3固定在支撑板2上；连接块4可滑动设置在导轨3上；拉杆5固定连接在连接块4的一侧；拉杆5贯穿支撑板2；测量杆6贯穿连接块4，测量杆6与连接块4无固定连接；测量组件7包括探针74；测量组件7与测量杆6螺纹连接；配重块8套在测量杆6上。

具体的，底座1为长方体，其上表面为光滑平面，测试时，蓝宝石晶片根据测试需要固定在底座1上表面特定位置，其中，测量时，蓝宝石晶片的形状不受限制。测量杆6贯穿连接块4，测量杆6与连接块4可活动连接是指测量杆6可在连接块4内部沿竖直方向移动；此外，配重块8可以包括多块、配重块8的质量可以是50g、100g，测量杆6上可以套设一块配重块8，也可以套设多块配重块8。

另外，拉杆5固定连接在连接块4的一侧，测试时，通过移动拉杆5带动连接块4、测量杆6和测量组件7移动。其中，测试时，可以是人工拖动拉杆5移动，也可以是在拉杆5不连接连接块4的一端外接伺服电机，由电机拖动拉杆5移动。

通过在测量杆6上套设不同重量的配重块8，移动拉杆5带动连接块4、测量杆6和测量组件7移动可以有效测量出蓝宝石晶片的抗划伤能力，且不受蓝宝石晶片形状的限制。

具体使用时，将蓝宝石晶片固定在底座1上，将连接块4移动到蓝宝石晶片上方，使探针74对应蓝宝石晶片的指定位置，在测量杆6上套设指定重量的配重块8，安装配重块8后，探针74在配重块8作用下接触蓝宝石晶片，拉动拉杆5，带动连接块4和探针74在蓝宝石晶片滑动指定距离，取下配重块8，取出蓝宝石晶片，检测其表面是否有划伤。

在一些实施例中，支撑板2包括两个，分别固定在底座1的两侧；导轨3包括两条，其中，导轨3可以是圆柱体，两条导轨3对称固定在支撑板2上。

继续参考图1-图2，蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置还包括第一固定板10、第一固定螺钉11、第二固定板12、第二固定螺钉13，第一固定螺钉11将第一固定板10固定连接在连接块4上；拉杆5与第二固定板12固定连接，第二固定螺钉13将第二固定板12和拉杆5固定连接在连接块4的一侧。

如图3所示，测量杆6为变截面圆柱体，测量杆6包括配重块放置台61、挡板62、弹簧63；配重块8通过配重块放置台61套在测量杆6上；测量杆6贯穿第一固定板10和连接块4；其中，挡板62的尺寸大于第一固定板10和连接块4上对应测量杆6的贯穿孔的尺寸，挡板62限制测量杆6只能在连接块4高度范围内移动。

具体的，设置弹簧63，配重块放置台61套设配重块8时，弹簧63进行压缩，带动测量杆6向下移动，取下配重块8时，弹簧63恢复原状，带动测量杆6向上移动。通过这种设置，便于安装和拆卸蓝宝石晶片。

如图4所示，测量组件7还包括旋转件71、安装孔72、三爪抓盘73；三爪抓盘73夹持探针74。

具体的，探针74可以有多根，探针74的直径可以是1mm、2mm，也可以是5mm；安装孔72用于辅助安装测量组件7；三爪抓盘73夹持探针74，旋转件71控制三爪抓盘73夹紧和放松。具体使用时，旋转旋转件71，将三爪抓盘73调节为松弛状态，将指定尺寸的探针74放到三爪抓盘73中，旋转旋转件71，将三爪抓盘73调节为夹紧状态，从而夹紧探针74。

在一些实施例中，底座1顶面设置有刻度尺9。

具体的，刻度尺9粘贴在底座1顶面，刻度尺9两端与支撑板2抵接。

具体使用时，蓝宝石晶片粘贴在底座上时，比照刻度尺9，将蓝宝石晶片的一端与刻度尺9上的刻度对齐。通过这种设置便于确认测试时探针74在蓝宝石晶片上滑动的距离。

在一些实施例中，导轨3上表面设置有刻度，导轨3上的刻度与刻度尺9上的刻度相对应。

具体的，导轨3上表面设置有刻度，导轨3上的刻度与刻度尺9上的刻度相对应，通过这种设置，可以通过连接块4在导轨3上移动的距离确定测试时探针74在蓝宝石晶片上滑动的距离，观测更加直观和精准，最大程度的避免视觉误差对测试的影响。

在一些实施例中，蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置还包括限位件14，限位件14包括限位套环141和限位螺钉142，限位套环141套设在导轨3上，限位螺钉142对限位套环141在导轨3上的位置进行固定。

具体的，限位螺钉142对限位套环141在导轨3上的位置进行固定，通过这种设置可以时限位件14对连接块4在导轨3上的移动进行限制，使连接块4在导轨3上的移动距离控制更加精准，避免其滑动距离过大或者不足。

具体使用时，根据测试要求，选定测试距离后，依据导轨3上的刻度，将限位套环141移动到连接块4后方特定距离后，使用限位螺钉142将限位套环141固定。

如图1-图4所示的蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置，具体使用时，先参考刻度尺9上的刻度，将蓝宝石晶片固定在底座1指定位置，调节旋转件71，控制三抓抓盘73夹紧探针74，移动固定块4，对应滑轨3上刻度，将固定块4移动到指定位置，根据测试要求，将限位套环141移动到导轨3的指定位置，旋紧限位螺钉142，将位套环141的位置固定，在配重块放置台61上套设指定重量的配重块8，在配重块8的作用下，弹簧63收到压缩，带动探针74向下移动并接触蓝宝石晶片上表面，匀速拉动拉杆5，带动固定块4移动指定距离，取下配重块8，取出蓝宝石晶片，判断其表面是否有划伤。

需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上仅是本公开的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本公开。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本公开的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本公开将不会被限制于本文的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (9)

1.蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置，其特征在于，包括：

底座（1）；

支撑板（2），所述支撑板（2）固定在所述底座（1）上；

导轨（3），所述导轨（3）固定在所述支撑板（2）上；

连接块（4），所述连接块（4）可滑动设置在所述导轨（3）上；

拉杆（5），所述拉杆（5）固定连接在所述连接块（4）的一侧；所述拉杆（5）贯穿所述支撑板（2）；

测量杆（6），所述测量杆（6）贯穿所述连接块（4），所述测量杆（6）与所述连接块（4）无固定连接；

测量组件（7），所述测量组件（7）包括探针（74）；所述测量组件（7）与所述测量杆（6）螺纹连接；

配重块（8），所述配重块（8）套在所述测量杆（6）上。

2.根据权利要求1所述的蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置，其特征在于，所述支撑板（2）包括两个，分别固定在所述底座（1）的两侧；所述导轨（3）包括两条，分别固定在所述支撑板（2）上。

3.根据权利要求1所述的蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置，其特征在于，还包括第一固定板（10）、第一固定螺钉（11）、第二固定板（12）、第二固定螺钉（13），所述第一固定螺钉（11）将所述第一固定板（10）固定连接在所述连接块（4）上；所述拉杆（5）与所述第二固定板（12）固定连接，所述第二固定螺钉（13）将所述第二固定板（12）和所述拉杆（5）固定连接在所述连接块（4）的一侧。

4.根据权利要求3所述的蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置，其特征在于，所述测量杆（6）为变截面圆柱体，所述测量杆（6）包括配重块放置台（61）、挡板（62）、弹簧（63）；所述配重块（8）通过所述配重块放置台（61）套在所述测量杆（6）上；所述测量杆（6）贯穿所述第一固定板（10）和所述连接块（4）；所述挡板（62）限制所述测量杆（6）只能在所述连接块（4）高度范围内移动。

5.根据权利要求1所述的蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置，其特征在于，测量组件（7）还包括旋转件（71）、安装孔（72）、三爪抓盘（73）；所述三爪抓盘（73）夹持所述探针（74）。

6.根据权利要求1所述的蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置，其特征在于，所述底座（1）顶面设置有刻度尺（9）。

7.根据权利要求6所述的蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置，其特征在于，所述导轨（3）上表面设置有刻度，所述导轨（3）上的刻度与所述刻度尺（9）上的刻度相对应。

8.根据权利要求1所述的蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置，其特征在于，还包括限位件（14），所述限位件（14）包括限位套环（141）和限位螺钉（142），所述限位套环（141）套设在所述导轨（3）上，所述限位螺钉（142）对所述限位套环（141）在所述导轨（3）上的位置进行固定。

9.根据权利要求1所述的蓝宝石晶片抗划伤测试用的装置，其特征在于，所述底座（1）、所述支撑板（2）、所述导轨（3）、所述连接块（4）、所述拉杆（5）、所述测量杆（6）和所述配重块（8）均为不锈钢材质。