CN223051456U - 一种全自动芯片测试座 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种全自动芯片测试座，包括：上盖，所述上盖固定连接两组对称的竖杆；底座，匹配所述上盖，所述底座设置有对称的槽口，两组对称的所述竖杆匹配对称的所述槽口；对称的手扣，分别设置有弧槽，两组对称的所述竖杆分别固定连接第三钢销，对称的所述手扣分别转动连接对应的所述第三钢销；对称的手扣摆臂，分别设置在对应的所述弧槽内，对称的所述手扣分别固定连接第二钢销，对称的所述手扣摆臂分别转动连接对应的所述第二钢销，所述底座固定连接对称的第一钢销。本实用新型涉及测试底座技术领域，具体为一种全自动芯片测试座。本实用新型要解决的技术问题是提供一种全自动芯片测试座，有利于实现芯片测试。

Description

一种全自动芯片测试座

技术领域

本实用新型涉及测试底座技术领域，具体为一种全自动芯片测试座。

背景技术

芯片测试座，也称为IC测试座、芯片测试夹具或DUT夹具，是电子行业中确保芯片质量和性能的关键设备。通过提供稳定的物理和电气接口、连接芯片与测试设备、模拟不同工作条件和信号输入等功能，为芯片测试提供了可靠的保障。

现有技术，例如实用新型一种芯片测试座，授权公告号CN218180924U。通过设置电机组件驱动压盖组件，能够实现压盖组件沿垂直于芯片方向向下压盖，满足压盖组件作用于所接触待测目标芯片面的受力均衡要求，避免了压盖组件和待测目标芯片相对接触面的斜切接触。

目前，还缺少一种测试座，适用于全自动芯片测试及烧录老化，以提高芯片的测试效率，延长测试座的使用寿命。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种全自动芯片测试座，有利于实现芯片测试。

本实用新型采用如下技术方案实现实用新型目的：

一种全自动芯片测试座，其特征是，包括：上盖，所述上盖固定连接两组对称的竖杆；底座，匹配所述上盖，所述底座设置有对称的槽口，两组对称的所述竖杆匹配对称的所述槽口；对称的手扣，分别设置有弧槽，两组对称的所述竖杆分别固定连接第三钢销，对称的所述手扣分别转动连接对应的所述第三钢销；对称的手扣摆臂，分别设置在对应的所述弧槽内，对称的所述手扣分别固定连接第二钢销，对称的所述手扣摆臂分别转动连接对应的所述第二钢销，所述底座固定连接对称的第一钢销，对称的所述手扣摆臂分别转动连接对应的所述第一钢销。

作为本技术方案的进一步限定，所述底座固定连接下针板，所述下针板固定连接一组探针，所述下针板固定连接上针板，一组所述探针穿过所述上针板。

作为本技术方案的进一步限定，所述上针板上侧设置有浮板，所述浮板设置有一组针孔，一组所述探针匹配一组所述针孔。

作为本技术方案的进一步限定，所述浮板匹配被测芯片。

作为本技术方案的进一步限定，所述上盖固定连接两组对称的导向杆，所述底座设置有两组对称的导向槽，每个所述导向杆分别设置在对应的所述导向槽内。

作为本技术方案的进一步限定，所述底座对应每个所述导向槽分别固定连接固定卡块，每个所述导向杆分别固定连接卡钩，每个所述卡钩分别匹配对应的所述固定卡块。

与相关技术相比较，本实用新型提供的一种全自动芯片测试座具有如下有益效果：

(1)本装置适用于全自动芯片测试及烧录老化，提高芯片的测试效率，延长测试座的使用寿命；

(2)本装置的整体高度为17.5MM，在满足测试设备的高度要求的同时也满足老化设备的空间要求，特别是底座的尺寸，21.5X26的长和宽，体积更小，PCB的使用率更高。

附图说明

图1为本实用新型的爆炸图；

图2为本实用新型的局部爆炸图；

图3为本实用新型的局部立体结构示意图一；

图4为本实用新型的局部立体结构示意图二；

图5为本实用新型的局部立体结构示意图三；

图6为本实用新型的立体结构示意图。

图中：1、上盖，2、手扣，3、手扣摆臂，4、底座，5、浮板，6、上针板，7、探针，8、下针板，9、第一钢销，10、第二钢销，11、第三钢销，12、被测芯片，101、竖杆，102、导向杆，103、卡钩，201、弧槽，401、导向槽，402、固定卡块，403、槽口。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例一：一种全自动芯片测试座，包括：上盖1，所述上盖1固定连接两组对称的竖杆101；底座4，匹配所述上盖1，所述底座4设置有对称的槽口403，两组对称的所述竖杆101匹配对称的所述槽口403；对称的手扣2，分别设置有弧槽201，两组对称的所述竖杆101分别固定连接第三钢销11，对称的所述手扣2分别转动连接对应的所述第三钢销11；对称的手扣摆臂3，分别设置在对应的所述弧槽201内，对称的所述手扣2分别固定连接第二钢销10，对称的所述手扣摆臂3分别转动连接对应的所述第二钢销10，所述底座4固定连接对称的第一钢销9，对称的所述手扣摆臂3分别转动连接对应的所述第一钢销9。

所述底座4固定连接下针板8，所述下针板8固定连接一组探针7，所述下针板8固定连接上针板6，一组所述探针7穿过所述上针板6。

所述上针板6上侧设置有浮板5，所述浮板5设置有一组针孔，一组所述探针7匹配一组所述针孔。

所述浮板5匹配被测芯片12。

所述上盖1固定连接两组对称的导向杆102，所述底座4设置有两组对称的导向槽401，每个所述导向杆102分别设置在对应的所述导向槽401内。

浮板5与上针板6没有连接，无法实现当机械手臂向下压住上盖1边缘，往下运动时，浮板5慢慢把被测芯片12托起，离开接触探针7顶部。故增加：浮板5与上针板6采用弹簧连接(图上未画出)。

将下针板8安装到测试设备的测试板上，在不施加外力时，探针7与测试板接触面有0.3到0.5mm的接触余量，这样能更有效的连接导通。例如，探针7采用内外杆的方式，外杆连接下针板8，内杆可沿外杆移动，内杆通过弹簧与外杆连接，在不受外力时，内杆远离测试板，受外力时，内杆沿外杆移动接触测试板，外力撤销后，内杆复位。

上盖1连接测试设备上自带的机械手臂。

本实用新型提供的一种全自动芯片测试座的工作原理如下：

使用真空吸头，将被测芯片12放置到浮板5上。控制机械手臂带动上盖1向上移动，上盖1带动竖杆101沿槽口403移动，带动导向杆102沿导向槽401移动，上盖1带动第三钢销11移动，第三钢销11带动手扣2摆动，手扣2带动第二钢销10及手扣摆臂3摆动，使手扣2卡住被测芯片12，带动被测芯片12向下移动，被测芯片12带动浮板5向下移动，使弹簧被压缩，使被测芯片12接触探针7，使探针7接触测试板，实现测试，测试结束后，控制机械手臂带动上盖1向下移动，使手扣2向远离被测芯片12的方向摆动，使探针7及弹簧恢复，使浮板5慢慢把被测芯片12托起，离开接触探针7顶部，这样可以让吸嘴再取被测芯片12时更加轻松，从而提高取出率。

实施例二：本实施例是在实施例一基础上进一步阐述，所述底座4对应每个所述导向槽401分别固定连接固定卡块402，每个所述导向杆102分别固定连接卡钩103，每个所述卡钩103分别匹配对应的所述固定卡块402。

本实用新型提供的一种全自动芯片测试座的工作原理如下：

机械手臂带动上盖1向上移动时，导向杆102带动卡钩103移动，在卡钩103接触固定卡块402后，控制机械手柄停止运动。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (6)

1.一种全自动芯片测试座，其特征是，包括：

上盖(1)，所述上盖(1)固定连接两组对称的竖杆(101)；

底座(4)，匹配所述上盖(1)，所述底座(4)设置有对称的槽口(403)，两组对称的所述竖杆(101)匹配对称的所述槽口(403)；

对称的手扣(2)，分别设置有弧槽(201)，两组对称的所述竖杆(101)分别固定连接第三钢销(11)，对称的所述手扣(2)分别转动连接对应的所述第三钢销(11)；

对称的手扣摆臂(3)，分别设置在对应的所述弧槽(201)内，对称的所述手扣(2)分别固定连接第二钢销(10)，对称的所述手扣摆臂(3)分别转动连接对应的所述第二钢销(10)，所述底座(4)固定连接对称的第一钢销(9)，对称的所述手扣摆臂(3)分别转动连接对应的所述第一钢销(9)。

2.根据权利要求1所述的全自动芯片测试座，其特征是：所述底座(4)固定连接下针板(8)，所述下针板(8)固定连接一组探针(7)，所述下针板(8)固定连接上针板(6)，一组所述探针(7)穿过所述上针板(6)。

3.根据权利要求2所述的全自动芯片测试座，其特征是：所述上针板(6)上侧设置有浮板(5)，所述浮板(5)设置有一组针孔，一组所述探针(7)匹配一组所述针孔。

4.根据权利要求3所述的全自动芯片测试座，其特征是：所述浮板(5)匹配被测芯片(12)。

5.根据权利要求1所述的全自动芯片测试座，其特征是：所述上盖(1)固定连接两组对称的导向杆(102)，所述底座(4)设置有两组对称的导向槽(401)，每个所述导向杆(102)分别设置在对应的所述导向槽(401)内。

6.根据权利要求5所述的全自动芯片测试座，其特征是：所述底座(4)对应每个所述导向槽(401)分别固定连接固定卡块(402)，每个所述导向杆(102)分别固定连接卡钩(103)，每个所述卡钩(103)分别匹配对应的所述固定卡块(402)。