CN222866447U - 一种可调节式集成电路芯片测试台 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种可调节式集成电路芯片测试台，包括测试机架、固定于测试机架一端的冲压件以及调节支撑组件，调节支撑组件包括安装座、活动板、横杆、滑动支撑座以及用于驱动活动板横向移动的驱动件，安装座固定安装于测试机架上，安装座上设有供活动板滑动的导向滑轨，驱动件固定安装于活动板顶部，驱动件的末端与支撑座内侧壁相铰接，滑动支撑座滑动安装于横杆外表面，且滑动支撑座的一端设有安装夹具，滑动支撑座的顶部设有驱动杆，通过驱动件带动活动板沿导向滑轨方向滑动，驱动斜槽的移动使得驱动杆带动滑动支撑座沿横杆进行横向移动，进而带动安装夹具上的集成电路芯片的位置发生变化，方便对集成电路芯片不同位置进行硬度冲压测试。

Description

一种可调节式集成电路芯片测试台

技术领域

本实用新型涉及测试台领域，尤其涉及一种可调节式集成电路芯片测试台。

背景技术

集成电路芯片是包括硅基板、电路、固定封环、接地环及防护环的电子元件，集成电路芯片在使用前需要进行抗冲压测试，从而判断集成电路芯片的硬度是否可以正常使用。

现有的芯片硬度测试台包括冲压管、撞击锤、芯片载盘、测试台，芯片载盘固定在测试台上，芯片载盘内放置有待测芯片，利用冲压管升降冲压带动撞击锤挤压芯片，对芯片进行硬度测试，但是由于冲压管升降冲压每次冲压的位置都是固定的，对于芯片不同位置的硬度测试较为不便，只能测试芯片固定点位的硬度，使用较为麻烦。

因此，有必要提供一种新的可调节式集成电路芯片测试台解决上述技术问题。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种可调节式集成电路芯片测试台。

本实用新型提供的可调节式集成电路芯片测试台包括测试机架、固定于测试机架一端的冲压件以及用于调整集成电路芯片冲压位置的调节支撑组件；

所述调节支撑组件包括安装座、活动板、横杆、滑动支撑座以及用于驱动活动板横向移动的驱动件，所述安装座固定安装于所述测试机架上，所述安装座上设有供所述活动板滑动的导向滑轨，所述驱动件固定安装于所述活动板顶部，所述驱动件的末端与所述支撑座内侧壁相铰接，所述横杆的两端分别固定于所述安装座两侧，所述滑动支撑座滑动安装于所述横杆外表面，且所述滑动支撑座的一端设有用于固定集成电路芯片的安装夹具，所述滑动支撑座的顶部设有驱动杆，所述活动板的顶部开设有供所述驱动杆滑动的驱动斜槽。

进一步地，所述安装夹具包括固定座、固定夹板以及活动夹板，所述固定座固定安装于所述滑动支撑座一端，所述固定夹板固定安装于所述固定座一侧，所述活动夹板滑动安装于所述固定座另一侧，所述固定夹板与所述活动夹板设有两个相对的支板，两个所述支板与所述固定座之间具有间隙，所述固定座上还设有用于驱动活动夹板横向移动的驱动机构。

进一步地，所述驱动机构包括调节杆以及导向杆，所述调节杆的一端与所述固定座转动连接，且所述调节杆与所述活动夹板螺纹连接，所述导向杆固定安装于所述固定座上，所述导向杆与所述活动夹板滑动连接。

进一步地，所述驱动件包括伸缩气缸，所述伸缩气缸固定安装于所述活动板上，所述伸缩气缸的输出端与所述安装座内侧壁相铰接。

进一步地，所述冲压件包括安装架、压块以及用于带动压块升降的伸缩杆，所述安装架固定安装于所述测试机架一侧，所述伸缩杆固定安装于所述安装架上，所述伸缩杆的输出端与所述压块固定连接。

进一步地，所述伸缩杆包括伸缩电缸，所述伸缩电缸固定安装于所述安装架上，所述伸缩电缸的活动端与所述压块顶部固定连接。

与相关技术相比较，本实用新型提供的可调节式集成电路芯片测试台具有如下有益效果：

通过驱动件带动活动板沿导向滑轨方向滑动，同时驱动斜槽的移动使得驱动杆带动滑动支撑座沿横杆进行横向移动，进而带动安装夹具上的集成电路芯片的位置发生变化，方便对集成电路芯片不同位置进行硬度冲压测试。

附图说明

图1为本实用新型提供的可调节式集成电路芯片测试台的整体结构示意图一；

图2为本实用新型提供的可调节式集成电路芯片测试台的整体结构示意图二；

图3为图2所示的A处的放大结构示意图；

图4为本实用新型提供的调节支撑组件的结构示意图一；

图5为本实用新型提供的调节支撑组件的结构示意图二。

图中标号：1、测试机架；2、安装座；3、活动板；4、横杆；5、滑动支撑座；6、导向滑轨；7、驱动杆；8、驱动斜槽；9、固定座；10、固定夹板；11、活动夹板；12、支板；13、调节杆；14、导向杆；15、伸缩气缸；16、安装架；17、压块；18、伸缩杆。

具体实施方式

下面结合附图和实施方式对本实用新型作进一步说明。

请结合参阅图1、图2、图3、图4图5，其中，图1为本实用新型提供的可调节式集成电路芯片测试台的整体结构示意图一；图2为本实用新型提供的可调节式集成电路芯片测试台的整体结构示意图二；图3为图2所示的A处的放大结构示意图；图4为本实用新型提供的调节支撑组件的结构示意图一；图5为本实用新型提供的调节支撑组件的结构示意图二。

在具体实施过程中，如图1-图5所示，可调节式集成电路芯片测试台包括测试机架1、固定于测试机架1一端的冲压件以及用于调整集成电路芯片冲压位置的调节支撑组件；

调节支撑组件包括安装座2、活动板3、横杆4、滑动支撑座5以及用于驱动活动板3横向移动的驱动件，安装座2固定安装于测试机架1上，安装座2上设有供活动板3滑动的导向滑轨6，驱动件固定安装于活动板3顶部，驱动件的末端与支撑座内侧壁相铰接，横杆4的两端分别固定于安装座2两侧，滑动支撑座5滑动安装于横杆4外表面，且滑动支撑座5的一端设有用于固定集成电路芯片的安装夹具，滑动支撑座5的顶部设有驱动杆7，活动板3的顶部开设有供驱动杆7滑动的驱动斜槽8。

需要说明的是，驱动件包括伸缩气缸15，伸缩气缸15固定安装于活动板3上，伸缩气缸15的输出端与安装座2内侧壁相铰接，通过伸缩气缸15的活动带动活动板3沿导向滑轨6方向滑动，同时驱动斜槽8的移动使得驱动杆7带动滑动支撑座5沿横杆4进行横向移动，进而带动安装夹具上的集成电路芯片的位置发生变化，方便对集成电路芯片不同位置进行硬度冲压测试。

参考图4-图5所示，安装夹具包括固定座9、固定夹板10以及活动夹板11，固定座9固定安装于滑动支撑座5一端，固定夹板10固定安装于固定座9一侧，活动夹板11滑动安装于固定座9另一侧，固定夹板10与活动夹板11设有两个相对的支板12，两个支板12与固定座9之间具有间隙，而支板12留有间隙是为集成电路芯片提供冲压空间，固定座9上还设有用于驱动活动夹板11横向移动的驱动机构。

驱动机构包括调节杆13以及导向杆14，调节杆13的一端与固定座9转动连接，且调节杆13与活动夹板11螺纹连接，导向杆14固定安装于固定座9上，导向杆14与活动夹板11滑动连接，通过拧动调节杆13带动活动夹板11向固定夹板10方向移动，通过固定夹板10与活动夹板11相配合对集成电路芯片进行固定。

冲压件包括安装架16、压块17以及用于带动压块17升降的伸缩杆18，安装架16固定安装于测试机架1一侧，伸缩杆18固定安装于安装架16上，伸缩杆18的输出端与压块17固定连接，通过伸缩杆18带动压块17进行升降移动对安装夹具上的电路芯片进行挤压；

需要说明的是，伸缩杆18包括伸缩电缸，伸缩电缸固定安装于安装架16上，伸缩电缸的活动端与压块17顶部固定连接，伸缩电缸可精准控制下压的位置，有利于对电路芯片进行不同冲击下的硬度测试。

本实用新型提供的工作原理如下：在该装置使用时，通过拧动调节杆13带动活动夹板11向固定夹板10方向移动，通过固定夹板10与活动夹板11相配合对集成电路芯片进行固定，通过伸缩气缸15的活动带动活动板3沿导向滑轨6方向滑动，同时驱动斜槽8的移动使得驱动杆7带动滑动支撑座5沿横杆4进行横向移动，进而带动安装夹具上的集成电路芯片的位置发生变化，方便对集成电路芯片不同位置进行硬度冲压测试，伸缩电缸的活动端与压块17顶部固定连接，伸缩电缸可精准控制下压的位置，有利于对电路芯片进行不同冲击下的硬度测试。

本实用新型中涉及的电路以及控制均为现有技术，在此不进行过多赘述。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (6)

1.一种可调节式集成电路芯片测试台，其特征在于，包括测试机架(1)、固定于测试机架(1)一端的冲压件以及用于调整集成电路芯片冲压位置的调节支撑组件；

所述调节支撑组件包括安装座(2)、活动板(3)、横杆(4)、滑动支撑座(5)以及用于驱动活动板(3)横向移动的驱动件，所述安装座(2)固定安装于所述测试机架(1)上，所述安装座(2)上设有供所述活动板(3)滑动的导向滑轨(6)，所述驱动件固定安装于所述活动板(3)顶部，所述驱动件的末端与所述支撑座内侧壁相铰接，所述横杆(4)的两端分别固定于所述安装座(2)两侧，所述滑动支撑座(5)滑动安装于所述横杆(4)外表面，且所述滑动支撑座(5)的一端设有用于固定集成电路芯片的安装夹具，所述滑动支撑座(5)的顶部设有驱动杆(7)，所述活动板(3)的顶部开设有供所述驱动杆(7)滑动的驱动斜槽(8)。

2.根据权利要求1所述的可调节式集成电路芯片测试台，其特征在于，所述安装夹具包括固定座(9)、固定夹板(10)以及活动夹板(11)，所述固定座(9)固定安装于所述滑动支撑座(5)一端，所述固定夹板(10)固定安装于所述固定座(9)一侧，所述活动夹板(11)滑动安装于所述固定座(9)另一侧，所述固定夹板(10)与所述活动夹板(11)设有两个相对的支板(12)，两个所述支板(12)与所述固定座(9)之间具有间隙，所述固定座(9)上还设有用于驱动活动夹板(11)横向移动的驱动机构。

3.根据权利要求2所述的可调节式集成电路芯片测试台，其特征在于，所述驱动机构包括调节杆(13)以及导向杆(14)，所述调节杆(13)的一端与所述固定座(9)转动连接，且所述调节杆(13)与所述活动夹板(11)螺纹连接，所述导向杆(14)固定安装于所述固定座(9)上，所述导向杆(14)与所述活动夹板(11)滑动连接。

4.根据权利要求3所述的可调节式集成电路芯片测试台，其特征在于，所述驱动件包括伸缩气缸(15)，所述伸缩气缸(15)固定安装于所述活动板(3)上，所述伸缩气缸(15)的输出端与所述安装座(2)内侧壁相铰接。

5.根据权利要求4所述的可调节式集成电路芯片测试台，其特征在于，所述冲压件包括安装架(16)、压块(17)以及用于带动压块(17)升降的伸缩杆(18)，所述安装架(16)固定安装于所述测试机架(1)一侧，所述伸缩杆(18)固定安装于所述安装架(16)上，所述伸缩杆(18)的输出端与所述压块(17)固定连接。

6.根据权利要求5所述的可调节式集成电路芯片测试台，其特征在于，所述伸缩杆(18)包括伸缩电缸，所述伸缩电缸固定安装于所述安装架(16)上，所述伸缩电缸的活动端与所述压块(17)顶部固定连接。