CN222232607U - 一种分体式可调节hast测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开的一种分体式可调节HAST测试治具，属于HAST测试技术领域；包括下层治具测试底座和上层样品安装部；所述上层样品安装部与下层治具测试底座滑动设置；所述下层治具测试底座包括治具框架，治具框架下方固定连接有治具支撑架；治具框架内设置有金属测试单元；所述上层样品安装部包括上层框架，上层框架内滑动设置有成对使用的可移动按压开关导通装置；可移动按压开关导通装置包括相互连通的金属下压头和金属伸缩杆；上层框架内设置有测试焊盘，测试焊盘上设置有测试样品；金属下压头压紧测试焊盘，且金属伸缩杆向下伸出与金属测试单元导通。本申请可以解决现有HAST试验箱空间狭小、操作难度大以及HAST治具可测试样品数量有限的问题。
Description
技术领域
本实用新型提供一种分体式可调节HAST测试治具，属于HAST测试技术领域。
背景技术
COF柔性封装基板(又称覆晶薄膜)在显示模组中起到承载驱动芯片、电气导通、绝缘支撑的关键作用，被广泛应用于大尺寸智能电视、全面屏手机、柔性OLED显示终端等领域。随着电子电器的复杂性在不断地增多，电子产品的使用环境日益严格、装置密度不断增加，COF柔性封装基板的可靠性也已经成为对产品的重要质量指标进行考核和检测。
HAST测试是集成电路行业中常用的一种可靠性测试方法。它通过将样品置于高温高湿环境下，模拟样品在实际应用中可能面临的恶劣条件，以评估样品的稳定性和可靠性。当前市面现有的HAST试验箱空间狭小，操作难度大，同时HAST治具可测试样品数量有限，若多次测试存在耗时长、效率低的问题。因此，亟需发明一种降低作业难度并大幅提升作业效率的测试治具。
实用新型内容
本实用新型提供的一种分体式可调节HAST测试治具，采用分体式设计，方便调节，可同时测试多个样品，提高了测试效率，解决了现有HAST试验箱空间狭小、操作难度大以及HAST治具可测试样品数量有限的问题。
本实用新型为了解决上述问题，所提出的技术方案为：一种分体式可调节HAST测试治具，包括下层治具测试底座和上层样品安装部；所述上层样品安装部与下层治具测试底座滑动设置；所述下层治具测试底座包括治具框架，治具框架下方固定连接有治具支撑架；治具框架内设置有金属测试单元；所述上层样品安装部包括上层框架，上层框架内滑动设置有成对使用的可移动按压开关导通装置；可移动按压开关导通装置包括相互连通的金属下压头和金属伸缩杆；上层框架内设置有测试焊盘，测试焊盘上设置有测试样品；金属下压头压紧测试焊盘，且金属伸缩杆向下伸出与金属测试单元导通。
作为改进的，所述金属测试单元包括金属片和金属导通插座，金属导通插座连接于金属片下方；所述金属伸缩杆与所述金属测试单元的金属片相导通，且金属导通插座通过外接引线与试验箱连接。
作为改进的，所述上层框架内开设有滑动轨道，且可移动按压开关导通装置相对于滑动轨道滑动设置；所述可移动按压开关导通装置上设置有紧固装置，所述紧固装置将可移动按压开关导通装置与上层框架固定连接。
作为改进的，所述上层样品安装部两侧设置有互动导轨，所述下层治具测试底座两侧设置有插入式滑动导轨；所述互动导轨与所述插入式滑动导轨滑动配合设置。
作为改进的，所述互动导轨与所述插入式滑动导轨配合连接后通过轨道锁扣进行锁死固定。
作为改进的，所述治具框架采用耐腐蚀材料制成。
本实用新型的有益效果：
本申请包括可相对滑动分离的上层样品安装部与下层治具测试底座，且设置可移动按压开关导通装置；通过分体式的设计大幅度降低连接样品难度、提升作业效率，通过可移动按压开关导通装置轻松完成样品的夹取，通过可调轨道适用各类型样品，实现降本增效。同时，可充分利用HAST试验箱空间，大幅度提升测试样本数量。
附图说明
图1为本实用新型一种分体式可调节HAST测试治具的侧视图。
图2为本实用新型一种分体式可调节HAST测试治具的下层治具测试底座的俯视图。
图3为本实用新型一种分体式可调节HAST测试治具的金属测试单元的侧视图。
图4为本实用新型一种分体式可调节HAST测试治具的上层样品安装部俯视图。
图5为本实用新型一种分体式可调节HAST测试治具的可移动按压开关导通装置示意图。
图6为本实用新型一种分体式可调节HAST测试治具的可移动按压开关导通装置下压状态示意图。
图7为本实用新型一种分体式可调节HAST测试治具的插入式滑动导轨与互动导轨配合连接示意图。
1、治具支撑架；2、外接引线；3、金属导通插座；4、金属片；5、治具框架；6、轨道锁扣；7、插入式滑动导轨；8、互动导轨；9、金属下压头；10、紧固装置；11、滑动轨道；12、金属伸缩杆；13、上层框架；14、测试样品；15、测试焊盘。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型进一步说明。
根据图1-7所示：本实用新型提供了一种分体式可调节HAST测试治具：包括下层治具测试底座和上层样品安装部；上层样品安装部与下层治具测试底座滑动设置；下层治具测试底座包括治具框架5，治具框架5下方固定连接有治具支撑架1；治具框架5内设置有金属测试单元；上层样品安装部包括上层框架13，上层框架13内滑动设置有成对使用的可移动按压开关导通装置；可移动按压开关导通装置包括相互连通的金属下压头9和金属伸缩杆12；上层框架13内设置有测试焊盘15，测试焊盘15上设置有测试样品14；金属下压头9压紧测试焊盘15，且金属伸缩杆12向下伸出与金属测试单元导通。金属测试单元包括金属片4和金属导通插座3，金属导通插座3连接于金属片4下方；金属伸缩杆12与金属测试单元的金属片4相导通，且金属导通插座3通过外接引线2与试验箱连接。
采用分体式设计，方便调节，可同时测试多个样品，提高了测试效率，解决了现有HAST试验箱空间狭小、操作难度大以及HAST治具可测试样品14数量有限的问题。
上层框架13内开设有滑动轨道11，且可移动按压开关导通装置相对于滑动轨道11滑动设置；可移动按压开关导通装置上设置有紧固装置10，紧固装置10将可移动按压开关导通装置与上层框架13固定连接。紧固装置10的设置便于对可移动按压开关导通装置移动位置后的固定。
上层样品安装部两侧设置有互动导轨8，下层治具测试底座两侧设置有插入式滑动导轨7；互动导轨8与插入式滑动导轨7滑动配合设置。互动导轨8与插入式滑动导轨7配合连接后通过轨道锁扣6进行锁死固定。滑动连接导轨的设置便于上层样品安装部与下层治具测试底座的安装，同时轨道锁扣6的设置便于二者连接后的固定。
治具框架5采用耐腐蚀材料制成，能够提高整体测试治具的防腐蚀性能。
本实用新型的原理
在使用时，将下层治具测试底座置于试验箱内，通过外接引线2连接金属导通插座3，使之正负极与试验箱相导通；通过互动导轨8与插入式滑动导轨7配合，将上层样品安装部推至下层治具测试底座的上方，使用轨道锁扣6进行锁死固定。
依据测试样品14的数量，选择可移动按压开关导通装置的数量，根据测试样品14的大小调节可移动按压开关导通装置在滑动轨道11上的位置，通过紧固装置10进行固定。将样品的测试焊盘15置于金属下压头9下方，按压开关，金属下压头9压紧测试焊盘15，同时可移动按压开关导通装置另一端金属伸缩杆12向下伸出，与下方金属测试单元的金属片4相导通，形成通路；整个测试治具形成完整回路，外部施加测试条件后即可运行。
以上对本实用新型及其实施方式进行了描述，这种描述没有限制性，附图中所示的也只是本实用新型的实施方式之一，实际的结构并不局限于此。总而言之如果本领域的普通技术人员受其启示，在不脱离本实用新型创造宗旨的情况下，不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例，均应属于本实用新型的保护范围。
Claims (6)
1.一种分体式可调节HAST测试治具，包括下层治具测试底座和上层样品安装部；其特征在于：所述上层样品安装部与下层治具测试底座滑动设置；所述下层治具测试底座包括治具框架(5)，治具框架(5)下方固定连接有治具支撑架(1)；治具框架(5)内设置有金属测试单元；所述上层样品安装部包括上层框架(13)，上层框架(13)内滑动设置有成对使用的可移动按压开关导通装置；可移动按压开关导通装置包括相互连通的金属下压头(9)和金属伸缩杆(12)；上层框架(13)内设置有测试焊盘(15)，测试焊盘(15)上设置有测试样品(14)；金属下压头(9)压紧测试焊盘(15)，且金属伸缩杆(12)向下伸出与金属测试单元导通。
2.根据权利要求1所述的一种分体式可调节HAST测试治具，其特征在于：所述金属测试单元包括金属片(4)和金属导通插座(3)，金属导通插座(3)连接于金属片(4)下方；所述金属伸缩杆(12)与所述金属测试单元的金属片(4)相导通，且金属导通插座(3)通过外接引线(2)与试验箱连接。
3.根据权利要求1所述的一种分体式可调节HAST测试治具，其特征在于：所述上层框架(13)内开设有滑动轨道(11)，且可移动按压开关导通装置相对于滑动轨道(11)滑动设置；所述可移动按压开关导通装置上设置有紧固装置(10)，所述紧固装置(10)将可移动按压开关导通装置与上层框架(13)固定连接。
4.根据权利要求1所述的一种分体式可调节HAST测试治具，其特征在于：所述上层样品安装部两侧设置有互动导轨(8)，所述下层治具测试底座两侧设置有插入式滑动导轨(7)；所述互动导轨(8)与所述插入式滑动导轨(7)滑动配合设置。
5.根据权利要求4所述的一种分体式可调节HAST测试治具，其特征在于：所述互动导轨(8)与所述插入式滑动导轨(7)配合连接后通过轨道锁扣(6)进行锁死固定。
6.根据权利要求1所述的一种分体式可调节HAST测试治具，其特征在于：所述治具框架(5)采用耐腐蚀材料制成。
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