CN221781422U - 一种平行度精密测量装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种平行度精密测量装置，其包括基座及支撑组件，所述基座为平板形，基座的上端面对于底面平行度不大于0.001mm；所述支撑组件为一组L形的可调节支撑柱，可调节支撑立柱包括水平柱及立柱，所述水平柱的下平面与所述立柱的上平面平行度要求小于0.001mm，所述水平柱与基座可调安装，可调节支撑柱的立柱上端可伸入并定位于待测零件内基准面。本实用新型的平行度精密测量装置，可调节支撑柱的立柱上端可伸入并定位于待测零件内基准面，可适用于基准面不在最外端的零件进行精密测量，缩短测量时长，提高测量精度。
Description
技术领域
本实用新型属于测量装置技术领域，特别是一种平行度精密测量装置。
背景技术
精密加工零件的平行度测量主要分为三种情况，第一种为测量平面与基准面均在同一端，如图1所示。此种情况下使用三坐标进行测量即可。第二种为测量平面与基准面位于零件两端，其基准面在最外端，如图2所示。此种情况可以使用三坐标或高度仪进行测量。第三种为测量平面与基准面位于零件两端，其基准面不在最外端，如图3所示，此种情况下，应用三坐标测量时也有较大困难，要求三坐标测头具备星型测头或可旋转测头，同时要求测头长度足够长。应用测高仪进行测量时，需要将基准面架起，并且保证基准面与测量平面项平行。因此，需要设计一种平行度精密测量装置，方便基准面不在最外端的零件进行精密测量。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种平行度精密测量装置，其可适用于基准面不在最外端的零件进行精密测量，缩短测量时长，提高测量精度。
本实用新型解决其技术问题是通过以下技术方案实现的：
一种平行度精密测量装置，其特征在于：包括基座及支撑组件，所述基座为平板形，基座的上端面对于底面平行度不大于0.001mm；所述支撑组件为一组L形的可调节支撑柱，可调节支撑立柱包括水平柱及立柱，所述水平柱的下平面与所述立柱的上平面平行度要求小于0.001mm，所述各立柱(8)高度差控制在0.001mm以内，所述水平柱与基座可调安装，可调节支撑柱的立柱上端可伸入并定位于待测零件内基准面。
而且，所述可调节支撑柱的立柱高度为10-20mm；
而且，所述一组L形的可调节支撑柱沿基座上所制的螺纹孔环形阵列安装，并沿径向可调。
而且，所述可调节支撑座的水平柱制有滑槽，所述水平柱通过嵌入该滑槽内的两个螺栓与基座底部所制的螺纹孔进行固定。
本实用新型的优点和有益效果为：
1.本实用新型的平行度精密测量装置，可调节支撑柱的立柱上端可伸入并定位于待测零件内基准面，可适用于基准面不在最外端的零件进行精密测量，测量前将可调节支撑柱摆放合适的位置，并用螺钉固定住，应用测高仪进行测量，根据被测工件调节其位置并固定，组合好测量工装后用高度仪测量可调节支撑柱上表面，复验可调节支撑柱上表面与大理石基板平行度是否符合测量要求。
附图说明
图1第一种平行度测量示意图；
图2第二种平行度测量示意图
图3第三种平行度测量示意图
图4测量装置示意图；
图5基座结构示意图；
图6可调节支撑柱立体示意图。
图中标记：1-可调节支撑柱、2-基座、3-滑槽、4-螺纹孔、5-上端面、6-底面、7-上平面、8-立柱、9-水平柱、10-下平面。
具体实施方式
下面通过具体实施例对本实用新型作进一步详述，以下实施例只是描述性的，不是限定性的，不能以此限定本实用新型的保护范围。
一种平行度精密测量装置，如图4、图5、图6所示，其包括基座2及支撑组件，基座采用圆形的平板形基座，基座的上端面5对于底面6平行度不大于0.001mm，基板上端面设有等距螺纹孔；支撑组件为一组L形的可调节支撑柱1，可调节支撑立柱包括水平柱9及立柱8，所述水平柱的下平面10与所述立柱的上平面7平行度要求小于0.001mm，各立柱(8)高度差控制在0.001mm以内，水平柱与基座可调安装。一组L形的可调节支撑柱沿基座上所制的螺纹孔环形阵列安装，本实施例中采用三个可调节支撑柱。可调节支撑柱的立柱高度为10-20mm；可调节支撑座的水平柱制有滑槽3，水平柱通过嵌入该滑槽内的两个螺栓与基座底部所制的螺纹孔4进行固定，并沿径向可调。可调节支撑柱的立柱上端可伸入并定位于待测零件内基准面。本实用新型的三个可调节支撑柱的立柱上端可伸入至待测零件的内基准面，并实现与该基准面的定位。
本平行度精密测量装置的工作原理为：
1、首先清洁测量平板及测量工装：使用酒精擦拭大理石平板、基座及可调节支撑柱表面，保证其表面无其它影响测量的颗粒或杂质。
2、测量装置摆放：将基座摆放于00级大理石平板上，确认摆放后平板稳定，无晃动，将可调节支撑柱摆放在基座之上，根据被测工件调节其位置并固定。组合好测量工装后用高度仪测量支撑柱上表面，复验支撑柱上表面与大理石平板平行度是否符合测量要求。
3、工件固定与测量：经被测工件基准面摆放于测量装置之上，可调节支撑柱的立柱上端伸入并定位于待测零件内基准面，如图3所示，本实用新型的可调节支撑柱的立柱上端与基准面A定位。保持工件稳定状态下，应用高度仪测量被测量平面，得出测量数据进行数据分析即可得到平行度的测量值。
尽管为说明目的公开的本实用新型的实施例和附图，但是本领域的技术人员可以理解，在不脱离本实用新型及所附权利要求的精神和范围内，各种替换、变化和修改都是可能的，因此本实用新型的范围不局限于实施例和附图所公开的内容。
Claims (4)
1.一种平行度精密测量装置，其特征在于：包括基座（2）及支撑组件，所述基座（2）为平板形，基座（2）的上端面（5）对于底面（6）平行度不大于0.001mm；所述支撑组件为一组L形的可调节支撑柱（1），可调节支撑立柱包括水平柱（9）及立柱（8），所述水平柱（9）的下平面（10）与所述立柱（8）的上平面（7）平行度要求小于0.001mm，所述各立柱（8）高度差控制在0.001mm以内；所述水平柱（9）与基座（2）可调安装，可调节支撑柱（1）的立柱（8）上端可伸入并定位于待测零件内基准面。
2.根据权利要求1所述的平行度精密测量装置，其特征在于：所述可调节支撑柱（1）的立柱高度为10-20mm。
3.根据权利要求1所述的平行度精密测量装置，其特征在于：所述一组L形的可调节支撑柱（1）沿基座（2）上所制的螺纹孔（4）环形阵列安装，并沿径向可调。
4.根据权利要求1所述的平行度精密测量装置，其特征在于：所述可调节支撑柱（1）的水平柱（9）制有滑槽（3），所述水平柱（9）通过嵌入该滑槽（3）内的两个螺栓与基座（2）底部所制的螺纹孔（4）进行固定。
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Cited By (1)
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|---|---|---|---|---|
| CN119468946A (zh) * | 2024-10-30 | 2025-02-18 | 中国船舶集团有限公司第七〇七研究所 | 一种基于干涉显微镜的微小球头精密测量装置及方法 |
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2024
- 2024-01-10 CN CN202420060875.XU patent/CN221781422U/zh active Active
Cited By (2)
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| CN119468946A (zh) * | 2024-10-30 | 2025-02-18 | 中国船舶集团有限公司第七〇七研究所 | 一种基于干涉显微镜的微小球头精密测量装置及方法 |
| CN119468946B (zh) * | 2024-10-30 | 2025-11-25 | 中国船舶集团有限公司第七〇七研究所 | 一种基于干涉显微镜的微小球头精密测量装置及方法 |
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