CN221726527U - 一种防尘性好的内存芯片的测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及芯片测试技术领域，且公开了一种防尘性好的内存芯片的测试设备，包括支架、测试架、电推杆以及测试架顶部开设的测试槽，电推杆的下端固定连接有夹具，夹具的底部开设有腔体，腔体的内部滑动连接有对称的夹持块，腔体内壁的两侧均固定连接有伸缩杆，伸缩杆的另一端与夹持块固定连接；该种防尘性好的内存芯片的测试设备，当不需要使用该装置时，通过电推杆运作使夹具向下移动，当夹具的底部与测试架相抵后，电推杆停止运作，向下滑动防护壳，再通过限位组件对其固定，即可有效防止灰尘进入到测试槽的内部，这样可使得该装置在使用时测试槽内部没有灰尘，从而使得该设备对内存芯片进行测试时能始终保持较高的准确性。

Description

一种防尘性好的内存芯片的测试设备

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种防尘性好的内存芯片的测试设备。

背景技术

芯片是将大量的微电子元器件形成的集成电路放在一块塑基上，芯片以及电路板和金手指组成内存条，对内存芯片进行智能测试时，即可对芯片的内存条进行测试，因而需要使用到一种内存芯片的智能测试设备，现有技术中，存在一些问题，例如：不易在内存芯片进行测试时保证芯片固定的稳定，使得测试结果容易受到影响，从而影响得出数据的准确性；

现有技术中，如公告号CN217690055U提出了一种内存芯片的智能测试设备，本技术方案涉及芯片测试技术领域，具体是一种内存芯片的智能测试设备，包括底板，所述底板顶部外壁的中间位置安装有固定机构，所述固定机构包括驱动件，所述驱动件的顶部安装有支撑板，所述支撑板的顶部外壁上固定安装有固定座，所述固定座顶部开有矩形口，所述矩形口的四周内壁上固定安装有橡胶垫，所述矩形口的底部内壁上设有缓冲机构，所述橡胶垫的内壁上安装有测试槽，所述底板顶部外壁的两侧均竖直安装有竖板，本实用新型利用微调电机微调测试槽的摆放角度，便于适合内存芯片内存条的插入，通过橡胶垫起到缓冲的效果，通过阻尼缓冲筒、阻尼缓冲杆和弹簧，将弹性势能转化为阻尼力而减缓振动，使得装置支撑稳定；

但是，现有技术方案将内存芯片插入测试槽后对其进行测试，而当人们不需要对内存芯片进行测试时，由于测试槽的开口是朝上的，所以当该装置长时间放置后，必然会有大量灰尘落到测试槽的内部，而且测试槽的宽度较窄，所以不便于人们清理，从而使得测试槽内底部会积累大量灰尘，此时将内存芯片插入测试槽内部后必然会影响到测试数据的准确性；

为解决上述问题，本申请中提出一种防尘性好的内存芯片的测试设备。

实用新型内容

本实用新型意在提供一种防尘性好的内存芯片的测试设备，主要用于解决该设备在不使用时，由于测试槽的开口是朝上的，必然会有大量灰尘落到测试槽的内部，导致该设备在对内存芯片进行测试时会影响到数据的准确性。

为解决上述技术问题，本实用新型提供如下技术方案：

一种防尘性好的内存芯片的测试设备，包括支架、测试架、电推杆以及测试架顶部开设的测试槽，电推杆的下端固定连接有夹具，夹具的底部开设有腔体，腔体的内部滑动连接有对称的夹持块，腔体内壁的两侧均固定连接有伸缩杆，伸缩杆的另一端与夹持块固定连接，伸缩杆的外壁套设有第一弹簧，第一弹簧的一端与腔体的内壁固定连接，另一端与夹持块固定连接，夹具的外壁套设有防护壳，防护壳与夹具之间滑动连接，防护壳的两侧均设置有限位组件，防护壳的一侧固定连接有L形连接板，L形连接板的一侧固定连接有风扇。

本实用新型的工作原理及有益效果：

1.工作原理：工作人员将内存芯片插在夹具底部的腔体内部，内存芯片插入腔体内部过程中会挤压夹持块向两侧移动，内存芯片完全插入腔体内部后，两个夹持块会在伸缩杆以及第一弹簧的作用下将内存芯片抵紧，将该装置接通外接电源使风扇运作，从而将内存芯片上的灰尘吹走，通过电推杆运作使夹具带动内存芯片向下移动，内存芯片插入测试槽内部后即可对其进行测试，测试结束后，通过电推杆运作使夹具带动内存芯片上升，将内存芯片取出后，通过电推杆运作使夹具向下移动，当夹具与测试架相抵后，电推杆停止运作，向下滑动防护壳，再通过限位组件对其固定，即可有效防止灰尘进入到测试槽的内部。

2.有益效果：当不需要使用该装置时，通过电推杆运作使夹具向下移动，当夹具的底部与测试架相抵后，电推杆停止运作，向下滑动防护壳，再通过限位组件对其固定，即可有效防止灰尘进入到测试槽的内部，这样可使得该装置在使用时测试槽内部没有灰尘，从而使得该设备对内存芯片进行测试时能始终保持较高的准确性。

优选地，限位组件包括防护壳的两侧开设有通槽，通槽的内部滑动连接有插杆，插杆的两端均延伸出防护壳，插杆的外壁套设有第二弹簧，第二弹簧的一端与通槽的内壁固定连接，另一端与插杆的外壁固定连接，夹具的两侧均开设有对称的与插杆相匹配的插槽。

优选地，防护壳内壁的两侧均固定连接有对称的滑块，夹具的两侧均开设有与滑块相匹配的滑槽。

优选地，伸缩杆的数量为多个，且呈线性阵列等距分布在夹具内壁的两侧。

优选地，夹具底部的边缘处固定连接有密封垫。

优选地，插杆延伸出防护壳的一端固定连接有把手，把手的拐角处均为圆角设置，且把手的外壁套设有防滑套。

优选地，插槽的开口处均为圆角设置。

附图说明

图1为本实用新型整体的立体结构示意图；

图2为本实用新型正视的剖面结构示意图；

图3为本实用新型夹具的侧视剖面结构示意图；

图4为本实用新型夹具的整体放大结构示意图；

图5为本实用新型图2中A处的放大结构示意图。

图中：1、支架；2、测试架；3、电推杆；4、测试槽；5、夹具；6、夹持块；7、伸缩杆；8、第一弹簧；9、防护壳；10、通槽；11、插杆；12、第二弹簧；13、插槽；14、L形连接板；15、风扇；16、滑块；17、滑槽；18、把手；19、密封垫；20、腔体。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-5，一种防尘性好的内存芯片的测试设备，包括支架1、测试架2、电推杆3以及测试架2顶部开设的测试槽4，电推杆3的下端固定连接有夹具5，夹具5的底部开设有腔体20，腔体20的内部滑动连接有对称的夹持块6，腔体20内壁的两侧均固定连接有伸缩杆7，伸缩杆7的另一端与夹持块6固定连接，伸缩杆7的外壁套设有第一弹簧8，第一弹簧8的一端与腔体20的内壁固定连接，另一端与夹持块6固定连接，工作人员使用该装置对内存芯片进行测试时，将内存芯片插入夹具5底部的腔体20内部，内存芯片插入腔体20内部过程中会挤压夹持块6向两侧移动，内存芯片完全插入腔体20内部后，两个夹持块6会在伸缩杆7以及第一弹簧8的作用下将内存芯片抵紧，然后将该装置接通外接电源，通过电推杆3运作使夹具5带动内存芯片向下移动，内存芯片插入测试槽4内部后即可对其进行测试，夹具5的外壁套设有防护壳9，防护壳9与夹具5之间滑动连接，防护壳9的两侧均设置有限位组件，当内存芯片测试结束后，通过电推杆3运作使夹具5带动内存芯片上升，将内存芯片取出后，通过电推杆3运作使夹具5向下移动，当夹具5与测试架2相抵后，电推杆3停止运作，向下滑动防护壳9，再通过限位组件对其固定，即可有效防止灰尘进入到测试槽4的内部，防护壳9的一侧固定连接有L形连接板14，L形连接板14的一侧固定连接有风扇15，通过防护壳9一侧设置的L形连接板14，L形连接板14上设置有风扇15，当该设备通电后，风扇15运作可将内存芯片上的灰尘吹走，从而有效提高该装置对内存芯片进行测试时的准确性。

如图2和图5所示，限位组件包括防护壳9的两侧开设有通槽10，通槽10的内部滑动连接有插杆11，插杆11的两端均延伸出防护壳9，插杆11的外壁套设有第二弹簧12，第二弹簧12的一端与通槽10的内壁固定连接，另一端与插杆11的外壁固定连接，夹具5的两侧均开设有对称的与插杆11相匹配的插槽13，该装置停止运作后，通过电推杆3运作使夹具5向下移动，当夹具5与测试架2相抵后，电推杆3停止运作，向下滑动防护壳9，再通过限位组件对其固定，限位组件包括通槽10、插杆11、第二弹簧12以及夹具5两侧开设的插槽13，工作人员通过拉动插杆11使其脱离插槽13，即可向下滑动防护壳9，当防护壳9滑到底后松手，插杆11会在第二弹簧12的作用下复位并插入插槽13内部，从而对防护壳9起到较好的限位作用，从而使得该装置在使用时或者放置时稳定性均较高。

如图3和图4所示，防护壳9内壁的两侧均固定连接有对称的滑块16，夹具5的两侧均开设有与滑块16相匹配的滑槽17，防护壳9在夹具5的外壁滑动过程中，通过防护壳9内壁两侧设置的滑块16以及夹具5两侧开设的滑槽17，可对防护壳9起到较好的限位以及导向的作用，从而使得防护壳9在夹具5上滑动时稳定性较高。

如图3所示，伸缩杆7的数量为多个，且呈线性阵列等距分布在夹具5内壁的两侧，通过将伸缩杆7的数量设置为多个，可使得夹持块6在腔体20内部移动时稳定性更高，而且可使得两个夹持块6对内存芯片的夹持效果更好，从而有效提高该装置对内存芯片测试时的稳定性。

如图4所示，夹具5底部的边缘处固定连接有密封垫19，通过夹具5底部设置的密封垫19，密封垫19可通过橡胶材料制成，由于橡胶材料具有较好的缓冲性以及密封性，所以当夹具5底部与测试架2接触后，通过设置密封垫19，不仅可有效避免了夹具5与测试架2之间的硬性接触，从而对该装置起到一定的保护作用，而且可有效提高该装置的密封性，从而进一步防止灰尘进入到测试槽4的内部。

如图5所示，插杆11延伸出防护壳9的一端固定连接有把手18，把手18的拐角处均为圆角设置，且把手18的外壁套设有防滑套，当工作人员需要滑动防护壳9时，均需要拉动插杆11使其一端脱离插槽13，所以通过插杆11一端设置的把手18，工作人员通过拉动把手18即可使插杆11移动并脱离插槽13，通过把手18外壁套设的防滑套，可有效增大人们手部与把手18之间的摩擦力，防止人们在拉动把手18时手滑，从而使得该装置的使用更加方便。

如图4所示，插槽13的开口处均为圆角设置，通过将插槽13的开口处均设置为圆角，可使得插杆11插入插槽13内部时更加方便，从而进一步提高了该装置的实用性。

由上述可知，本实用新型的具体实施方式如下：

工作人员使用该装置对内存芯片进行测试时，将内存芯片插入夹具5底部的腔体20内部，内存芯片插入腔体20内部过程中会挤压夹持块6向两侧移动，内存芯片完全插入腔体20内部后，两个夹持块6会在伸缩杆7以及第一弹簧8的作用下将内存芯片抵紧，然后将该装置接通外接电源，通过防护壳9一侧设置的L形连接板14以及L形连接板14上设置有风扇15，通过风扇15运作可将内存芯片上的灰尘吹走，通过电推杆3运作使夹具5带动内存芯片向下移动，内存芯片插入测试槽4内部后即可对其进行测试，测试结束后，通过电推杆3运作使夹具5带动内存芯片上升，将内存芯片取出后，通过电推杆3运作使夹具5向下移动，当夹具5与测试架2相抵后，电推杆3停止运作，向下滑动防护壳9，再通过限位组件对其固定，即可有效防止灰尘进入到测试槽4的内部，从而有效保证该装置对内存芯片测试的准确性，电推杆3以及风扇15均电连接有控制器，通过控制器发出电信号可控制电推杆3以及风扇15运作。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种防尘性好的内存芯片的测试设备，包括支架(1)、测试架(2)、电推杆(3)以及测试架(2)顶部开设的测试槽(4)，其特征在于，电推杆(3)的下端固定连接有夹具(5)，夹具(5)的底部开设有腔体(20)，腔体(20)的内部滑动连接有对称的夹持块(6)，腔体(20)内壁的两侧均固定连接有伸缩杆(7)，伸缩杆(7)的另一端与夹持块(6)固定连接，伸缩杆(7)的外壁套设有第一弹簧(8)，第一弹簧(8)的一端与腔体(20)的内壁固定连接，另一端与夹持块(6)固定连接，夹具(5)的外壁套设有防护壳(9)，防护壳(9)与夹具(5)之间滑动连接，防护壳(9)的两侧均设置有限位组件，防护壳(9)的一侧固定连接有L形连接板(14)，L形连接板(14)的一侧固定连接有风扇(15)。

2.根据权利要求1所述的一种防尘性好的内存芯片的测试设备，其特征在于：限位组件包括防护壳(9)的两侧开设有通槽(10)，通槽(10)的内部滑动连接有插杆(11)，插杆(11)的两端均延伸出防护壳(9)，插杆(11)的外壁套设有第二弹簧(12)，第二弹簧(12)的一端与通槽(10)的内壁固定连接，另一端与插杆(11)的外壁固定连接，夹具(5)的两侧均开设有对称的与插杆(11)相匹配的插槽(13)。

3.根据权利要求1所述的一种防尘性好的内存芯片的测试设备，其特征在于：防护壳(9)内壁的两侧均固定连接有对称的滑块(16)，夹具(5)的两侧均开设有与滑块(16)相匹配的滑槽(17)。

4.根据权利要求1所述的一种防尘性好的内存芯片的测试设备，其特征在于：伸缩杆(7)的数量为多个，且呈线性阵列等距分布在夹具(5)内壁的两侧。

5.根据权利要求1所述的一种防尘性好的内存芯片的测试设备，其特征在于：夹具(5)底部的边缘处固定连接有密封垫(19)。

6.根据权利要求2所述的一种防尘性好的内存芯片的测试设备，其特征在于：插杆(11)延伸出防护壳(9)的一端固定连接有把手(18)，把手(18)的拐角处均为圆角设置，且把手(18)的外壁套设有防滑套。

7.根据权利要求2所述的一种防尘性好的内存芯片的测试设备，其特征在于：插槽(13)的开口处均为圆角设置。