CN219831310U - 一种芯片测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种芯片测试装置，包括工作台，所述工作台的顶部设置有固定台，所述工作台的内腔固定连接有第一电机，所述第一电机的输出轴传动连接有蜗杆，所述蜗杆表面的后端啮合有蜗轮，所述蜗轮的顶部固定连接有第一传动杆，所述第一传动杆远离蜗轮的一端固定连接有主动齿轮，所述主动齿轮的表面啮合有从动齿轮；本实用新型通过设置固定台、第一电机、蜗杆、蜗轮、第一传动杆、主动齿轮、从动齿轮和第二传动杆，起到了能够对芯片的角度进行调节，从而能够方便工作人员对芯片进行全方位的测试操作，有效的提高了芯片的测试效率，通过设置定位板、螺纹杆、螺纹套、连接板、固定杆和活动杆，起到了能够对不同大小的芯片进行固定的效果。

Description

一种芯片测试装置

技术领域

本实用新型属于芯片测试领域，具体地说是一种芯片测试装置。

背景技术

芯片在生产完成后需要对其功能性进行测试，测试时需要对芯片进行影像扫描，为了防止在扫描时芯片出现晃动，需要使用固定装置对其进行固定，进而能够方便工作人员对芯片进行相应的测试操作，有效的提高了芯片的测试效率；

根据中国专利申请号为：202121187725.8，公开了一种车载芯片测试用固定夹具，包括壳体和箱体，所述箱体内腔底部的左侧固定安装有一号电机，所述一号电机的输出端通过减速机固定安装有一号转轴，所述一号转轴的外表面固定安装有螺纹杆，该车载芯片测试用固定夹具，通过一号电机运行通过一号转轴旋转带动螺纹杆进行旋转，螺纹杆旋转通过螺纹块移动和连接块移动带动一号限定柱进行移动，一号限定柱移动通过转环旋转和二号限定柱移动通过滑块移动带动连接板进行移动，连接板移动通过滑柱移动，在弹簧的作用下，实现了装置可以对车载芯片进行固定夹持的目的，增强车载芯片的检测效果，提高了工作人员的检测效率；

对比案例有效的解决了现有的芯片测试用装置在进行使用时，芯片受到外力往往会产生晃动，影响芯片的检测效果，降低了工作人员检测效率的问题，具有能够对芯片进行夹持固定的优点，有效的提高了工作人员的检测效率，然而在实际使用中，由于固定装置缺少角度调节功能，对芯片进行测试操作时通常都是固定的方位，从而使得工作人员不能全方位的对芯片进行测试操作，进而降低了芯片的测试效率。

综上，因此本实用新型提供了一种芯片测试装置，以解决上述问题。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种芯片测试装置，以解决现有技术中由于固定装置缺少角度调节功能，对芯片进行测试操作时通常都是固定的方位，从而使得工作人员不能全方位的对芯片进行测试操作，进而降低了芯片的测试效率的问题。

一种芯片测试装置，包括工作台，所述工作台的顶部设置有固定台，所述工作台的内腔固定连接有第一电机，所述第一电机的输出轴传动连接有蜗杆，所述蜗杆表面的后端啮合有蜗轮，所述蜗轮的顶部固定连接有第一传动杆，所述第一传动杆远离蜗轮的一端固定连接有主动齿轮，所述主动齿轮的表面啮合有从动齿轮，所述从动齿轮的顶部固定连接有第二传动杆，所述第二传动杆远离从动齿轮的一端贯穿至工作台的外部并与固定台固定连接，所述固定台顶部前端和后端的两侧均设置有定位板，所述固定台的内腔通过轴承活动连接有螺纹杆，所述螺纹杆表面两端的螺纹为相反设置，所述螺纹杆表面的两端均螺纹连接有螺纹套，所述螺纹套的正面和背面均固定连接有连接板，所述连接板的顶部固定连接有固定杆，所述固定杆的内腔设置有活动杆，所述活动杆远离固定杆内腔的一端与定位板固定连接。

优选的，所述固定台顶部的前端和后端均开设有通槽，所述固定杆远离连接板的一端延伸至通槽的内腔且与通槽的内腔活动连接。

优选的，所述固定台的左侧固定连接有第二电机，所述第二电机的输出轴贯穿至固定台的内腔并与螺纹杆传动连接。

优选的，所述固定杆内腔的下端设置有复位弹簧，所述复位弹簧的两端分别与固定杆的内壁和活动杆固定连接。

优选的，所述固定杆内腔的两端均开设有限位槽，所述限位槽的内腔滑动连接有限位块，所述限位块远离限位槽内腔的一端与活动杆固定连接。

优选的，所述蜗轮的底部固定连接有第一支撑杆，所述第一支撑杆远离蜗轮的一端通过轴承与工作台的内壁活动连接。

优选的，所述从动齿轮的底部固定连接有第二支撑杆，所述第二支撑杆远离从动齿轮的一端通过轴承与工作台的内壁活动连接。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

1、本实用新型通过设置固定台、第一电机、蜗杆、蜗轮、第一传动杆、主动齿轮、从动齿轮和第二传动杆，起到了能够对芯片的角度进行调节，第一电机的输出轴转动带动蜗杆进行转动，蜗杆转动时带动蜗轮进行转动，蜗轮转动时通过第一传动杆带动主动齿轮进行转动，主动齿轮转动时带动从动齿轮进行转动，从动齿轮转动时通过第二传动杆带动固定台进行转动，从而能够方便工作人员对芯片进行全方位的测试操作，有效的提高了芯片的测试效率。

2、本实用新型通过设置定位板、螺纹杆、螺纹套、连接板、固定杆和活动杆，起到了能够对不同大小的芯片进行固定的效果，螺纹杆转动时带动两个螺纹套向两侧运动，螺纹套运动时通过连接板带动固定杆向两侧运动，固定杆运动时通过活动杆带动定位板向两侧运动，从而能够调节固定距离，进而能够对不同大小的芯片进行固定。

附图说明

图1是本实用新型主视结构示意图；

图2是本实用新型工作台的正视剖面结构示意图；

图3是本实用新型工作台的俯视局部剖面结构示意图；

图4是本实用新型固定台的正视剖面结构示意图；

图5是本实用新型固定杆的正视剖面结构示意图。

图中：

1、工作台；2、固定台；3、第一电机；4、蜗杆；5、蜗轮；6、第一传动杆；7、主动齿轮；8、从动齿轮；9、第二传动杆；10、定位板；11、螺纹杆；12、螺纹套；13、连接板；14、固定杆；15、活动杆；16、通槽；17、第二电机；18、复位弹簧；19、限位槽；20、限位块；21、第一支撑杆；22、第二支撑杆。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型的实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不能用来限制本实用新型的范围。

如图1-5所示，本实用新型提供一种芯片测试装置，包括工作台1，工作台1的顶部设置有固定台2，工作台1的内腔固定连接有第一电机3，第一电机3的输出轴传动连接有蜗杆4，蜗杆4表面的后端啮合有蜗轮5，蜗轮5的顶部固定连接有第一传动杆6，第一传动杆6远离蜗轮5的一端固定连接有主动齿轮7，主动齿轮7的表面啮合有从动齿轮8，从动齿轮8的顶部固定连接有第二传动杆9，第二传动杆9远离从动齿轮8的一端贯穿至工作台1的外部并与固定台2固定连接，固定台2顶部前端和后端的两侧均设置有定位板10，固定台2的内腔通过轴承活动连接有螺纹杆11，螺纹杆11表面两端的螺纹为相反设置，螺纹杆11表面的两端均螺纹连接有螺纹套12，螺纹套12的正面和背面均固定连接有连接板13，连接板13的顶部固定连接有固定杆14，固定杆14的内腔设置有活动杆15，活动杆15远离固定杆14内腔的一端与定位板10固定连接。

作为本实用新型的一种实施方式，固定台2顶部的前端和后端均开设有通槽16，固定杆14远离连接板13的一端延伸至通槽16的内腔且与通槽16的内腔活动连接，通过设置通槽16，起到了能够对固定杆14的运动轨迹进行限位的效果，从而能够对连接板13的运动轨迹进行限位。

作为本实用新型的一种实施方式，固定台2的左侧固定连接有第二电机17，第二电机17的输出轴贯穿至固定台2的内腔并与螺纹杆11传动连接，通过设置第二电机17，起到了能够对螺纹杆11提供动力的效果，从而能够使螺纹杆11带动螺纹套12进行运动。

作为本实用新型的一种实施方式，固定杆14内腔的下端设置有复位弹簧18，复位弹簧18的两端分别与固定杆14的内壁和活动杆15固定连接，通过设置复位弹簧18，复位弹簧18的复位弹力能够带动活动杆15和定位板10对芯片进行固定的效果。

作为本实用新型的一种实施方式，固定杆14内腔的两端均开设有限位槽19，限位槽19的内腔滑动连接有限位块20，限位块20远离限位槽19内腔的一端与活动杆15固定连接，通过设置限位槽19和限位块20，起到了能够对活动杆15的运动轨迹进行限位的效果，从而能够有效的防止活动杆15在运动时位置发生偏移。

作为本实用新型的一种实施方式，蜗轮5的底部固定连接有第一支撑杆21，第一支撑杆21远离蜗轮5的一端通过轴承与工作台1的内壁活动连接，通过设置第一支撑杆21，起到了能够对蜗轮5进行稳定支撑的效果。

作为本实用新型的一种实施方式，从动齿轮8的底部固定连接有第二支撑杆22，第二支撑杆22远离从动齿轮8的一端通过轴承与工作台1的内壁活动连接，通过设置第二支撑杆22，起到了能够对从动齿轮8进行稳定支撑的效果。

具体工作原理：

首先将芯片放置在固定台2的顶部，然后通过外设控制器启动第二电机17，第二电机17的输出轴正转带动螺纹杆11进行转动，螺纹杆11转动时带动两个螺纹套12向中间运动，螺纹套12向中间运动带动连接板13向中间运动，连接板13运动时通过固定杆14和活动杆15带动定位板10向中间运动，然后向上拉动定位板10，定位板10向上运动带动活动杆15向上运动，活动杆15向上运动使复位弹簧18受力发生拉伸，松开定位板10，复位弹簧18的复位弹力带动活动杆15和定位板10向下运动对芯片进行压紧固定，接着通过外设控制器启动第一电机3，第一电机3的输出轴转动带动蜗杆4进行转动，蜗杆4转动时带动蜗轮5进行转动，蜗轮5转动时通过第一传动杆6带动主动齿轮7进行转动，主动齿轮7转动时带动从动齿轮8进行转动，从动齿轮8转动时通过第二传动杆9带动固定台2进行转动，从而能够方便工作人员对芯片进行全方位的测试操作，以此解决了由于固定装置缺少角度调节功能，对芯片进行测试操作时通常都是固定的方位，从而使得工作人员不能全方位的对芯片进行测试操作，进而降低了芯片的测试效率。

本实用新型的实施方式是为了示例和描述起见而给出的，尽管上面已经示出和描述了本实用新型的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本实用新型的限制，本领域的普通技术人员在本实用新型的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (7)

1.一种芯片测试装置，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)的顶部设置有固定台(2)，所述工作台(1)的内腔固定连接有第一电机(3)，所述第一电机(3)的输出轴传动连接有蜗杆(4)，所述蜗杆(4)表面的后端啮合有蜗轮(5)，所述蜗轮(5)的顶部固定连接有第一传动杆(6)，所述第一传动杆(6)远离蜗轮(5)的一端固定连接有主动齿轮(7)，所述主动齿轮(7)的表面啮合有从动齿轮(8)，所述从动齿轮(8)的顶部固定连接有第二传动杆(9)，所述第二传动杆(9)远离从动齿轮(8)的一端贯穿至工作台(1)的外部并与固定台(2)固定连接，所述固定台(2)顶部前端和后端的两侧均设置有定位板(10)，所述固定台(2)的内腔通过轴承活动连接有螺纹杆(11)，所述螺纹杆(11)表面两端的螺纹为相反设置，所述螺纹杆(11)表面的两端均螺纹连接有螺纹套(12)，所述螺纹套(12)的正面和背面均固定连接有连接板(13)，所述连接板(13)的顶部固定连接有固定杆(14)，所述固定杆(14)的内腔设置有活动杆(15)，所述活动杆(15)远离固定杆(14)内腔的一端与定位板(10)固定连接。

2.如权利要求1所述芯片测试装置，其特征在于：所述固定台(2)顶部的前端和后端均开设有通槽(16)，所述固定杆(14)远离连接板(13)的一端延伸至通槽(16)的内腔且与通槽(16)的内腔活动连接。

3.如权利要求1所述芯片测试装置，其特征在于：所述固定台(2)的左侧固定连接有第二电机(17)，所述第二电机(17)的输出轴贯穿至固定台(2)的内腔并与螺纹杆(11)传动连接。

4.如权利要求1所述芯片测试装置，其特征在于：所述固定杆(14)内腔的下端设置有复位弹簧(18)，所述复位弹簧(18)的两端分别与固定杆(14)的内壁和活动杆(15)固定连接。

5.如权利要求1所述芯片测试装置，其特征在于：所述固定杆(14)内腔的两端均开设有限位槽(19)，所述限位槽(19)的内腔滑动连接有限位块(20)，所述限位块(20)远离限位槽(19)内腔的一端与活动杆(15)固定连接。

6.如权利要求1所述芯片测试装置，其特征在于：所述蜗轮(5)的底部固定连接有第一支撑杆(21)，所述第一支撑杆(21)远离蜗轮(5)的一端通过轴承与工作台(1)的内壁活动连接。

7.如权利要求1所述芯片测试装置，其特征在于：所述从动齿轮(8)的底部固定连接有第二支撑杆(22)，所述第二支撑杆(22)远离从动齿轮(8)的一端通过轴承与工作台(1)的内壁活动连接。