CN218240300U - 一种人工芯片测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种人工芯片测试装置，包括：底座、压紧夹具，芯片；所述底座的中部设有与所述芯片匹配的检测腔，所述检测腔上设有若干通孔，所述通孔内分别安装有弹簧探针，所述弹簧探针的顶部穿出于所述通孔外；所述芯片放置于所述检测腔内，所述芯片的底面设有若干与所述弹簧探针对应的触点，所述触点与所述弹簧探针抵接；所述压紧夹具与所述检测腔对应，所述压紧夹具用于将所述芯片压于所述检测腔内。采用以上设计，通过在检测腔内设置弹簧探针，实现芯片与探针的接触完成测试，并在检测腔的一侧上设置压紧装置，通过压紧夹具提升芯片与弹簧探针接触的稳定性，结构简单，操作方便，易上手，无需特殊操作技能即可完成芯片测试。

Description

一种人工芯片测试装置

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别是涉及一种人工芯片测试装置。

背景技术

在芯片的生产过程中，对芯片的测试是一个重要步骤，通常需要芯片测试座对芯片进行测试，检查在线的单个芯片元器件以及各电路网络的开、短路情况，以及模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试等，因此，芯片测试座的性能是比较重要的研究内容。

目前芯片检测通常采用自动化设备检测，自动化设备可以全时段工作，从而提升工作效率，然而自动化设备的购买成本高，且如果不是全套的自动化流水线，那单独自动化检测设备的性价比相对于人工来说就要差很多，因为芯片在检测时需要停留一段时间来检测，因此导致自动化设备检测的效率并不会比人工高很多，导致单独的自动化检测设备的性价比相对人工而言就要低很多。

因此，现在亟需设计一种能解决上述一个或者多个问题的用于人工检测的芯片测试装置。

实用新型内容

为解决现有技术中存在的一个或者多个问题，本实用新型提供了一种人工检测的芯片测试装置。

本实用新型为达到上述目的所采用的技术方案是：一种人工芯片测试装置，其特征在于，包括：底座、压紧夹具，芯片；所述底座的中部设有与所述芯片匹配的检测腔，所述检测腔上设有若干通孔，所述通孔内分别安装有弹簧探针，所述弹簧探针的顶部穿出于所述通孔外；所述芯片放置于所述检测腔内，所述芯片的底面设有若干与所述弹簧探针对应的触点，所述触点与所述弹簧探针抵接；所述压紧夹具与所述检测腔对应，所述压紧夹具用于将所述芯片压于所述检测腔内。

在一个优选的实施例中，所述压紧夹具包括：安装座、拨杆、压杆、连杆、压紧件；所述安装座固定于所述检测腔的一侧，所述拨杆与所述安装座的一侧顶部转动连接，所述压杆的一端与所述安装座远离所述拨杆的一侧顶部转动连接，所述压杆的另一端设有滑槽，所述压杆设有滑槽的一端穿过所述拨杆的中部；所述连杆的一端与所述拨杆转动连接，另一端与所述压杆转动连接，所述压紧件滑动设于所述滑槽内，所述压紧件与所述检测腔对应。

在一个优选的实施例中，所述压紧件的顶部设有一对相对设置的滑块，所述滑块与所述滑槽相匹配。

在一个优选的实施例中，弹簧探针的顶部呈梯形。

在一个优选的实施例中，所述压紧件远离所述滑块的一端设有软胶垫。

在一个优选的实施例中，所述连杆的一侧上设有呈“L”形的压块。

本实用新型的有益效果是：相较于现有技术，本实用新型通过在检测腔内设置弹簧探针，实现芯片与探针的接触完成测试，并在检测腔的一侧上设置压紧装置，通过压紧夹具提升芯片与弹簧探针接触的稳定性，结构简单，操作方便，易上手，无需特殊操作技能即可完成芯片测试。

附图说明

图1为本实用新型较佳实施例的结构示意图；

图2为本实用新型较佳实施例的底座的截面图；

图3为本实用新型较佳实施例的压紧夹具的爆炸图。

图中：

1、底座；11、检测腔；111、通孔；12、取放槽；13、弹簧探针；

2、压紧夹具；21、安装座；22、拨杆；23、压杆；231、滑槽；24、连杆；241、压块；25、压紧件；251、软胶垫；252、滑块。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加浅显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。

如图1-图3所示，本实用新型提供了一种人工芯片测试装置，其特征在于，包括：底座1、压紧夹具2，芯片；所述底座1的中部设有与所述芯片匹配的检测腔11，所述检测腔11上设有若干通孔111，所述通孔111内分别安装有弹簧探针13，所述弹簧探针13的顶部穿出于所述通孔111外；所述芯片放置于所述检测腔11内，所述芯片的底面设有若干与所述弹簧探针13对应的触点，所述触点与所述弹簧探针13抵接；所述压紧夹具2与所述检测腔11对应，所述压紧夹具2用于将所述芯片压于所述检测腔11内，当需要检测时通过人工将芯片设有触点的一面对着弹簧探针13放入检测腔11内，再通过压紧夹具2将芯片压下，此时芯片在压紧夹具2的作用力下将弹簧探针13压下，使弹簧探针13在其自身的弹簧的作用力下顶在触点上，实现稳固的连接；当检测完时，只需要将压紧夹具2送开，芯片被弹簧探针13的顶起便于操作人员将芯片取出。

进一步的，在本实施例中，压紧夹具2包括：安装座21，该安装座21通过螺丝等紧固件固定于检测腔11的一侧上，安装座21为两块安装板间隔连接一起形成，安装座21的顶部靠近检测腔11的一侧上转动连接有拨杆22，该拨杆22呈“V”形，分开的两端与安装座21转动连接，安装座21远离连接拨杆22的一侧上转动连接有压杆23，该压杆23远离与拨杆22连接的一侧上设有滑槽231，压杆23具有滑槽231的一端从拨杆22的中部穿过，在压杆23与拨杆22之间设有连杆24，拨杆22运动时通过连杆24的连动，抬起压杆23或压下压杆23，从而带动滑动设置在滑槽231内的压紧件25随着抬起或下降，压紧件25下降时将芯片压在检测腔11内，压紧件25可在滑槽231内滑动，从而调整压紧件25的位置，进而与芯片对应。

进一步的，压紧件25的顶部上固定设有一对相对设置呈“C”形的滑块252，该滑块252与滑槽231相匹配，套在滑槽231的内壁上，使滑块252可在滑槽231内滑动，进而带动压紧件25移动，其中，滑块252的固定方式采用螺母固定，螺母使滑块252与滑槽231的侧壁紧密接触，进而实现固定，固定方式稳固且可通过旋转的方式松开滑块252与滑槽231的配合。

进一步的，为避免弹簧探针13将芯片划伤，弹簧探针13的顶部为平头状，增加弹簧探针13与芯片的触点接触面积和避免将芯片划伤。

进一步的，在压紧件25与芯片抵接的一端上设有软胶垫251，避免在压紧芯片时，压紧件25将芯片划伤。

进一步的，在本实施例中，在连杆24朝向滑槽231的一侧上设有延伸而出呈“L”形的压块241，该压块241用于连杆24在拨杆22往下拨动时使压块241将压杆23压下从而使压紧件25将芯片压住。

进一步的，在本实施例中，在检测腔11的前后两侧上分别设有取放槽12，该取放槽12用于快捷且方便的将芯片放置于检测腔11内。

综上，本实用新型通过在检测腔11内设置弹簧探针13，实现芯片与探针的接触完成测试，并在检测腔11的一侧上设置压紧装置，通过压紧夹具2提升芯片与弹簧探针13接触的稳定性，结构简单，操作方便，易上手，无需特殊操作技能即可完成芯片测试。

以上实施例仅表达了本实用新型的一种或多种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (6)

1.一种人工芯片测试装置，其特征在于，包括：底座、压紧夹具，芯片；所述底座的中部设有与所述芯片匹配的检测腔，所述检测腔上设有若干通孔，所述通孔内分别安装有弹簧探针，所述弹簧探针的顶部穿出于所述通孔外；所述芯片放置于所述检测腔内，所述芯片的底面设有若干与所述弹簧探针对应的触点，所述触点与所述弹簧探针抵接；所述压紧夹具与所述检测腔对应，所述压紧夹具用于将所述芯片压于所述检测腔内。

2.根据权利要求1所述的人工芯片测试装置，其特征在于，所述压紧夹具包括：安装座、拨杆、压杆、连杆、压紧件；所述安装座固定于所述检测腔的一侧，所述拨杆与所述安装座的一侧顶部转动连接，所述压杆的一端与所述安装座远离所述拨杆的一侧顶部转动连接，所述压杆的另一端设有滑槽，所述压杆设有滑槽的一端穿过所述拨杆的中部；所述连杆的一端与所述拨杆转动连接，另一端与所述压杆转动连接，所述压紧件滑动设于所述滑槽内，所述压紧件与所述检测腔对应。

3.根据权利要求2所述的人工芯片测试装置，其特征在于，所述压紧件的顶部设有一对相对设置的滑块，所述滑块与所述滑槽相匹配。

4.根据权利要求1所述的人工芯片测试装置，其特征在于，弹簧探针的顶部呈梯形。

5.根据权利要求3所述的人工芯片测试装置，其特征在于，所述压紧件远离所述滑块的一端设有软胶垫。

6.根据权利要求2所述的人工芯片测试装置，其特征在于，所述连杆的一侧上设有呈“L”形的压块。

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