CN215866997U - 一种集成电路多任务并发测试装置 - Google Patents

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罗孝意
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Shenzhen Shenchenxin Technology Co ltd
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Shenzhen Shenchenxin Technology Co ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种集成电路多任务并发测试装置,包括测试组件以及传输组件:所述测试组件安装于传输组件上方一侧,且测试组件包括组件外壳(1)、第一伸缩电机(2)以及测试板(3);所述第一伸缩电机(2)安装于组件外壳(1)内部上方,且测试板(3)固定于第一伸缩电机(2)的输出轴上;所述组件外壳(1)内部一端的两侧均安装有第二伸缩电机(4),第二伸缩电机(4)的输出轴上安装有挡块(5),且挡块(5)上安装有触发开关。通过输送带结构使其上下料方便,而且通过挡块以及限位块将集成电路限位于测试板下方,便于测试板进行测试,测试完成后便可自动将其运出测试组件,便于操作,测试效率更高。

Description

一种集成电路多任务并发测试装置
技术领域
本实用新型涉及一种测试装置,具体涉及一种集成电路多任务并发测试装置。
背景技术
随着科技日新月异的进步,人们可以制造出规模庞大、结构负载、集成度很高的集成电路。但是现有的集成电路需要测试其多种功能,操作不便,而且不能自动上料测试以及下料,测试效率低。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种集成电路多任务并发测试装置,解决现有的集成电路需要测试其多种功能,操作不便,而且不能自动上料测试以及下料,测试效率低的问题。
本实用新型集成电路多任务并发测试装置是通过以下技术方案来实现的:包括测试组件以及传输组件:
测试组件安装于传输组件上方一侧,且测试组件包括组件外壳、第一伸缩电机以及测试板;第一伸缩电机安装于组件外壳内部上方,且测试板固定于第一伸缩电机的输出轴上;组件外壳内部一端的两侧均安装有第二伸缩电机,第二伸缩电机的输出轴上安装有挡块,且挡块上安装有触发开关;组件外壳内部另一端的两侧均安装有第三伸缩电机,第三伸缩电机的输出轴上设置有限位挡块;传输组件包括传输带以及两挡板,两挡板安装于传输带的两侧,且组件外壳安装于两挡板上,第二伸缩电机上的挡块以及第三伸缩电机上的限位挡块均位于传输带上方;传输带上放置有集成电路。
作为优选的技术方案,组件外壳一侧设置有控制面板,且控制面板连接第一伸缩电机、测试板、第二伸缩电机、触发开关、第三伸缩电机和传输带。
作为优选的技术方案,传输带一端设置有阻隔板,且阻隔板与两挡板相互连接。
作为优选的技术方案,测试板上设置有连接模块,连接模块包括电阻测量模块、调频模块和校队模块,通过连接模块对集成电路进行集中测试,连接模块连接有数据存储模块,通过数据存储模块将测试数据传输至控制面板上。
作为优选的技术方案,限位挡块一侧设置有硅胶垫,且限位挡块一侧设置有一倾斜的倒角;挡块一侧亦设置有与限位挡块相对应的硅胶垫。
本实用新型的有益效果是:本实用新型通过输送带结构使其上下料方便,而且通过挡块以及限位块将集成电路限位于测试板下方,便于测试板进行测试,测试完成后便可自动将其运出测试组件,便于操作,测试效率更高。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型的主视图;
图2为本实用新型的俯视结构示意图;
图3为本实用新型的剖视图;
图4为本实用新型的测试组件结构示意图;
图5为本实用新型的A-A局部放大图。
具体实施方式
本说明书中公开的所有特征,或公开的所有方法或过程中的步骤,除了互相排斥的特征和/或步骤以外,均可以以任何方式组合。
本说明书(包括任何附加权利要求、摘要和附图)中公开的任一特征,除非特别叙述,均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即,除非特别叙述,每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“一端”、“另一端”、“外侧”、“上”、“内侧”、“水平”、“同轴”、“中央”、“端部”、“长度”、“外端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
此外,在本实用新型的描述中,“多个”的含义是至少两个,例如两个,三个等,除非另有明确具体的限定。
本实用新型使用的例如“上”、“上方”、“下”、“下方”等表示空间相对位置的术语是出于便于说明的目的来描述如附图中所示的一个单元或特征相对于另一个单元或特征的关系。空间相对位置的术语可以旨在包括设备在使用或工作中除了图中所示方位以外的不同方位。例如,如果将图中的设备翻转,则被描述为位于其他单元或特征“下方”或“之下”的单元将位于其他单元或特征“上方”。因此,示例性术语“下方”可以囊括上方和下方这两种方位。设备可以以其他方式被定向,并相应地解释本文使用的与空间相关的描述语。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,术语“设置”、“套接”、“连接”、“贯穿”、“插接”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系,除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
如图1-图5所示,本实用新型的一种集成电路多任务并发测试装置,包括测试组件以及传输组件:
测试组件安装于传输组件上方一侧,且测试组件包括组件外壳1、第一伸缩电机2以及测试板3;第一伸缩电机2安装于组件外壳1内部上方,且测试板3固定于第一伸缩电机2的输出轴上,启动第一伸缩电机2通过测试板3对集成电路进行测试;组件外壳1内部一端的两侧均安装有第二伸缩电机4,第二伸缩电机4的输出轴上安装有挡块5,且挡块5上安装有触发开关;组件外壳1内部另一端的两侧均安装有第三伸缩电机6,第三伸缩电机6的输出轴上设置有限位挡块12;传输组件包括传输带7以及两挡板8,两挡板8安装于传输带7的两侧,且组件外壳1安装于两挡板8上,第二伸缩电机4上的挡块5以及第三伸缩电机6上的限位挡块12均位于传输带7上方;传输带7上放置有集成电路11。
本实施例中,组件外壳1一侧设置有控制面板9,且控制面板9连接第一伸缩电机2、测试板3、第二伸缩电机4、触发开关、第三伸缩电机6和传输带7。
本实施例中,传输带7一端设置有阻隔板10,且阻隔板10与两挡板8相互连接,以便取出集成电路。
本实施例中,测试板3上设置有连接模块,连接模块包括电阻测量模块、调频模块和校队模块,通过连接模块对集成电路11进行集中测试,连接模块连接有数据存储模块,通过数据存储模块将测试数据传输至控制面板9上。
本实施例中,限位挡块12一侧设置有硅胶垫,且限位挡块12一侧设置有一倾斜的倒角,可略微推动检测电路前进进行预紧限位;挡块5一侧亦设置有与限位挡块12相对应的硅胶垫,起到保护集成电路的作用。
工作原理如下:
将集成电路依次放进输送带上,然后启动输送带,当集成电路触碰到挡块的触发开关后,输送带停止,启动第三伸缩电机将限位挡块伸出从而将集成电路进行限位,然后启动第一伸缩电机推动测试板对集成电路进行测试,并将数据上传至控制面板上,测试完成后,第二伸缩电机和第三伸缩电机缩回,启动输送带将集成电路输送出测试组件内,然后第二伸缩电机伸出,继续下个集成电路的检测。
以上所述,仅为本实用新型的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何不经过创造性劳动想到的变化或替换,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此,本实用新型的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围为准。

Claims (5)

1.一种集成电路多任务并发测试装置,其特征在于:包括测试组件以及传输组件:
所述测试组件安装于传输组件上方一侧,且测试组件包括组件外壳(1)、第一伸缩电机(2)以及测试板(3);所述第一伸缩电机(2)安装于组件外壳(1)内部上方,且测试板(3)固定于第一伸缩电机(2)的输出轴上;所述组件外壳(1)内部一端的两侧均安装有第二伸缩电机(4),第二伸缩电机(4)的输出轴上安装有挡块(5),且挡块(5)上安装有触发开关;所述组件外壳(1)内部另一端的两侧均安装有第三伸缩电机(6),第三伸缩电机(6)的输出轴上设置有限位挡块(12);所述传输组件包括传输带(7)以及两挡板(8),所述两挡板(8)安装于传输带(7)的两侧,且组件外壳(1)安装于两挡板(8)上,第二伸缩电机(4)上的挡块(5)以及第三伸缩电机(6)上的限位挡块(12)均位于传输带(7)上方;所述传输带(7)上放置有集成电路(11)。
2.根据权利要求1所述的集成电路多任务并发测试装置,其特征在于:所述组件外壳(1)一侧设置有控制面板(9),且控制面板(9)连接第一伸缩电机(2)、测试板(3)、第二伸缩电机(4)、触发开关、第三伸缩电机(6)和传输带(7)。
3.根据权利要求1所述的集成电路多任务并发测试装置,其特征在于:所述传输带(7)一端设置有阻隔板(10),且阻隔板(10)与两挡板(8)相互连接。
4.根据权利要求1所述的集成电路多任务并发测试装置,其特征在于:所述测试板(3)上设置有连接模块,连接模块包括电阻测量模块、调频模块和校队模块,通过连接模块对集成电路(11)进行集中测试,连接模块连接有数据存储模块,通过数据存储模块将测试数据传输至控制面板(9)上。
5.根据权利要求1所述的集成电路多任务并发测试装置,其特征在于:所述限位挡块(12)一侧设置有硅胶垫,且限位挡块(12)一侧设置有一倾斜的倒角;所述挡块(5)一侧亦设置有与限位挡块(12)相对应的硅胶垫。
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