CN215572725U - 一种精密测量装置 - Google Patents

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高爱国
许智慧
李�浩
王敬格
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Abstract

本实用新型公开了一种精密测量装置,包括底座,所述底座顶部设置有水平滑动机构,所述水平滑动机构上设置有电动旋转台,所述电动旋转台的输出端安装有放置板;所述底座顶部还设置有直线位移传感器,所述直线位移传感器的测量头与所述电动旋转台的侧部连接;所述底座顶部还设置有电子显微镜,所述电子显微镜的侧部设置有对准机构,在所述水平滑动机构带动所述电动旋转台运动,致使待测物的另一端待测边缘对准所述对准机构后,结合所述直线位移传感器测量出的位移距离,以得出待测物的测量数据。本实用新型采用上述结构的一种精密测量装置,具有测量简单,精度高的优点。

Description

一种精密测量装置
技术领域
本实用新型涉及测量技术领域,尤其是涉及一种精密测量装置。
背景技术
在测量工作中,经常要用到游标卡尺、螺旋测微仪和卷尺等测量工具,以测出各类待测物的长度、宽度、厚度和直径等数据,但是,对于一些微小的待测物,如筛网的筛孔的孔径的测量,便无法利用上述工具进行测量,所以,亟需一种能够对微小物体进行测量的测量装置。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种能够对微小物体进行测量的测量装置。
为实现上述目的,本实用新型提供了一种精密测量装置,包括底座,所述底座顶部设置有水平滑动机构,所述水平滑动机构上设置有电动旋转台,所述电动旋转台的输出端安装有放置板,所述放置板用于放置待测物;所述底座顶部还设置有直线位移传感器,所述直线位移传感器的测量头与所述电动旋转台的侧部连接,以待测所述电动旋转台的水平移动距离;所述底座顶部还设置有电子显微镜,用于观察待测物,所述电子显微镜的侧部设置有对准机构,用于对准待测物的待测边缘,在所述水平滑动机构带动所述电动旋转台运动,致使待测物的另一端待测边缘对准所述对准机构后,结合所述直线位移传感器测量出的位移距离,以得出待测物的测量数据。
优选的,水平滑动机构包括固定在所述底座顶部的U形板,所述U形板的支板之间设置有若干滑轨,所述电动旋转台底部对应所述滑轨的位置设置有轨道副,所述轨道副滑动连接于所述滑轨上;所述U形板的支板之间还转动连接有第一丝杆,所述第一丝杆侧部套接有第一螺纹管,所述第一螺纹管侧部套接有联动板,所述联动板固定于所述电动旋转台的底部,旋转所述第一丝杆,以使所述第一螺纹管带动所述电动旋转台运动,所述U形板的侧部固定有步进电机,所述步进电机与所述第一丝杆的端头连接。
优选的,所述电子显微镜通过L形杆固定于所述底座上方,所述L形杆的侧部还设置有照明组件,以对待测物照明。
优选的,所述对准机构包括固定于所述电子显微镜侧部的水平板,所述水平板顶部向下贯穿设置有第二螺纹管,所述第二螺纹管内螺纹连接有第二丝杆,所述第二丝杆顶端设置有旋转手轮,底端转动连接有旋转板,所述旋转板的端头设置有环形圈,所述环形圈内拉有两根对准丝,所述对准丝相互垂直交叉。
优选的,所述旋转板顶部设置有阻尼器,所述阻尼器与所述第二丝杆齿轮连接,以避免所述旋转板相对所述第二丝杆自行旋转。
因此,本实用新型采用上述结构的一种精密测量装置,通过在电子显微镜观察下,待测物的两端通过运动依次正对一个定点,来根据运动距离推算出待测物的长度、宽度或直径等测量数据,具有测量简单,精度高的优点。
下面通过附图和实施例,对本实用新型的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
图1为本实用新型一种精密测量装置的结构示意图;
图2为图1中A处的放大示意图;
图3为图1中B处的放大示意图;
图4为本实用新型一种精密测量装置的环形圈的结构示意图;
图5为本实用新型一种精密测量装置的侧视图。
附图标记
1、电动旋转台;2、放置板;3、直线位移传感器;4、测量头;5、电子显微镜;6、阻尼器;7、U形板;8、滑轨;9、轨道副;10、第一丝杆;11、第一螺纹管;12、联动板;13、步进电机;14、L形杆;15、照明组件;16、水平板;17、第二螺纹管;18、第二丝杆;19、旋转手轮;20、旋转板;21、环形圈;22、对准丝;23、底座。
具体实施方式
以下通过附图和实施例对本实用新型的技术方案作进一步说明。
除非另外定义,本实用新型使用的技术术语或者科学术语应当为本实用新型所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本实用新型中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性,而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同,而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接,而是可以包括电性的连接,不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系,当被描述对象的绝对位置改变后,则该相对位置关系也可能相应地改变。
实施例
图1为本实用新型一种精密测量装置的结构示意图;图2为图1中A处的放大示意图;图3为图1中B处的放大示意图;图4为本实用新型一种精密测量装置的环形圈的结构示意图;图5为本实用新型一种精密测量装置的侧视图。如图1、图2、图3、图4和图5所示,本实用新型的结构一种精密测量装置,包括底座23,所述底座23顶部设置有水平滑动机构,所述水平滑动机构上设置有电动旋转台1,所述电动旋转台1的输出端安装有放置板2,所述放置板2用于放置待测物;所述底座23顶部还设置有直线位移传感器3,所述直线位移传感器3的测量头4与所述电动旋转台1的侧部连接,以待测所述电动旋转台1的水平移动距离;所述底座23顶部还设置有电子显微镜5,用于观察待测物,所述电子显微镜5的侧部设置有对准机构,用于对准待测物的待测边缘,在所述水平滑动机构带动所述电动旋转台1运动,致使待测物的另一端待测边缘对准所述对准机构后,结合所述直线位移传感器3测量出的位移距离,以得出待测物的测量数据。
本测量装置的应用原理是,首先将待测物放置于所述放置板2上,控制所述电子显微镜5,使其能够对准待测物,然后使所述对准机构对准待测物的待测边缘,然后驱动所述水平滑动机构运动,使其带动所述电动旋转台1运动,所述电动旋转台1带动所述放置板2运动,直到位于所述放置板2上的待测物的另一端的待测边缘处于所述对准机构之下,此时根据所述直线位移器的位移量,即可得出待测物的直径或长度等数据,如果想要测量待测物其他位置的长度,可以驱动所述电动旋转台1,调整待测物的角度,重复上面操作。
在本实施例中,所述水平滑动机构的具体结构如下:
水平滑动机构包括固定在所述底座23顶部的U形板7,所述U形板7的支板之间设置有若干滑轨8,所述电动旋转台1底部对应所述滑轨8的位置设置有轨道副9,所述轨道副9滑动连接于所述滑轨8上;所述U形板7的支板之间还转动连接有第一丝杆10,所述第一丝杆10侧部套接有第一螺纹管11,所述第一螺纹管11侧部套接有联动板12,所述联动板12固定于所述电动旋转台1的底部,旋转所述第一丝杆10,以使所述第一螺纹管11带动所述电动旋转台1运动,所述U形板7的侧部固定有步进电机13,所述步进电机13与所述第一丝杆10的端头连接,驱动所述步进电机13,使其带动所述丝杆旋转,所述丝杆带动所述第一螺纹管11运动,所述第一螺纹管11带动所述联动板12运动,所述联动板12带动所述电动旋转台1运动,所述电动旋转台1带动所述放置板2运动,最终实现待测物的移动。
为提升所述电子显微镜5的观测质量,还设置有如下结构:
所述电子显微镜5通过L形杆14固定于所述底座23上方,所述L形杆14的侧部还设置有照明组件15,以对待测物照明。
在本实施例中,所述对准机构的具体结构如下:
所述对准机构包括固定于所述电子显微镜5侧部的水平板16,所述水平板16顶部向下贯穿设置有第二螺纹管17,所述第二螺纹管17内螺纹连接有第二丝杆18,所述第二丝杆18顶端设置有旋转手轮19,底端转动连接有旋转板20,所述旋转板20的端头设置有环形圈21,所述环形圈21内拉有两根对准丝22,所述对准丝22相互垂直交叉,在应用时,将两个所述对准丝22的交叉点对准待测物的待测边缘,以实现对待测物的二次对准测量。
在本实施例中,为避免装置运转过程中震动导致所述旋转板20自行转动,设置有如下结构:
所述旋转板20顶部设置有阻尼器6,所述阻尼器6与所述第二丝杆18齿轮连接,以避免所述旋转板20相对所述第二丝杆18自行旋转。
因此,本实用新型采用上述结构的一种精密测量装置,通过在电子显微镜观察下,待测物的两端通过运动依次正对一个定点,来根据运动距离推算出待测物的长度、宽度或直径等测量数据,具有测量简单,精度高的优点。
最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非对其进行限制,尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换,而这些修改或者等同替换亦不能使修改后的技术方案脱离本实用新型技术方案的精神和范围。

Claims (5)

1.一种精密测量装置,其特征在于,包括底座,所述底座顶部设置有水平滑动机构,所述水平滑动机构上设置有电动旋转台,所述电动旋转台的输出端安装有放置板,所述放置板用于放置待测物;所述底座顶部还设置有直线位移传感器,所述直线位移传感器的测量头与所述电动旋转台的侧部连接,以待测所述电动旋转台的水平移动距离;所述底座顶部还设置有电子显微镜,用于观察待测物,所述电子显微镜的侧部设置有对准机构,用于对准待测物的待测边缘,在所述水平滑动机构带动所述电动旋转台运动,致使待测物的另一端待测边缘对准所述对准机构后,结合所述直线位移传感器测量出的位移距离,以得出待测物的测量数据。
2.根据权利要求1所述的一种精密测量装置,其特征在于,水平滑动机构包括固定在所述底座顶部的U形板,所述U形板的支板之间设置有若干滑轨,所述电动旋转台底部对应所述滑轨的位置设置有轨道副,所述轨道副滑动连接于所述滑轨上;所述U形板的支板之间还转动连接有第一丝杆,所述第一丝杆侧部套接有第一螺纹管,所述第一螺纹管侧部套接有联动板,所述联动板固定于所述电动旋转台的底部,旋转所述第一丝杆,以使所述第一螺纹管带动所述电动旋转台运动,所述U形板的侧部固定有步进电机,所述步进电机与所述第一丝杆的端头连接。
3.根据权利要求1所述的一种精密测量装置,其特征在于,所述电子显微镜通过L形杆固定于所述底座上方,所述L形杆的侧部还设置有照明组件,以对待测物照明。
4.根据权利要求1所述的一种精密测量装置,其特征在于,所述对准机构包括固定于所述电子显微镜侧部的水平板,所述水平板顶部向下贯穿设置有第二螺纹管,所述第二螺纹管内螺纹连接有第二丝杆,所述第二丝杆顶端设置有旋转手轮,底端转动连接有旋转板,所述旋转板的端头设置有环形圈,所述环形圈内拉有两根对准丝,所述对准丝相互垂直交叉。
5.根据权利要求4所述的一种精密测量装置,其特征在于,所述旋转板顶部设置有阻尼器,所述阻尼器与所述第二丝杆齿轮连接,以避免所述旋转板相对所述第二丝杆自行旋转。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115824058A (zh) * 2022-11-19 2023-03-21 浙江交工集团股份有限公司 一种微距位移测量设备及其应用
CN116858106A (zh) * 2023-08-04 2023-10-10 扬州博恒新能源材料科技有限公司 基膜尺寸测量装置及其测量方法

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