CN215449367U - 一种高电流测试探针 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种高电流测试探针，包括管体，所述管体顶部中心处固定连接有环形板，所述环形板顶部固定连接有第一复位弹簧，所述第二复位弹簧内部套设连接有针杆，所述针杆顶部固定连接有针头，所述针杆底部贯穿环形板与管体外壁固定连接有第一导电柱，所述第一导电柱下方设有第二导电柱，所述第二导电柱顶部固定连接有导电板，所述导电板内壁固定连接有导电凸点，所述第二导电柱底部外围固定连接有垫板，所述第二导电柱末端中心处固定连接有触点，本实用新型结构新颖，设计合理，通过设置第一导电柱与第二导电柱可提高电流传递效果，适用于大电流的测试探针，避免测试探针测试大电流时发生损坏。

Description

一种高电流测试探针

技术领域

本实用新型涉及新型测试探针，具体为一种高电流测试探针，属于测试探针技术领域。

背景技术

常规ICT高电流测试探针由针杆、针管和弹簧和钢珠4个零部件组装而成。常规测试探针在测试时，因现有的结构限制，只能过5-20A电流，现在通50A电流的高电流测试，常规探针的结构已然无法满足现有的市场需求。

常规ICT高电流测试探针在测试时，针头靠弹簧的预压缩力与针管接触，压缩时会有一定的摩擦与晃动，影响探针的整体使用寿命，针头与针管通过接触导通电气信号，并且接触电阻比较大，导通效果一般，现有的结构无法满足50A电流的需求，在接通高电流后，测试探针容易发生烧坏现象，影响使用。

实用新型内容

本实用新型的目的就在于为了解决上述问题而提供一种高电流测试探针，通过设置第一导电柱与第二导电柱可提高电流传递效果，适用于大电流的测试探针，避免测试探针测试大电流时发生损坏。

本实用新型通过以下技术方案来实现上述目的，一种高电流测试探针，包括管体，所述管体顶部中心处固定连接有环形板，所述环形板顶部固定连接有第一复位弹簧，所述第二复位弹簧内部套设连接有针杆，所述针杆顶部固定连接有针头，所述针杆底部贯穿环形板与管体外壁固定连接有第一导电柱，所述第一导电柱下方设有第二导电柱，所述第二导电柱顶部固定连接有导电板，所述导电板内壁固定连接有导电凸点，所述第二导电柱底部外围固定连接有垫板，所述第二导电柱末端中心处固定连接有触点。

优选的，所述管体下方设有设备连接线，所述设备连接线顶端固定连接有连接头，所述连接头两侧开设有卡槽，所述连接头顶部与触点抵触连接。

优选的，所述管体内壁固定连接有第二复位弹簧，所述第二复位弹簧末端固定连接有卡块，所述卡块的大小与卡槽的大小相匹配。

优选的，所述第一导电柱与第二导电柱均为导电硅胶棒，所述第一导电柱两侧设有凹坑，所述凹坑的大小与导电凸点的大小相匹配。

优选的，所述第一导电柱外围设有定位板，所述定位板末端与管体内壁固定连接，所述第二导电柱外围设有限位板，所述限位板外表面与管体内壁抵触连接。

优选的，所述管体内壁固定连接有干燥盒，所述干燥盒内部填充有氯化钙颗粒，所述管体外壁固定连接有绝缘套。

本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型通过设置第一导电柱与第二导电柱为导电硅胶棒可减少针头与连接头之间的电阻，提高待测试物品与测试设备之间的电流导通效果，适用于测试大电流，针杆与针头不易发生损坏，通过在导电板侧壁设置导电凸点可提高第一导电柱与第二导电柱之间的连接稳定性，避免测试电路接触不良，通过设置第二复位弹簧带动卡块与卡槽卡接可提高连接头与管体之间的安装效率，便于拆装；

2、本实用新型通过设置定位板可提高第一导电柱的稳定性，避免针头与针杆在对物品进行测试时第一导电柱发生晃动，影响使用寿命与连接效果，通过设置限位板可对第二导电柱进行限位固定，避免第二导电柱发生松动，影响连接效果，通过设置干燥盒可对管体内部的水分进行干燥，避免水分过多，影响电流的导通效果。

附图说明

图1是本实用新型的整体结构示意图。

图2是本实用新型的A处放大示意图。

图中标号：1、管体；2、环形板；3、第一复位弹簧；4、针杆；5、针头；6、第一导电柱；7、第二导电柱；8、导电板；9、设备连接线；10、连接头；11、第二复位弹簧；12、卡块；13、定位板；14、限位板；15、干燥盒；16、绝缘套。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-2所示，一种高电流测试探针，包括管体1，所述管体1顶部中心处固定连接有环形板2，所述环形板2顶部固定连接有第一复位弹簧3，所述第二复位弹簧11内部套设连接有针杆4，所述针杆4顶部固定连接有针头5，所述针杆4底部贯穿环形板2与管体1外壁固定连接有第一导电柱6，所述第一导电柱6下方设有第二导电柱7，所述第二导电柱7顶部固定连接有导电板8，所述导电板8内壁固定连接有导电凸点，所述第二导电柱7底部外围固定连接有垫板，所述第二导电柱7末端中心处固定连接有触点。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述管体1下方设有设备连接线9，所述设备连接线9顶端固定连接有连接头10，所述连接头10两侧开设有卡槽，所述连接头10顶部与触点抵触连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述管体1内壁固定连接有第二复位弹簧11，所述第二复位弹簧11末端固定连接有卡块12，所述卡块12的大小与卡槽的大小相匹配，通过设置第二复位弹簧11带动卡块12与卡槽卡接可提高连接头10与管体1之间的安装效率，便于拆装。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述第一导电柱6与第二导电柱7均为导电硅胶棒，所述第一导电柱6两侧设有凹坑，所述凹坑的大小与导电凸点的大小相匹配，通过设置第一导电柱6与第二导电柱7为导电硅胶棒可减少针头5与连接头10之间的电阻，提高待测试物品与测试设备之间的电流导通效果，适用于测试大电流，针杆4与针头5不易发生损坏。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述第一导电柱6外围设有定位板13，所述定位板13末端与管体1内壁固定连接，所述第二导电柱7外围设有限位板14，所述限位板14外表面与管体1内壁抵触连接，通过设置定位板13可提高第一导电柱6的稳定性，避免针头5与针杆4在对物品进行测试时第一导电柱6发生晃动，影响使用寿命与连接效果，通过设置限位板14可对第二导电柱7进行限位固定，避免第二导电柱7发生松动，影响连接效果。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述管体1内壁固定连接有干燥盒15，所述干燥盒15内部填充有氯化钙颗粒，所述管体1外壁固定连接有绝缘套16，通过设置干燥盒15可对管体1内部的水分进行干燥，避免水分过多，影响电流的导通效果。

本实用新型在使用时，通过设置第一导电柱6与第二导电柱7为导电硅胶棒可减少针头5与连接头10之间的电阻，提高待测试物品与测试设备之间的电流导通效果，适用于测试大电流，针杆4与针头5不易发生损坏，通过在导电板8侧壁设置导电凸点可提高第一导电柱6与第二导电柱7之间的连接稳定性，避免测试电路接触不良，通过设置第二复位弹簧11带动卡块12与卡槽卡接可提高连接头10与管体1之间的安装效率，便于拆装，通过设置定位板13可提高第一导电柱6的稳定性，避免针头5与针杆4在对物品进行测试时第一导电柱6发生晃动，影响使用寿命与连接效果，通过设置限位板14可对第二导电柱7进行限位固定，避免第二导电柱7发生松动，影响连接效果，通过设置干燥盒15可对管体1内部的水分进行干燥，避免水分过多，影响电流的导通效果。

对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型，因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内，不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (6)

1.一种高电流测试探针，包括管体（1），其特征在于：所述管体（1）顶部中心处固定连接有环形板（2），所述环形板（2）顶部固定连接有第一复位弹簧（3），所述第一复位弹簧（3）内部套设连接有针杆（4），所述针杆（4）顶部固定连接有针头（5），所述针杆（4）底部贯穿环形板（2）与管体（1）外壁固定连接有第一导电柱（6），所述第一导电柱（6）下方设有第二导电柱（7），所述第二导电柱（7）顶部固定连接有导电板（8），所述导电板（8）内壁固定连接有导电凸点，所述第二导电柱（7）底部外围固定连接有垫板，所述第二导电柱（7）末端中心处固定连接有触点。

2.根据权利要求1所述的一种高电流测试探针，其特征在于：所述管体（1）下方设有设备连接线（9），所述设备连接线（9）顶端固定连接有连接头（10），所述连接头（10）两侧开设有卡槽，所述连接头（10）顶部与触点抵触连接。

3.根据权利要求2所述的一种高电流测试探针，其特征在于：所述管体（1）内壁固定连接有第二复位弹簧（11），所述第二复位弹簧（11）末端固定连接有卡块（12），所述卡块（12）的大小与卡槽的大小相匹配。

4.根据权利要求1所述的一种高电流测试探针，其特征在于：所述第一导电柱（6）与第二导电柱（7）均为导电硅胶棒，所述第一导电柱（6）两侧设有凹坑，所述凹坑的大小与导电凸点的大小相匹配。

5.根据权利要求1所述的一种高电流测试探针，其特征在于：所述第一导电柱（6）外围设有定位板（13），所述定位板（13）末端与管体（1）内壁固定连接，所述第二导电柱（7）外围设有限位板（14），所述限位板（14）外表面与管体（1）内壁抵触连接。

6.根据权利要求1所述的一种高电流测试探针，其特征在于：所述管体（1）内壁固定连接有干燥盒（15），所述干燥盒（15）内部填充有氯化钙颗粒，所述管体（1）外壁固定连接有绝缘套（16）。

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