CN214276964U - 移动体的检测装置及表面清洁设备 - Google Patents

Abstract

本公开提供了一种移动体的检测装置，包括：光电传感器和被测参考体，被测参考体包括光线通过部及光线遮断部，其中，检测装置根据检测的光线通过时长来检测移动体的移动方向和/或移动速度；和/或根据光线遮断时长来检测移动体的移动方向和/或移动速度；和/或根据光线通过时长和光线遮断时长的结合来检测移动体的移动方向和/或移动速度。本公开还提供了一种表面清洁设备。

Description

移动体的检测装置及表面清洁设备

技术领域

本公开涉及一种移动体的检测装置及表面清洁设备。

背景技术

在物体的移动或者转动地过程中，需要对移动或转动方向和/或速度进行测量。例如在诸如吸尘器和洗地机等家用设备中，可以根据测量的方向和/或速度来对其进行控制，例如对吸力、出水量等进行控制。

目前检测物体移动的方案均采用二轴、三轴、激光测距传感器等空间运动传感器的方式，测量后需通过通讯的方式读出传感器的位置信息。这些方式中测量原理及数据处理等比较复杂。

在本公开中提出了一种简单且有效的测量方式，并且该测量方式的测量结果可以满足实际的需求。

实用新型内容

为了解决上述技术问题之一，本公开提供了一种移动体的检测装置及表面清洁设备。

根据本公开的一个方面，一种移动体的检测装置，包括：

光电传感器，所述光电传感器包括发光元件及检测元件，所述发光元件发射光线，并且所述检测元件接收光信号且将光信号转换为电信号；以及

被测参考体，所述被测参考体包括光线通过部及光线遮断部，所述光电传感器与所述被测参考体能够相对移动，随着所述相对移动，所述被测参考体的光线通过部及光线遮断部交替经过所述发光元件及检测元件之间的位置，当所述光线通过部相对移动至所述发光元件及检测元件之间的位置时，所述光线通过部允许所述发光元件发出的光线通过并到达所述检测元件，当所述光线遮断部相对移动至所述发光元件及检测元件之间的位置时，所述光线遮断部遮断所述发光元件发出的光线以使得该光线不能到达所述检测元件，

其中，在所述被测参考体上设置有两个以上光线通过部并且至少一部分光线通过部设置成允许光线通过的通过时长不同，所述检测装置根据检测的至少一部分通过时长来检测所述移动体的移动方向和/或移动速度；和/或所述被测参考体上设置有两个以上光线遮断部并且至少一部分光线遮断部设置成遮断光线的遮断时长不同，所述检测装置根据检测的至少一部分遮断时长来检测所述移动体的移动方向和/或移动速度；和/或在所述被测参考体上设置有两个以上光线通过部和两个以上光线遮断部，并且至少一部分光线通过部设置成允许光线通过的通过时长不同及至少一部分光线遮断部设置成遮断光线的遮断时长不同，所述检测装置根据检测的至少一部分通过时长和至少一部分遮断时长来检测所述移动体的移动方向和/或移动速度。

根据本公开至少一个实施方式的检测装置，所述相对移动为相对转动。

根据本公开至少一个实施方式的检测装置，各个光线通过部设置成允许光线通过的通过时长互不不同、或者各个光线遮断部设置成遮断光线的遮断时长互不不同。

根据本公开至少一个实施方式的检测装置，通过比较检测的通过时长中的至少一部分通过时长的长短，和/或，通过比较遮断时长中的至少一部分遮断时长的长短，来检测所述移动体的移动方向。

根据本公开至少一个实施方式的检测装置，基于所述被测参考体的转动长度和相应的转动时长来检测所述移动体的移动速度。

根据本公开至少一个实施方式的检测装置，基于所述被测参考体的转动一圈的时长来检测所述移动体的移动速度。

根据本公开至少一个实施方式的检测装置，所述被测参考体为盘体，所述光线通过部为在所述盘体上开设的允许光通过的通过空间，并且所述光线遮断部为位于相邻的两个通过空间之间的一部分盘体。

根据本公开至少一个实施方式的检测装置，所述通过空间为开设在所述盘体的孔部，并且两个以上孔部中的至少一部分孔部的孔径不同。

根据本公开至少一个实施方式的检测装置，所述被测参考体安装在所述移动体的转动轴上。

根据本公开至少一个实施方式的检测装置，所述盘体为圆盘体并且所述两个以上孔部的中心点位于以所述圆盘体的圆心为圆心的同心圆上，并且所述圆盘体的圆心与所述移动体的转动轴的圆心重合。

根据本公开至少一个实施方式的检测装置，在所述被测参考体的转动方向中，所述孔部的孔径逐渐增大或减小。

根据本公开至少一个实施方式的检测装置，所述通过空间为开设在所述盘体的边缘的开口部，并且两个以上开口部中的至少一部分开口部的宽度不同。

根据本公开至少一个实施方式的检测装置，所述被测参考体安装在所述移动体的转动轴上。

根据本公开至少一个实施方式的检测装置，所述盘体为圆盘体并且所述两个以上开口部的中心点位于以所述圆盘体的圆心为圆心的同心圆上，并且所述圆盘体的圆心与所述移动体的转动轴的圆心重合。

根据本公开至少一个实施方式的检测装置，在所述被测参考体的转动方向中，所述两个以上开口部的宽度逐渐增大或减小。

根据本公开的另一方面，一种表面清洁设备，所述表面清洁设备包括如上任一项所述的检测装置，并且所述移动体为所述表面清洁设备的滚轮。

附图说明

附图示出了本公开的示例性实施方式，并与其说明一起用于解释本公开的原理，其中包括了这些附图以提供对本公开的进一步理解，并且附图包括在本说明书中并构成本说明书的一部分。

图1示出了根据本公开的一个实施方式的检测装置的示意图。

图2示出了根据本公开的一个实施方式的检测原理的示意图。

图3示出了根据本公开的一个实施方式的检测原理的示意图。

图4示出了根据本公开的一个实施方式的检测原理的示意图。

图5示出了根据本公开的一个实施方式的被测参考体的示意图。

图6示出了根据本公开的一个实施方式的检测装置的示意图。

图7示出了根据本公开的一个实施方式的表面清洁设备的局部示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施方式对本公开作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于解释相关内容，而非对本公开的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本公开相关的部分。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本公开中的实施方式及实施方式中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施方式来详细说明本公开的技术方案。

除非另有说明，否则示出的示例性实施方式/实施例将被理解为提供可以在实践中实施本公开的技术构思的一些方式的各种细节的示例性特征。因此，除非另有说明，否则在不脱离本公开的技术构思的情况下，各种实施方式/实施例的特征可以另外地组合、分离、互换和/或重新布置。

在附图中使用交叉影线和/或阴影通常用于使相邻部件之间的边界变得清晰。如此，除非说明，否则交叉影线或阴影的存在与否均不传达或表示对部件的具体材料、材料性质、尺寸、比例、示出的部件之间的共性和/或部件的任何其它特性、属性、性质等的任何偏好或者要求。此外，在附图中，为了清楚和/或描述性的目的，可以夸大部件的尺寸和相对尺寸。当可以不同地实施示例性实施例时，可以以不同于所描述的顺序来执行具体的工艺顺序。例如，可以基本同时执行或者以与所描述的顺序相反的顺序执行两个连续描述的工艺。此外，同样的附图标记表示同样的部件。

当一个部件被称作“在”另一部件“上”或“之上”、“连接到”或“结合到”另一部件时，该部件可以直接在所述另一部件上、直接连接到或直接结合到所述另一部件，或者可以存在中间部件。然而，当部件被称作“直接在”另一部件“上”、“直接连接到”或“直接结合到”另一部件时，不存在中间部件。为此，术语“连接”可以指物理连接、电气连接等，并且具有或不具有中间部件。

为了描述性目的，本公开可使用诸如“在……之下”、“在……下方”、“在……下”、“下”、“在……上方”、“上”、“在……之上”、“较高的”和“侧(例如，如在“侧壁”中)”等的空间相对术语，从而来描述如附图中示出的一个部件与另一(其它)部件的关系。除了附图中描绘的方位之外，空间相对术语还意图包含设备在使用、操作和/或制造中的不同方位。例如，如果附图中的设备被翻转，则被描述为“在”其它部件或特征“下方”或“之下”的部件将随后被定位为“在”所述其它部件或特征“上方”。因此，示例性术语“在……下方”可以包含“上方”和“下方”两种方位。此外，设备可被另外定位(例如，旋转90度或者在其它方位处)，如此，相应地解释这里使用的空间相对描述语。

这里使用的术语是为了描述具体实施例的目的，而不意图是限制性的。如这里所使用的，除非上下文另外清楚地指出，否则单数形式“一个(种、者)”和“所述(该)”也意图包括复数形式。此外，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”以及它们的变型时，说明存在所陈述的特征、整体、步骤、操作、部件、组件和/或它们的组，但不排除存在或附加一个或更多个其它特征、整体、步骤、操作、部件、组件和/或它们的组。还要注意的是，如这里使用的，术语“基本上”、“大约”和其它类似的术语被用作近似术语而不用作程度术语，如此，它们被用来解释本领域普通技术人员将认识到的测量值、计算值和/或提供的值的固有偏差。

根据本公开的技术方案，可以通过简单且有效的方式测量移动体的移动方向和/或移动速度，例如转动方向和/或转动速度。

根据本公开的一个实施方式，提供了一种移动体的检测装置，包括：光电传感器，光电传感器包括发光元件及检测元件，发光元件发射光线，并且检测元件接收光信号且将光信号转换为电信号；以及被测参考体，被测参考体包括光线通过部及光线遮断部，光电传感器与被测参考体能够相对转动，随着相对转动，被测参考体的光线通过部及光线遮断部交替经过发光元件及检测元件之间的位置，当光线通过部相对转动至发光元件及检测元件之间的位置时，光线通过部允许发光元件发出的光线通过并到达检测元件，当光线遮断部相对转动至发光元件及检测元件之间的位置时，光线遮断部遮断发光元件发出的光线以使得该光线不能到达检测元件。

其中，在被测参考体上设置有两个以上光线通过部并且至少一部分光线通过部设置成允许光线通过的通过时长不同，检测装置根据检测的至少一部分通过时长来检测移动体的移动方向和/或移动速度；和/或被测参考体上设置有两个以上光线遮断部并且至少一部分光线遮断部设置成遮断光线的遮断时长不同，检测装置根据检测的至少一部分遮断时长来检测移动体的移动方向和/或移动速度；和/或在被测参考体上设置有两个以上光线通过部和两个以上光线遮断部，并且至少一部分光线通过部设置成允许光线通过的通过时长不同及至少一部分光线遮断部设置成遮断光线的遮断时长不同，检测装置根据检测的至少一部分通过时长和至少一部分遮断时长来检测移动体的移动方向和/或移动速度。

各个光线通过部设置成允许光线通过的通过时长互不不同、或者各个光线遮断部设置成遮断光线的遮断时长互不不同。

通过比较检测的通过时长中的至少一部分通过时长的长短，和/或，通过比较遮断时长中的至少一部分遮断时长的长短，来检测移动体的移动方向。

基于被测参考体的转动长度和相应的转动时长来检测移动体的移动速度。

基于被测参考体的转动一圈的时长来检测移动体的移动速度。

图1示出了根据本公开的一个实施方式的移动体的检测装置10。

如图1所示，该检测装置10可以包括光电传感器100和被测参考体200。

需要说明的是，在本公开的技术方案中，通过光电传感器100和被测参考体200的相对转动来测量移动体的移动(例如转动)，也就是说，可以将光电传感器100设置成随移动体进行转动而被测参考体200不进行转动，或者将被测参考体200设置成随移动体进行转动而光电传感器100不进行转动。

例如，在本公开中将会以滚轮作为移动体的一个示例。可以将光电传感器100与滚轮相对固定(例如固定至滚轮的滚轴上)从而使得光电传感器100随着滚轮的转动进行转动，而被测参考体200则设置成不转动的形式。也可以将被测参考体200与滚轮相对固定(例如固定至滚轮的滚轴上)从而使得被测参考体200随着滚轮的转动进行转动，而光电传感器100则设置成不转动的形式。

在下面的示例中，是以被测参考体200的转动为例进行说明，为了简洁起见，对于光电传感器100进行转动的示例将不进行详细的描述，但是本领域的技术人员应当理解，根据本公开的思路，只要将二者设置成能够相对移动即可。

光电传感器100可以包括发光元件和检测元件，其中发光元件用于发射光线，而检测元件可以用于检测发光元件所发射的光线，并且根据所检测的光线来生成电信号。

在图1中示出了被测参考体200为圆盘的形式，但是本领域的技术人员应当理解，在本公开的思路下，也可以选择其他任意合适的形式。在本实施例中将以圆盘形式进行详细描述。

被测参考体200可以包括光线通过部210及光线遮断部220。当光线通过部210相对转动至发光元件及检测元件之间的位置时，光线通过部210允许发光元件发出的光线通过并到达检测元件，当光线遮断部220相对转动至发光元件及检测元件之间的位置时，光线遮断部220遮断发光元件发出的光线以使得该光线不能到达检测元件。

在图1的实施例中，光线通过部210的形式为设置在圆盘的开孔，并且光线遮断部220为位于相邻开孔之间的圆盘本体。而光电传感器100的发光元件和检测元件分别设置在圆盘的两侧，并且在进行转动的过程中，光线通过部210和光线遮断部220可以交替地经过发光元件和检测元件之间的位置。

此外，在被测参考体200进行转动的情况下，可以在盘体上设置安装孔300，并且将安装孔300固定安装至滚轮的滚动轴上，这样可以实现被测参考体200与滚轮的一同转动。

在光电传感器100进行转动的情况下，可以将发光元件及检测元件之一设置成随着滚轮一起转动的形式。在图1的示例中，将光电传感器100设置在固定架上。

其中被测参考体200的开孔(光线通过部)的数量可以为两个以上，并且可以设置在以盘体的中心(圆心)为圆心的同心圆上，例如开孔的圆心位于该同心圆上。并且各个开孔的孔径可以设置为互不相同。这样可以根据光线通过部允许通过发光元件所发射的光线且经检测元件所检测的通过时长来确定移动体的移动方向和/或移动速度。

根据本公开的一个示例，孔径的变化可以在一个方向设置成逐渐增大或者逐渐减小。例如图1所示，以右上开孔为起点开孔，在逆时针方向中，孔径为逐渐减小。但是在本公开中，也可以随机设置孔径的大小。

另外，在本公开的另一个实施例中，也可以将光线遮断部(开孔之间的盘体部分)的宽度(宽度的变化规律原理可以参照孔径变化原理)设置为互不相同，这样可以根据光线遮断部且经检测元件所检测的遮断时长来确定移动体的移动方向和/或移动速度。

下面以通过时长为例来进行说明。通过光电传感器所检测的孔径大小来判断当前移动的速度和/或方向。

图2示出了根据通过时长T和检测信号之间的关系的示意图。其中图2所示的关系为被测参考体200逆时针转动(前向转动)情况下的关系，对于顺时针转动(后向转动)，原理相同。

当前向转动时，通过光电传感器的开孔的孔径由小变大，则光电传感器所检测的高电平(检测到光线的情况)的宽度(通过时长)也相应地由窄变宽。例如，对于第一个开孔(图1中位于光电传感器之间的开孔)，允许光线通过的时长为T1；在顺时针方向中，对于第二个开孔，允许光线通过的时长为T2；对于第三个开孔，允许光线通过的时长为T3；对于第四个开孔，允许光线通过的时长为T4；对于第五个开孔，允许光线通过的时长为T5；对于第六个开孔，允许光线通过的时长为T6。

这样当检测到T2大于T1、和/或T3大于T2、和/或T4大于T3、和/或T5大于T4、和/或T6大于T5的情况下，可以判断正在进行前向移动，反之则可以判断正在进行后向移动。

在图2中是以孔径逐渐增大/减小为例进行说明，另外孔径也可以通过其他方式设置。例如图3的示例中，假设六个开孔，其中在逆时针方向中，第一开孔的孔径最小，第二开孔的孔径变大，第三开孔的孔径更大，第四开孔的孔径变小，第五开孔的孔径相对于第四开孔的孔径变大，第六开孔的孔径相对于第五开孔的孔径变大。这样根据T2大于T1且T3大于T2、而且T4小于T3且T5大于T4且T6大于T5的这种变化关系，可以判断正在进行前向移动，反之可以判断正在进行后向移动。对于判断方式，本领域的技术人员可以理解有更多种方式，其他的判断方式也应落入本公开的保护范围中。

上面描述了对移动方向的判断，根据本公开的技术方案，还可以对移动速度进行测量。再次回到图2的示例，假设被测参考体转动一圈的时间为T7，而开孔所处的同心圆的圆周长为L，则可以根据L/T7来求的当前的转动速度。另外也可以根据圆周中一部分开孔所处的弧长及转动这部分开孔所需的时间来求的转动速度。例如对于第一至第四开孔，从T1的起始点至T4的终止点的时长为T，而相应的弧长为L，则可以根据L/T得到当前的转动速度。此处为前向转动时转动速度的测量方式，对于后向转动的转动速度，原理相同，在此不再赘述。

在图2和图3的实施例中，以检测元件的高电平为例进行说明，但是根据本公开，也可以根据低电平来实现本公开的技术方案。其中低电平可以对应于光线遮断部位于发光元件及检测元件之间的情况。

如图4所示(图4对应着图2，对于图3的原理也相同)，当前向转动时，通过光电传感器的光线遮断部的宽度由大变小，则光电传感器所检测的低电平(未检测到光线的情况)的宽度(通过时长)也相应地由宽变窄。例如，对于第一个光线遮断部220(位于光电传感器之间的光线遮断部)，遮挡光线的遮挡时长为T1；在顺时针方向中，对于第二个光线遮断部220，遮挡光线的遮挡时长为T2；对于第三个光线遮断部220，遮挡光线的遮挡时长为T3；对于第四个光线遮断部220，遮挡光线的遮挡时长为T4；对于第五个光线遮断部220，遮挡光线的遮挡时长为T5；对于第六个光线遮断部220，遮挡光线的遮挡时长为T6。

这样当检测到T1大于T2、和/或T2大于T3、和/或T3大于T4、和/或T4大于T5的情况下，可以判断正在进行前向移动，反之则可以判断正在进行后向移动。

在图4中是以光线遮挡部分的宽度逐渐增大/减小为例进行说明，另外该宽度也可以通过其他方式设置。例如图3低电平的原理。对于判断方式，本领域的技术人员可以理解有更多种方式，其他的判断方式也应落入本公开的保护范围中。

根据本公开的另一个实施方式，被测参考体可以为齿轮的形式。

在图5和图6的实施例中，光线通过部310的形式为设置齿轮之间的开口部分，并且光线遮断部320为位于相邻开口部分之间的齿轮本体。而光电传感器400的发光元件410和检测元件420分别设置在齿轮的两侧，并且在进行转动的过程中，光线通过部310和光线遮断部320可以交替地经过发光元件和检测元件之间的位置。

在光电传感器400进行转动的情况下，可以将发光元件及检测元件之一设置成随着滚轮一起转动的形式。其中被测参考体200的开口部分(光线通过部)的数量可以为两个以上，并且可以设置在以齿轮的中心(圆心)为圆心的同心圆上，例如开口部分的中心位于该同心圆上。并且各个开口部分的宽度可以设置为互不相同。这样可以根据光线通过部允许通过发光元件所发射的光线且经检测元件所检测的通过时长来确定移动体的移动方向和/或移动速度。

根据本公开的一个示例，宽度的变化可以在一个方向设置成逐渐增大或者逐渐减小。例如图5所示，以右上开口部分为起点开口部分，在逆时针方向中，宽度为逐渐减小。但是在本公开中，也可以随机设置宽度的大小。

另外，在本公开的另一个实施例中，也可以将光线遮断部(齿轮部分)的宽度设置为互不相同，这样可以根据光线遮断部经检测元件所检测的遮断时长来确定移动体的移动方向和/或移动速度。

下面以通过时长为例来进行说明。通过光电传感器所检测的宽度大小来判断当前移动的速度和/或方向。

图2示出了根据通过时长T和检测信号之间的关系的示意图。其中图2所示的关系为被测参考体200顺时针转动(后向转动)情况下的关系，对于逆时针转动(前向转动)，原理相同。

当后向转动时，经过光电传感器的开口部分的宽度由小变大，则光电传感器所检测的高电平(检测到光线的情况)的宽度(通过时长)也相应地由窄变宽。例如，对于第一个开口部分(图5中的右下开口部分)，允许光线通过的时长为T1；在顺时针方向中，对于第二个开口部分，允许光线通过的时长为T2；对于第三个开口部分，允许光线通过的时长为T3；对于第四个开口部分，允许光线通过的时长为T4；对于第五个开口部分，允许光线通过的时长为T5；对于第六个开口部分，允许光线通过的时长为T6。

这样当检测到T2大于T1、和/或T3大于T2、和/或T4大于T3、和/或T5大于T4、和/或T6大于T5的情况下，可以判断正在进行后向移动，反之则可以判断正在进行前向移动。

在图2中是以宽度逐渐增大/减小为例进行说明，另外宽度也可以通过其他方式设置。例如图3的示例中，假设六个开口部分，其中在顺时针方向中，第一开口部分的宽度最小，第二开口部分的宽度变大，第三开口部分的宽度更大，第四开口部分的宽度变小(例如等于第一开口部分的宽度)，第五开口部分的宽度相对于第四开口部分的宽度变大，第六开口部分的宽度相对于第五开口部分的宽度变大。这样根据T2大于T1且T3大于T2、而且T4小于T3且T5大于T4且T6大于T5的这种变化关系，可以判断正在进行后向移动，反之可以判断正在进行前向移动。对于判断方式，本领域的技术人员可以理解有更多种方式，其他的判断方式也应落入本公开的保护范围中。

上面描述了对移动方向的判断，根据本公开的技术方案，还可以对移动速度进行测量。再次回到图2的示例，假设被测参考体转动一圈的时间为T7，而开口部分所处的同心圆的圆周长为L，则可以根据L/T7来求的当前的转动速度。另外也可以根据圆周中一部分开口部分所处的弧长及转动这部分开口部分所需的时间来求的转动速度。例如对于第一至第四开口部分，从T1的起始点至T4的终止点的时长为T，而相应的弧长为L，则可以根据L/T得到当前的转动速度。此处为后向转动时转动速度的测量方式，对于前向转动的转动速度，原理相同，在此不再赘述。

在图2和图3的实施例中，以检测元件的高电平为例进行说明，但是根据本公开，也可以根据低电平来实现本公开的技术方案。其中低电平可以对应于光线遮断部位于发光元件及检测元件之间的情况。

如图4所示(图4对应着图2，对于图3的原理也相同)，当后向转动时，通过光电传感器的光线遮断部的宽度由大变小，则光电传感器所检测的低电平(未检测到光线的情况)的宽度(通过时长)也相应地由宽变窄。例如，对于第一个光线遮断部320(位于光电传感器之间的光线遮断部)，遮挡光线的遮挡时长为T1；在顺时针方向中，对于第二个光线遮断部320，遮挡光线的遮挡时长为T2；对于第三个光线遮断部320，遮挡光线的遮挡时长为T3；对于第四个光线遮断部320，遮挡光线的遮挡时长为T4；对于第五个光线遮断部320，遮挡光线的遮挡时长为T5；对于第六个光线遮断部320，遮挡光线的遮挡时长为T6。

这样当检测到T1大于T2、和/或T2大于T3、和/或T3大于T4、和/或T4大于T5的情况下，可以判断正在进行后向移动，反之则可以判断正在进行前向移动。

在图4中是以光线遮挡部分的宽度逐渐增大/减小为例进行说明，另外该宽度也可以通过其他方式设置。例如图3低电平的原理。对于判断方式，本领域的技术人员可以理解有更多种方式，其他的判断方式也应落入本公开的保护范围中。

在上面的实施例中，给出了单独根据高电平/低电平进行检测的方式，在本公开中也就可以根据高低电平的结合来进行移动方向的检测。

例如以图2为例，可以通过T1的高电平、T2的高电平、T1与T2之间的低电平、和T2和T3之间的低电平的结合来进行检测，例如当判断T1小于T2且T1与T2间的低电平时间大于T2与T3间的低电平时间，则可以判断出移动方向，例如在图1示例中为前向移动，在图5示例中为后向移动。另外也可以结合更多高低电平来进行判断，在此不再描述。

根据本公开的进一步实施方式，还提供了一种表面清洁设备，其中该清洁设备可以为手持吸尘器、扫地机器人、洗地机等等。

图7示出了表面清洁设备的清洁部分的局部示意图。例如该清洁部分可以是地刷等。

如图7所示，根据本公开的检测装置可以与滚轮710一起设置，例如设置在滚轮710的滚轴上。图7的示例为被测参考体720设置在滚轴上，而光电传感器730设置在地刷的框体740上。另外也可以将光电传感器设置在滚轴上而被测参考体则设置在框体上。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例/方式”、“一些实施例/方式”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例/方式或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例/方式或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例/方式或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例/方式或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例/方式或示例以及不同实施例/方式或示例的特征进行结合和组合。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

本领域的技术人员应当理解，上述实施方式仅仅是为了清楚地说明本公开，而并非是对本公开的范围进行限定。对于所属领域的技术人员而言，在上述公开的基础上还可以做出其它变化或变型，并且这些变化或变型仍处于本公开的范围内。

Claims (16)

1.一种移动体的检测装置，其特征在于，包括：

光电传感器，所述光电传感器包括发光元件及检测元件，所述发光元件发射光线，并且所述检测元件接收光信号且将光信号转换为电信号；以及

被测参考体，所述被测参考体包括光线通过部及光线遮断部，所述光电传感器与所述被测参考体能够相对移动，随着所述相对移动，所述被测参考体的光线通过部及光线遮断部交替经过所述发光元件及检测元件之间的位置，当所述光线通过部相对移动至所述发光元件及检测元件之间的位置时，所述光线通过部允许所述发光元件发出的光线通过并到达所述检测元件，当所述光线遮断部相对移动至所述发光元件及检测元件之间的位置时，所述光线遮断部遮断所述发光元件发出的光线以使得该光线不能到达所述检测元件，

其中，在所述被测参考体上设置有两个以上光线通过部并且至少一部分光线通过部设置成允许光线通过的通过时长不同，所述检测装置根据检测的至少一部分通过时长来检测所述移动体的移动方向和/或移动速度；和/或所述被测参考体上设置有两个以上光线遮断部并且至少一部分光线遮断部设置成遮断光线的遮断时长不同，所述检测装置根据检测的至少一部分遮断时长来检测所述移动体的移动方向和/或移动速度；和/或在所述被测参考体上设置有两个以上光线通过部和两个以上光线遮断部，并且至少一部分光线通过部设置成允许光线通过的通过时长不同及至少一部分光线遮断部设置成遮断光线的遮断时长不同，所述检测装置根据检测的至少一部分通过时长和至少一部分遮断时长来检测所述移动体的移动方向和/或移动速度。

2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述相对移动为相对转动。

3.如权利要求2所述的检测装置，其特征在于，各个光线通过部设置成允许光线通过的通过时长互不不同、或者各个光线遮断部设置成遮断光线的遮断时长互不不同。

4.如权利要求2中所述的检测装置，其特征在于，通过比较检测的通过时长中的至少一部分通过时长的长短，和/或，通过比较遮断时长中的至少一部分遮断时长的长短，来检测所述移动体的移动方向。

5.如权利要求2所述的检测装置，其特征在于，基于所述被测参考体的转动长度和相应的转动时长来检测所述移动体的移动速度。

6.如权利要求5所述的检测装置，其特征在于，基于所述被测参考体的转动一圈的时长来检测所述移动体的移动速度。

7.如权利要求1至6中任一项所述的检测装置，其特征在于，所述被测参考体为盘体，所述光线通过部为在所述盘体上开设的允许光通过的通过空间，并且所述光线遮断部为位于相邻的两个通过空间之间的一部分盘体。

8.如权利要求7所述的检测装置，其特征在于，所述通过空间为开设在所述盘体的孔部，并且两个以上孔部中的至少一部分孔部的孔径不同。

9.如权利要求8所述的检测装置，其特征在于，所述被测参考体安装在所述移动体的转动轴上。

10.如权利要求9所述的检测装置，其特征在于，所述盘体为圆盘体并且所述两个以上孔部的中心点位于以所述圆盘体的圆心为圆心的同心圆上，并且所述圆盘体的圆心与所述移动体的转动轴的圆心重合。

11.如权利要求8所述的检测装置，其特征在于，在所述被测参考体的转动方向中，所述孔部的孔径逐渐增大或减小。

12.如权利要求7所述的检测装置，其特征在于，所述通过空间为开设在所述盘体的边缘的开口部，并且两个以上开口部中的至少一部分开口部的宽度不同。

13.如权利要求12所述的检测装置，其特征在于，所述被测参考体安装在所述移动体的转动轴上。

14.如权利要求13所述的检测装置，其特征在于，所述盘体为圆盘体并且所述两个以上开口部的中心点位于以所述圆盘体的圆心为圆心的同心圆上，并且所述圆盘体的圆心与所述移动体的转动轴的圆心重合。

15.如权利要求11所述的检测装置，其特征在于，在所述被测参考体的转动方向中，所述两个以上开口部的宽度逐渐增大或减小。

16.一种表面清洁设备，其特征在于，所述表面清洁设备包括如权利要求1至15中任一项所述的检测装置，并且所述移动体为所述表面清洁设备的滚轮。

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