CN211452522U - 一种雷达物位计聚波罩 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了物位计设备技术领域的一种雷达物位计聚波罩,包括仪表和聚波装置,所述仪表的底部熔接有连接座,所述连接座的底部插接有探极,所述仪表的后侧壁插接有导线,所述聚波装置位于所述连接座的外部,所述聚波装置包括固定座、第一聚波罩、第二聚波罩和滑板,所述固定座与所述连接座的外侧壁通过螺纹固定连接,所述第一聚波罩和所述第二聚波罩分别通过旋转轴与所述固定座转动连接;该雷达物位计聚波罩的设置,结构设计合理,连接座的外部安装有聚波装置,聚波装置中的第一聚波罩和第二聚波罩相互配合使用能够对微波的波束进行聚集,避免波束向外扩散,并且能够根据使用要求进行调节聚波的面积,从而提高物位计对物体测量的精度。
Description
技术领域
本实用新型涉及物位计设备技术领域,具体为一种雷达物位计聚波罩。
背景技术
雷达物位计主要就是采用了一种微波脉冲的测量方法来进行探测的,可以在工业的正常频率中进行使用,在进行探测的时候波束的能量比较低,而且还可以安装在各种金属以及管道的内部进行探测。对于一些液体以及一些颗粒物它可以进行非接触的连续探测。现有的雷达物位计存在一个严重的问题就是在使用的时候缺少对微波波束聚集的装置,会造成微波波束的丢失,并且不能够对微波波束的发射面积进行调节,进而会影响物位计对物体测量的精度,为此我们提出一种雷达物位计聚波罩。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种雷达物位计聚波罩,以解决上述背景技术中提出的雷达物位计在使用的时候缺少对微波波束聚集的装置,会造成微波波束的丢失,并且不能够对微波波束的发射面积进行调节,进而会影响物位计对物体测量的精度的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种雷达物位计聚波罩,包括仪表和聚波装置,所述仪表的底部熔接有连接座,所述连接座的底部插接有探极,所述仪表的后侧壁插接有导线,所述聚波装置位于所述连接座的外部,所述聚波装置包括固定座、第一聚波罩、第二聚波罩和滑板,所述固定座与所述连接座的外侧壁通过螺纹固定连接,所述第一聚波罩和所述第二聚波罩分别通过旋转轴与所述固定座转动连接,所述第一聚波罩套于所述第二聚波罩的外部,并且第一聚波罩的内侧壁与第二聚波罩的外侧壁接触,所述第一聚波罩的外部开有凹型槽,所述凹型槽中镶嵌有弹簧,所述第二聚波罩的内侧壁开有滑槽,所述滑板的外侧壁焊接有滑块,所述滑块与所述第二聚波罩内侧壁的所述滑槽配合连接,所述探极位于所述聚波装置内腔。
优选的,所述第一聚波罩包括八个第一遮板,八个所述第一遮板呈现环形分布。
优选的,所述第二聚波罩包括八个第二遮板,八个所述第二遮板呈现环形分布。
优选的,所述滑板的顶部焊接有定位柱,所述定位柱贯穿所述固定座并向上延伸。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:该雷达物位计聚波罩的设置,结构设计合理,连接座的外部安装有聚波装置,聚波装置中的第一聚波罩和第二聚波罩相互配合使用能够对微波的波束进行聚集,避免波束向外扩散,并且能够根据使用要求进行调节聚波的面积,从而提高物位计对物体测量的精度。
附图说明
图1为本实用新型正面结构示意图;
图2为本实用新型仰视结构示意图;
图3为本实用新型固定座结构示意图。
图中:仪表100,连接座110,导线120,探极130,聚波装置200,固定座210,第一聚波罩220,弹簧221,第一遮板222,第二聚波罩230,第二遮板231,滑板240,滑块241,定位柱242。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
本实用新型提供一种雷达物位计聚波罩,用于对微波的波束进行聚集,避免波束向外扩散,并且能够根据使用要求进行调节聚波的面积,从而提高物位计对物体测量的精度,请参阅图1-3,包括仪表100和聚波装置200。
请再参阅图1-3,仪表100的底部熔接有连接座110,连接座110的底部插接有探极130,仪表100的后侧壁插接有导线120,仪表100、探极130用于测量与物体之间的距离,连接座110用于将仪表100与探极130连接。
请再参阅图1-3,聚波装置200位于连接座110的外部,聚波装置200包括固定座210、第一聚波罩220、第二聚波罩230和滑板240,固定座210与连接座110的外侧壁通过螺纹固定连接,第一聚波罩220和第二聚波罩230分别通过旋转轴与固定座210转动连接,第一聚波罩220套于第二聚波罩230的外部,并且第一聚波罩220的内侧壁与第二聚波罩230的外侧壁接触,第一聚波罩220的外部开有凹型槽,凹型槽中镶嵌有弹簧221,第二聚波罩230的内侧壁开有滑槽,滑板240的外侧壁焊接有滑块241,滑块241与第二聚波罩230内侧壁的滑槽配合连接,探极130位于聚波装置200内腔,固定座210用于安装第一聚波罩220和第二聚波罩230,第一聚波罩220和第二聚波罩230用于对微波进行聚波,弹簧221和滑板240用于控制第一聚波罩220和第二聚波罩230展开的角度。
请再参阅图1-2,第一聚波罩220包括八个第一遮板222,八个第一遮板222呈现环形分布;第二聚波罩230包括八个第二遮板231,八个第二遮板231呈现环形分布,八个第一遮板222与八个第二遮板231交错分布,第一遮板222和第二遮板231相互配合用于调节聚波的面积。
请再参阅图1-3,为了控制滑板240在移动时不发生偏移,滑板240的顶部焊接有定位柱242,定位柱242贯穿固定座210并向上延伸。
工作原理:手动移动滑板240,调节滑板240在第二聚波罩230内腔中的位置,滑板240在弹簧221的作用下位置固定,滑板240在非外力接触时不发生移动,将仪表100安装在待测量物体的内腔中,并将导线120与电源连接,使其仪表100接通电源,仪表100的内部通过探极130向待测物发射微波波束,微波波束在第一聚波罩220和第二聚波罩230的作用下被聚集射向待测物体,微波通过物体后折射返回被仪表100收集,利用反射波与发射波做对比从而计算出距离。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
虽然在上文中已经参考实施例对本实用新型进行了描述,然而在不脱离本实用新型的范围的情况下,可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是,只要不存在结构冲突,本实用新型所披露的实施例中的各项特征均可通过任意方式相互结合起来使用,在本说明书中未对这些组合的情况进行穷举性的描述仅仅是出于省略篇幅和节约资源的考虑。因此,本实用新型并不局限于文中公开的特定实施例,而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。
Claims (4)
1.一种雷达物位计聚波罩,其特征在于:包括仪表(100)和聚波装置(200),所述仪表(100)的底部熔接有连接座(110),所述连接座(110)的底部插接有探极(130),所述仪表(100)的后侧壁插接有导线(120),所述聚波装置(200)位于所述连接座(110)的外部,所述聚波装置(200)包括固定座(210)、第一聚波罩(220)、第二聚波罩(230)和滑板(240),所述固定座(210)与所述连接座(110)的外侧壁通过螺纹固定连接,所述第一聚波罩(220)和所述第二聚波罩(230)分别通过旋转轴与所述固定座(210)转动连接,所述第一聚波罩(220)套于所述第二聚波罩(230)的外部,并且第一聚波罩(220)的内侧壁与第二聚波罩(230)的外侧壁接触,所述第一聚波罩(220)的外部开有凹型槽,所述凹型槽中镶嵌有弹簧(221),所述第二聚波罩(230)的内侧壁开有滑槽,所述滑板(240)的外侧壁焊接有滑块(241),所述滑块(241)与所述第二聚波罩(230)内侧壁的所述滑槽配合连接,所述探极(130)位于所述聚波装置(200)内腔。
2.根据权利要求1所述的一种雷达物位计聚波罩,其特征在于:所述第一聚波罩(220)包括八个第一遮板(222),八个所述第一遮板(222)呈现环形分布。
3.根据权利要求1所述的一种雷达物位计聚波罩,其特征在于:所述第二聚波罩(230)包括八个第二遮板(231),八个所述第二遮板(231)呈现环形分布。
4.根据权利要求1所述的一种雷达物位计聚波罩,其特征在于:所述滑板(240)的顶部焊接有定位柱(242),所述定位柱(242)贯穿所述固定座(210)并向上延伸。
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