CN211292979U - 一种电路专用推拉测试夹具 - Google Patents

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赵修祥
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朱合祥
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Abstract

一种电路专用推拉测试夹具,设置有动力装置、承载装置、采集装置、采集主控装置和壳体,动力装置、承载装置、采集装置和采集主控装置均装配于壳体,动力装置装配于采集装置的上方,动力装置与所述采集装置驱动连接以驱动采集装置靠近或者远离承载装置,承载装置装配于采集装置的正下方,采集主控装置与采集装置电连接。通过动力装置对采集装置提供动力,采集主控装置控制对待测电路板施加需要的电学测试条件,测试夹具的测试操作简单,相对于人工测试的方式,具有测试简单、测试效率高和测试结果更加精确的特点。

Description

一种电路专用推拉测试夹具
技术领域
本实用新型涉及测试夹具技术领域,特别是涉及一种电路专用推拉测试夹具。
背景技术
现有的电路板的测试主要以人工上下推拉操作测试夹具进行测试,首先将测试电路通过测试夹具夹紧于测试台上,手动拉下带有测试针的夹板使测试针与被测点接触,进行产品的上电测试。现有的大部分测试夹具都是以手动操作为主,手动操作在一定程度上减缓了测试的速度,浪费了人力物力还影响生产效率。而且人工测试操作推拉测试夹板大多都带有一定的不规范性,带有一定的测试误差,不同的测试压力也会对电路板的测试有很大的影响,有可能会导致擦伤电路,影响生产质量,增加成本。
因此,针对现有技术不足,提供一种电路专用推拉测试夹具以克服现有技术不足甚为必要。
实用新型内容
本实用新型的目的在于避免现有技术的不足之处而提供一种电路专用推拉测试夹具,具有操作简单、工作效率高和测试精确的特点。
本实用新型的目的通过以下技术措施实现。
提供一种电路专用推拉测试夹具,设置有动力装置、承载装置、采集装置、采集主控装置和壳体,动力装置、承载装置、采集装置和采集主控装置均装配于壳体,动力装置装配于采集装置的上方,动力装置与所述采集装置驱动连接以驱动采集装置靠近或者远离承载装置,承载装置装配于采集装置的正下方,采集主控装置与采集装置电连接。承载装置用于安放待测电路板,动力装置推动采集装置向承载装置靠近,采集主控装置控制采集装置对待测电路板进行测试,采集主控装置还对采集装置采集到的数据进行处理。
优选的,上述采集装置设置有探针板和多个探针,多个探针固定装配于探针板,探针装配于承载装置的正上方。多个探针对待测电路板上特定的连接点进行测试。
优选的,还设置有轴承、导向轴和弹簧条,轴承固定装配于探针板,导向轴活动贯穿于轴承,导向轴一端与靠近承载装置一端的壳体固定连接,导向轴另一端与动力装置驱动连接,弹簧条的两端分别与探针板、壳体抵接。轴承起连通和定位的作用,弹簧条给探针板施加一个阻力,只有当动力装置对采集装置施加一定的力时,探针板才会下降,当动力装置不对采集装置施加力时,采集装置在弹簧条的阻力的作用下,平行静置于承载装置的上方。
优选的,上述动力装置设置有气缸、气缸推动轴、推动板、滑轴、连接轴,气缸固定装配于壳体,气缸的气缸推动轴与推动板固定连接,滑轴、连接轴分别装配于推动板不相邻的两侧,连接轴与导向轴固定装配。滑轴可以滚动地将探针板下压,使探针板能够匀速下降,连接轴可转动,气缸对气缸推动轴提供一定的力,使气缸推动轴推动推动板下降。
优选的,上述导向轴设置有与连接轴相匹配的连接小孔,连接轴贯穿于连接小孔。
优选的,上述采集主控装置设置有通道选择编码电路、通道选择电路、电源滤波电路、通道选择脉冲电路、编码上电复位电路和信号输出电路。
优选的,上述通道选择编码电路设置有芯片U1、电容C4、电容C5、三极管Q1、三极管Q2、电阻R3、电阻R4和电阻R5,芯片U1的1脚和8脚与编码上电复位电路连接,芯片U1的2脚与通道选择脉冲电路连接,芯片U1的3 脚、4脚、5脚、6脚和8脚与三极管Q1的发射极、电容C4的一端、电容C5 的一端以及通道选择电路分别连接,电源VCC分别与电容C4的另一端、电容C5的另一端、芯片U1的10脚和16脚连接,三极管Q1的集电极与三极管Q2 的发射极连接,三极管Q2的集电极与电阻R5的一端、芯片U1的9脚连接,电源VCC分别与电阻R5的另一端与芯片U1的7脚连接,三极管Q1的基极与电阻R3的一端连接,电阻R3的另一端与芯片U1的12脚以及通道选择电路分别连接,三极管Q2的基极与电阻R4的一端连接,电阻R4的另一端与芯片U1 的14脚以及通道选择电路分别连接。
优选的,上述芯片U1是16进制加法器,用于产生编码,电容C4和电容 C5是去偶电容,为U1和U2提供电流,并除去芯片U1和芯片U2在开关过程中的高频噪声偶合,电阻R3、电阻R4、电阻R5、三极管Q1和三极管Q2产生 6进制复位,确保测量完6个档位就复位,跳过16进制加法器的剩余10个状态。
优选的,上述通道选择电路设置有芯片U2以及带有6个档位的CPU接口 P2,芯片U2的1脚、2脚与CPU接口P2的2口连接,芯片U2的3脚与信号输出电路连接,芯片U2的4脚、6脚、7脚和8脚分别与通道选择编码电路的电容C4的一端、电容C5的一端、三极管Q1的发射极、芯片U1的8脚、6脚、 4脚和3脚连接,芯片U2的5脚与CPU接口P2的1口连接,芯片U2的9脚与芯片U1的12脚、电阻R3的一端分别连接,芯片U2的10脚与芯片U1的 13脚连接,芯片U2的11脚与芯片U1的14脚连接,芯片U2的12脚与CPU 接口P2的3口连接,芯片U2的13脚与CPU接口P2的6口连接,芯片U2的 14脚与CPU接口P2的5口连接,芯片U2的15脚与CPU接口P2的4口连接,电源VCC与芯片U2的16脚连接。CPU接口P2的6个档位接口与芯片U2的6 个输入引脚,芯片U2根据芯片U1的信号指令对CPU接口P2的6个档位的电压信号轮流选通。
优选的,上述编码上电复位电路设置有电阻R2和电容C6,电容C6的一端、电阻R2的一端分别与芯片U1的1脚连接,电容C6的另一端与芯片U1的 8脚分别接地,电阻R2的另一端与电源滤波电路、芯片U1的7脚、电阻R5的一端分别连接。当测试夹具通电时,电源通过电阻R2对电容C6充电,在一段时间内保持电容C6为低电平,芯片U1检测到电容C6为低电平时会自动复位。
优选的,上述通道选择脉冲电路设置有三极管Q3和电阻R6,三极管Q3 的集电极接地,三极管Q3的基极与时钟电路连接,三极管Q3的发射极与电阻 R6的一端、芯片U1的2脚连接,电阻R6的另一端连接电源滤波电路。通道选择脉冲电路可以进行电平转换匹配和提高动力装置的驱动能力。
优选的,上述电源滤波电路设置有带有两个接口的排针JP1、电容C1和电容C2,电源VCC分别与排针JP1的1口、电容C1的一端、电容C2的一端连接,排针JP1的2口、电容C1的另一端和电容C2的另一端分别连接。电源滤波电路能够去除电源中的高频噪声,减少干扰。
优选的,上述芯片U1为型号为76HC163的16进制加法器,芯片U2为型号为CD4051的16进制加法器。
优选的,上述电阻R1、电阻R3、电阻R4、电阻R5和电阻R6的阻值都为 4.7千欧姆,电阻R2的电阻值为1千欧姆,三极管Q1和三极管Q2的型号都为 8050,三极管Q3的型号为8550,电容C1的电容值为47微法,电容C2和电容 C5的电容值都为0.1微法,电容C3和电容C4的电容值都为10微法,电容C6 的电容值为100微法。
优选的,上述承载装置设置有承载台和承载凹槽,承载凹槽装配于承载台内部的空腔,多个探针装配于承载凹槽的正上方。
优选的,上述承载台设置为多层台阶式承载台,不同尺寸的台阶按面积从小到大依次堆叠。适用于不同尺寸的电路板,扩大了测试夹具的适用范围。
在进行测试之前先对测试夹具进行校准初始化,将校准电路板放入承载凹槽,启动动力装置,气缸对推动板施加一定的力推动探针板向靠近承载装置的一侧移动,直到装配在探针板上的探针与校准电路板上的待测点相接触,进行测试。测试十个校准电路板进行对比,校准电路板的功率测试值误差保持在0.5 伏内开始进行对待测电路板的测试,测试夹具进入测试工况。
当测试夹具进入测试工况时,先将待测电路板置于承载凹槽中,气缸对气缸推动轴施加一定的力,推动推动板向下运动,滑轴与探针板相接触,滑轴向下滚动给探针板也提供了一个向下的力,探针板受到推动板的力大于弹簧的阻力时,弹簧下降,探针与待测电路板上的测试点相接处,对电路板进行测试;当探针板受到推动板的力小于弹簧的阻力时,探针板不动。
本实用新型的一种电路专用推拉测试夹具,设置有动力装置、承载装置、采集装置、采集主控装置和壳体,动力装置、承载装置、采集装置和采集主控装置均装配于壳体,动力装置装配于采集装置的上方,动力装置与所述采集装置驱动连接以驱动采集装置靠近或者远离承载装置,承载装置装配于采集装置的正下方,采集主控装置与采集装置电连接。承载装置用于安放待测电路板,动力装置推动采集装置向承载装置靠近,当压下的探针触碰到待测样品时触发测试,采集主控装置发出通道选择脉冲至通道选择脉冲电路,再通过通道选择电路选择测试通道,通过编码上电复位电路对待测产品施加需要的电学测试条件,测试的结果通过信号输出电路输出,能够准确、方便地为待测电路板提供测试条件,具有测试效率高、测试结果精确的特点。
附图说明
利用附图对本实用新型作进一步的说明,但附图中的内容不构成对本实用新型的任何限制。
图1是本实用新型一种电路专用推拉测试夹具的结构示意图。
图2是采集主控装置的电路结构示意图。
在图1至图2中,包括:
壳体100、
动力装置200、
气缸210、推动板220、滑轴230、连接轴240、气缸推动轴250、
采集装置300、
探针板310、探针320、
承载装置400、
承载台410、承载凹槽420、
轴承500、导向轴600、弹簧条700、
采集主控装置800、
通道选择编码电路810、通道选择电路820、电源滤波电路830、
通道选择脉冲电路840、编码上电复位电路850、信号输出电路860。
具体实施方式
结合以下实施例对本实用新型作进一步说明。
实施例1。
一种电路专用推拉测试夹具,如图1所示,设置有动力装置200、承载装置400、采集装置300、采集主控装置800和壳体100,动力装置200、承载装置400、采集装置300和采集主控装置800均装配于壳体100,动力装置200装配于采集装置300的上方,动力装置200与所述采集装置300驱动连接以驱动采集装置300靠近或者远离承载装置400,承载装置400装配于采集装置300的正下方,采集主控装置800与采集装置300电连接。承载装置400用于安放待测电路板,动力装置200推动采集装置300向承载装置400靠近,采集主控装置800控制采集装置300对待测电路板进行测试,采集主控装置800还对采集装置300采集到的数据进行处理。
本实施例的采集装置300设置有探针320板310和多个探针320,多个探针320固定装配于探针320板310,探针320装配于承载装置400的正上方。多个探针320对待测电路板上特定的连接点进行测试。
本实施例还设置有轴承500、导向轴600和弹簧条700,轴承500固定装配于探针320板310,导向轴600活动贯穿于轴承500,导向轴600一端与靠近承载装置400一端的壳体100固定连接,导向轴600另一端与动力装置200驱动连接,弹簧条700的两端分别与探针320板310、壳体100抵接。轴承500起连通和定位的作用,弹簧条700给探针320板310施加一个阻力,只有当动力装置200对采集装置300施加一定的力时,探针320板310才会下降,当动力装置200不对采集装置300施加力时,采集装置300在弹簧条700的阻力的作用下,平行静置于承载装置400的上方。
本实施例的动力装置200设置有气缸210、气缸推动轴250、推动板220、滑轴230、连接轴240,气缸210固定装配于壳体100,气缸210的气缸推动轴 250与推动板220固定连接,滑轴230、连接轴240分别装配于推动板220不相邻的两侧,连接轴240与导向轴600固定装配。滑轴230可以滚动地将探针320 板310下压,使探针320板310能够匀速下降,连接轴240可转动,气缸210 对气缸推动轴250提供一定的力,使气缸推动轴250推动推动板220下降。
本实施例的导向轴600设置有与连接轴240相匹配的连接小孔,连接轴240 贯穿于连接小孔。连接小孔呈对称平行分布。
本实施例的承载装置400设置有承载台410和承载凹槽420,承载凹槽420 装配于承载台410内部的空腔,多个探针320装配于承载凹槽420的正上方。
本实施例的承载台410设置为多层台阶式承载台410,不同尺寸的台阶按面积从小到大依次堆叠。适用于不同尺寸的电路板,扩大了测试夹具的适用范围。
在进行测试之前先对测试夹具进行校准初始化,将校准电路板放入承载凹槽420,启动动力装置200,气缸210对推动板220施加一定的力推动探针320 板310向靠近承载装置400的一侧移动,直到装配在探针320板310上的探针 320与校准电路板上的待测点相接触,进行测试。测试十个校准电路板进行对比,校准电路板的功率测试值误差保持在0.5伏内开始进行对待测电路板的测试,测试夹具进入测试工况。
当测试夹具进入测试工况时,先将待测电路板置于承载凹槽420中,气缸 210对气缸推动轴250施加一定的力,推动推动板220向下运动,滑轴230与探针320板310相接触,滑轴230向下滚动给探针320板310也提供了一个向下的力,探针320板310受到推动板220的力大于弹簧的阻力时,弹簧下降,探针320与待测电路板上的测试点相接处,对电路板进行测试;当探针320板310 受到推动板220的力小于弹簧的阻力时,探针320板310不动。
本实施例的电路专用推拉测试夹具,设置有动力装置200、承载装置400、采集装置300、采集主控装置800和壳体100,动力装置200、承载装置400、采集装置300和采集主控装置800均装配于壳体100,动力装置200装配于采集装置300的上方,动力装置200与所述采集装置300驱动连接以驱动采集装置 300靠近或者远离承载装置400,承载装置400装配于采集装置300的正下方,采集主控装置800与采集装置300电连接。承载装置400用于安放待测电路板,动力装置200推动采集装置300向承载装置400靠近,当压下的探针320触碰到待测样品时触发测试,采集主控装置800发出通道选择脉冲至通道选择脉冲电路840,再通过通道选择电路820选择测试通道,通过编码上电复位电路850 对待测产品施加需要的电学测试条件,测试的结果通过信号输出电路860输出。
本实施例的电路专用推拉测试夹具的测试操作简单,相对于人工测试的方式,能够更加准确、方便地为待测电路板提供测试条件,具有测试效率高、测试结果精确的特点。
实施例2。
一种电路专用推拉测试夹具,如图2所示,其他特征与实施例1相同,不同之处在于,还具有以下特征:本实施例的采集主控装置800设置有通道选择编码电路810、通道选择电路820、电源滤波电路830、通道选择脉冲电路840、编码上电复位电路850和信号输出电路860。
本实施例的通道选择编码电路810设置有芯片U1、电容C4、电容C5、三极管Q1、三极管Q2、电阻R3、电阻R4和电阻R5,芯片U1的1脚和8脚与编码上电复位电路850连接,芯片U1的2脚与通道选择脉冲电路840连接,芯片U1的3脚、4脚、5脚、6脚和8脚与三极管Q1的发射极、电容C4的一端、电容C5的一端以及通道选择电路820分别连接,电源VCC分别与电容C4的另一端、电容C5的另一端、芯片U1的10脚和16脚连接,三极管Q1的集电极与三极管Q2的发射极连接,三极管Q2的集电极与电阻R5的一端、芯片U1 的9脚连接,电源VCC分别与电阻R5的另一端与芯片U1的7脚连接,三极管Q1的基极与电阻R3的一端连接,电阻R3的另一端与芯片U1的12脚以及通道选择电路820分别连接,三极管Q2的基极与电阻R4的一端连接,电阻R4 的另一端与芯片U1的14脚以及通道选择电路820分别连接。
本实施例的芯片U1是16进制加法器,用于产生编码,电容C4和电容C5 是去偶电容,为U1和U2提供电流,并除去芯片U1和芯片U2在开关过程中的高频噪声偶合,电阻R3、电阻R4、电阻R5、三极管Q1和三极管Q2产生6进制复位,确保测量完6个档位就复位,跳过16进制加法器的剩余10个状态。
本实施例的通道选择电路820设置有芯片U2以及带有6个档位的CPU接口P2,芯片U2的1脚、2脚与CPU接口P2的2口连接,芯片U2的3脚与信号输出电路860连接,芯片U2的4脚、6脚、7脚和8脚分别与通道选择编码电路810的电容C4的一端、电容C5的一端、三极管Q1的发射极、芯片U1的 8脚、6脚、4脚和3脚连接,芯片U2的5脚与CPU接口P2的1口连接,芯片U2的9脚与芯片U1的12脚、电阻R3的一端分别连接,芯片U2的10脚与芯片U1的13脚连接,芯片U2的11脚与芯片U1的14脚连接,芯片U2的12 脚与CPU接口P2的3口连接,芯片U2的13脚与CPU接口P2的6口连接,芯片U2的14脚与CPU接口P2的5口连接,芯片U2的15脚与CPU接口P2 的4口连接,电源VCC与芯片U2的16脚连接。
需要说明的是,CPU接口P2的6个档位接口与芯片U2的6个输入引脚,芯片U2根据芯片U1的信号指令对CPU接口P2的6个档位的电压信号轮流选通。
本实施例的编码上电复位电路850设置有电阻R2和电容C6,电容C6的一端、电阻R2的一端分别与芯片U1的1脚连接,电容C6的另一端与芯片U1 的8脚分别接地,电阻R2的另一端与电源滤波电路830、芯片U1的7脚、电阻R5的一端分别连接。当测试夹具通电时,电源通过电阻R2对电容C6充电,在一段时间内保持电容C6为低电平,芯片U1检测到电容C6为低电平时会自动复位。
本实施例的通道选择脉冲电路840设置有三极管Q3和电阻R6,三极管Q3 的集电极接地,三极管Q3的基极与时钟电路连接,三极管Q3的发射极与电阻 R6的一端、芯片U1的2脚连接,电阻R6的另一端连接电源滤波电路830。通道选择脉冲电路840可以进行电平转换匹配和提高动力装置200的驱动能力。
本实施例的电源滤波电路830设置有带有两个接口的排针JP1、电容C1和电容C2,电源VCC分别与排针JP1的1口、电容C1的一端、电容C2的一端连接,排针JP1的2口、电容C1的另一端和电容C2的另一端分别连接。电源滤波电路830能够去除电源中的高频噪声,减少干扰。
当压下的探针触碰到待测样品时触发测试,采集主控装置800发出通道选择脉冲至通道选择脉冲电路840,再通过通道选择电路820选择测试通道,通过编码上电复位电路850对待测产品施加需要的电学测试条件,测试的结果通过信号输出电路860输出
实施例3。
一种电路专用推拉测试夹具,其他特征与实施例2相同,不同之处在于,还具有以下特征:本实施例的芯片U1为型号为76HC163的16进制加法器,芯片U2为型号为CD4051的16进制加法器,电阻R1、电阻R3、电阻R4、电阻 R5和电阻R6的阻值都为4.7千欧姆,电阻R2的电阻值为1千欧姆,三极管 Q1和三极管Q2的型号都为8050,三极管Q3的型号为8550,电容C1的电容值为47微法,电容C2和电容C5的电容值都为0.1微法,电容C3和电容C4 的电容值都为10微法,电容C6的电容值为100微法。
本实施例介绍了采集主控装置的元器件的型号与取值,在不影响采集主控装置的工作性能的情况下,采用最适当的元器件,降低使用成本。
实施例4。
一种电路专用推拉测试夹具,其他特征与实施例1或者实施例2相同,不同之处在于:本实施例的电路专用推拉测试夹具的上电测试如下:本实施例中的电路专用推拉测试夹具在工作时,首先在采集主控装置中选择测试工况,将待测电路板分裂成单个电路单元后,用专用清洗液清洗表面的杂物,将待测电路板放在承载装置的承载凹槽内,待测电路板上的测试点与探针对齐,调节交流电源电压,交流电源提供230伏,频率为50赫兹的电压,电源直接连接测试夹具作为电路输入电压,外接440欧姆的负载电阻,负载电阻起缓冲作用,打开开关,调节动力装置的气缸的下压速度为2秒/次,调节探针板的上升高度为 10厘米,设定探针板下压停留时间为1秒,探针板自动进行对待测电路板的测试。当探针板下压时,探针与待测电路板上的测试点接触,触发测试。探针连接数据采集控制模块,数据采集控制模块对待测电路板施加需要的电学测试条件,完成上电测试。
最后应当说明的是,以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非对本实用新型保护范围的限制,尽管参照较佳实施例对本实用新型作了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。

Claims (10)

1.一种电路专用推拉测试夹具,其特征在于:设置有动力装置、承载装置、采集装置、采集主控装置和壳体,动力装置、承载装置、采集装置和采集主控装置均装配于壳体,动力装置装配于采集装置的上方,动力装置与所述采集装置驱动连接以驱动采集装置靠近或者远离承载装置,承载装置装配于采集装置的正下方,采集主控装置与采集装置电连接。
2.根据权利要求1所述的电路专用推拉测试夹具,其特征在于:所述采集装置设置有探针板和多个探针,多个探针固定装配于探针板,探针装配于承载装置的正上方;
还设置有轴承、导向轴和弹簧条,轴承固定装配于探针板,导向轴活动贯穿于轴承,导向轴一端与靠近承载装置一端的壳体固定连接,导向轴另一端与动力装置驱动连接,弹簧条的两端分别与探针板、壳体抵接。
3.根据权利要求2所述的电路专用推拉测试夹具,其特征在于:所述动力装置设置有气缸、气缸推动轴、推动板、滑轴、连接轴,气缸固定装配于壳体,气缸的气缸推动轴与推动板固定连接,滑轴、连接轴分别装配于推动板不相邻的两侧,连接轴与导向轴固定装配。
4.根据权利要求3所述的电路专用推拉测试夹具,其特征在于:导向轴设置有与连接轴相匹配的连接小孔,连接轴贯穿于连接小孔。
5.根据权利要求4所述的电路专用推拉测试夹具,其特征在于:所述采集主控装置设置有通道选择编码电路、通道选择电路、电源滤波电路、通道选择脉冲电路、编码上电复位电路和信号输出电路;
所述通道选择编码电路设置有芯片U1、电容C4、电容C5、三极管Q1、三极管Q2、电阻R3、电阻R4和电阻R5,芯片U1的1脚和8脚与编码上电复位电路连接,芯片U1的2脚与通道选择脉冲电路连接,芯片U1的3脚、4脚、5脚、6脚和8脚与三极管Q1的发射极、电容C4的一端、电容C5的一端以及通道选择电路分别连接,电源VCC分别与电容C4的另一端、电容C5的另一端、芯片U1的10脚和16脚连接,三极管Q1的集电极与三极管Q2的发射极连接,三极管Q2的集电极与电阻R5的一端、芯片U1的9脚连接,电源VCC与电阻R5的另一端、芯片U1的7脚分别连接,三极管Q1的基极与电阻R3的一端连接,电阻R3的另一端与芯片U1的12脚以及通道选择电路分别连接,三极管Q2的基极与电阻R4的一端连接,电阻R4的另一端与芯片U1的14脚以及通道选择电路分别连接;
所述通道选择电路设置有芯片U2以及带有6个档位的CPU接口P2,芯片U2的1脚、2脚与CPU接口P2的2口连接,芯片U2的3脚与信号输出电路连接,芯片U2的4脚、6脚、7脚和8脚分别与通道选择编码电路的电容C4的一端、电容C5的一端、三极管Q1的发射极、芯片U1的8脚、6脚、4脚和3脚连接,芯片U2的5脚与CPU接口P2的1口连接,芯片U2的9脚与芯片U1的12脚、电阻R3的一端分别连接,芯片U2的10脚与芯片U1的13脚连接,芯片U2的11脚与芯片U1的14脚连接,芯片U2的12脚与CPU接口P2的3口连接,芯片U2的13脚与CPU接口P2的6口连接,芯片U2的14脚与CPU接口P2的5口连接,芯片U2的15脚与CPU接口P2的4口连接,电源VCC与芯片U2的16脚连接。
6.根据权利要求5所述的电路专用推拉测试夹具,其特征在于:所述编码上电复位电路设置有电阻R2和电容C6,电容C6的一端、电阻R2的一端分别与芯片U1的1脚连接,电容C6的另一端与芯片U1的8脚分别接地,电阻R2的另一端与电源滤波电路、芯片U1的7脚、电阻R5的一端分别连接;
所述通道选择脉冲电路设置有三极管Q3和电阻R6,三极管Q3的集电极接地,三极管Q3的基极与时钟电路连接,三极管Q3的发射极与电阻R6的一端、芯片U1的2脚连接,电阻R6的另一端连接电源滤波电路;
所述电源滤波电路设置有带有两个接口的排针JP1、电容C1和电容C2,电源VCC分别与排针JP1的1口、电容C1的一端、电容C2的一端连接,排针JP1的2口与电容C1的另一端、电容C2的另一端分别连接。
7.根据权利要求6所述的电路专用推拉测试夹具,其特征在于:芯片U1为型号为76HC163的16进制加法器,芯片U2为型号为CD4051的16进制加法器。
8.根据权利要求7所述的电路专用推拉测试夹具,其特征在于:电阻R1、电阻R3、电阻R4、电阻R5和电阻R6的阻值都为4.7千欧姆,电阻R2的电阻值为1千欧姆,三极管Q1和三极管Q2的型号都为8050,三极管Q3的型号为8550,电容C1的电容值为47微法,电容C2和电容C5的电容值都为0.1微法,电容C3和电容C4的电容值都为10微法,电容C6的电容值为100微法。
9.根据权利要求8所述的电路专用推拉测试夹具,其特征在于:所述承载装置设置有承载台和承载凹槽,承载凹槽装配于承载台内部的空腔,多个探针装配于承载凹槽的正上方。
10.根据权利要求9所述的电路专用推拉测试夹具,其特征在于:所述承载台设置为多层台阶式承载台,不同尺寸的台阶按面积从小到大依次堆叠。
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