CN211207000U - 一种手机背光源加工用高温高湿老化测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于测试设备技术领域,尤其为一种手机背光源加工用高温高湿老化测试装置,包括老化房和铰接在所述老化房上的门体,所述老化房内侧固定安装有若干个隔板,所述老化房侧壁贯穿开设有若干个通风孔,每个所述通风孔分别位于每个所述隔板的上方,所述老化房侧壁开设有与若干个所述通风孔数量相对应的滑槽,且所述通风孔位于所述滑槽内;老化房的内部在多个隔板的作用下隔离出多个放置工件的区域,当门体关闭时能够形成多个单独封闭的空间,滑动挡板,可以使通风孔露出来,内部的热空气会从通风孔排出通过通风孔排出热气能够合理的控制内部的温度,使每个放置工件的区域温度均匀,提高背光源测试的效果。
Description
技术领域
本实用新型属于测试设备技术领域,具体涉及一种手机背光源加工用高温高湿老化测试装置。
背景技术
背光源是位于液晶显示器背后的一种光源,它的发光效果将直接影响到液晶显示模块视觉效果,在加工生产的过程中往往需要对背光源进行测试,可以筛选出不合格的产品,老化房是针对高性能电子产品仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备,是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程,该设备广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。
市面上大多数的老化房内部设有若干个均匀分布的隔板,该隔板能够放置待检测的工件,对工件进行高温高湿老化测试,当老化房内的温度过高时,会使用排风机对其内部进行降温,从而可以达到理想测试的温度,但是排风机吹出的风扩散的范围较大,且距离排风机近的区域风力强,隔板也会阻隔大量的风,不能均匀的给每个隔板区域的环境进行降温,导致降温效果不理想,影响测试的效果。
实用新型内容
为解决上述背景技术中提出的问题。本实用新型提供了一种手机背光源加工用高温高湿老化测试装置,具有均匀降温的特点。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种手机背光源加工用高温高湿老化测试装置,包括老化房和铰接在所述老化房上的门体,所述老化房内侧固定安装有若干个隔板,所述老化房侧壁贯穿开设有若干个通风孔,每个所述通风孔分别位于每个所述隔板的上方,所述老化房侧壁开设有与若干个所述通风孔数量相对应的滑槽,且所述通风孔位于所述滑槽内,所述滑槽内侧滑动连接有挡板,所述挡板与所述老化房卡合连接,且所述挡板外侧固定连接有操作钮。
优选的,所述隔板的宽度和长度均等于所述老化房内侧的宽度和长度。
优选的,所述通风孔内侧四边均具有斜角。
优选的,所述滑槽内壁上开设有卡槽,且所述挡板一侧具有卡块,所述卡块插接在所述卡槽内侧。
优选的,若干个所述滑槽内侧的顶部和底部均开设有定位槽。
优选的,所述挡板的两侧均具有定位块,两个所述定位块分别滑动在两个所述定位槽内。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
通过设置的通风孔和挡板,老化房的内部在多个隔板的作用下隔离出多个放置工件的区域,当门体关闭时能够形成多个单独封闭的空间,当老化房内的温度过高时可以在滑槽内滑动挡板,使通风孔露出来,内部的热空气会从通风孔排出,每个通风孔能够控制着放置工件区域的温度,通过通风孔排出热气能够合理的控制内部的温度,使每个放置工件的区域温度均匀,提高背光源测试的效果,且可以单独打开一个挡板,使其中一处放置工件的区域进行散热,能够使每个区域的温度不一样,可以根据情况测试背光源在不同温度下的反应,提高背光源检测的可靠性。
附图说明
附图用来提供对本实用新型的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的限制。在附图中:
图1为本实用新型实施例所述的一种手机背光源加工用高温高湿老化测试装置的结构示意图;
图2为本实用新型实施例所述的一种手机背光源加工用高温高湿老化测试装置的左视图;
图3为本实用新型实施例所述的老化房的内部结构示意图;
图4为本实用新型实施例所述的挡板结构示意图;
图5为图1中A部的放大结构示意图。
图中:1、老化房;101、滑槽;102、通风孔;1021、斜角;103、卡槽;104、定位槽;11、门体;12、隔板;2、挡板;21、操作钮;22、卡块;23、定位块。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-5,本实用新型提供以下技术方案:一种手机背光源加工用高温高湿老化测试装置,包括老化房1和铰接在老化房1上的门体11,老化房1内侧固定安装有若干个隔板12,老化房1侧壁贯穿开设有若干个通风孔102,每个通风孔102分别位于每个隔板12的上方,老化房1侧壁开设有与若干个通风孔102数量相对应的滑槽101,且通风孔102位于滑槽101内,滑槽101内侧滑动连接有挡板2,挡板2与老化房1卡合连接,且挡板2外侧固定连接有操作钮21。
本实施方案中:老化房1内侧固定安装有若干个隔板12,老化房1为恒温恒湿老化房,是针对高性能电子产品仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备,是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程,此设备外框架构采用保温库板隔间组合而成,配上主配电箱、测试架、温度控制器、定时器、各种电器开关、加温电热器、盘架、拉门、排风机、插座等设备模拟出一种高温、恶劣环境,具有加热系统和加湿系统的老化房能够对背光源进行高温高湿老化测试,便于检测出不良品,老化房1侧壁贯穿开设有若干个通风孔102,每个通风孔102分别位于每个隔板12的上方,老化房1的内部在多个隔板12的作用下能够隔离出多个放置工件的区域,当门体11关闭时能够形成多个单独封闭的空间,通过每个通风孔102能够对每个放置工件的区域进行散热,且还能够单独的控制着每个区域内的温度,可以根据情况测试背光源在不同温度下的反应,老化房1侧壁开设有与若干个通风孔102数量相对应的滑槽101,且通风孔102位于滑槽101内,滑槽101内侧滑动连接有挡板2,挡板2与老化房1卡合连接,且挡板2外侧固定连接有操作钮21,当需要给老化房1内部降温时,可以拉住操作钮21使挡板2在滑槽101内滑动,同时定位块23在定位槽104内滑动,卡块22离开卡槽103,使通风孔102露出来,这时老化房1内部的空气可以流通,从通风孔102排出,达到老化房1内部降温的目的,每个通风孔102能够控制着放置工件区域的温度,通过通风孔102排出热气能够合理的控制内部的温度,使每个放置工件的区域温度均匀,提高测试背光源的效果,且可以单独打开一个挡板2,使其中一处放置工件的区域进行散热,能够使每个区域的温度不一样,可以根据情况测试背光源在不同温度下的反应,提高背光源检测的可靠性。
具体的,隔板12的宽度和长度均等于老化房1内侧的宽度和长度;隔板12的宽度和长度均等于老化房1内侧的宽度和长度,老化房1的内部在多个隔板12的作用下能够隔离出多个放置工件的区域,单独的一个小的空间便于散热,且当门体11关闭时,内部能够形成多个封闭的放置工件的区域,便于对背光源进行测试。
具体的,通风孔102内侧四边均具有斜角1021;通风孔102内侧四边均具有斜角1021,使通风孔102呈锥形设计,便于热气通过通风孔102,使热气能够顺着通风孔102流通到外界,通过通风孔102能够控制着放置工件区域的温度,提高装置内部温度降低的效果。
具体的,滑槽101内壁上开设有卡槽103,且挡板2一侧具有卡块22,卡块22插接在卡槽103内侧;卡块22插接在卡槽103内侧,拉住操作钮21使挡板2在滑槽101内滑动,同时定位块23在定位槽104内滑动,卡块22离开卡槽103,这时通风孔102会露出来,便于老化房1内部的空气通过通风孔102流通,且卡块22卡在卡槽103内时,挡板2能够遮挡住通风孔102,且挡板2上设有密封圈,提高挡板2密封通风孔102的效果,使老化房1内部为封闭的环境,便于对背光源进行检测。
具体的,若干个滑槽101内侧的顶部和底部均开设有定位槽104;滑槽101内开设有定位槽104,定位槽104能够限制着挡板2的位置,挡板2不会从滑槽101内滑出,且定位块23在定位槽104内滑动,能够使挡板2呈一条水平直线的运动,提高结构间运动的稳定性,便于使挡板2遮挡或露出通风孔102。
具体的,挡板2的两侧均具有定位块23,两个定位块23分别滑动在两个定位槽104内;定位块23滑动在定位槽104内,拉住操作钮21使挡板2在滑槽101内滑动,同时定位块23在定位槽104内滑动,卡块22能够离开卡槽103,限制着挡板2移动的位置,能够使挡板2呈一条水平直线的运动,提高结构间运动的稳定性。
本实用新型的工作原理及使用流程:当需要给老化房1内部降温时,可以拉住操作钮21使挡板2在滑槽101内滑动,同时定位块23在定位槽104内滑动,卡块22离开卡槽103,使通风孔102露出来,这时老化房1内部的空气可以流通,从通风孔102排出,达到老化房1内部降温的目的,由于老化房1的内部在多个隔板12的作用下能够隔离出多个放置工件的区域,当门体11关闭时能够形成多个单独封闭的空间,当打开一个挡板2时,其余的不动,能够造成老化房1内部每个区域内的温度不一,使背光源可以在不同的温度下进行测试,提高测试的效果。
最后应说明的是:以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种手机背光源加工用高温高湿老化测试装置,包括老化房(1)和铰接在所述老化房(1)上的门体(11),其特征在于:所述老化房(1)内侧固定安装有若干个隔板(12),所述老化房(1)侧壁贯穿开设有若干个通风孔(102),每个所述通风孔(102)分别位于每个所述隔板(12)的上方,所述老化房(1)侧壁开设有与若干个所述通风孔(102)数量相对应的滑槽(101),且所述通风孔(102)位于所述滑槽(101)内,所述滑槽(101)内侧滑动连接有挡板(2),所述挡板(2)与所述老化房(1)卡合连接,且所述挡板(2)外侧固定连接有操作钮(21)。
2.根据权利要求1所述的一种手机背光源加工用高温高湿老化测试装置,其特征在于:所述隔板(12)的宽度和长度均等于所述老化房(1)内侧的宽度和长度。
3.根据权利要求1所述的一种手机背光源加工用高温高湿老化测试装置,其特征在于:所述通风孔(102)内侧四边均具有斜角(1021)。
4.根据权利要求1所述的一种手机背光源加工用高温高湿老化测试装置,其特征在于:所述滑槽(101)内壁上开设有卡槽(103),且所述挡板(2)一侧具有卡块(22),所述卡块(22)插接在所述卡槽(103)内侧。
5.根据权利要求1所述的一种手机背光源加工用高温高湿老化测试装置,其特征在于:若干个所述滑槽(101)内侧的顶部和底部均开设有定位槽(104)。
6.根据权利要求5所述的一种手机背光源加工用高温高湿老化测试装置,其特征在于:所述挡板(2)的两侧均具有定位块(23),两个所述定位块(23)分别滑动在两个所述定位槽(104)内。
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CN201922153329.2U CN211207000U (zh) | 2019-12-05 | 2019-12-05 | 一种手机背光源加工用高温高湿老化测试装置 |
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CN114323564A (zh) * | 2021-12-23 | 2022-04-12 | 杨全光 | 一种手机背光源高温老化测试设备 |
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