CN211205358U - 一种光纤光栅传感器设计用性能测试装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种光纤光栅传感器设计用性能测试装置,包括框架,所述框架的底部内表面固定连接有工作台,所述框架的顶部固定连接有驱动电机,所述驱动电机的输出端转动连接有螺杆,所述螺杆的底端转动连接有轴承,所述螺杆的外壁螺纹套接有螺套,所述螺套的外壁固定连接有升降板,所述升降板的内部对称滑动套接有滑杆,所述升降板的下表面对称固定连接有安装板,所述安装板的下表面固定连接有压头,所述工作台的上表面对称开设有凹槽,本实用新型设计简单,操作方便,能够对光纤光栅传感器进行固定,不会使其产生位移,提高其测试部位的准确性,并且采用的是螺杆传动方式,可以提高测试的精确度,便于控制。

Description

一种光纤光栅传感器设计用性能测试装置
技术领域
本实用新型涉及一种测试装置,特别涉及一种光纤光栅传感器设计用性能测试装置,属于光纤光栅传感器技术领域。
背景技术
光纤光栅传感器可以实现对温度、应变等物理量的直接测量。由于光纤光栅波长对温度与应变同时敏感,即温度与应变同时引起光纤光栅耦合波长移动,使得通过测量光纤光栅耦合波长移动无法对温度与应变加以区分,因此,解决交叉敏感问题,实现温度和应力的区分测量是传感器实用化的前提,通过一定的技术来测定应力和温度变化来实现对温度和应力区分测量。这些技术的基本原理都是利用两根或者两段具有不同温度和应变响应灵敏度的光纤光栅构成双光栅温度与应变传感器,通过确定2个光纤光栅的温度与应变响应灵敏度系数,利用2个二元一次方程解出温度与应变,区分测量技术大体可分为两类,即多光纤光栅测量和单光纤光栅测量。
现有光纤光栅传感器设计用性能测试装置存在着不足之处,它虽然能够测量出来它的受压强度,但是它的精确度不高,测试装置很容易出现误差,并且在测试的时候很容易使得光纤光栅传感器产生位移,而导致测量的位置不高准确。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷,现有光纤光栅传感器设计用性能测试装置存在着不足之处,它虽然能够测量出来它的受压强度,但是它的精确度不高,测试装置很容易出现误差,并且在测试的时候很容易使得光纤光栅传感器产生位移,而导致测量的位置不高准确的问题提供一种光纤光栅传感器设计用性能测试装置。
为了解决上述技术问题,本实用新型提供了如下的技术方案:
本实用新型一种光纤光栅传感器设计用性能测试装置,包括框架,所述框架的底部内表面固定连接有工作台,所述框架的顶部固定连接有驱动电机,所述驱动电机的输出端转动连接有螺杆,所述螺杆的底端转动连接有轴承,所述螺杆的外壁螺纹套接有螺套,所述螺套的外壁固定连接有升降板,所述升降板的内部对称滑动套接有滑杆,所述升降板的下表面对称固定连接有安装板,所述安装板的下表面固定连接有压头,所述工作台的上表面对称开设有凹槽,所述凹槽的两侧外壁均分别开设有形腔,所述工作台的前侧外壁开设有通槽,所述形腔的内部转动连接有丝杆,所述丝杆的外壁螺纹套接有推板,所述丝杆的一端固定连接有手轮,所述手轮位于通槽的内部,所述丝杆与工作台之间转动连接,所述推板远离手轮的一侧外壁对称固定连接有推杆,两个所述推杆远离推板的一端均固定连接有同一个压板,所述压板位于凹槽的内部,所述压板与凹槽之间滑动连接。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述轴承位于工作台的上表面,所述轴承与工作台之间固定连接,所述螺杆与框架之间转动连接。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述升降板位于框架的内部,所述升降板与框架之间滑动连接。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述滑杆与框架之间固定连接,所述滑杆与工作台之间固定连接。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述推板的上表面和下表面均分别滑动套接有滑轨,所述滑轨与形腔之间固定连接。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述丝杆的另一端转动连接有轴承座,所述轴承座位于形腔的内部,所述轴承座与形腔之间固定连接。
本实用新型所达到的有益效果是:通过设置有推板、推杆和压板,两个压板将光纤光栅传感器给固定住,这样不会导致光纤光栅传感器在测试的时候产生位移,提高测试的部位的准确度;通过设置有驱动电机、螺杆和轴承,压头对光纤光栅传感器进行测试,由于采用的是螺杆驱动装置,可以提高测试的精确度,并且比较容易控制。
附图说明
附图用来提供对本实用新型的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的限制。
在附图中:
图1是本实用新型的结构示意图;
图2是本实用新型的A处结构放大图。
图中:1、框架;2、工作台;3、驱动电机;4、螺杆;5、轴承;6、螺套;7、升降板;8、滑杆;9、安装板;10、压头;11、凹槽;12、形腔;13、通槽;14、丝杆;15、推板;16、手轮;17、推杆;18、压板;19、滑轨。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
实施例
如图1-2所示,本实用新型提供一种光纤光栅传感器设计用性能测试装置,包括框架1,框架1的底部内表面固定连接有工作台2,框架1的顶部固定连接有驱动电机3,驱动电机3的输出端转动连接有螺杆4,螺杆4的底端转动连接有轴承5,螺杆4的外壁螺纹套接有螺套6,螺套6的外壁固定连接有升降板7,升降板7的内部对称滑动套接有滑杆8,升降板7的下表面对称固定连接有安装板9,安装板9的下表面固定连接有压头10,工作台2的上表面对称开设有凹槽11,凹槽11的两侧外壁均分别开设有形腔12,工作台2的前侧外壁开设有通槽13,形腔12的内部转动连接有丝杆14,丝杆14的外壁螺纹套接有推板15,丝杆14的一端固定连接有手轮16,手轮16位于通槽13的内部,丝杆14与工作台2之间转动连接,推板15远离手轮16的一侧外壁对称固定连接有推杆17,两个推杆17远离推板15的一端均固定连接有同一个压板18,压板18位于凹槽11的内部,压板18与凹槽11之间滑动连接。
轴承5位于工作台2的上表面,轴承5与工作台2之间固定连接,螺杆4与框架1之间转动连接,升降板7位于框架1的内部,升降板7与框架1之间滑动连接,滑杆8与框架1之间固定连接,滑杆8与工作台2之间固定连接,推板15的上表面和下表面均分别滑动套接有滑轨19,滑轨19与形腔12之间固定连接,丝杆14的另一端转动连接有轴承座,轴承座位于形腔12的内部,轴承座与形腔12之间固定连接。
具体的,使用本实用新型时,首先将光纤光栅传感器置于在凹槽11的内部,然后转动手轮16,手轮16带动丝杆14在轴承座上转动,丝杆14带动推板15在两个滑轨19上移动,推板15推动着推杆17移动,推杆17推动着压板18移动,两个压板18将光纤光栅传感器给固定住,这样不会导致光纤光栅传感器在测试的时候产生位移,提高测试的部位的准确度;然后再启动驱动电机3的开关,驱动电机3带动螺杆4在轴承5上进行转动,螺杆4带动升降板7在两个滑杆8上移动,升降板7推动安装板9下的压头10向下移动,压头10对光纤光栅传感器进行测试,由于采用的是螺杆4驱动装置,可以提高测试的精确度,并且比较容易控制;本实用新型设计简单,操作方便,能够对光纤光栅传感器进行固定,不会使其产生位移,提高其测试部位的准确性,并且采用的是螺杆4传动方式,可以提高测试的精确度,便于控制。
最后应说明的是:以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种光纤光栅传感器设计用性能测试装置,包括框架(1),其特征在于,所述框架(1)的底部内表面固定连接有工作台(2),所述框架(1)的顶部固定连接有驱动电机(3),所述驱动电机(3)的输出端转动连接有螺杆(4),所述螺杆(4)的底端转动连接有轴承(5),所述螺杆(4)的外壁螺纹套接有螺套(6),所述螺套(6)的外壁固定连接有升降板(7),所述升降板(7)的内部对称滑动套接有滑杆(8),所述升降板(7)的下表面对称固定连接有安装板(9),所述安装板(9)的下表面固定连接有压头(10),所述工作台(2)的上表面对称开设有凹槽(11),所述凹槽(11)的两侧外壁均分别开设有形腔(12),所述工作台(2)的前侧外壁开设有通槽(13),所述形腔(12)的内部转动连接有丝杆(14),所述丝杆(14)的外壁螺纹套接有推板(15),所述丝杆(14)的一端固定连接有手轮(16),所述手轮(16)位于通槽(13)的内部,所述丝杆(14)与工作台(2)之间转动连接,所述推板(15)远离手轮(16)的一侧外壁对称固定连接有推杆(17),两个所述推杆(17)远离推板(15)的一端均固定连接有同一个压板(18),所述压板(18)位于凹槽(11)的内部,所述压板(18)与凹槽(11)之间滑动连接。
2.根据权利要求1所述的一种光纤光栅传感器设计用性能测试装置,其特征在于,所述轴承(5)位于工作台(2)的上表面,所述轴承(5)与工作台(2)之间固定连接,所述螺杆(4)与框架(1)之间转动连接。
3.根据权利要求1所述的一种光纤光栅传感器设计用性能测试装置,其特征在于,所述升降板(7)位于框架(1)的内部,所述升降板(7)与框架(1)之间滑动连接。
4.根据权利要求1所述的一种光纤光栅传感器设计用性能测试装置,其特征在于,所述滑杆(8)与框架(1)之间固定连接,所述滑杆(8)与工作台(2)之间固定连接。
5.根据权利要求1所述的一种光纤光栅传感器设计用性能测试装置,其特征在于,所述推板(15)的上表面和下表面均分别滑动套接有滑轨(19),所述滑轨(19)与形腔(12)之间固定连接。
6.根据权利要求1所述的一种光纤光栅传感器设计用性能测试装置,其特征在于,所述丝杆(14)的另一端转动连接有轴承座,所述轴承座位于形腔(12)的内部,所述轴承座与形腔(12)之间固定连接。
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