CN211014504U - 一种低衰耗的高精密电子元器件功能测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种低衰耗的高精密电子元器件功能测试治具，包括底板、器件固定座和齿轮；使用时，将电子元器件安装在器件安装槽内将其固定，在通过转动齿轮上的转动把手，使得齿轮进行转动，进一步的带动上齿条和下齿条进行向底板内侧运动，进而带动左滑动块和右滑动块上的左探测针和右探测针向电子元器件内侧移动，使得左探测针和右探测针上的左探测头和右探测头接触电子元器件，对电子元器件进行检测，使用起来操作方便快捷，尤其适用于小型电子元器件的出厂测试，还可以适用于其他类似元件的测试，结构简单，容易实现，提高测试效率和准确率，具有良好的应用前景。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子技术领域，具体是一种低衰耗的高精密电子元器件功能测试治具。
背景技术
随着现代技术的快速发展，电子元件的需求数量也越来越多。目前，针对小型电子元器件的出厂测试，需要接线测试，接线过程较为繁琐，十分不便，大大影响小型电子元器件的测试效率，还存在接线可靠性不佳，容易发生接触不良，影响测试判断。
因此，本领域技术人员提供了一种低衰耗的高精密电子元器件功能测试治具，以解决上述背景技术中提出的问题。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种低衰耗的高精密电子元器件功能测试治具，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
一种低衰耗的高精密电子元器件功能测试治具，包括底板、器件固定座和齿轮；所述底板正面中间位置设有器件固定座，器件固定座的中间位置设有器件固定槽，器件固定座的左侧设有左探测块，左探测块的中间位置设有左滑动块，左滑动块的内部贯穿设有若干个有序排列的左探测针，器件固定座的右侧设有右探测块，右探测块的中间位置设有右滑动块，且右滑动块的内部设有若干个有序排列的右探测针；
所述器件固定座的上下两端与左探测块和右探测块的连接之间均设有弹簧连接柱，左探测针靠近器件固定槽的一侧端部设有左探测头，右探测针靠近器件固定槽的一侧端部设有右探测头，且底板的上侧端部设有上齿条，底板的下侧端部设有下齿条，上齿条的左侧下端设有左连接杆，左连接杆的下端内侧设有左固定块，且左固定块与左探测针远离左探测头的一侧端部固定连接，下齿条的上侧右端设有右连接杆，右连接杆的上端内侧设有右固定块，且右固定块与右探测针远离右探测头的一侧端部固定连接，底板的背面中间位置所齿轮，且齿轮的中间位置设有转动盘。
作为本实用新型进一步的方案：所述齿轮的上下两端均与上齿条和下齿条啮合设置。
作为本实用新型再进一步的方案：所述左探测针和右探测针与器件固定槽对应设置。
作为本实用新型再进一步的方案：所述转动盘上设有转动把手。
作为本实用新型再进一步的方案：所述左探测针和右探测针分别与左滑动块和右滑动块滑动连接。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
本装置适用于多种电子元器件功能测试场合，使用时，将电子元器件安装在器件安装槽内将其固定，在通过转动齿轮上的转动把手，使得齿轮进行转动，进一步的带动上齿条和下齿条进行向底板内侧运动，进而带动左滑动块和右滑动块上的左探测针和右探测针向电子元器件内侧移动，使得左探测针和右探测针上的左探测头和右探测头接触电子元器件，对电子元器件进行检测，使用起来操作方便快捷，尤其适用于小型电子元器件的出厂测试，还可以适用于其他类似元件的测试，结构简单，容易实现，提高测试效率和准确率，具有良好的应用前景。
附图说明
图1为一种低衰耗的高精密电子元器件功能测试治具的结构示意图。
图2为一种低衰耗的高精密电子元器件功能测试治具背面的结构示意图。
图中：1-底板、2-左探测块、3-左固定块、4-左探测针、5-左滑动块、6-左连接杆、7-上齿条、8-左探测头、9-弹簧连接柱、10-器件固定座、11-齿轮、12-器件固定槽、13-右探测块、14-右探测头、15-右滑动块、16-右探测针、17-右固定块、18-右连接杆、19-下齿条、20-转动盘、21-转动把手。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1～2，本实用新型实施例中，一种低衰耗的高精密电子元器件功能测试治具，包括底板1、器件固定座10和齿轮11；所述底板1正面中间位置设有器件固定座10，器件固定座10的中间位置设有器件固定槽12，器件固定座10的左侧设有左探测块2，左探测块2的中间位置设有左滑动块5，左滑动块5的内部贯穿设有若干个有序排列的左探测针4，器件固定座10的右侧设有右探测块13，右探测块13的中间位置设有右滑动块15，且右滑动块15的内部设有若干个有序排列的右探测针16；
所述器件固定座10的上下两端与左探测块2和右探测块13的连接之间均设有弹簧连接柱9，左探测针4靠近器件固定槽12的一侧端部设有左探测头8，右探测针16靠近器件固定槽12的一侧端部设有右探测头14，且底板1的上侧端部设有上齿条7，底板1的下侧端部设有下齿条19，上齿条7的左侧下端设有左连接杆6，左连接杆6的下端内侧设有左固定块3，且左固定块3与左探测针4远离左探测头8的一侧端部固定连接，下齿条19的上侧右端设有右连接杆18，右连接杆18的上端内侧设有右固定块17，且右固定块17与右探测针16远离右探测头14的一侧端部固定连接，底板1的背面中间位置所齿轮11，且齿轮11的中间位置设有转动盘20。
所述齿轮11的上下两端均与上齿条7和下齿条19啮合设置。
所述左探测针4和右探测针16与器件固定槽12对应设置。
所述转动盘20上设有转动把手21。
所述左探测针4和右探测针16分别与左滑动块5和右滑动块15滑动连接。
本实用新型的工作原理是：
本实用新型涉及一种低衰耗的高精密电子元器件功能测试治具，本装置适用于多种电子元器件功能测试场合，使用时，将电子元器件安装在器件安装槽12内将其固定，在通过转动齿轮11上的转动把手21，使得齿轮21进行转动，进一步的带动上齿条7和下齿条19进行向底板1内侧运动，进而带动左滑动块5和右滑动块15上的左探测针4和右探测针16向电子元器件内侧移动，使得左探测针4和右探测针16上的左探测头8和右探测头14接触电子元器件，对电子元器件进行检测，使用起来操作方便快捷，尤其适用于小型电子元器件的出厂测试，还可以适用于其他类似元件的测试，结构简单，容易实现，提高测试效率和准确率，具有良好的应用前景。
对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
Claims (5)
1.一种低衰耗的高精密电子元器件功能测试治具，包括底板(1)、器件固定座(10)和齿轮(11)；其特征在于，所述底板(1)正面中间位置设有器件固定座(10)，器件固定座(10)的中间位置设有器件固定槽(12)，器件固定座(10)的左侧设有左探测块(2)，左探测块(2)的中间位置设有左滑动块(5)，左滑动块(5)的内部贯穿设有若干个有序排列的左探测针(4)，器件固定座(10)的右侧设有右探测块(13)，右探测块(13)的中间位置设有右滑动块(15)，且右滑动块(15)的内部设有若干个有序排列的右探测针(16)；
所述器件固定座(10)的上下两端与左探测块(2)和右探测块(13)的连接之间均设有弹簧连接柱(9)，左探测针(4)靠近器件固定槽(12)的一侧端部设有左探测头(8)，右探测针(16)靠近器件固定槽(12)的一侧端部设有右探测头(14)，且底板(1)的上侧端部设有上齿条(7)，底板(1)的下侧端部设有下齿条(19)，上齿条(7)的左侧下端设有左连接杆(6)，左连接杆(6)的下端内侧设有左固定块(3)，且左固定块(3)与左探测针(4)远离左探测头(8)的一侧端部固定连接，下齿条(19)的上侧右端设有右连接杆(18)，右连接杆(18)的上端内侧设有右固定块(17)，且右固定块(17)与右探测针(16)远离右探测头(14)的一侧端部固定连接，底板(1)的背面中间位置所齿轮(11)，且齿轮(11)的中间位置设有转动盘(20)。
2.根据权利要求1所述的一种低衰耗的高精密电子元器件功能测试治具，其特征在于，所述齿轮(11)的上下两端均与上齿条(7)和下齿条(19)啮合设置。
3.根据权利要求1所述的一种低衰耗的高精密电子元器件功能测试治具，其特征在于，所述左探测针(4)和右探测针(16)与器件固定槽(12)对应设置。
4.根据权利要求1所述的一种低衰耗的高精密电子元器件功能测试治具，其特征在于，所述转动盘(20)上设有转动把手(21)。
5.根据权利要求1所述的一种低衰耗的高精密电子元器件功能测试治具，其特征在于，所述左探测针(4)和右探测针(16)分别与左滑动块(5)和右滑动块(15)滑动连接。
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