CN210774642U

CN210774642U - 一种键盘按键检测装置

Info

Publication number: CN210774642U
Application number: CN201921611848.2U
Authority: CN
Inventors: 孙丰; 张宝峰; 刘斌; 朱均超; 赵岩
Original assignee: Suzhou Secote Precision Electronic Co Ltd
Current assignee: Suzhou Secote Precision Electronic Co Ltd
Priority date: 2019-09-26
Filing date: 2019-09-26
Publication date: 2020-06-16
Anticipated expiration: 2029-09-26

Abstract

本实用新型公开了一种键盘按键检测装置，包括：砝码测试组件，其包括基板、设置在所述基板顶部的电磁铁、通过所述电磁铁竖直悬挂在所述基板上的砝码、设置在所述基板上且位于所述电磁铁下方用于限定所述砝码下落行程的限位块；驱使所述砝码测试组件靠近或远离待检测按键的驱动组件；其中，所述砝码的顶部设置有一延伸进所述电磁铁内的砝码感应柱。该键盘按键检测装置能够有效的提高按键的检测精度，具有结构简单、使用方便的优点。

Description

一种键盘按键检测装置

技术领域

本实用新型涉及按键检测装置技术领域，尤其涉及键盘按键检测装置。

背景技术

作为主要的输入结构，按键被广泛地应用于计算机键盘、手机以及计算器等电子产品中，在键盘中直接的操作单元是按键，所以按键的品质测试对于键盘而言，是至关重要的环节。在键盘生产过程中，出产前必须对键盘成品进行质量检测。然而，目前业界对于键盘按键的测试，一般采用人工或机器来测试。人工测试方式是以雇用大量劳工逐一按压键盘中每一个按键，采用人工测试方式存在诸多缺点：测试时间较长且效率低；操作人员按压按键时可能出错，需要多次反复测试；以及操作人员容易操作疲劳而出现怠工现象等。现有的机器自动检测装置存在结构复杂、使用不便的缺陷。因此，有必要研究一种键盘按键检测装置。

实用新型内容

针对上述技术中存在的不足之处，本实用新型提供了一种结构简单、使用方便的键盘按键检测装置。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种键盘按键检测装置，包括：砝码测试组件，其包括基板、设置在所述基板顶部的电磁铁、通过所述电磁铁竖直悬挂在所述基板上的砝码、设置在所述基板上且位于所述电磁铁下方用于限定所述砝码下落行程的限位块；驱使所述砝码测试组件靠近或远离待检测按键的驱动组件；其中，所述砝码的顶部设置有一延伸进所述电磁铁内的砝码感应柱。

优选的，所述驱动组件包括一驱使所述砝码测试组件在X轴方向上做直线往复运动的X轴向驱动单元和一驱使所述砝码测试组件在Y轴方向上做直线往复运动的Y轴向驱动单元，其中，所述砝码测试组件通过所述X轴向驱动单元设置在所述Y轴向驱动单元上以实现在X轴向和Y轴向上运动。

优选的，所述X轴向驱动单元包括沿X轴向分布的第一直线滑轨单元、与所述第一直线滑轨单元相配合的第一光学尺和用于承载所述第一直线滑轨单元和所述第一光学尺的第一支撑板。

优选的，所述Y轴向驱动单元包括沿Y轴向分布的第二直线滑轨单元、与所述第二直线滑轨单元相配合的第二光学尺和用于承载所述第二直线滑轨单元和所述第二光学尺的第二支撑板。

优选的，所述砝码测试组件还包括设置在所述基板上、在所述砝码下落或复位时用于导向的导向套，所述导向套位于所述限位块的正下方。

优选的，所述砝码测试组件还包括用于感应所述砝码是否下落的金属感应器。

优选的，所述砝码包括砝码本体、固定设置在所述砝码本体顶端面上且竖直向上延伸的连接杆，其中，所述连接杆上成型有一当所述砝码下落时与所述限位块相卡设的卡肩。

优选的，所述卡肩将所述连接杆分为一细长杆和一形成在所述细长杆顶端面上的短柱，所述金属感应器配置为用于感应所述短柱的位置以实现所述砝码位置的感应。

优选的，所述砝码测试组件还包括一驱使所述基板沿平行于X轴方向做直线往复运动的横向移动单元。

优选的，所述横向移动单元包括设置有直线导轨的安装座、设置在所述安装座上且与所述基板连接的驱动部，其中，所述基板通过滑块设置在所述直线导轨上，所述驱动部驱使所述基板在所述直线导轨上做直线往复运动。

本实用新型与现有技术相比，其有益效果是：本实用新型提供的键盘按键检测装置，其通过电磁铁控制砝码相对于待检测按键的位置，当电磁铁断电时，砝码下落按压待检测的按键，以实现按键的检测，当电磁铁通电时，电磁铁通电后能够将砝码吸回复位，具有结构简单、使用方便的优点；

驱动组件中的直线滑轨单元与光学尺相配合能够实现X轴向和Y轴向精确定位，能够有效的提高按键的检测精度；

导向套用于砝码的导向，具有运动平稳可靠的优点。

附图说明

图1是本实用新型所述键盘按键检测装置的结构示意图；

图2是本实用新型的驱动组件的结构示意图；

图3是本实用新型的砝码测试组件的砝码处于复位状态下的示意图；

图4是本实用新型的砝码测试组件的砝码处于按压状态下的示意图；

图5是本实用新型的砝码与砝码感应柱之间的位置关系示意图；

图6是本实用新型的砝码与砝码感应柱之间的分解结构示意图；

图7是本实用新型的砝码的结构示意图。

图中：10、基板；20、电磁铁；30、砝码；31、砝码本体；32、连接杆；33、卡肩；40、金属感应器；50、限位块；60、导向套；70、砝码感应柱；80、驱动组件；81、X轴向驱动单元；811、第一直线滑轨单元；812、第一光学尺；813、第一支撑板；82、Y轴向驱动单元；821、第二直线滑轨单元；822、第二光学尺；823、第二支撑板；90、横向移动单元；91、直线导轨；92、驱动部；93、安装座。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步的详细说明，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。

如图1至图7所示，本实用新型提供了一种键盘按键检测装置，包括：砝码测试组件，其包括基板10、设置在所述基板10顶部的电磁铁20、通过所述电磁铁20竖直悬挂在所述基板10上的砝码30、设置在所述基板10上且位于所述电磁铁20下方用于限定所述砝码30下落行程的限位块50；驱使所述砝码测试组件靠近或远离待检测按键的驱动组件80；其中，所述砝码30的顶部设置有一延伸进所述电磁铁20内的砝码感应柱70，当所述电磁铁20断电时，所述砝码30下落按压键盘的按键，以实现按键的检测，检测完成后，所述电磁铁20通电用以将所述砝码30吸回复位，本方案中，所述电磁铁20固定设置在所述基板10的顶部，所述电磁铁20的顶部与测试导线连接。

作为本方案的一实施例，如图2所示，所述驱动组件80包括一驱使所述砝码测试组件在X轴方向上做直线往复运动的X轴向驱动单元81和一驱使所述砝码测试组件在Y轴方向上做直线往复运动的Y轴向驱动单元82，其中，所述砝码测试组件通过所述X轴向驱动单元81设置在所述Y轴向驱动单元82上以实现在X轴向和Y轴向上运动。

作为本方案的一实施例，如图2所示，所述X轴向驱动单元81包括沿X轴向分布的第一直线滑轨单元811、与所述第一直线滑轨单元811相配合的第一光学尺812和用于承载所述第一直线滑轨单元811和所述第一光学尺812的第一支撑板813，本方案中，所述第一直线滑轨单元811上设置有一连接座，所述砝码测试组件通过所述连接座设置在所述第一直线滑轨单元811上且在所述第一直线滑轨单元811的驱动下在X轴方向上做直线往复运动，所述第一支撑板813上还设置有位于所述第一直线滑轨单元811两端部处的第一限位传感器，采用所述第一直线滑轨单元811与所述第一光学尺812相配合的形式有效的提高了按键的检测精度。

作为本方案的一实施例，如图2所示，所述Y轴向驱动单元82包括沿Y轴向分布的第二直线滑轨单元821、与所述第二直线滑轨单元821相配合的第二光学尺822和用于承载所述第二直线滑轨单元821和所述第二光学尺822的第二支撑板823，本方案中，所述第二支撑板823设置有一对，每一所述第二支撑板823上均设置有所述第二直线滑轨单元821，所述第二光学尺822设置在一侧所述第二支撑板823上，所述第二支撑板823上还设置有位于所述第二直线滑轨单元821两端部处的第二限位传感器，所述第一支撑板813安装在所述第二直线滑轨单元821上且在所述第二直线滑轨单元821的驱动下在Y轴方向上做直线往复运动，采用所述第二直线滑轨单元821与所述第二光学尺822相配合的形式有效的提高了按键的检测精度。

作为本方案的一实施例，如图3和图4所示，所述砝码测试组件还包括设置在所述基板10上、在所述砝码30下落或复位时用于导向的导向套60，所述导向套60位于所述限位块50的正下方。

作为本方案的一实施例，如图3和图4所示，所述砝码测试组件还包括用于感应所述砝码30是否下落的金属感应器40，本方案中，所述电磁铁20、所述砝码30、所述限位块50和所述金属感应器40构成一砝码单元，所述基板10上可并排设置有多个所述砝码单元。

作为本方案的一实施例，如图7所示，所述砝码30包括砝码本体31、固定设置在所述砝码本体31顶端面上且竖直向上延伸的连接杆32，其中，所述连接杆32上成型有一当所述砝码30下落时与所述限位块50相卡设的卡肩33，所述导向套60上成型有一供所述连接杆32竖直穿设的通孔，如图3和图4所示，所述限位块50呈“L”型，具体的，所述限位块50包括一紧固在所述基板10上的竖直板、固定设置在所述竖直板底部的水平板，当所述砝码30下落时，所述卡肩33与所述水平板相抵靠。

作为本方案的一实施例，如图7所示，所述卡肩33将所述连接杆32分为一细长杆和一形成在所述细长杆顶端面上的短柱，所述金属感应器40配置为用于感应所述短柱的位置以实现所述砝码30位置的感应。

作为本方案的一实施例，如图3和图4所示，所述砝码测试组件还包括一驱使所述基板10沿平行于X轴方向做直线往复运动的横向移动单元90。

作为本方案的一实施例，如图3所示，所述横向移动单元90包括设置有直线导轨91的安装座93、设置在所述安装座93上且与所述基板10连接的驱动部92，其中，所述基板10通过滑块设置在所述直线导轨91上，所述驱动部92驱使所述基板10在所述直线导轨91上做直线往复运动，所述安装座93紧固在所述连接座上，本方案中，只要能够驱使所述基板10在所述直线导轨91上做直线往复运动的动力源均可以作为所述驱动部92，优选的，所述驱动部92采用混合式丝杆步进电机。

尽管本实用新型的实施方案已公开如上，但其并不仅限于说明书和实施方式中所列运用，它完全可以被适用于各种适合本实用新型的领域，对于熟悉本领域的人员而言，可容易地实现另外的修改，因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念下，本实用新型并不限于特定的细节和这里示出与描述的图例。

Claims

1.一种键盘按键检测装置，其特征在于，包括：

砝码测试组件，其包括基板（10）、设置在所述基板（10）顶部的电磁铁（20）、通过所述电磁铁（20）竖直悬挂在所述基板（10）上的砝码（30）、设置在所述基板（10）上且位于所述电磁铁（20）下方用于限定所述砝码（30）下落行程的限位块（50）；

驱使所述砝码测试组件靠近或远离待检测按键的驱动组件（80）；

其中，所述砝码（30）的顶部设置有一延伸进所述电磁铁（20）内的砝码感应柱（70）。

2.如权利要求1所述的键盘按键检测装置，其特征在于，所述驱动组件（80）包括一驱使所述砝码测试组件在X轴方向上做直线往复运动的X轴向驱动单元（81）和一驱使所述砝码测试组件在Y轴方向上做直线往复运动的Y轴向驱动单元（82），其中，所述砝码测试组件通过所述X轴向驱动单元（81）设置在所述Y轴向驱动单元（82）上以实现在X轴向和Y轴向上运动。

3.如权利要求2所述的键盘按键检测装置，其特征在于，所述X轴向驱动单元（81）包括沿X轴向分布的第一直线滑轨单元（811）、与所述第一直线滑轨单元相配合的第一光学尺（812）和用于承载所述第一直线滑轨单元（811）和所述第一光学尺（812）的第一支撑板（813）。

4.如权利要求2所述的键盘按键检测装置，其特征在于，所述Y轴向驱动单元（82）包括沿Y轴向分布的第二直线滑轨单元（821）、与所述第二直线滑轨单元（821）相配合的第二光学尺（822）和用于承载所述第二直线滑轨单元（821）和所述第二光学尺（822）的第二支撑板（823）。

5.如权利要求1所述的键盘按键检测装置，其特征在于，所述砝码测试组件还包括设置在所述基板（10）上、在所述砝码（30）下落或复位时用于导向的导向套（60），所述导向套（60）位于所述限位块（50）的正下方。

6.如权利要求1所述的键盘按键检测装置，其特征在于，所述砝码测试组件还包括用于感应所述砝码（30）是否下落的金属感应器（40）。

7.如权利要求6所述的键盘按键检测装置，其特征在于，所述砝码（30）包括砝码本体（31）、固定设置在所述砝码本体（31）顶端面上且竖直向上延伸的连接杆（32），其中，所述连接杆（32）上成型有一当所述砝码（30）下落时与所述限位块（50）相卡设的卡肩（33）。

8.如权利要求7所述的键盘按键检测装置，其特征在于，所述卡肩（33）将所述连接杆（32）分为一细长杆和一形成在所述细长杆顶端面上的短柱，所述金属感应器（40）配置为用于感应所述短柱的位置以实现所述砝码（30）位置的感应。

9.如权利要求1所述的键盘按键检测装置，其特征在于，所述砝码测试组件还包括一驱使所述基板（10）沿平行于X轴方向做直线往复运动的横向移动单元（90）。

10.如权利要求9所述的键盘按键检测装置，其特征在于，所述横向移动单元（90）包括设置有直线导轨（91）的安装座（93）、设置在所述安装座（93）上且与所述基板（10）连接的驱动部（92），其中，所述基板（10）通过滑块设置在所述直线导轨（91）上，所述驱动部（92）驱使所述基板（10）在所述直线导轨（91）上做直线往复运动。