CN210604882U - 一种集成电路测试数据的筛选装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种集成电路测试数据的筛选装置,包括集成电路测试仪本体,集成电路测试仪本体底部拆线孔位置处固定连接有固定管,且固定管一端直径大于另一端直径,固定管的外部套设有紧固环,固定管的外壁开设有外螺纹,紧固环的内壁开设有内螺纹,紧固环通过内螺纹与固定管的外螺纹螺纹连接,固定管直径较大的端部呈十字型开设有四个条形开口。本实用新型利用固定管的形状特征,再配合紧固环通过内螺纹和固定管上的外螺纹螺纹连接,能够对插入的导线接头起到一个固定作用,从而防止导线接头在集成电路测试仪移动或受到碰撞时而松动,提高了对集成电路测试的准确性。
Description
技术领域
本实用新型涉及数据筛选装置领域,特别涉及一种集成电路测试数据的筛选装置。
背景技术
集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段,同时集成电路测试技术是发展集成电路产业的三大支撑技术之一,目前对于集成电路测试数据的筛选大多都是采用集成电路测试仪来实现。
现有的集成电路测试仪在对集成电路进行数据测试及数据筛选时,需要先使用导线插头将集成电路与集成电路测试仪进行电连接,而现今使用的集成电路测试仪在与导线插头连接时,大多都是直接将导线插头插入集成电路测试仪的插线孔内,这样会使得导线插头与集成电路测试仪连接不稳定,容易在移动集成电路测试仪或受到外界碰撞时造成导线插头与集成电路测试仪之间的连接出现松动,从而影响数据传输的稳定性,降低集成电路测试仪对集成电路的测试的准确性。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种集成电路测试数据的筛选装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种集成电路测试数据的筛选装置,包括集成电路测试仪本体,所述集成电路测试仪本体底部拆线孔位置处固定连接有固定管,且所述固定管一端直径大于另一端直径,所述固定管的外部套设有紧固环,所述固定管的外壁开设有外螺纹,所述紧固环的内壁开设有内螺纹,所述紧固环通过内螺纹与固定管的外螺纹螺纹连接。
优选的,位于所述固定管直径较大的端部呈十字型开设有四个条形开口。
优选的,所述固定管的一端且位于相邻两个条形开口处固定连接有限位块。
优选的,所述紧固环的外壁开设多边倒角,且所述固定管为弹簧钢。
优选的,所述集成电路测试仪本体一侧的底部嵌设有插头接孔,所述插头接孔的边侧固定连接有防护框,所述集成电路测试仪本体一侧的顶部安装有电源开关,所述集成电路测试仪本体顶端的一侧固定安装有电源信号灯。
优选的,所述集成电路测试仪本体底端的边角处均固定连接有支撑块,所述支撑块的底端固定连接有弹性垫板。
本实用新型的技术效果和优点:
1、本实用新型利用固定管的形状特征,再配合紧固环通过内螺纹和固定管上的外螺纹螺纹连接,能够对插入的导线接头起到一个固定作用,从而防止导线接头在集成电路测试仪移动或受到碰撞时而松动,提高了对集成电路测试的准确性;
2、本实用新型利用在固定管端部开设的条形开口能够增大固定管端部位置的形变量,从而进一步提高对固定管内插入的导线接头的固定强度,同时限位块能够对紧固环起到一个限位作用,防止紧固环与固定管脱离。
附图说明
图1为本实用新型整体结构示意图。
图2为本实用新型固定管立体结构示意图。
图中:1、集成电路测试仪本体;2、固定管;3、紧固环;4、外螺纹;5、内螺纹;6、条形开口;7、多边倒角;8、限位块;9、电源开关;10、插头接孔;11、防护框;12、电源信号灯;13、支撑块;14、弹性垫板。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
本实用新型提供了如图1-2所示的一种集成电路测试数据的筛选装置,包括集成电路测试仪本体1,集成电路测试仪本体1底部拆线孔位置处固定连接有固定管2,且固定管2一端直径大于另一端直径,使导线接头从固定管2内穿过与集成电路测试仪本体1上的导线接孔电连接,且固定管2为弹簧钢,位于固定管2直径较大的端部呈十字型开设有四个条形开口6,提高固定宏观2端部的弹性形变程度,便于对不同宽度大小的导线进行固定,固定管2的一端且位于相邻两个条形开口6处固定连接有限位块8,起到一个限位的作用,固定管2的外部套设有紧固环3,对固定管2起到一个挤压变形的作用,使固定管2能够夹紧导线,紧固环3的外壁开设多边倒角7,增多受力面,便于转动紧固环3,固定管2的外壁开设有外螺纹4,紧固环3的内壁开设有内螺纹5,紧固环3通过内螺纹5与固定管2的外螺纹4螺纹连接,利用螺纹连接便于紧固环3挤压固定管2的外壁。
集成电路测试仪本体1一侧的底部嵌设有插头接孔10,便于通过插头与外部电源电性连接,插头接孔10的边侧固定连接有防护框11,对插头接孔10起到一个防护作用,集成电路测试仪本体1一侧的顶部安装有电源开关9,作为集成电路测试仪本体1的电源总开关使用,实现一键开关,集成电路测试仪本体1顶端的一侧固定安装有电源信号灯12,起到一个提醒作用。
集成电路测试仪本体1底端的边角处均固定连接有支撑块13,支撑块13的底端固定连接有弹性垫板14,支撑块13和弹性垫板14的使用提高集成电路测试仪本体1放置的稳定性,弹性垫板14可以为弹性橡胶垫。
本实用工作原理:将外接的电源插头一端插入插头接孔10内,另一端插入电源插座上,然后将集成电路的连接导线的一端插入从固定管2内穿过并插入集成电路测试仪本体1上的插孔内,顺时针转动紧固环3,使紧固环3转动时逐渐向固定管2的端部移动,由于固定管2的两端直径不同,使得紧固环3在移动时,不断的对固定管2的外壁形成挤压作用,使固定管2直径较大的端部随着紧固环3的移动而不断的收拢,从而对固定管2内的导线起到一个压紧固定的作用,提高导线与集成电路测试仪本体1连接的稳定性。
最后应说明的是:以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种集成电路测试数据的筛选装置,包括集成电路测试仪本体(1),其特征在于:所述集成电路测试仪本体(1)底部拆线孔位置处固定连接有固定管(2),且所述固定管(2)一端直径大于另一端直径,所述固定管(2)的外部套设有紧固环(3),所述固定管(2)的外壁开设有外螺纹(4),所述紧固环(3)的内壁开设有内螺纹(5),所述紧固环(3)通过内螺纹(5)与固定管(2)的外螺纹(4)螺纹连接。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试数据的筛选装置,其特征在于:位于所述固定管(2)直径较大的端部呈十字型开设有四个条形开口(6)。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试数据的筛选装置,其特征在于:所述固定管(2)的一端且位于相邻两个条形开口(6)处固定连接有限位块(8)。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试数据的筛选装置,其特征在于:所述紧固环(3)的外壁开设多边倒角(7),且所述固定管(2)为弹簧钢。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试数据的筛选装置,其特征在于:所述集成电路测试仪本体(1)一侧的底部嵌设有插头接孔(10),所述插头接孔(10)的边侧固定连接有防护框(11),所述集成电路测试仪本体(1)一侧的顶部安装有电源开关(9),所述集成电路测试仪本体(1)顶端的一侧固定安装有电源信号灯(12)。
6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试数据的筛选装置,其特征在于:所述集成电路测试仪本体(1)底端的边角处均固定连接有支撑块(13),所述支撑块(13)的底端固定连接有弹性垫板(14)。
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CN113484734B (zh) * | 2021-07-28 | 2024-07-19 | 深圳卓斌电子有限公司 | 一种数字集成电路测试系统 |
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