CN210165878U - 一种斜度检测治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种斜度检测治具，包括用以贴靠于待检测工件的斜面底部的挡块；所述挡块具有垂向设置、用以与待检测工件的斜面以锐角交错布置的止挡面；具有回转体结构、用以水平卡嵌于待检测工件的斜面上方与所述止挡面之间的中间件；设置于所述中间件的上方、用以检测所述中间件的高度的第一量具。该斜度检测治具将待测量工件斜面难以测量的斜度转化为较容易测量的高度，极大地简化了检测斜度所需的工具和斜度检测的操作难度，且无需对工件进行校平；此外，采用该斜度检测治具得到的精度与中间件和斜面的接触部位相关而不受工件表面缺陷的影响，从而提高测量精度。
Description
技术领域
本实用新型涉及治具领域，尤其涉及一种斜度检测治具。
背景技术
现有技术中，大多采用投影机或者其他2.5次元影像测量设备对具有斜面的工件进行斜度检测，投影机或者其他2.5次元影像测量设备能够将工件的斜面进行放大，且放大前需要对工件进行较平以确保利用投影机或者其他2.5次元影像测量设备放大斜面时，工件的斜面与视野的水平面之间的夹角为工件斜面的实际斜度。
采用投影机或者其他2.5次元影像测量设备进行斜度检测的不便在于：一、需要校平工件，从而降低检测速度，尤其不利于批量检测工件斜度；二、工件表面有缺陷时检测误差大；三、使用方法存在一定难度。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种斜度检测治具，可以降低斜度检测的难度，简化斜度检测的步骤，而且具有较高的检测精度。
为实现上述目的，本实用新型提供一种斜度检测治具，包括用以贴靠于待检测工件的斜面底部的挡块；所述挡块具有垂向设置、用以与待检测工件的斜面以锐角交错布置的止挡面；
具有回转体结构、用以水平卡嵌于待检测工件的斜面上方与所述止挡面之间的中间件；
设置于所述中间件的上方、用以检测所述中间件的高度的第一量具。
优选地，所述第一量具具体为千分表；所述千分表具有用以贴合于所述中间件的表面且沿所述中间件的径向移动以测量所述中间件的最高点的测头。
优选地，所述中间件的形状为圆柱形或球形。
优选地，还包括设置所述挡块的一侧、用以实现所述挡块相对于待检测工件固定的锁定部。
优选地，还包括设置于中间件的端部、用以测量所述中间件与待检测工件的接触点的高度的第二量具。
优选地，所述第二量具具体为量尺。
优选地，所述挡块具有水平设置、用以与待检测工件的底面齐平的基准面。
优选地，所述挡块的形状为长方体；所述挡块的底面与待检测工件的底面齐平。
相对于上述背景技术，本实用新型所提供的斜度检测治具包括挡块、中间块和第一量具，挡块用于贴靠在待检测工件的斜面底部，挡块的止挡面垂向设置，能够与待检测工件的斜面以锐角交错分布，中间件水平卡嵌于前述锐角内，第一量具通过检测中间件的高度实现待检测工件斜面的斜度检测。
采用上述斜度检测治具检测待检测工件的斜度时，通过调整挡块与待检测工件的斜面的位置，令挡块的止挡面和斜面的检测位置交叉，再将中间件水平放置在止挡面与斜面的交叉部位，通过第一量具测量中间件的高度。由于第一量具测得的数据与该测量位置距离待测量工件的底面的高度相关联，对第一量具测得的数据加以处理就可以得到该测量位置与待测量工件的底面之间的夹角，简而言之，通过该斜度检测治具将待测量工件斜面难以测量的斜度转化为较容易测量的高度，从而利用任何能够实现长度测量的第一量具即可实现斜度检测。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本实用新型实施例所提供的斜度检测治具的结构示意图；
图2为本实用新型实施例所提供的斜度检测治具的局部示意图；
其中，01-待检测工件、1-挡块、11-止挡面、2-中间件、3-第一量具、31-测头。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
为了使本技术领域的技术人员更好地理解本实用新型方案，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步的详细说明。
请参考图1和图2，图1为本实用新型实施例所提供的斜度检测治具的结构示意图；图2为本实用新型实施例所提供的斜度检测治具的局部示意图。
本实用新型提供一种斜度检测治具，包括用于贴靠在待检测工件01的斜面底部的挡块1，挡块1具有垂向设置的止挡面11，挡块1贴靠与待检测工件01一侧时止挡面11与待检测工件01的斜面呈锐角交错分布；还包括具有回转体结构、用以水平卡嵌在前述止挡面11与待检测工件01的斜面形成的夹角处的中间件2以及设置在中间件2的上方、用于检测中间件2的高度以获取夹角处所对应的斜面的斜度。
中间件2呈回转体结构，当中间件2卡放在待检测工件01的斜面与挡块1的止挡面11之间时，根据中间件2的结构的特性，无论中间件2以何种角度水平摆放，中间件2的最高点距离待测量工件的底面的尺寸即为中间件2的高度，这一数据不随中间件2在斜面与止挡面11交错处的转动而变化，有利于实现快速检测。
请参考图2，本实用新型利用第一量具3测量中间件2的高度以获取待检测工件01斜面的斜度的原理如下：第一量具3的读数等于中间件2与待检测工件01的斜面切点(或切线)处于待检测工件01的底面之间的距离、中间件2的半径的余弦值以及中间件2的半径之和；其中，中间件2与待检测工件01的斜面切点(或切线)处于待检测工件01的底面之间的距离为图中的h1，中间件2的半径的余弦值为图中的h2，中间件2的半径为图中的h3，若将第一量具3的读数视为h，则得到：
h＝h1+h2+h3；
其中，h2＝h3×cosθ；
上式中的θ则为待检测工件01斜面的斜度，因此，将h、h1、h3代入两式即可得到θ。h1和h3的大小方便测量，除了本实用新型所提供的第一量具3以外，还可以采用其他用于测量长度的量具进行测量，尤其是h3在首次测量后就可以反复使用，而本实用新型所提供的斜度检测治具主要用于精确测量h。
需要说明的是，挡块1相对于待检测工件01的位置一定，则止挡面11与斜面的交错部位一定也即中间件2的位置一定，第一量具3测量得到的数据指的是中间件2在这一位置处的高度，因此根据第一量具3换算得到的是这一位置处的斜面的斜度。对于不同加工要求的产品而言，有的仅需要检测斜面某一处的斜度即可作为整个斜面的结果，有的需要检测多处斜度以综合分析整个斜面的斜度，因此，对于需要分析整个斜面的待检测工件01而言，可通过调整挡块1与待检测工件01的位置也即止挡面11与斜面的交错部位来实现斜面的其他部位的斜度检测，综合处理同一斜面的不同位置的多组数据就可以得到整个斜面的斜度。
相比于现有的采用放大倍率来检测斜度的投影机等装置，本实用新型所提供的斜度检测治具将繁琐、精密的斜度检测转化为较为方便的高度检测，从而通过用于检测长度的第一量具3即可检测待检测工件01的斜面的斜度，极大地简化了检测斜度所需的工具和斜度检测的操作难度，无需对工件进行校平；此外，本实用新型检测斜面的斜度时，中间件2与斜面的一处切点(或切线)对应一个斜度值，也就是说该斜度值的精度不受工件表面缺陷的影响。
第一量具3可采用千分表以提高测量中间件2的测量精度，本实用新型实施例所采用的千分表具有用于贴合于中间件2的表面的测头31，测头31沿中间件2的径向移动以便获取中间件2的最高点，从而测得中间件2的高度。
在上述实施例的基础上，中间件2的形状可设置为圆柱形或球型，中间件2的形状为圆柱形时，中间件2沿轴向的任一横截面的轮廓均可实现中间件2的高度测量，也就是说，千分表沿中间件2的轴向移动时各处的测量数据相等，从而进一步简化中间件2的测量步骤。对于一些斜度较大的待检测工件01而言，在斜面与止挡面11之间放置圆柱形的中间件2会产生较大的重力下滑分量而推动挡块1脱离待检测工件01，此时，可令中间件2的形状为球型，从而减轻中间件2的自重。
针对待检测工件01斜面的斜度较大而使挡块1脱离待检测工件01这一问题，本实用新型还提供了一种斜度检测治具，除了挡块1、中间件2和第一量具3以外还包括设置于挡块1的一侧、用以将挡块1固定于待检测工件01一侧的锁定部。锁定部的具体设置方式可采用弹簧、夹具等结构将挡块1挤压于待检测工件01，也可在待检测工件01一侧固定铁片以利用锁定部吸附于待检测工件01的一侧。
针对需要同一斜面需要测量多处斜度的待测量工件，本实用新型还提供了一种斜度检测治具，除了挡块1、中间件2和第一量具3以外还包括设置于中间件2的端部、用以测量中间件2与待检测工件01的接触点也即切点或者切线的高度的第二量具。沿待检测工件01的底面水平移动该斜度检测治具时，斜面与止挡面11的交错位置变化致使中间杆与斜面的切点或者切线移动，第二量具随之中间件2的移动而移动，并自第二量具表面的切点或切线处垂向向下延伸至待检测工件01的底面，从而测量同一斜面的不同位置处的h1。
第二量具用于测量直线距离，因此采用量尺即可。当然，为了提高斜度检测的精度，第二量具优选采用精度接近第一量具3的精度以减少斜度计算过程中的累计误差。
在上述任一实施例的基础上，挡块1具有水平设置、用以与待检测工件01的底面齐平的基准面。调整挡块1的止挡面11与待检测工件01的斜面的相对位置时，令基准面始终平行于待检测工件01的底面滑动。
基准面可设置在挡块1的底面，也可设置在挡块1的其他位置，只要令基准面垂直于止挡面11且平行于待检测工件01的底面即可。以前者为例，挡块1可设置为长方体，将挡块1贴合在待检测工件01的一侧时，令挡块1的底面与待检测工件01的底面齐平。
以上对本实用新型所提供的斜度检测治具进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以对本实用新型进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本实用新型权利要求的保护范围内。
Claims (8)
1.一种斜度检测治具，其特征在于，包括：
用以贴靠于待检测工件(01)的斜面底部的挡块(1)；所述挡块(1)具有垂向设置、用以与待检测工件(01)的斜面以锐角交错布置的止挡面(11)；
具有回转体结构、用以水平卡嵌于待检测工件(01)的斜面上方与所述止挡面(11)之间的中间件(2)；
设置于所述中间件(2)的上方、用以检测所述中间件(2)的高度的第一量具(3)。
2.根据权利要求1所述的斜度检测治具，其特征在于，所述第一量具(3)具体为千分表；所述千分表具有用以贴合于所述中间件(2)的表面且沿所述中间件(2)的径向移动以测量所述中间件(2)的最高点的测头(31)。
3.根据权利要求2所述的斜度检测治具，其特征在于，所述中间件(2)的形状为圆柱形或球形。
4.根据权利要求1所述的斜度检测治具，其特征在于，还包括设置所述挡块(1)的一侧、用以实现所述挡块(1)相对于待检测工件(01)固定的锁定部。
5.根据权利要求1所述的斜度检测治具，其特征在于，还包括设置于中间件(2)的端部、用以测量所述中间件(2)与待检测工件(01)的接触点的高度的第二量具。
6.根据权利要求5所述的斜度检测治具，其特征在于，所述第二量具具体为量尺。
7.根据权利要求1至6任一项所述的斜度检测治具，其特征在于，所述挡块(1)具有水平设置、用以与待检测工件(01)的底面齐平的基准面。
8.根据权利要求7所述的斜度检测治具，其特征在于，所述挡块(1)的形状为长方体；所述挡块(1)的底面与待检测工件(01)的底面齐平。
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112361925A (zh) * | 2020-11-05 | 2021-02-12 | 陈延美 | 大型锥形环锻件测量装置及测量方法 |
| CN115790337A (zh) * | 2022-11-30 | 2023-03-14 | 歌尔股份有限公司 | 一种角度测量装置及其测量方法 |
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Legal Events
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| GR01 | Patent grant | ||
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