CN210036604U - 用于检测双目望远系统高度差的装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种用于检测双目望远系统高度差的装置,包括上位机、数码前置镜组件、高度差限位支架、目标发生器;被测产品包括一个物镜和两个目镜;目标发生器、被测产品和数码前置镜组件按光路依次布设在光学平台上;目标发生器与被测产品的物镜相对,且目标发生器的中心与被测产品物镜中心在同一轴线上;所述数码前置镜组件包括两个前置镜,分别与被测产品的两个目镜相对;被测产品的两个目镜中心分别与数码前置镜组件的两个前置镜中心位于各自轴线上;数码前置镜组件连接上位机;高度差限位支架包括两个圆弧形卡接部,分别卡在被测产品左、右目镜的视度调节处;高度差限位支架的两个卡接部的厚度相同。本实用新型结构简单,精度高。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种光学检测装置,尤其是一种用于检测双目望远系统高度差的装置。
背景技术
目前,对于光学仪器的高度差检测大都采用传统的检测方法,根据GBT18312-2015望远系统的高度差检测方法:将望远镜左、右目镜视度归零,物镜向下垂直放置于尺寸不小于300mm×300mm,平面度不低于0.1mm的工作平台上,用卡尺分别量取左、右目镜相对于平台的高度值,从而计算出左、右两目高度差值。
通过这种测量方法可以完成高度差的检测,但会产生多种误差,影响检测精度,如:平面基准误差、测量左右目视度的视度筒误差、测量左、右目镜相对平台高度的卡尺误差和被测产品左右目的空回误差等。
发明内容
针对现有技术中存在的不足,本实用新型提供一种用于检测双目望远系统高度差的装置,通过使用高度差限位支架,减少人工操作误差,使检测过程更简单、准确性更高。本实用新型采用的技术方案是:
一种用于检测双目望远系统高度差的装置,包括上位机、数码前置镜组件、高度差限位支架、目标发生器;
被测产品包括一个物镜和两个目镜;
目标发生器、被测产品和数码前置镜组件按光路依次布设在光学平台上;
目标发生器与被测产品的物镜相对,且目标发生器的中心与被测产品物镜中心在同一轴线上;所述数码前置镜组件包括两个前置镜,分别与被测产品的两个目镜相对;
被测产品的两个目镜中心分别与数码前置镜组件的两个前置镜中心位于各自轴线上;
数码前置镜组件连接上位机;上位机通过数码前置镜组件进行图像采集;
高度差限位支架包括两个圆弧形卡接部,分别卡在被测产品左、右目镜的视度调节处;高度差限位支架的两个卡接部的厚度相同。
进一步地,目标发生器包括背光源和分划板,用于产生分划板图像。
进一步地,高度差限位支架的整体厚度相同。
进一步地,高度差限位支架的厚度为4mm~5mm。
进一步地,高度差限位支架的两个卡接部厚度为4mm~5mm。
本实用新型的优点:结构简单,加工方便;操作简单、便携性高;避免了空回误差、测量精度高,可用于双目望远系统产品的高度差精确检测。
附图说明
图1为本实用新型的结构组成示意图。
图2为本实用新型的高度差限位支架示意图。
具体实施方式
下面结合具体附图和实施例对本实用新型作进一步说明。
如图1所示,一种用于检测双目望远系统高度差的装置,包括上位机1、数码前置镜组件2、高度差限位支架4、目标发生器5;
被测产品3为一种双目望远系统,其包括一个物镜和两个目镜;
目标发生器5、被测产品3和数码前置镜组件2按光路依次布设在光学平台上;
目标发生器5与被测产品3的物镜相对,且目标发生器5的中心与被测产品3物镜中心在同一轴线上;目标发生器5包括背光源和分划板,可产生分划板图像;
所述数码前置镜组件2包括两个前置镜,分别与被测产品3的两个目镜相对;被测产品3的两个目镜中心分别与数码前置镜组件2的两个前置镜中心位于各自轴线上;
数码前置镜组件2连接上位机1;上位机1可以通过数码前置镜组件2进行图像采集;
高度差限位支架4包括两个圆弧形卡接部401、402,分别卡在被测产品2左、右目镜的视度调节处;高度差限位支架4的整体具有相同的厚度,或者至少其两个卡接部的厚度相同;厚度可以为4mm~5mm;
高度差限位支架4能够使得被测产品2左、右目镜各自的视度调节环分别调至距各自一个极限位置固定距离(例如5mm)的位置;
检测时,将上述数码前置镜组件2、被测产品3、高度差限位支架4、目标发生器5安装完毕,打开目标发生器5和上位机1;
调节被测产品左、右目镜各自的视度调节环,直到均被高度差限位支架4阻挡不能继续调节为止;
上位机测量被测产品左右目的视度,并可得到被测产品左右目的视度差;用于测量被测产品视度的上位机是现有的,特此说明。
然后根据即可计算出左右两目的高度差;f'为被测产品的目镜焦距,被测产品的左右目镜焦距相同;D为被测产品左右目的视度差,上位机可显示并输出结果。
最后所应说明的是,以上具体实施方式仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制,尽管参照实例对本实用新型进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本实用新型技术方案的精神和范围,其均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。
Claims (5)
1.一种用于检测双目望远系统高度差的装置,其特征在于,包括上位机(1)、数码前置镜组件(2)、高度差限位支架(4)、目标发生器(5);
被测产品(3)包括一个物镜和两个目镜;
目标发生器(5)、被测产品(3)和数码前置镜组件(2)按光路依次布设在光学平台上;
目标发生器(5)与被测产品(3)的物镜相对,且目标发生器(5)的中心与被测产品(3)物镜中心在同一轴线上;所述数码前置镜组件(2)包括两个前置镜,分别与被测产品(3)的两个目镜相对;
被测产品(3)的两个目镜中心分别与数码前置镜组件(2)的两个前置镜中心位于各自轴线上;
数码前置镜组件(2)连接上位机(1);上位机(1)通过数码前置镜组件(2)进行图像采集;
高度差限位支架(4)包括两个圆弧形卡接部(401、402),分别卡在被测产品(3)左、右目镜的视度调节处;高度差限位支架(4)的两个卡接部的厚度相同。
2.如权利要求1所述的用于检测双目望远系统高度差的装置,其特征在于,
目标发生器(5)包括背光源和分划板,用于产生分划板图像。
3.如权利要求1所述的用于检测双目望远系统高度差的装置,其特征在于,
高度差限位支架(4)的整体厚度相同。
4.如权利要求3所述的用于检测双目望远系统高度差的装置,其特征在于,
高度差限位支架(4)的厚度为4mm~5mm。
5.如权利要求1所述的用于检测双目望远系统高度差的装置,其特征在于,
高度差限位支架(4)的两个卡接部厚度为4mm~5mm。
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