CN209858171U - 一种阵列式发光元件质量检测系统 - Google Patents

一种阵列式发光元件质量检测系统 Download PDF

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Abstract

本实用新型旨在提供一种阵列式发光元件质量检测系统,可实现对阵列式发光元件进行点亮并自动计算合格光源数量,发光点尺寸及坏点数量,同时将坏点位置能在测试界面上显示出来。本实用新型包括底板、工控机、旋转机构、载具、光学处理仪器及点亮装置,所述工控机藏于所述底板的底部,所述载具可对称固定放置在所述旋转机构的两端,所述光学处理仪器设置在所述旋转机构的上方,所述点亮装置配合设置在所述光学处理仪器的下方,所述旋转机构、所述载具、所述光学处理仪器及所述点亮装置均与所述工控机电信号连接。本实用新型应用于光学元件测试的技术领域。

Description

一种阵列式发光元件质量检测系统
技术领域
本实用新型涉及一种光学元件测试领域,特别涉及一种阵列式发光元件质量检测系统。
背景技术
随着发光元件应用场合的不断扩大,对其需求量日益增多,以至于对其质量测试需求不断增加,目前国内较多的是对于单个发光元件的检测,并且一般为手动或半自动测试,无法满足大批量的发光元件测试,而且对于用众多芯片排布成的阵列式元件发光没有统一性,发光角度不大,因此是无法进行测试的,其缺陷包括以下几点:1、目前对光源检测的设备主要为单次单个元件进行检测,无法同时对多光源进行检测,并自动计算出符合要求的光源数量及坏点位置;2、利用检测通过发光元件的电流大小在不在预定范围内来判断多个光源中是否有发光元件损坏是目前较多的检测方式,但此种方式检测结果不够直观,同时可扩展性较小;3、现有发光元件测试设备具有结构复杂,自动化程度较低,不适用于大批量的光学元件测试的缺点。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供了一种阵列式发光元件质量检测系统,可实现对阵列式发光元件进行点亮并自动计算合格光源数量,发光点尺寸及坏点数量,同时将坏点位置能在测试界面上显示出来。
本实用新型所采用的技术方案是:本实用新型包括底板、工控机、旋转机构、载具、光学处理仪器及点亮装置,所述工控机藏于所述底板的底部,所述载具可对称固定放置在所述旋转机构的两端,所述光学处理仪器设置在所述旋转机构的上方,所述点亮装置配合设置在所述光学处理仪器的下方,所述旋转机构、所述载具、所述光学处理仪器及所述点亮装置均与所述工控机电信号连接。
由上述方案可见,待测元件放置在所述载具上,由所述旋转机构实现将所述载具旋转至所述光学处理仪器的下方,所述点亮装置上升与所述载具上的待测元件相接触并点亮待测元件,由所述光学处理仪器所记录拍摄,最终将相关数据传输到所述工控机上,所以,本实用新型可通过点亮待测元件并自动计算合格光源数量,发光点尺寸及坏点数量,同时将坏点位置能在测试界面上显示出来,其检测效率高且检测效果好。
一个优选方案是,所述工控机通过驱动板与所述点亮装置电信号连接,所述工控机通过TEC驱动板与所述载具电信号连接,所述工控机通过源表与所述光学处理仪器电信号连接。
一个优选方案是,所述旋转机构包括旋转动力组件及与所述旋转动力组件传动连接的承载板,所述承载板的两端均设有凹槽和定位机构,所述定位机构和所述凹槽均与所述载具相配合设置。
由上述方案可见,所述旋转机构具有两个工位,即两端设置的凹槽,用于放置所述载具;所述定位机构具有所述载具放置后的定位功能及旋转到位定位功能;当放置完第一个所述载具并将其旋转到位后,此时在另一个工位可放置一个新的所述载具,可实现待测元件的快速交替,保证测试连续性,提高测试效率;同时,先将待测元件放置于所述载具上,再将其放置在所述旋转机构上,对成像区域来说有双重的定位保证,确保批量测试产品的一致性。
一个优选方案是,所述旋转动力组件采用气缸、步进电机或伺服电机中的一种或多种组合。
一个优选方案是,所述载具上设有放置槽及配合设置在所述放置槽上的定位组件。
由上述方案可见,待测元件放在所述放置槽上,所述定位组件可保证每次放置的待测元件位置准确性。
一个优选方案是,所述光学处理仪器包括工业相机及依次设置在所述工业相机下方的镜筒透镜、中性滤光片和物镜。
由上述方案可见,所述中性滤光片可以起到过滤、减弱光线的作用,因此对不同光源进行检测时可以防止过于曝光,实现更好的视觉成像效果;同时物镜的放大倍率为7倍,可以满足不同大小尺寸的阵列发光元件,保证成像质量,并且在测试界面更便于观察。
一个优选方案是,所述点亮装置包括点亮气缸及与所述点亮气缸传动连接的探针。
由上述方案可见,所述点亮气缸驱动所述探针上移,所述探针与待测元件接触,实现对待测元件进行点亮操作。
附图说明
图1是本实用新型的立体结构示意图;
图2是本实用新型的原理框图;
图3是本实用新型的测试结果示意图。
具体实施方式
如图1至图3所示,在本实施例中,本实用新型包括底板1、工控机6、旋转机构2、载具3、光学处理仪器4及点亮装置5,所述工控机6藏于所述底板1的底部,所述载具3可对称固定放置在所述旋转机构2的两端,所述光学处理仪器4设置在所述旋转机构2的上方,所述点亮装置5配合设置在所述光学处理仪器4的下方,所述旋转机构2、所述载具3、所述光学处理仪器4及所述点亮装置5均与所述工控机6电信号连接,此设计中,所述旋转机构2将其一载具3旋转至所述光学处理仪器4的下方时,工作人员可将另一载具3在所述旋转机构2上,并且所述旋转机构2始终将载具3旋转至同一位置上。
所述工控机6通过驱动板7与所述点亮装置5电信号连接,所述工控机6通过TEC驱动板8与所述载具3电信号连接,所述工控机6通过源表9与所述光学处理仪器4电信号连接。
所述旋转机构2包括旋转动力组件及与所述旋转动力组件传动连接的承载板10,所述承载板10的两端均设有凹槽11和定位机构,所述定位机构和所述凹槽11均与所述载具3相配合设置,所述承载板10与所述源表9电信号连接。
所述旋转动力组件采用气缸、步进电机或伺服电机中的一种或多种组合。
所述载具3上设有放置槽及配合设置在所述放置槽上的定位组件。
所述光学处理仪器4包括工业相机及依次设置在所述工业相机下方的镜筒透镜、中性滤光片和物镜。
所述点亮装置5包括点亮气缸12及与所述点亮气缸12传动连接的探针。
本实用新型的工作原理:当待测元件13置随着所述载具3旋转至光学测试区域且所述点亮装置5上的探针与待测元件13接触时,所述工控机6输出信号至驱动板7,所述驱动板7供给所述探针电压,此时形成回路,将待测元件13点亮,所述工控机6输出信号至TEC驱动板8,对待测元件13进行温度控制保护,避免损坏,所述工控机6输出信号至源表9,触发工业相机对待测元件13进行拍照,所述工业相机通过镜筒透镜和物镜对待测元件13显微成像,放大倍率为7倍,所述工业相机采集待测元件13图像,并传输至所述工控机6,由软件对图像进行处理,其软件对图像进行处理过程为:在采集的图像中选取待测试区域,通过阈值分割获取一个确定阈值,将背景与待测图像区分开,人工设定待测图像灰度阈值,对于灰度小于该灰度阈值的单个发光元件,则判断其为坏点14,通过统计符合灰度阈值的区域便可自动计算出符合要求的发光元件数量,统计单个发光元件区域包含的像素数量便可自动获得单个发光点尺寸,以起始阵列点为原点,根据各发光点的相对位置可获得每一个发光点的坐标,从而得出产品发光阵列位置,同时便可获取坏点14位置,并将结果在测试界面显示出来,如图3所示,坏点14非常直观、清晰。
本实用新型应用于光学元件测试的技术领域。
对于本领域技术人员而言,显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节,而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下,能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此,无论从哪一点来看,均应将实施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定,因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
此外,应当理解,虽然本说明书按照实施方式加以描述,但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案,说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见,本领域技术人员应当将说明书作为一个整体,各实施例中的技术方案也可以经适当组合,形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (7)

1.一种阵列式发光元件质量检测系统,其特征在于:它包括底板(1)、工控机(6)、旋转机构(2)、载具(3)、光学处理仪器(4)及点亮装置(5),所述工控机(6)藏于所述底板(1)的底部,所述载具(3)可对称固定放置在所述旋转机构(2)的两端,所述光学处理仪器(4)设置在所述旋转机构(2)的上方,所述点亮装置(5)配合设置在所述光学处理仪器(4)的下方,所述旋转机构(2)、所述载具(3)、所述光学处理仪器(4)及所述点亮装置(5)均与所述工控机(6)电信号连接。
2.根据权利要求1所述的一种阵列式发光元件质量检测系统,其特征在于:所述工控机(6)通过驱动板(7)与所述点亮装置(5)电信号连接,所述工控机(6)通过TEC驱动板(8)与所述载具(3)电信号连接,所述工控机(6)通过源表(9)与所述光学处理仪器(4)电信号连接。
3.根据权利要求1所述的一种阵列式发光元件质量检测系统,其特征在于:所述旋转机构(2)包括旋转动力组件及与所述旋转动力组件传动连接的承载板(10),所述承载板(10)的两端均设有凹槽(11)和定位机构,所述定位机构和所述凹槽(11)均与所述载具(3)相配合设置。
4.根据权利要求3所述的一种阵列式发光元件质量检测系统,其特征在于:所述旋转动力组件采用气缸、步进电机或伺服电机中的一种或多种组合。
5.根据权利要求1所述的一种阵列式发光元件质量检测系统,其特征在于:所述载具(3)上设有放置槽及配合设置在所述放置槽上的定位组件。
6.根据权利要求1所述的一种阵列式发光元件质量检测系统,其特征在于:所述光学处理仪器(4)包括工业相机及依次设置在所述工业相机下方的镜筒透镜、中性滤光片和物镜。
7.根据权利要求1所述的一种阵列式发光元件质量检测系统,其特征在于:所述点亮装置(5)包括点亮气缸(12)及与所述点亮气缸(12)传动连接的探针。
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