CN209672994U - 轴瓦定位唇检具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了轴瓦定位唇检具，包括底座，所述底座的一侧设有检测台，检测台上设有第一基准平面、第一通孔、凹槽和第一测量千分表，所述第一测量千分表的套筒穿过第一通孔并通过第一紧固螺钉固定在检测台上；底座上滑动设有可调板，所述可调板的滑动方向与第一基准平面平行，可调板上设有第二基准平面、第二通孔和第二测量千分表，第二测量千分表的测量头伸出第二通孔并位于第二基准平面外侧。本实用新型操作简便，实现了轴瓦定位唇检测的目视化，既能保证检测的准确性，又大幅提高了检验效率，满足了生产节拍的检测需求。
Description
技术领域
本实用新型涉及轴瓦制造技术领域，尤其涉及轴瓦定位唇检具。
背景技术
为了防止轴瓦在轴承座内移动，把轴瓦一端或两端做成凸缘进行轴向定位，即定位唇。定位唇相对轴瓦侧面的距离、对外尺寸（即定位唇伸出轴瓦的长度）是轴瓦产品的重要装配尺寸，现有技术中通常使用游标卡尺、深度尺检验，不但容易出现读数误差，而且检验效率低，不能满足4秒/片生产节拍的检测需求。
实用新型内容
为解决上述现有的技术问题，本实用新型提供了轴瓦定位唇检具。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：1.轴瓦定位唇检具，包括底座，所述底座的一侧设有检测台，检测台上设有第一基准平面、第一通孔、凹槽和第一测量千分表，所述第一通孔的轴向与第一基准平面垂直，凹槽的槽口设于第一基准平面上且凹槽的槽底与第一通孔连通，所述第一测量千分表的套筒穿过第一通孔并通过第一紧固螺钉固定在检测台上，第一测量千分表的测量头依次伸出第一通孔和凹槽并位于第一基准平面外侧；底座上滑动设有可调板，所述可调板的滑动方向与第一基准平面平行，可调板上设有第二基准平面、第二通孔和第二测量千分表，所述第二基准平面与第一基准平面垂直，所述第二通孔的轴向与第二基准平面垂直，所述第二测量千分表的套筒穿过第二通孔并通过第二紧固螺钉固定在可调板上，第二测量千分表的测量头伸出第二通孔并位于第二基准平面外侧。
优选地，所述底座上设有长度方向与第一基准平面平行的第一滑槽，所述可调板上设有与第一滑槽相匹配且滑动设于第一滑槽内的第一滑块。
优选地，所述第一滑槽截面为T型。
优选地，所述第一基准平面上设有第二滑槽和第三滑槽，所述第二滑槽和第三滑槽均为弧形槽，可调板靠近第一基准平面的一侧设有第二滑块和第三滑块，所述第二滑块与第二滑槽相匹配且滑动设于第二滑槽内，所述第三滑块与第三滑槽相匹配且滑动设于第三滑槽内。
优选地，可调板上设有用于定位的定位孔，定位孔内设有定位螺钉。
优选地，还包括定位块，所述定位块上设有定位台阶，定位块设于第一测量千分表的测量头和第二测量千分表的测量头相对的底座上。
本实用新型的工作原理为：使用前，先滑动可调节板至合适位置并用定位螺钉进行定位。再使用标准轴瓦校对，配置第一测量千分表和第二测量千分表，然后采用相对测量的方法，对待测量轴瓦的定位唇进行检测。具体检测时，将待检测轴瓦放置在底座上，测量定位唇的对外尺寸（即定位唇伸出轴瓦的长度时），将轴瓦设有定位唇的端面与第一基准平面平齐，定位唇的伸出部分放置在凹槽内，定位唇触动第一测量千分表的测量头，观察第一测量千分表的表针在表盘内的转动情况，从而对定位唇的对外尺寸进行检测。测量定位唇相对轴瓦侧面的距离时，将轴瓦的侧面与第一基准平面对齐，定位唇的侧面触动第二测量千分表的测量头，观察第二测量千分表的表针在表盘内的转动情况，从而对定位唇相对轴瓦侧面的距离进行检测。
本实用新型操作简便，实现了轴瓦定位唇检测的目视化，既能保证检测的准确性，又大幅提高了检验效率，满足了生产节拍的检测需求。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。
图2是本实用新型中底座的俯视图。
图3是图2的A-A向剖视图。
图4是图3中B处放大示意图。
图5是本实用新型中可调板的主视图。
图6是图5的俯视图。
图7是图5中C处放大示意图。
图中：1底座、2检测台、3第一基准平面、4第一通孔、5凹槽、6第一测量千分表、7第一紧固螺钉、8可调板、9第二基准平面、10第二通孔、11第二测量千分表、12第二紧固螺钉、13第一滑槽、14第一滑块、15连接部、16第二滑槽、17第三滑槽、18第二滑块、19第三滑块、20定位螺钉、21定位块、22定位台阶、23放置孔、24定位孔。
具体实施方式
下面结合附图进一步说明本实用新型的实施例。
参见图1-7，轴瓦定位唇检具，包括底座1，所述底座1的一侧设有检测台2。检测台2上设有第一基准平面3、第一通孔4、凹槽5和第一测量千分表6，所述第一通孔4的轴向与第一基准平面3垂直，凹槽5的槽口设于第一基准平面3上且凹槽5的槽底与第一通孔4连通，所述第一测量千分表6的套筒穿过第一通孔4并通过第一紧固螺钉7固定在检测台2上，第一测量千分表6的测量头依次伸出第一通孔4和凹槽5并位于第一基准平面3外侧。底座1上滑动设有可调板8，所述可调板8的滑动方向与第一基准平面3平行，可调板8上设有第二基准平面9、第二通孔10和第二测量千分表11，所述第二基准平面9与第一基准平面3垂直，所述第二通孔10的轴向与第二基准平面9垂直，所述第二测量千分表11的套筒穿过第二通孔10并通过第二紧固螺钉12固定在可调板8上，第二测量千分表11的测量头伸出第二通孔10并位于第二基准平面9外侧。
所述底座1上设有长度方向与第一基准平面3平行的第一滑槽13，所述可调板8上设有与第一滑槽13相匹配且滑动设于第一滑槽13内的第一滑块14。本实施例中，第一滑槽13设于底座1远离检测台2的一侧，可调板8上设有与其垂直的连接部15，第一滑块14设于连接部15上。
所述第一滑槽13截面为T型。
所述第一基准平面3上设有第二滑槽16和第三滑槽17，所述第二滑槽16和第三滑槽17均为弧形槽，可调板8靠近第一基准平面3的一侧设有第二滑块18和第三滑块19，所述第二滑块18与第二滑槽16相匹配且滑动设于第二滑槽16内，所述第三滑块19与第三滑槽17相匹配且滑动设于第三滑槽17内。
可调板8上设有用于定位的定位孔24，定位孔24内设有定位螺钉20。
本实施还包括定位块21，所述定位块21上设有定位台阶22，定位块21设于第一测量千分表6的测量头和第二测量千分表的测量头相对的底座1上。
第一测量千分表6通过第一紧固螺钉7固定在底座1上，第二测量千分表11通过第二紧固螺钉12固定在可调板8上。使用前，先滑动可调板8至合适位置并用定位螺钉20进行定位。再使用标准轴瓦校对，配置第一测量千分表6和第二测量千分表11，然后采用相对测量的方法，对待测量轴瓦的定位唇进行检测，操作简便、实现目视化，既能保证检测的准确性，又大幅提高了检验效率，满足了生产节拍的检测需求。
具体检测时，将待检测轴瓦放置在底座1上，测量定位唇的对外尺寸（即定位唇伸出轴瓦的长度时），将轴瓦设有定位唇的端面与第一基准平面3平齐，定位唇的伸出部分放置在凹槽5内，定位唇触动第一测量千分表6的测量头，观察第一测量千分表6的表针在表盘内的转动情况，从而对定位唇的对外尺寸进行检测。测量定位唇相对轴瓦侧面的距离时，将轴瓦的侧面与第二基准平面9对齐，定位唇的侧面触动第二测量千分表11的测量头，观察第二测量千分表11的表针在表盘内的转动情况，从而对定位唇相对轴瓦侧面的距离进行检测。
本实施例中，凹槽5相对的底座1上设有放置孔23，第一测量千分表6的测量头的最低点低于底座1上表面，最高点高于底座1上表面。定位块21的设置起到支撑轴瓦的作用，使轴瓦的定位唇能够接触到第二测量千分表11的测量头。
Claims (6)
1.轴瓦定位唇检具，包括底座，其特征在于：所述底座的一侧设有检测台，检测台上设有第一基准平面、第一通孔、凹槽和第一测量千分表，所述第一通孔的轴向与第一基准平面垂直，凹槽的槽口设于第一基准平面上且凹槽的槽底与第一通孔连通，所述第一测量千分表的套筒穿过第一通孔并通过第一紧固螺钉固定在检测台上，第一测量千分表的测量头依次伸出第一通孔和凹槽并位于第一基准平面外侧；底座上滑动设有可调板，所述可调板的滑动方向与第一基准平面平行，可调板上设有第二基准平面、第二通孔和第二测量千分表，所述第二基准平面与第一基准平面垂直，所述第二通孔的轴向与第二基准平面垂直，所述第二测量千分表的套筒穿过第二通孔并通过第二紧固螺钉固定在可调板上，第二测量千分表的测量头伸出第二通孔并位于第二基准平面外侧。
2.根据权利要求1所述的轴瓦定位唇检具，其特征在于：所述底座上设有长度方向与第一基准平面平行的第一滑槽，所述可调板上设有与第一滑槽相匹配且滑动设于第一滑槽内的第一滑块。
3.根据权利要求2所述的轴瓦定位唇检具，其特征在于：所述第一滑槽截面为T型。
4.根据权利要求1所述的轴瓦定位唇检具，其特征在于：所述第一基准平面上设有第二滑槽和第三滑槽，所述第二滑槽和第三滑槽均为弧形槽，可调板靠近第一基准平面的一侧设有第二滑块和第三滑块，所述第二滑块与第二滑槽相匹配且滑动设于第二滑槽内，所述第三滑块与第三滑槽相匹配且滑动设于第三滑槽内。
5.根据权利要求1所述的轴瓦定位唇检具，其特征在于：可调板上设有用于定位的定位孔，定位孔内设有定位螺钉。
6.根据权利要求1所述的轴瓦定位唇检具，其特征在于：还包括定位块，所述定位块上设有定位台阶，定位块设于第一测量千分表的测量头和第二测量千分表的测量头相对的底座上。
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|---|---|---|---|---|
| CN111167740A (zh) * | 2020-01-20 | 2020-05-19 | 领伟创新智能系统(浙江)有限公司 | 一种轴瓦多工位尺寸智能检测系统 |
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