CN208751744U - 一种温度传感器ad590快速比对测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种温度传感器AD590快速比对测试装置，包括用于运行程序与处理电路模块信息的处理器，所述处理器连接有基准AD590传感器用于读取运算标准传感器数值，所述处理器连接有被测AD590传感器用于读取被测传感器数值，所述基准AD590传感器与被测AD590传感器连接有精密电压源接受同一电源供电，所述处理器连接有存储器用于存储与回读测试数据，所述处理器连接有LCD显示屏用于实时显示测量数据，所述处理器连接有电源转换基准电压用于校准内部ADC通道的基准，所述处理器通过RS232串口连接有工控机用于输入输出设置与测量结果显示。本实用新型用于AD590传感器的失效分析，高温、常温、低温测试、分析等，测试速度快，操作方便，有效降低了成本。

Description

一种温度传感器AD590快速比对测试装置

技术领域

本实用新型涉及传感器检测领域，具体的说是一种温度传感器AD590快速比对测试装置。

背景技术

AD590是一种高精度电流型传感器，测温范围为-55℃～+150℃。电源电压范围为4V-30V，对电源要求比较低，器件反接也不会损坏；测量精度高，非线性误差为±0.3℃。

目前，航空电子产品中广泛使用此型号传感器，对此型号传感器的使用技术已非常成熟。

目前尚无专门用于高低温环境的测试设备，也无法保存测试结果，参照方法包括：将待校准高精度温度传感器和高精度温度基准元件加热到目标温度；分别对待校准高精度温度传感器和高精度温度基准元件进行读值；根据读值，得出校准数据。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题在于提出了一种温度传感器AD590快速比对测试装置，可以实现在-60～90温度范围内的精准测量，挑选出常温测试的局限性，可以实时显示测量结果与保存，并对结果进行快速比对判定，节约了大量的测试时间，并保证了测量的精准度。

本实用新型所要解决的技术问题采用以下技术方案来实现：

一种温度传感器AD590快速比对测试装置，包括用于运行程序与处理电路模块信息的处理器，所述处理器连接有基准AD590传感器用于读取运算标准传感器数值，所述处理器连接有被测AD590传感器用于读取被测传感器数值，所述基准AD590传感器与被测AD590传感器连接有精密电压源接受同一电源供电，所述处理器连接有存储器用于存储与回读测试数据，所述处理器连接有LCD显示屏用于实时显示测量数据，所述处理器连接有电源转换基准电压用于校准内部ADC通道的基准，所述处理器通过RS232串口连接有工控机用于输入输出设置与测量结果显示。

所述基准AD590传感器与被测AD590传感器的输出电压通过所述处理器的AD转换通道被采集电压值。

对AD转换后的数据滤波，根据内部程序数据库换算为对应的实时温度，通过所述LCD显示屏显示AD转换值与温度值，同时通过所述存储器保存AD转换数据。

所述处理器比对采集的AD转换数据，给定测试结果，通过发光二极管指示比对结果。

所述装置壳体安装一路可延长的基准AD590传感器，通过测试探头连接另一路所述被测AD590传感器。

所述工控机搭载有上位机，通过上位机软件进行串口程控，所述工控机界面实时显示测试结果，并进行参数回读，所述工控机的上位机软件实现配置所述处理器的数据比对方式，包括选择实时环境温度测试和指定环境温度测试。

所述装置使用电池供电，每秒进行10次数据比对，测量温度范围为-60～90℃，测量精度为1℃。

本实用新型的有益效果是：

(1)结构简单，使用单片机和上位机程序协作配合，操作简单；

(2)可以快速完成温度传感器AD590的测量，并判断它的好坏，大大缩短了测量时间；

(3)用于AD590传感器的失效分析，高温、常温、低温测试、分析等；

(4)可实现程控操作，实时保存测试结果，进一步分析传感器特性、参数，在芯片阶段即完成高精度温度传感器的温度测试和校准，有效降低了成本，而且校准速度快。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。

图1为本实用新型的模块连接图。

具体实施方式

为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面对本实用新型进一步阐述。

如图1所示的模块连接图：

一种温度传感器AD590快速比对测试装置，包括用于运行程序与处理电路模块信息的处理器1，所述处理器1连接有基准AD590传感器2用于读取运算标准传感器数值，所述处理器1连接有被测AD590传感器3用于读取被测传感器数值，所述基准AD590传感器2与被测AD590传感器3连接有精密电压源4接受同一电源供电，所述处理器1连接有存储器5用于存储与回读测试数据，所述处理器1连接有LCD显示屏7用于实时显示测量数据，所述处理器1连接有电源转换基准电压6用于校准内部ADC通道的基准，所述处理器1通过RS232串口连接有工控机8用于输入输出设置与测量结果显示。

进一步地，所述基准AD590传感器2与被测AD590传感器3的输出电压通过所述处理器1的AD转换通道被采集电压值。

进一步地，对AD转换后的数据滤波，根据内部程序数据库换算为对应的实时温度，通过所述LCD显示屏显示AD转换值与温度值，同时通过所述存储器5保存AD转换数据。

进一步地，所述处理器1比对采集的AD转换数据，给定测试结果，通过发光二极管指示比对结果。

进一步地，所述装置壳体安装一路可延长的基准AD590传感器2，通过测试探头连接另一路所述被测AD590传感器3。

进一步地，所述工控机8搭载有上位机，通过上位机软件进行串口程控，所述工控机8界面实时显示测试结果，并进行参数回读，所述工控机8的上位机软件实现配置所述处理器1的数据比对方式，包括选择实时环境温度测试和指定环境温度测试。

进一步地，所述装置使用电池供电，每秒进行10次数据比对，测量温度范围为-60～90℃，测量精度为1℃。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (7)

1.一种温度传感器AD590快速比对测试装置，其特征在于：包括用于运行程序与处理电路模块信息的处理器(1)，所述处理器(1)连接有基准AD590传感器(2)用于读取运算标准传感器数值，所述处理器(1)连接有被测AD590传感器(3)用于读取被测传感器数值，所述基准AD590传感器(2)与被测AD590传感器(3)连接有精密电压源(4)接受同一电源供电，所述处理器(1)连接有存储器(5)用于存储与回读测试数据，所述处理器(1)连接有LCD显示屏(7)用于实时显示测量数据，所述处理器(1)连接有电源转换基准电压(6)用于校准内部ADC通道的基准，所述处理器(1)通过RS232串口连接有工控机(8)用于输入输出设置与测量结果显示。

2.根据权利要求1所述的一种温度传感器AD590快速比对测试装置，其特征在于：所述基准AD590传感器(2)与被测AD590传感器(3)的输出电压通过所述处理器(1)的AD转换通道被采集电压值。

3.根据权利要求2所述的一种温度传感器AD590快速比对测试装置，其特征在于：对AD转换后的数据滤波，根据内部程序数据库换算为对应的实时温度，通过所述LCD显示屏显示AD转换值与温度值，同时通过所述存储器(5)保存AD转换数据。

4.根据权利要求3所述的一种温度传感器AD590快速比对测试装置，其特征在于：所述处理器(1)比对采集的AD转换数据，给定测试结果，通过发光二极管指示比对结果。

5.根据权利要求1所述的一种温度传感器AD590快速比对测试装置，其特征在于：所述装置壳体安装一路可延长的基准AD590传感器(2)，通过测试探头连接另一路所述被测AD590传感器(3)。

6.根据权利要求1所述的一种温度传感器AD590快速比对测试装置，其特征在于：所述工控机(8)搭载有上位机，通过上位机软件进行串口程控，所述工控机(8)界面实时显示测试结果，并进行参数回读，所述工控机(8)的上位机软件实现配置所述处理器(1)的数据比对方式，包括选择实时环境温度测试和指定环境温度测试。

7.根据权利要求1所述的一种温度传感器AD590快速比对测试装置，其特征在于：所述装置使用电池供电，每秒进行10次数据比对，测量温度范围为-60～90℃，测量精度为1℃。