CN208383941U - 用于lm3射频智能标签模块测试的屏蔽罩 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩，包括屏蔽单元，所述屏蔽单元包括两块垂直于装载LM3射频智能标签模块的条带顶面的，与所述条带宽度方向平行的横向隔板，两块横向隔板的间距与所述条带轴向上相邻两块LM3射频智能标签模块之间的步距对应，两块所述横向隔板的长度均大于所述条带的宽度；两块所述横向隔板之间设有一块与所述条带的轴向平行的，垂直于所述条带顶面的轴向隔板，使所述屏蔽单元的水平截面形状为H形；所述轴向隔板将所述屏蔽单元分为两个全等的背对背开口的屏蔽槽，每个屏蔽槽对应条带上的一块LM3射频智能标签模块。

Description

用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩

技术领域

本实用新型涉及微电子封装领域的用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩。

背景技术

射频智能标签模块广泛地应用在各行各业。13.56MHz频率的射频智能标签模块一般尺寸都比较大，外形尺寸类似于身份证大小。生产厂家必须要对每一片射频智能标签模块进行测试，以保证每一片射频智能标签模块是合格的产品。测试是一种一一对应的非接触射频测试，由于其面积大，而且大多数都是单排排列，在规模生产中不会有问题。对于这种普通的射频智能标签模块，采用非接触射频测试，不存在任何互相之间的干扰问题。一般不需要采取任何特殊的措施来保证测试的有效性。

装载LM3射频智能标签模块的条带沿用装载M3接触式智能标签模块条带的标准外形尺寸，LM3射频智能标签模块在宽度d0为35毫米的G10玻璃纤维布制成的条带上排列成两排，条带轴向上相邻LM3射频智能标签模块之间的步距为9.5mm,比LM4射频智能标签模块还要缩小30％。每个LM3射频智能标签模块对应条带轴向上的两个齿孔。

普通的M3接触式智能标签模块的接触面上，有六组触点。在常规的智能卡模块测试机上，利用六根接触式导电探针直接欧姆接触M3接触式智能标签模块的接触面上相对应的触点，进行各种读写及参数测试。相邻的M3接触式智能标签模块互相之间独立地进行测试。M3接触式智能标签模块的测试虽然在宽度为35毫米条带上利用接触式导电探针快速进行，相邻M3接触式智能标签模块的测试不会产生任何干扰、互不影响测试的结果。

LM3射频智能标签模块是一种带有13.56MHz射频天线的智能标签模块。相邻LM3射频智能标签模块在条带轴向上的距离b，以及相邻LM3射频智能标签模块在条带宽度方向上的距离c都仅仅只有1～2mm.因此由LM3射频智能标签模块之间相互靠近，而且LM3射频智能标签模块的尺寸仅仅是LM4射频智能标签模块的67％，所以不能用通常的方法对如此高密度排列的LM3射频智能标签模块进行一一对应的测试。

LM3射频智能标签模块没有触点，是一种非接触式的测试。它不能类似M3接触式智能标签模块，利用接触式导电探针直接进行欧姆接触方法进行测试，而是利用13.56MHz频率的射频进行非接触测试。

在非接触射频测试时，由于相邻的LM3射频智能标签模块相互之间会产生射频干扰，不采取良好而有效的射频信号隔离措施，通常无法对LM3射频智能标签模块进行有效的在线射频测试。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了克服现有技术的不足，提供用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩，其能够保证非接触式智能模块测试机上的测试头能完整进入对应的屏蔽槽，测试对应的LM3射频智能标签模块，在对LM3射频智能标签模块进行13.56MHz射频测试时，有效防止相邻LM3射频智能标签模块的干扰，可以对条带上的LM3射频智能标签模块进行可靠的一一对应的有效测试。

实现上述目的的一种技术方案是：用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩，包括屏蔽单元，所述屏蔽单元包括两块垂直于装载LM3射频智能标签模块的条带顶面的，与所述条带宽度方向平行的横向隔板，两块横向隔板的间距与所述条带轴向上相邻两块LM3射频智能标签模块之间的步距对应，两块所述横向隔板的长度均大于所述条带的宽度；

两块所述横向隔板之间设有一块与所述条带的轴向平行的，垂直于所述条带顶面的轴向隔板，使所述屏蔽单元的水平截面形状为H形；

所述轴向隔板将所述屏蔽单元分为两个全等的背对背开口的屏蔽槽，每个屏蔽槽对应条带上的一块LM3射频智能标签模块。

进一步的，所述屏蔽罩是由沿所述条带的轴向依次排列的若干个屏蔽单元组成的。

再进一步的，所述屏蔽单元的数目为八个、十六个或三十二个。

进一步的，所述屏蔽单元是由导电隔磁的金属材料或导电隔磁的非金属材料制成的。

再进一步的，所述屏蔽单元是由铝、铜、不锈钢、导电石墨或碳纤维中的一种制成的。

进一步的，所述屏蔽单元是透明的或非透明的。

进一步的，所述屏蔽单元的壁厚为0.1～0.3mm。

进一步的，所述屏蔽单元的高度大于等于对LM3射频智能标签模块进行测试的测试头的最大发射距离。

采用了本实用新型的用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩的技术方案，包括屏蔽单元，所述屏蔽单元包括两块垂直于装载LM3射频智能标签模块的条带顶面的，与所述条带宽度方向平行的横向隔板，两块横向隔板的间距与所述条带轴向上相邻两块LM3射频智能标签模块之间的步距对应，两块所述横向隔板的长度均大于所述条带的宽度；两块所述横向隔板之间设有一块与所述条带的轴向平行的，垂直于所述条带顶面的轴向隔板，使所述屏蔽单元的水平截面形状为H形；所述轴向隔板将所述屏蔽单元分为两个全等的背对背开口的屏蔽槽，每个屏蔽槽对应条带上的一块LM3射频智能标签模块。其技术效果是：其能够保证非接触式智能模块测试机上的测试头能完整进入对应的屏蔽槽，测试对应的LM3射频智能标签模块，在对LM3射频智能标签模块进行13.56MHz射频测试时，有效防止相邻LM3射频智能标签模块的干扰，可以对条带上的LM3射频智能标签模块进行可靠的一一对应的有效测试。

附图说明

图1为装载LM3射频智能标签模块的条带的示意图。

图2为本实用新型的用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩的实施例1的立体图。

图3为本实用新型的用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩的实施例1的使用示意图。

图4为本实用新型的用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩的实施例2的立体图。

图5为本实用新型的用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩的实施例2使用示意图。

具体实施方式

请参阅图1至图5，本实用新型的发明人为了能更好地对本实用新型的技术方案进行理解，下面通过具体地实施例，并结合附图进行详细地说明：

请参阅图1，LM3射频智能标签模块91在宽度d0为35mm的条带92上排列成两排，在条带92的轴向上，相邻LM3射频智能标签模块91之间的步距a为9.50mm，相邻两个LM3射频智能标签模块91的间距b仅1～2mm。在条带92的宽度方向上，相邻两个LM3射频智能标签模块91之间的间距c仅为1～2mm，即两排LM3射频智能标签模块91之间的间距仅1～2mm。LM3射频智能标签模块91对应条带92轴向上的两个齿孔93。

实施例1

本实施例中的用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩，包括屏蔽单元，屏蔽单元包括两块垂直于装载LM3射频智能标签模块91的条带92顶面的，与条带92宽度方向平行的横向隔板1，两块横向隔板1的间距m与条带92轴向上相邻两块LM3射频智能标签模块91之间的步距a对应。两块横向隔板1的长度n均大于条带92的宽度d0。

两块横向隔板1之间设有一块与条带92的轴向平行的，垂直于条带顶面92的轴向隔板2，使所述屏蔽单元的水平截面形状为H形。

轴向隔板2将所述屏蔽单元分为两个背对背开口的全等的屏蔽槽3，也就是说屏蔽槽3的开口朝向条带92上的齿孔93。每个屏蔽槽3对应条带92上的一块LM3射频智能标签模块91。

本实用新型的用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩，由于对横向隔板1进行了延长，保证横向隔板1的两端均在条带92的宽度方向上伸出条带92，保证非接触式智能卡模块测试机的测试头能够完整进入对应的屏蔽槽3，测试对应的LM3射频智能标签模块，又不受到相邻LM3射频智能标签模块的影响，可以使LM3射频智能标签模块在通常的非接触式智能卡模块测试机上进行测试，避免了在线测试时相邻LM3射频智能标签模块之间的相互干扰，从而连续不断地对LM3射频智能标签模块进行在线测试。

本实用新型的用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩能在进行13.56MHz射频测试时，有效地利用常规的非接触式智能卡模块测试机对LM3射频智能标签模块快速进行高密度的在线一一对应的测试，避免测试过程中相邻LM3射频智能标签模块之间的相互干扰。

由于LM3射频智能标签模块外形尺寸小，且互相之间排列紧密，横向隔板1和轴向隔板2的壁厚l必须控制，具有基本的机械强度即可。横向隔板1和轴向隔板2的壁厚一般为0.1到0.3毫米。

本实用新型的用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩，可由导电隔磁的金属材料或导电隔磁的非金属材料制成,可以是铜，铝、不锈钢等导电隔磁金属材料,也可以是导电石墨或碳纤维等导电隔磁的非金属材料,上述材料非常容易加工。横向隔板1和轴向隔板2既可以是透明的，也可以是非透明的。

本实用新型的用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩，有效地解决了LM3射频智能标签模块的射频测试干扰的问题的同时。采用了由两个开口朝向条带92的齿孔93的屏蔽槽3，且在条带2的宽度方向上对屏蔽槽3进行了加长，即横向隔板1的两端均在条带92的宽度方向上伸出条带92，可以允许非接触式智能卡模块测试机的测试头向条带92的齿孔93方向伸出条带92，防止所述测试头因为尺寸原因而无法完整进入对应的屏蔽槽3，解决了非接触式智能卡模块模块测试机的测试头的安装问题，有效地解决了在狭窄的有限空间里非接触式智能卡模块测试机的测试头和用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩的尺寸的外延配合的问题。

这样设计的原因是因为LM3射频智能标签模块面积小，若不对横向隔板1进行延长，会使非接触式智能卡模块测试机的测试头难以完整进入屏蔽槽3，带来测试头安装和制造的问题。LM3射频智能标签模块91在条带92轴向上的步距a已经限定为9.5mm。本实用新型的用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩的屏蔽槽3可在条带92的宽度方向上外延伸，这样可以很好地使得用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩与非接触式智能卡模块测试机的测试头相配合。

当然，非接触式智能卡模块测试机的测试头也要与用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩相适配。非接触式智能卡模块测试机的测试头应当完整安装在屏蔽槽3内，还必须适配非接触式智能卡模块测试机的测试头发射功率和最大发射距离，最终要使非接触式智能卡模块测试机的测试头完整进入对应的屏蔽槽3，既可以对对应的LM3射频智能标签模块91进行测试，又不会受到相邻的LM3射频智能标签模块91的干扰,做到LM3射频智能标签模块的测试的结果一一相对应。由此可以要求横向隔板1和轴向隔板2的高度h均大于非接触式智能卡模块测试机的测试头的最大发射距离。

实施例2

为了提高生产效率，目前实际生产过程是对八块、十六块、三十二块甚至六十四块LM3射频智能标签模块为一组进行测试的。对应地，用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩可由四个、八个、十六个甚至三十二个屏蔽单元1沿着条带92的轴向依次连接而成，每个屏蔽单元有两个全等的屏蔽槽3，由于横向隔板1均进行了加长，使非接触式智能卡模块测试机上的所有测试头均可完整进入对应的屏蔽槽3，因此非接触式智能卡模块测试机可以同时对八块、十六块、三十二块甚至六十四块LM3射频智能标签模块进行独立的互不干扰的一一对应的射频测试。本实施例的用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩由四个屏蔽单元连接而成的。

本技术领域中的普通技术人员应当认识到，以上的实施例仅是用来说明本实用新型，而并非用作为对本实用新型的限定，只要在本实用新型的实质精神范围内，对以上所述实施例的变化、变型都将落在本实用新型的权利要求书范围内。

Claims (8)

1.用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩，其特征在于：包括屏蔽单元，所述屏蔽单元包括两块垂直于装载LM3射频智能标签模块的条带顶面的，与所述条带宽度方向平行的横向隔板，两块横向隔板的间距与所述条带轴向上相邻两块LM3射频智能标签模块之间的步距对应，两块所述横向隔板的长度均大于所述条带的宽度；

两块所述横向隔板之间设有一块与所述条带的轴向平行的，垂直于所述条带顶面的轴向隔板，使所述屏蔽单元的水平截面形状为H形；

所述轴向隔板将所述屏蔽单元分为两个全等的背对背开口的屏蔽槽，每个屏蔽槽对应条带上的一块LM3射频智能标签模块。

2.根据权利要求1所述的用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩，其特征在于：所述屏蔽罩是由沿所述条带的轴向依次排列的若干个屏蔽单元组成的。

3.根据权利要求2所述的用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩，其特征在于：所述屏蔽单元的数目为八个、十六个或三十二个。

4.根据权利要求1所述的用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩，其特征在于：所述屏蔽单元是由导电隔磁的金属材料或导电隔磁的非金属材料制成的。

5.根据权利要求4所述的用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩，其特征在于：所述屏蔽单元是由铝、铜、不锈钢、导电石墨或碳纤维中的一种制成的。

6.根据权利要求1所述的用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩，其特征在于：所述屏蔽单元是透明的或非透明的。

7.根据权利要求1所述的用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩，其特征在于：所述屏蔽单元的壁厚为0.1～0.3mm。

8.根据权利要求1所述的用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩，其特征在于：所述屏蔽单元的高度大于等于对LM3射频智能标签模块进行测试的测试头的最大发射距离。