CN208314174U - 一种用于电气试验仪器的集成校验装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于电气试验仪器的集成校验装置，包括箱体，箱体内集成有电阻测试仪校验模块、绕组变形测试仪校验模块、介损测量仪校验模块和电容测试仪校验模块，电阻测试仪校验模块、绕组变形测试仪校验模块、介损测量仪校验模块和电容测试仪校验模块的两端分别引出有端子，介损测量仪校验模块外包裹有绝缘层，电阻测试仪校验模块包括微欧级电阻、毫欧级电阻和千欧级电阻，端子分别从微欧级电阻、毫欧级电阻和千欧级电阻两端引出，介损测量仪校验模块由电阻和标准电容相串联而成，电容测试仪校验模块包括电容，介损测量仪校验模块高压端设置有套管；该装置携带方便，能对电阻测试仪、绕组变形测试仪、介损测量仪和电容测试仪进行校验。

Description

一种用于电气试验仪器的集成校验装置

技术领域

本实用新型涉及高压电气试验领域，特别涉及一种用于电气试验仪器的集成校验装置。

背景技术

测试仪器现场使用，常遇到如下问题：

1、测试仪器损坏，无备用仪器，只能返回仓库领取，增加时间成本以及其他成本；2、测试仪器测试数据异常，无法进行核实，无法保障测试数据精度；3、除部分回路电阻测试仪、绕组变形测试仪配有专用校验模块、其他仪器如介损测量仪、电容测试仪器、直流电阻测试仪无相关校验装置。4、校验模块分散，携带困难，无集成多用途的校验装置。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的是提供一种用于电气试验仪器的集成校验装置，集成有多种电气试验仪器的校验模块，便于携带，校验精度可靠。

本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的：

一种用于电气试验仪器的集成校验装置，包括箱体，所述箱体内集成有电阻测试仪校验模块、绕组变形测试仪校验模块、介损测量仪校验模块和电容测试仪校验模块，所述电阻测试仪校验模块、绕组变形测试仪校验模块、介损测量仪校验模块和电容测试仪校验模块的两端分别引出有端子，所述介损测量仪校验模块外包裹有绝缘层，所述电阻测试仪校验模块包括微欧级电阻、毫欧级电阻和千欧级电阻，端子分别从微欧级电阻、毫欧级电阻和千欧级电阻两端引出，所述介损测量仪校验模块由电阻和标准电容相串联而成，所述电容测试仪校验模块包括电容，所述介损测量仪校验模块高压端设置有套管。

进一步，所述电阻测试仪校验模块一体成型，其端子由螺栓压接在箱体上。

进一步，所述电阻测试仪校验模块、绕组变形测试仪校验模块、介损测量仪校验模块、电容测试仪校验模块左右并列设置在箱体内。

进一步，所述绕组变形测试仪校验模块包括端子L1、L2和L3，L1为高压端，L2为低压端，L3为可选择的低压端，端子L1和L2之间依次串联有电阻R1、R2、R3、R4，一电容C1连接在L1和L3之间，一电容C2的一端连接在R1和R2之间，另一端连接L3，一电容C3的一端连接在R2和R3之间，另一端连接L3，一电容C4的一端连接在R3和R4之间，另一端连接L3，一电容C5连接在L2和L3之间。

本实用新型的有益效果是：

本实用新型的一种用于电气试验仪器的集成校验装置，通过在箱体内设置电阻测试仪校验模块、绕组变形测试仪校验模块、介损测量仪校验模块和电容测试仪校验模块，只需携带该装置就能对电阻测试仪、绕组变形测试仪、介损测量仪和电容测试仪进行校验，携带方便，可节约成本，能保证测试精度。

本实用新型的其他优点、目标和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述，并且在某种程度上，基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的，或者可以从本实用新型的实践中得到教导。本实用新型的目标和其他优点可以通过下面的说明书来实现和获得。

附图说明

为了使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型作进一步的详细描述，其中：

图1为本实用新型结构示意图；

图2为图1中介损测试仪校验模块结构示意图；

图3为图1中电阻测试仪校验模块结构示意图；

图4为图1中电容测试仪校验模块结构示意图；

图5为图1中绕组变形测试仪校验模块结构示意图；

具体实施方式

以下将参照附图，对本实用新型的优选实施例进行详细的描述。应当理解，优选实施例仅为了说明本实用新型，而不是为了限制本实用新型的保护范围。

如图1-5所示，一种用于电气试验仪器的集成校验装置，包括箱体1，箱体内集成有电阻测试仪校验模块、绕组变形测试仪校验模块、介损测量仪校验模块和电容测试仪校验模块，电阻测试仪校验模块、绕组变形测试仪校验模块、介损测量仪校验模块和电容测试仪校验模块的两端分别引出有端子，介损测量仪校验模块外包裹有绝缘层2，电阻测试仪校验模块包括微欧级电阻(50μΩ用于断路器回路电阻测试仪校验)、毫欧级电阻和千欧级电阻(10mΩ、500mΩ、5kΩ用于变压器直流电阻测试仪校验)，端子分别从微欧级电阻、毫欧级电阻和千欧级电阻两端引出，介损测量仪校验模块由电阻和标准电容相串联而成，其中电阻与电容的配合满足0.01级、0.1级介损值校验功能，电容测试仪校验模块包括电容(这里的电容有三个，他们并立设置，电容值分别是100pF、10nF、1μF，端子分别从三个电容两端引出)，介损测量仪校验模块高压端设置有套管。

电阻测试仪校验模块一体成型，其端子由螺栓压接在箱体上，可保证校验过程回路寄生电阻降到可以忽略。

电阻测试仪校验模块、绕组变形测试仪校验模块、介损测量仪校验模块、电容测试仪校验模块左右并列设置在箱体内，整体排列整齐，美观。

将电阻测试仪校验模块、绕组变形测试仪校验模块、介损测量仪校验模块和电容测试仪校验模块集合在一起，达到功能上的集成，解决了电力企业检修试验班组在变电站以及其他电力设备站点对试验仪器是否损坏的核实，测试精度初步的判断，指导测试人员做出正确及时的决策，减少不必要的误判而导致的停电时间、生产成本的增加。使用该装置，测试人员不再需要携带多种校验模块，该装置便能满足多种测试仪器的校验基本需求，简化了工作思路。

绕组变形测试仪校验模块包括端子L1、L2和L3，L1为高压端，L2为低压端，L3为可选择的低压端，端子L1和L2之间依次串联有电阻R1、R2、R3、R4，一电容C1连接在L1和L3之间，一电容C2的一端连接在R1和R2之间，另一端连接L3，一电容C3的一端连接在R2和R3之间，另一端连接L3，一电容C4的一端连接在R3和R4之间，另一端连接L3，一电容C5连接在L2和L3之间。

最后说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本技术方案的宗旨和范围，其均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。

Claims (4)

1.一种用于电气试验仪器的集成校验装置，其特征在于：包括箱体，所述箱体内集成有电阻测试仪校验模块、绕组变形测试仪校验模块、介损测量仪校验模块和电容测试仪校验模块，所述电阻测试仪校验模块、绕组变形测试仪校验模块、介损测量仪校验模块和电容测试仪校验模块的两端分别引出有端子，所述介损测量仪校验模块外包裹有绝缘层，所述电阻测试仪校验模块包括微欧级电阻、毫欧级电阻和千欧级电阻，端子分别从微欧级电阻、毫欧级电阻和千欧级电阻两端引出，所述介损测量仪校验模块由电阻和标准电容相串联而成，所述电容测试仪校验模块包括电容，所述介损测量仪校验模块高压端设置有套管。

2.根据权利要求1所述的一种用于电气试验仪器的集成校验装置，其特征在于：所述电阻测试仪校验模块一体成型，其端子由螺栓压接在箱体上。

3.根据权利要求1或2所述的一种用于电气试验仪器的集成校验装置，其特征在于：所述电阻测试仪校验模块、绕组变形测试仪校验模块、介损测量仪校验模块、电容测试仪校验模块左右并列设置在箱体内。

4.根据权利要求1或2所述的一种用于电气试验仪器的集成校验装置，其特征在于：所述绕组变形测试仪校验模块包括端子L1、L2和L3，L1为高压端，L2为低压端，L3为可选择的低压端，端子L1和L2之间依次串联有电阻R1、R2、R3、R4，一电容C1连接在L1和L3之间，一电容C2的一端连接在R1和R2之间，另一端连接L3，一电容C3的一端连接在R2和R3之间，另一端连接L3，一电容C4的一端连接在R3和R4之间，另一端连接L3，一电容C5连接在L2和L3之间。