CN207866918U - 一种元器件测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型实施例公开了一种元器件测试装置，包括与待测试元器件可形成电连接的测试端，所述元器件测试装置包括：基板、测试点调节组件和夹持组件，其中：所述测试点调节组件设置于所述基板上；所述夹持组件设置于所述测试点调节组件上，且由所述测试点调节机构驱动相对于所述基板的表面可移动。本实用新型所提供的一种元器件测试装置，利用三维可调节的测试点调节组件来调整用于对待测对象进行测试的测试端位置，且同时使得测试端对测试点具有预定的夹持力来实现测试夹紧过程，实现简单且可靠。

Description

一种元器件测试装置

技术领域

本实用新型涉及一种测试装置，特别地涉及一种元器件测试装置，属于电路测试技术领域。

背景技术

纹波是叠加在直流信号上的交流干扰信号，是电源测试中的一个很重要的标准，因此，对电路板上的电源纹波进行测试也是电路板性能测试中的关键步骤。

现有技术中，在对电路板上的电源纹波进行测试时，为了能够对用电器件附近的真实用电情况进行充分测试，通常都会选取在用电器件的电源附近的电容作为测试对象。但是，如果待测试对象为比较小体积的器件，比如04020201封装的电容，通过一般的探头进行探测时测试点接触操作往往比较困难，而且人工操作容易出现失误。另一方面，当前使用的测试探头中，信号探测点是一个固定的金属探针，而接地点为一个弹簧结构的柔性探针，使用时一般将固定的金属探针接触在电容一端，而另一端借用弹簧的张力实现各种尺寸电容的匹配，该结构虽然可以适用于多种尺寸，甚至小尺寸电容的测试，但是柔性探针不容易操作，对于测试人员要求较高，否则不能保证整个测试过程中的可靠性。

实用新型内容

本实用新型提供一种元器件测试装置，解决现有技术中无法对小体积元器件进行可靠测试的技术问题。

本实用新型实施例提供一种元器件测试装置，包括与待测试元器件可形成电连接的测试端，所述元器件测试装置还包括：基板、测试点调节组件和夹持组件，其中：

所述测试点调节组件设置于所述基板上；

所述夹持组件设置于所述测试点调节组件上，且由所述测试点调节机构驱动相对于所述基板的表面可移动。

可选地，所述测试点调节组件包括：平动方向相互垂直的X方向平动机构、Y方向平动机构和Z方向平动机构，其中：

所述X方向平动机构设置于所述基板上；

所述Z方向平动机构设置于所述X方向平动机构之上，由所述X方向平动机构驱动其在X方向移动；

所述Y方向平动机构设置于Z方向平动机构之上，由所述Z方向平动机构驱动其在Z方向移动；

所述夹持组件设置于所述Y方向平动机构之上，由所述Y方向平动机构驱动其在Y方向移动。

可选地，所述夹持组件包括：设置于所述测试点调节组件上的支撑板，所述支撑板上设置有可相向运动且均向所述基板表面延伸设定距离的两个测试夹持板，所述测试夹持板的相对表面分别设置有测试端。

可选地，所述测试端所在表面设置有压力传感器。

可选地，所述两个测试夹持板分别为固定夹持板和移动夹持板，所述固定夹持板固定于所述支撑板，所述移动夹持板可以向所述固定夹持板运动。

可选地，所述测试夹持为T型结构。

可选地，所述测试夹持板的底面设置有内凹槽，所述的内凹槽的底面设置有初始长度大于内凹槽深度但压缩长度可小于内凹槽深度的弹簧，所述的弹簧自由端固定有可嵌入所述内凹槽的底挡板。

进一步可选地，所述内凹槽的底面沿中心轴线设置有两个弹簧。

进一步可选地，所述内凹槽底面设置有测距传感器，在所述测距传感器的测距媒介通行线路对应的所述底挡板位置设置有通孔。

进一步可选地，所述测试夹持板的侧面设置有侧凹槽，所述的侧凹槽的底面设置有初始长度大于侧凹槽深度但压缩长度可小于侧凹槽深度的弹簧，所述的弹簧自由端固定有可嵌入所述侧凹槽的侧挡板，所述侧挡板外侧面设置有测试端。

本实用新型所提供的一种元器件测试装置，利用三维可调节的测试点调节组件来调整用于对待测对象进行测试的测试端位置，且同时使得测试端对测试点具有预定的夹持力来实现测试夹紧过程，实现简单且可靠。

本实用新型的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本实用新型而了解。本实用新型的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本实用新型技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本实用新型的技术方案，并不构成对本实用新型技术方案的限制，并且附图中的所有尺寸只是示意性的而并未按照比例示出。

图1为本实用新型实施例的一种元器件测试装置的结构示意图；

图2为本实用新型实施例中夹持组件的示意图；

图3为图2中所示出的夹持板的P向视图。

具体实施方式

下文中将结合附图对本实用新型的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。

参见图1，本实用新型实施例提出了一种元器件测试装置，包括：基板1，设置于所述基板1上的测试点调节组件2，以及设置于所述测试点调节组件2上的夹持组件3，所述夹持组件3由所述测试点调节组件2驱动相对于所述基板1的表面可移动；其中：

所述基板1上设置有固定其上有待测试对象的待测试电路板的定位件11；该定位件11可以是相对尺寸可调节的，也可以是位置确定的，这可以根据待测试场景确定，此处并不限定，定位件11的个数图中示出为4个也仅仅是示意性的，对于定位件11的设置只要能够实现对于待测电路板的固定即可；

所述测试点调节组件2，包括平动方向相互垂直的X方向平动机构、Y方向平动机构和Z方向平动机构，所述X方向和所述Y方向为与所述基板1上安装待测试电路板的平面平行的方向，而所述Z方向为与所述基板1上安装待测试电路板的平面垂直的方向，其中：所述X方向平动机构设置于所述基板1上，所述Z方向平动机构设置于所述X方向平动机构之上，由所述X方向平动机构驱动其在X方向移动；所述Y方向平动机构设置于Z方向平动机构之上，由所述Z方向平动机构驱动其在Z方向移动；较优选的，其中的X方向平动机构设置于邻近所述基板1的一个侧面，以使得所述基板1的表面积可以较为有效地利用；

所述夹持组件2，用于完成对待测试元器件夹持、预夹紧、完全夹紧的全过程，以形成对待测试对象的充分夹持，其可以如图1中所示出的设置于所述Y方向平动机构上，由所述Y方向平动机构驱动其在Y方向移动；具体的，参考图2所示，所述夹持组件2包括：

支撑板21，设置于所述测试点调节组件上，且沿着夹持方向延伸，所述夹持方向为所述待测试元器件的夹持方向(即：与测试电路板的平面平行但朝向待测试元器件的测试点的方向)，为了更好地说明，图2中仅示意性地示出了位于两个夹持板之间的待测试元器件100，夹持方向可以是，例如，图1中所示出为X方向，当然也可能是Y方向，其可能与固定支撑板21的某个方向平动机构同向也可能与该方向平动机构垂直，并且对于待测试元器件在测试点的夹持，由于电路板在所述基板1上的固定位置是可能成角度改变的，因此，夹持方向只是为了表述两个测试夹持板相对运动的方向而设置，而无特定的方向指向。

两个测试夹持板22、23，设置于所述支撑板21上，且可相向运动并均向所述基板1的表面延伸一段距离(例如，不小于1mm，这可以由本领域技术人员根据待测对象设置)，所述测试夹持板22、23的相对表面分别设置有夹持待测试对象100测试点的测试端(典型的，测试端可以设置为测试极板结构)，所述测试端与外部可形成电连接。较佳的，所述测试端所在表面设置有压力传感器(图中未示出)，以指示测试端相对于所述待测试对象的测试点是否已经达到预设的夹紧力，预设的夹紧力为保证可靠测试所需的测试端所承受的压力，该压力传感器的设置使得测试距离不再完全依靠于人为判断。

由此，利用上述元器件测试装置对选定元器件进行测试的过程如下：将包括待测试对象的测试电路板安装到所述基板1上，且所述待测试对象的测试点夹持方向与所述装置的夹持方向一致；调节所述测试点调节组件使所述支撑板21位于所述待测试对象附近，继续调节所述测试夹持板22、23之间的位置，使其测试端相向运动夹紧待测试对象的测试点，利用测试端设置的压力传感器作为夹紧动作完成的指示控件，从而形成可靠地测试夹具；而此过程中，测试夹持板与待测试对象测试点的位置是可以通过外部观察容易确定且调整的。

通过上述实施例可知，本实用新型所提供的一种元器件测试装置，利用三维可调节的测试点调节组件来调整用于对待测对象进行测试的测试端位置，且同时使得测试端对测试点具有预定的夹持力来实现测试夹紧过程，实现简单且可靠。

在另外的较佳实施例中，可以对上述的元器件测试装置作进一步地改进。

所述测试夹持板可以是：测试夹持板22为固定夹持板，测试夹持板23为移动夹持板，所述固定夹持板22固定于所述支撑板1上，而所述测试夹持板23可以沿着所述支撑板1方向运动，由此夹持过程可以仅仅是对一个控制对象(移动夹持板)的调整，可以便于夹持过程的操作，即使，在某种情况下如果移动夹持板侧已经根据压力传感器指示达到预设的夹紧力，而固定夹持板侧压力传感器指示并未达到预设的夹紧力，而可以通过调整测试点调节机构来继续调整夹持组件的位置而进而调整固定夹持板侧测试端相对于待测试对象测试点的压力，使其达到要求。

所述夹持板典型的还可以为T型结构，由此不仅在保证与测试对象测试点的可靠接触时还能够有效避让邻近元器件。

所述测试夹持板还可以进一步的改进，如图3所示，为其P向轴测图，从图3中可以看出，所述测试夹持板的底面设置有内凹槽24，所述内凹槽24的底面设置有初始长度大于内凹槽深度但压缩长度可小于内凹槽深度的弹簧25，所述弹簧25的自由端固定有可嵌入所述内凹槽的底挡板26，所述底挡板26的位置由于是由弹簧25自由端位置所决定，其可以随着弹簧25自由端的压缩而朝向内凹槽运动。所述的底挡板26外侧面(远离内凹槽的表面)，并且涂覆有绝缘层，防止底挡板26接触到电路板使得板上线路短路，对电路板造成损伤。较佳的，为保持底挡板的受力平衡，所述内凹槽的底面沿中心轴线设置有两个弹簧。进一步地，还可以在所述内凹槽底面设置有测距传感器，在所述测距传感器的测距媒介通行线路对应的底挡板26位置设置有通孔27，使得测距媒介通行线路不受外部影响，测距传感器典型的可以选择激光传感器或者超声波传感器，通过测距传感器预先设置的安全距离，保证底挡板26运动至理想的测试位置，同时也可以防止由于外部操作不当使得底挡板26对待测对象所在的印制板施加过大的压力，对印制板造成损伤。

所述测试夹持板还可以进一步的改进，在其设置有测试端的侧面设置侧凹槽，所述侧凹槽的底面设置有初始长度大于侧凹槽深度但压缩长度可小于侧凹槽深度的弹簧，所述弹簧的自由端固定有可嵌入所述侧凹槽的侧挡板，所述侧挡板的位置由于是由弹簧自由端位置所决定，其可以随着弹簧自由端的压缩而朝向侧凹槽运动。所述测试端设置在侧挡板外侧面。较佳的，为保持侧挡板的受力平衡，所述内凹槽的底面沿中心轴线设置有两个弹簧。由此，当测试夹持板对待测试对象进行夹持时，侧挡板上的测试端首先接触到待测试对象的测试点，然后压缩弹簧继续进行夹紧动作直到所述测试端所在的表面上的压力传感器探测到预定压力停止夹紧动作，以此能保证通过弹簧保持一定地预紧压力。

此外，对于上述的元器件测试装置补充说明几点：

(1)所述的X方向平动机构、Y方向平动机构和Z方向平动机构可以是集成到一个三轴联动机构中，也可以是分离的独立机构，只要能够实现三个方向相对于基座确定位置的调节即可；

(2)所述的X方向平动机构、Y方向平动机构以及Z方向平动机构，本领域普通技术人员可以采用现有技术中可实现平面直线运动的任何方式来实现，例如，滚轴丝杠传动，齿轮齿条传动，链传动等，本实用新型实施例并不对其进行具体限制；

(3)所述的X方向平动机构、Y方向平动机构、Z方向平动机构、夹持组件之间的连接方式可采用本领域普通技术人员所一直的任何方式来实现，此处不作特别限定，只要能保证各方向平动机构能够驱动待运动对象进行直线运动即可。

(4)所述测试夹持板设置于所述支撑板1上的方式并不限定，只需要是两者沿给定方向形成可靠相向运动的任何连接方式都可以，例如，通过丝杠机构、齿轮齿条机构等，而对于相向运动的驱动方式，此处也不限定，可以是手动方式也可以是利用微型电机等电力驱动的本领域普通技术人员已知的方式。

虽然本实用新型所揭露的实施方式如上，但所述的内容仅为便于理解本实用新型而采用的实施方式，并非用以限定本实用新型。任何本实用新型所属领域内的技术人员，在不脱离本实用新型所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式及细节上进行任何的修改与变化，但本实用新型的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (10)

1.一种元器件测试装置，包括与待测试元器件可形成电连接的测试端，其特征在于，所述元器件测试装置还包括：基板、测试点调节组件和夹持组件，其中：

所述测试点调节组件设置于所述基板上；

所述夹持组件设置于所述测试点调节组件上，且由所述测试点调节组件驱动相对于所述基板的表面可移动。

2.如权利要求1所述的元器件测试装置，其特征在于，所述测试点调节组件包括：平动方向相互垂直的X方向平动机构、Y方向平动机构和Z方向平动机构，其中：

所述X方向平动机构设置于所述基板上；

所述Z方向平动机构设置于所述X方向平动机构之上，由所述X方向平动机构驱动其在X方向移动；

所述Y方向平动机构设置于Z方向平动机构之上，由所述Z方向平动机构驱动其在Z方向移动；

所述夹持组件设置于所述Y方向平动机构之上，由所述Y方向平动机构驱动其在Y方向移动。

3.根据权利要求1或2所述的元器件测试装置，其特征在于，所述夹持组件包括：设置于所述测试点调节组件上的支撑板，所述支撑板上设置有可相向运动且均向所述基板表面延伸设定距离的两个测试夹持板，所述测试夹持板的相对表面分别设置有测试端。

4.根据权利要求3所述的元器件测试装置，其特征在于，所述测试端所在表面设置有压力传感器。

5.根据权利要求3所述的元器件测试装置，其特征在于，所述两个测试夹持板分别为固定夹持板和移动夹持板，所述固定夹持板固定于所述支撑板，所述移动夹持板可以向所述固定夹持板运动。

6.根据权利要求3所述的元器件测试装置，其特征在于，所述测试夹持板为T型结构。

7.根据权利要求3所述的元器件测试装置，其特征在于，所述测试夹持板的底面设置有内凹槽，所述的内凹槽的底面设置有初始长度大于内凹槽深度但压缩长度可小于内凹槽深度的弹簧，所述的弹簧自由端固定有可嵌入所述内凹槽的底挡板。

8.根据权利要求7所述的元器件测试装置，其特征在于，所述内凹槽的底面沿中心轴线设置有两个弹簧。

9.根据权利要求7所述的元器件测试装置，其特征在于，所述内凹槽底面设置有测距传感器，在所述测距传感器的测距媒介通行线路对应的所述底挡板位置设置有通孔。

10.根据权利要求4所述的元器件测试装置，其特征在于，所述测试夹持板的侧面设置有侧凹槽，所述的侧凹槽的底面设置有初始长度大于侧凹槽深度但压缩长度可小于侧凹槽深度的弹簧，所述的弹簧自由端固定有可嵌入所述侧凹槽的侧挡板，所述侧挡板外侧面设置有测试端。