CN207704155U - 一种主动式循环tft测试架 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种主动式循环TFT测试架，包括工作台、测试机构和传输机构，所述测试机构包括固定在工作台表面的两条测试轨道，且在两条测试轨道上设置有滑动测试台，所述测试轨道的正后方安装有固定在工作台表面的测试气缸，且测试气缸通过活塞杆与滑动测试台固定连接，所述传输机构包括位于测试轨道正前方且安装在工作台表面的TFT传输带，所述TFT传输带的表面设置有若干个均匀分布的TFT固定夹，该装置能够使TFT测试架主动的待测TFT连接，使得TFT测试架与TFT的连接更精准，使测试的结果更准确，同时该装置能够循环的对批量TFT进行测试，提高了TFT测试的效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及TFT测试技术领域，具体为一种主动式循环TFT测试架。
背景技术
TFT(Thin Film Transistor)是薄膜晶体管的缩写。TFT式显示屏是各类笔记本电脑和台式机上的主流显示设备，该类显示屏上的每个液晶像素点都是由集成在像素点后面的薄膜晶体管来驱动，因此TFT式显示屏也是一类有源矩阵液晶显示设备。是最好的LCD彩色显示器之一，TFT式显示器具有高响应度、高亮度、高对比度等优点，其显示效果接近CRT式显示器。同时，TFT式屏幕也普遍应用于中高端彩屏手机中，分65536色、16万色，1600万色三种，其显示效果非常出色。TFT是指液晶显示器上的每一液晶像素点都是由集成在其后的薄膜晶体管来驱动。从而可以做到高速度高亮度高对比度显示屏幕信息，TFT-LCD(薄膜晶体管液晶显示器)是多数液晶显示器的一种。
在TFT投入使用之前，需要对TFT的性能进行测试，就要用到TFT测试架，现有的TFT测试架多是是将TFT置于滑道上，并与测试机构进行连接。如申请号为201320863578.0的名称为一种TFT测试架，该装置包括测试架底座，及设置在测试架底座顶面上的滑道，滑道对称设置有两个，在两侧滑道之间配合有TFT底座，所述测试架底座侧面上设置有测试架盖板，测试架盖板与测试架底座之间连接有活页，该测试架盖板通过活页向下翻转后，覆盖住所述TFT底座，在该测试架盖板底部设置有TFT测试探针和TFT测试压头，所述测试架盖板中部具有一块透明的玻璃板；通过使用该装置，可以提高TFT的测试效率，降低测试架的投入成本，相比传统的测试架而言，该装置的结构更为简单，方便维护和维修。
但是，现有的TFT测试架存在以下缺陷：
(1)现有的TFT测试架都是被动的与TFT连接，使得TFT测试架与TFT的连接容易出现偏差，影响测试的结果；
(2)由于TFT测试架被动的与TFT连接，使得每完成一个TFT测试都需要拆卸并重新安装下一个待测TFT，才能进行下一个检测，使得TFT检测的步骤繁琐，且不适合批量检测。
为了解决这些问题，因而设计了一种主动式循环TFT测试架。
实用新型内容
为了克服现有技术方案的不足,本实用新型提供一种主动式循环TFT测试架，该装置能够使TFT测试架主动的待测TFT连接，使得TFT测试架与TFT的连接更精准，使测试的结果更准确，同时该装置能够循环的对批量TFT进行测试，提高了TFT测试的效率。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种主动式循环TFT测试架，包括工作台、测试机构和传输机构，所述测试机构包括固定在工作台表面的两条测试轨道，且在两条测试轨道上设置有滑动测试台，所述测试轨道的正后方安装有固定在工作台表面的测试气缸，且测试气缸通过活塞杆与滑动测试台固定连接，所述传输机构包括位于测试轨道正前方且安装在工作台表面的TFT传输带，所述TFT传输带的表面设置有若干个均匀分布的TFT固定夹。
作为本实用新型一种优选的技术方案，所述滑动测试台的正前方连接有测试触头，且在测试触头的前端连接有测试探针。
作为本实用新型一种优选的技术方案，所述TFT固定夹包括呈倒“匚”形结构的支撑板，且在支撑板的内壁底面设置有垂直于支撑板侧壁的调节滑槽，所述调节滑槽上设置有两块平行于支撑板侧壁的调节板，且调节板均通过调节弹簧与邻近的支撑板侧壁相连。
作为本实用新型一种优选的技术方案，两块所述的调节板的内侧均设置有TFT卡槽，且在TFT卡槽的内表面均设置有缓冲垫。
作为本实用新型一种优选的技术方案，所述滑动测试台的侧面固定连接有限位杆，且限位杆垂直于TFT传输带，所述限位杆的端点到滑动测试台的距离略大于测试探针的端点到滑动测试台的距离。
作为本实用新型一种优选的技术方案，所述滑动测试台的底面两端均设置有倒“T”形结构的滑动凸起，所述测试轨道的表面均设置有倒“T”形结构的滑动凹槽，且滑动凸起卡在滑动凹槽内。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
(1)本实用新型通过工作台上设置两条测试轨道，且在两条测试轨道上设置有滑动测试台，测试轨道的正后方安装有固定在工作台表面的测试气缸，且测试气缸通过活塞杆与滑动测试台固定连接，使得TFT测试环节由原本的TFT测试架被动的与TFT连接，改为TFT测试架主动的与TFT连接，使得TFT测试架能够更精准的与TFT对接，使得测试结果更精准。
(2)本实用新型通过在测试轨道前方设置TFT传输带，且在TFT传输带的表面设置有若干个均匀分布的TFT固定夹，TFT固定夹用于固定TFT，使得在TFT传输带的带动下，TFT测试架能够持续循环的对TFT进行测试，使得TFT测试的效率更高，适合大规模批量测试。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图；
图2为本实用新型的滑动凸起结构示意图；
图3为本实用新型的支撑板主视图。
图中：1-工作台；2-测试机构；3-传输机构；201-测试轨道；202-滑动测试台；203-测试气缸；204-活塞杆；205-测试触头；206-测试探针；207-限位杆；208-滑动凸起；209-滑动凹槽；301-TFT传输带；302-TFT固定夹；303-支撑板；304-调节滑槽；305-调节板；306-调节弹簧；307-TFT卡槽；308-缓冲垫。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
以下各实施例的说明是参考附图，用以示例本实用新型可以用以实施的特定实施例。本实用新型所提到的方向和位置用语，例如「上」、「中」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向和位置。因此，使用的方向和位置用语是用以说明及理解本实用新型，而非用以限制本实用新型。
实施例：
如图1和图2所示，本实用新型提供了一种主动式循环TFT测试架，包括工作台1、测试机构2和传输机构3，所述测试机构2包括固定在工作台1表面的两条测试轨道201，且在两条测试轨道201上设置有滑动测试台202，使得滑动测试台202能够在测试轨道201上运动，所述滑动测试台202的正前方连接有测试触头205，且在测试触头205的前端连接有测试探针206，测试触头205和测试探针206用于对TFT进行直接接触和连接，并对TFT的功能进行测试。
如图1所示，所述测试轨道201的正后方安装有固定在工作台1表面的测试气缸203，且测试气缸203通过活塞杆204与滑动测试台202固定连接，使得滑动测试台202在测试轨道201上的运动受测试气缸203的控制，使得TFT的测试由原本的TFT测试架被动的与TFT连接，改为TFT测试架主动的与TFT连接，使得TFT测试架能够更精准的与TFT对接，避免出现较大的误差，使得测试的结果更精准，有利于对TFT的性能进行准确的评估。
如图1所示，所述传输机构3包括位于测试轨道201正前方且安装在工作台1表面的TFT传输带301，所述TFT传输带301的表面设置有若干个均匀分布的TFT固定夹302，TFT固定夹302用于对TFT进行固定，使得在TFT传输带301的带动下，TFT测试架能够持续循环的对TFT进行测试，避免了在一个TFT测试完成之后，需要立刻拆卸并安装另一个待测TFT，使得TFT测试的效率更高，适合对TFT进行大规模的批量测试。
如图1和图3所示，所述TFT固定夹302包括呈倒“匚”形结构的支撑板303，且在支撑板303的内壁底面设置有垂直于支撑板303侧壁的调节滑槽304，所述调节滑槽304上设置有两块平行于支撑板303侧壁的调节板305，且调节板305均通过调节弹簧306与邻近的支撑板303侧壁相连，两块调节板305之间用于夹持TFT且两块调节板305能够在调节滑槽304上移滑动，使得两块调节板305之间距离可以改变，使得TFT固定夹302能够夹持不同尺寸大小的TFT，使装置的用途更广泛。
如图1和图3所示，两块所述的调节板305的内侧均设置有TFT卡槽307，且在TFT卡槽307的内表面均设置有缓冲垫308，使得TFT能够稳固卡在TFT卡槽307内，且缓冲垫308可以对TFT的夹持进行缓冲，防止TFT损坏。
如图1所示，所述滑动测试台202的侧面固定连接有限位杆207，且限位杆207垂直于TFT传输带301，所述限位杆207的端点到滑动测试台202的距离略大于测试探针206的端点到滑动测试台202的距离，限位杆207可以对TFT传输带301上的TFT固定夹302进行限位，使得TFT固定夹302夹持的TFT能够刚好与滑动测试台202对齐，使得测试探针206能够精准的与TFT进行对接。
如图2所示，所述滑动测试台202的底面两端均设置有倒“T”形结构的滑动凸起208，所述测试轨道201的表面均设置有倒“T”形结构的滑动凹槽209，且滑动凸起208卡在滑动凹槽209内，使得滑动测试台202能够稳固的卡在测试轨道201上，防止滑动测试台202脱离或偏移测试轨道201，使装置能够准确的与TFT对接并对TFT进行测试。
综上所述，本实用新型的主要特点在于：
(1)本实用新型使TFT的测试由TFT测试架被动的与TFT连接，改为TFT测试架主动的与TFT连接，使得TFT测试架与TFT的连接更精准，不会产生过大的误差，使得TFT测试的结果更准确，有利于对TFT的性能进行准确的评估。
(2)本实用新型使得在TFT传输带的带动下，TFT测试架能够持续循环的对TFT进行测试，且缩短了整体的测试时间，使得TFT测试的效率更高，适合对TFT进行大规模的批量测试。
对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
Claims (6)
1.一种主动式循环TFT测试架，包括工作台(1)、测试机构(2)和传输机构(3)，其特征在于：所述测试机构(2)包括固定在工作台(1)表面的两条测试轨道(201)，且在两条测试轨道(201)上设置有滑动测试台(202)，所述测试轨道(201)的正后方安装有固定在工作台(1)表面的测试气缸(203)，且测试气缸(203)通过活塞杆(204)与滑动测试台(202)固定连接，所述传输机构(3)包括位于测试轨道(201)正前方且安装在工作台(1)表面的TFT传输带(301)，所述TFT传输带(301)的表面设置有若干个均匀分布的TFT固定夹(302)。
2.根据权利要求1所述的一种主动式循环TFT测试架，其特征在于：所述滑动测试台(202)的正前方连接有测试触头(205)，且在测试触头(205)的前端连接有测试探针(206)。
3.根据权利要求1所述的一种主动式循环TFT测试架，其特征在于：所述TFT固定夹(302)包括呈倒“匚”形结构的支撑板(303)，且在支撑板(303)的内壁底面设置有垂直于支撑板(303)侧壁的调节滑槽(304)，所述调节滑槽(304)上设置有两块平行于支撑板(303)侧壁的调节板(305)，且调节板(305)均通过调节弹簧(306)与邻近的支撑板(303)侧壁相连。
4.根据权利要求3所述的一种主动式循环TFT测试架，其特征在于：两块所述的调节板(305)的内侧均设置有TFT卡槽(307)，且在TFT卡槽(307)的内表面均设置有缓冲垫(308)。
5.根据权利要求2所述的一种主动式循环TFT测试架，其特征在于：所述滑动测试台(202)的侧面固定连接有限位杆(207)，且限位杆(207)垂直于TFT传输带(301)，所述限位杆(207)的端点到滑动测试台(202)的距离略大于测试探针(206)的端点到滑动测试台(202)的距离。
6.根据权利要求1所述的一种主动式循环TFT测试架，其特征在于：所述滑动测试台(202)的底面两端均设置有倒“T”形结构的滑动凸起(208)，所述测试轨道(201)的表面均设置有倒“T”形结构的滑动凹槽(209)，且滑动凸起(208)卡在滑动凹槽(209)内。
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Cited By (2)
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|---|---|---|---|---|
| CN111426943A (zh) * | 2020-05-06 | 2020-07-17 | 杭州长川科技股份有限公司 | Tft产品测试装置 |
| CN113589131A (zh) * | 2021-08-27 | 2021-11-02 | 广州晶合测控技术有限责任公司 | 一种多腔室tft光电稳定性测试设备 |
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2017
- 2017-12-28 CN CN201721871479.1U patent/CN207704155U/zh not_active Expired - Fee Related
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Granted publication date: 20180807 Termination date: 20181228 |
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